TWI496057B - 光學觸控系統及觸控偵測方法 - Google Patents

Description

光學觸控系統及觸控偵測方法

本發明是有關於一種觸控系統及觸控偵測方法，且特別是有關於一種光學觸控系統及觸控偵測方法。

近年來觸控式的電子產品由於操作方便，直覺性高，因此深受消費者喜愛而已漸漸成為市場上的主流趨勢。在以往使用之電阻式、電容式、背投影式的觸控螢幕中，以電容式觸控螢幕的觸控效果最好，但其成本亦最為昂貴，且會隨著螢幕尺寸的變大而增加，因而限制了電容式觸控螢幕的應用。為尋求電容式觸控螢幕的替代方案，目前有一種利用光學元件偵測觸控位置的光學式觸控螢幕，其具有成本低、準確度佳等優點，在競爭的市場中更具有優勢，目前也已成為大尺寸觸控螢幕的另外一種選擇。

習知一種光學式觸控螢幕是利用在螢幕的周邊或角落適當位置處設置至少二個由影像感測器與發光單元搭配組成之光學模組，並在螢幕四周圍設置反光邊框，藉由發光單元照亮反光邊框反射光線，並由影像感測器補捉反射光線明暗狀態而判斷是否 有物體存在螢幕上以及計算物體之位置。例如，當使用者以手指(或其它物體)伸觸至螢幕上時，光學模組可感測手指遮斷反光邊框反射光線所產生之陰影的位置，進而可推算出手指觸碰點的精確位置。一般而言，二組光學模組僅能正確感測二根手指在螢幕上的位置，若是要偵測更多手指的觸控點位置則需要增加更多組光學模組來達成。然而，超過二組光學模組的其它光學模組將被安裝在鄰接所述二組光學模組或是所述二組光學模組對面的邊框或角落的位置，如此會造成至少其中一組光學模組產生”對看”的問題，具體說明如下。由於光學模組之設置位置是無反光邊框的位置(例如二反光邊框之間隙)，因此當其中一個光學模組(以下稱光學模組A)之發光單元發光至鄰接與對向的反光邊框時，位於對向的反光邊框間隙之另一個光學模組(以下稱光學模組B)無法產生相當於反光邊框反光強度的足夠反射光線，因此光學模組A之影像感測器將會感測到光學模組B處的反光強度不足而為暗點，而誤判為是有觸控物(例如人的手指)擋住反射光線，導致此光學觸控系統無法辨識何者為真實觸控物而產生混淆，難以正確地判斷究竟有多少觸控物以及各觸控物的精確位置。

據此，為解決前述先前技術之問題，本發明提供一種光學觸控系統及觸控偵測方法，其藉由巧妙地適時產生補償光來補償偵測模組處反射光線不足之暗點問題，而能正確地判斷究竟有 多少觸控物以及各觸控物的精確位置。

本發明的光學觸控系統包括一觸控面、一反射結構及多個偵測模組。反射結構配置於觸控面的周緣而圍繞觸控面。偵測模組配置於觸控面的周緣。各偵測模組具有一發光單元與一偵測單元。各發光單元用以發出一偵測光。各偵測單元用以偵測偵測光被反射結構反射後的一亮度值分佈，以判斷觸控面上的各個位置是否接收觸控輸入。觸控面的周緣包括彼此相向的一第一區段及一第二區段。一部分偵測模組位於第一區段而組成一第一群組，另一部分偵測模組位於第二區段而組成一第二群組。當第一群組的至少一發光單元往第二區段發出偵測光時，偵測光在第二群組的偵測模組處不被反射結構反射而使亮度值分佈產生至少一低亮度區，且第二群組的各發光單元發出一補償光以對低亮度區進行補償。

本發明的觸控偵測方法適用於一光學觸控系統。光學觸控系統包括一觸控面、一反射結構及多個偵測模組。各偵測模組具有一發光單元及一偵測單元。部分偵測模組組成一第一群組，另一部分偵測模組組成一第二群組。觸控偵測方法包括以下步驟。藉由第一群組的至少一發光單元發出一偵測光，其中偵測光在第二群組的這些偵測模組處不被反射結構反射，而使偵測光被反射結構反射後的一亮度值分佈產生至少一低亮度區。藉由第二群組的各發光單元發出一補償光以對低亮度區進行補償。藉由第一群組的各偵測單元偵測亮度值分佈，以判斷觸控面上的各個位 置是否接收觸控輸入。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

50a、50b、50c、50d‧‧‧第一發光元件

60a、60b、60c、60d‧‧‧第二發光元件

100、200‧‧‧光學觸控系統

110、210‧‧‧觸控面

120、220‧‧‧反射結構

120a~120d‧‧‧間隙

122‧‧‧反射邊條

130a~130d、230a~230f‧‧‧偵測模組

132a、132b、132c、132d‧‧‧發光單元

134a、134b、134c、134d‧‧‧偵測單元

140‧‧‧處理單元

150‧‧‧光源控制器

D‧‧‧亮度值分佈

d‧‧‧低亮度區

f‧‧‧訊號缺陷

G1、G1’‧‧‧第一群組

G2、G2’‧‧‧第二群組

L1、L1’‧‧‧偵測光

L2、L2’‧‧‧補償光

OB‧‧‧物體

R1‧‧‧第一區段

R2‧‧‧第二區段

S‧‧‧訊號

V1‧‧‧基準值

V2‧‧‧門檻值

X‧‧‧位置

圖1是本發明一實施例的光學觸控系統的示意圖。

圖2是圖1的光學觸控系統的觸控偵測方法流程圖。

圖3是圖1的第一群組與第二群組切換操作狀態的示意圖。

圖4是圖1的光學觸控系統的部分元件方塊圖。

圖5是圖1的偵測光被反射結構反射後的亮度值分佈圖。

圖6A至圖6C是圖5的低亮度區所造成之訊號缺陷被補償的示意圖。

圖7是本發明另一實施例的光學觸控系統的示意圖。

圖1是本發明一實施例的光學觸控系統的示意圖。請參考圖1，本實施例的光學觸控系統100包括一觸控面110、一反射結構120及多個偵測模組130a~130d(繪示為四個)。光學觸控系統100例如應用於顯示裝置或其它觸控裝置(如電子白板)，而觸控面110可為顯示裝置的顯示面、觸控裝置的操作面或與上述顯示面及操作面相距微小距離之平面。

反射結構120配置於觸控面110的周緣而圍繞觸控面110。反射結構120包括多個反射邊條122(繪示為四個)，這些反射邊條122沿觸控面110的周緣間隔地排列而形成多個間隙120a~120d(繪示為四個)。這些偵測模組130a~130d配置於觸控面110的周緣且分別位於這些間隙120a~120d。觸控面110的周緣包括彼此相向的一第一區段R1及一第二區段R2，偵測模組130a及偵測模組130b位於第一區段R1而組成第一群組G1，偵測模組130c及偵測模組130d位於第二區段R2而組成第二群組G2。

在本實施例中，各偵測模組具有一發光單元與一偵測單元。具體而言，偵測模組130a具有一發光單元132a與一偵測單元134a，偵測模組130b具有一發光單元132b與一偵測單元134b，偵測模組130c具有一發光單元132c與一偵測單元134c，偵測模組130d具有一發光單元132d與一偵測單元134d。各發光單元可發出偵測光，各偵測單元可獲取偵測光被反射結構120反射後的亮度值分佈，以偵測觸控面110上的觸控輸入，詳述如下。

如圖1所示，第一群組G1之發光單元132a及發光單元132b可同時或輪流往第二區段R2發出偵測光L1(繪示為發光單元132a及發光單元132b同時發出偵測光)。第一群組G1之偵測單元134a及偵測單元134b可偵測偵測光L1被反射結構120反射後的亮度值分佈，以感測物體OB(如使用者的手指)遮斷反射結構120所反射光線而產生之陰影的位置，進而推算出物體OB觸碰點的位置，藉以判斷觸控面110上的各個位置是否接收觸控輸入。

由於反射結構120在第二區段R2具有對應於第二群組G2之偵測模組132c及偵測模組132d的間隙120c及間隙120d，因此在上述觸控偵測過程中，偵測光L1在第二群組G2之偵測模組132c及偵測模組132d處不被反射結構120反射而使上述亮度值分佈產生低亮度區。相應地，第二群組G2的發光單元132c及發光單元132d發出補償光L2以對上述低亮度區進行補償。據此，偵測模組132c及偵測模組132d處因反射光線不足而產生之暗點(即上述低亮度區)問題可藉由補償光L2而被補償，以使偵測單元134a及偵測單元134b能夠正確地判斷觸控物OB的數量及位置。

以下以圖1的光學觸控系統100為例，對本發明之觸控偵測方法進行說明。圖2是圖1的光學觸控系統的觸控偵測方法流程圖。請參考圖1及圖2，藉由第一群組G1的發光單元132a及132b發出偵測光L1，其中偵測光L1在第二群組G2的偵測模組130c及130d處不被反射結構120反射，而使偵測光L1被反射結構120反射後的亮度值分佈產生低亮度區(步驟S602)。藉由第二群組G2的發光單元132c及132d發出補償光L2以對低亮度區進行補償(步驟S604)。藉由第一群組G1的偵測單元134a及134b偵測亮度值分佈，以判斷觸控面110上的各個位置是否接收觸控輸入(步驟S606)。

圖3是圖1的第一群組與第二群組切換操作狀態的示意圖。請參考圖3，相似於圖1所示的觸控偵測原理，第二群組G2之發光單元132c及發光單元132d可同時或輪流往第一區段R1發 出偵測光L1’(繪示為發光單元132c及發光單元132d同時發出偵測光)。第二群組G2之偵測單元134c及偵測單元134d可偵測偵測光L1’被反射結構120反射後的亮度值分佈，以感測物體OB(如使用者的手指)遮斷反射結構120所反射光線而產生之陰影的位置，進而推算出物體OB觸碰點的精確位置，藉以判斷觸控面110上的各個位置是否接收觸控輸入。

由於反射結構120在第一區段R1具有對應於第一群組G1之偵測模組132a及偵測模組132b的間隙120a及間隙120b，因此在上述觸控偵測過程中，偵測光L1’在第一群組G1之偵測模組132a及偵測模組132b處不被反射結構120反射而使上述亮度值分佈產生低亮度區。相應地，第一群組G1的發光單元132a及發光單元132b發出補償光L2’以對上述低亮度區進行補償。據此，偵測模組132a及偵測模組132b處因反射光線不足而產生之暗點(即上述低亮度區)問題可藉由補償光L2’而被補償，以使偵測單元134c及偵測單元134d能夠正確地判斷觸控物OB的數量及位置。

圖3所示的第一群組與第二群組之操作狀態的具體流程如下。藉由第二群組G2的發光單元132c及132d發出偵測光L1’，其中偵測光L1’在第一群組G1的偵測模組130a及130b處不被反射結構120反射，而使偵測光L1’被反射結構120反射後的亮度值分佈產生低亮度區。接著，藉由第一群組G1的發光單元132a及132b發出補償光L2’以對低亮度區進行補償。然後， 藉由第二群組G2的偵測單元134c及134d偵測亮度值分佈，以判斷觸控面110上的各個位置是否接收觸控輸入。

在本實施例中，當第一群組G1的發光單元132a及發光單元132b如圖1所示往第二區段R2發出偵測光L1時，第二群組G2的功能在於藉其發光單元132c及發光單元132d發出對應之補償光L2，故此時將第二群組G2的發光單元132c及發光單元132d控制為不發出偵測光L1’(標示於圖3)且將第二群組G2的偵測單元134c及偵測單元134d控制為不作用或是對偵測到的亮度值分佈不進行處理。當第二群組G2的發光單元132c及發光單元132d如圖3所示往第一區段R1發出偵測光L1’時，第一群組G1的功能在於藉其發光單元132a及發光單元132b發出對應之補償光L2’，故此時將第一群組G1的發光單元132a及發光單元132b控制為不發出偵測光L1(標示於圖1)且將第一群組G1的偵測單元134a及偵測單元134b控制為不作用(包含不予驅動而不致能或是對偵測到的亮度值分佈不進行處理)。

本實施例的光學觸控系統100例如是不斷地交替切換於圖1所示操作狀態與圖3所示操作狀態，以在第一群組G1發出偵測光L1的同時，如上述般利用第二群組G2發出的補償光L2對反射結構120之間隙120c及間隙120d造成的低亮度區進行補償，並在第二群組G2發出偵測光L1’的同時，如上述般利用第一群組G1發出的補償光L2’對反射結構120之間隙120a及間隙120b造成的低亮度區進行補償，藉以使光學觸控系統100在利用數量 較多的偵測模組130a~130d進行多點觸控偵測時仍能具有良好的偵測準確度。

圖4是圖1的光學觸控系統的部分元件方塊圖。請參考圖1、圖3及圖4，在本實施例中，光學觸控系統100更包括一處理單元140及一光源控制器150。處理單元140用以判斷圖1所示的補償光L2是否足以對反射結構120之間隙120c及120d造成之低亮度區進行補償，且用以判斷圖3所示的補償光L2’是否足以對反射結構120之間隙120a及120b造成之低亮度區進行補償。光源控制器150用以控制發光單元132a及132b如圖1所示發出偵測光L1或如圖3所示發出補償光L2’，且用以控制發光單元132c及132d如圖3所示發出偵測光L1’或如圖1所示發出補償光L2。可藉由光源控制器150控制第一群組G1及第二群組G2輪流發出偵測光，以使光學觸控系統100不斷地交替切換於圖1所示操作狀態與圖3所示操作狀態。此外，當光源控制器150控制第一群組G1發出偵測光L1時，光源控制器150更進一步控制第一群組G1的發光單元132a及發光單元132b同時或輪流發出偵測光L1，而當光源控制器150控制第二群組G2發出偵測光L1’時，光源控制器150更進一步控制第二群組G2的發光單元132c及發光單元132d同時或輪流發出偵測光L1’。

在本實施例中，例如藉由光源控制器150將第二群組G2發出的補償光L2的強度控制為低於第一群組G1發出的偵測光L1的強度，且將第一群組G1發出的補償光L2’的強度控制為低於 第二群組G2發出的偵測光L1’的強度。對第一群組G1及第二群組G2進行上述控制的原因在於，偵測光(L1或L1’)經反射結構120反射後之反射光強度會低於原偵測光強度，故若補償光(L2或L2’)強度相同或大於偵測光強度，會使偵測單元接收到的補償光強度大於偵測光之反射光強度而造成過度曝光之現象，進而讓偵測單元的偵測訊號失真。

以下藉由圖式具體說明上述補償光對低亮度區的補償方式。圖5是圖1的偵測光被反射結構反射後的亮度值分佈圖。圖6A至圖6C是圖5的低亮度區所造成之訊號缺陷被補償的示意圖。以圖1中的發光單元132a及發光單元132b發出的偵測光L1以及反射結構120之間隙120c為例，發光單元132a及發光單元132b發出的偵測光L1被反射結構120反射後例如具有圖5所示之亮度值分佈D，反射結構120在間隙120c處無法反射偵測光L1而在亮度值分佈D中形成低亮度區d。圖6A至圖6C所示的訊號S為對應於圖5之亮度值分佈D的偵測訊號，其中圖5之低亮度區d會使訊號S產生圖6A所示的訊號缺陷f。

低亮度區d及對應之訊號缺陷f的存在會讓光學觸控系統100將其誤判為觸控輸入，故需藉由圖1之發光單元132c所發出的補償光L2對訊號缺陷f進行如圖6B至圖6C示的補償。具體來說，在本實施例中，若發光單元132c發出的補償光L2未能將訊號缺陷f補償至圖6C所示狀態而被處理單元140判斷為不足以對訊號缺陷f及對應之低亮度區d進行補償，則圖4之光源控制器 150相應地調升補償光L2的強度，直到補償光L2的亮度相當於偵測光L1之反射光亮度而將訊號缺陷f補償至圖6C所示狀態，此時補償光L2被處理單元140判斷為足以對訊號缺陷f及對應之低亮度區d進行補償。

在本實施例中，當補償光L2將低亮度區d的亮度值補償至等於圖5所示的基準值V1時，低亮度區d被完全地補償且圖4之處理單元140如上所述判斷補償光L2足以對低亮度區d進行補償。然本發明不對處理單元140的判斷標準加以限制，處理單元140對於補償光L2亦可具有較低的判斷標準。舉例來說，在光學觸控系統100之觸控偵測靈敏度被設定為較低的情況下(例如觸控偵測靈敏度被設定為，當偵測到圖5所示之位置X的亮度值低於門檻值V2時才判定在位置X處接收觸控輸入)，可相應地將處理單元140的判斷標準定訂為，若補償光L2將低亮度區d的亮度值補償至等於或大於門檻值V2，則處理單元140判斷補償光L2足以對低亮度區d進行補償，其中門檻值V2例如為基準值V1的75%或其它小於基準值V1的適當數值。門檻值V2及基準值V1例如分別對應於圖6B所示之訊號狀態及圖6C所示之訊號狀態，若處理單元140的判斷標準如上述般具有較低的設定值，則當訊號S被補償至圖6B所示狀態時即代表補償光L2足以對訊號缺陷f及對應之低亮度區d進行補償。

本實施例的各發光單元是利用兩個發光元件分別發出偵測光及補償光，具體說明如下。請參考圖1及圖3，發光單元132a 包括一第一發光元件50a及一第二發光元件60a，分別用以發出偵測光L1及補償光L2’。相似地，發光單元132b包括一第一發光元件50b及一第二發光元件60b，分別用以發出偵測光L1及補償光L2’。發光單元132c包括一第一發光元件50c及一第二發光元件60c，分別用以發出偵測光L1’及補償光L2。發光單元132d包括一第一發光元件50d及一第二發光元件60d，分別用以發出偵測光L1’及補償光L2。然本發明不以此為限，在其它實施例中，各發光單元可僅包括一個發光元件，且此發光元件的發光強度可被調整，以發出偵測光或發出補償光。上述發光元件例如為發光二極體(light emitting diode，LED)光源或其它適當形式之光源，本發明不對此加以限制。

本發明不對偵測模組的數量加以限制，以下藉由圖式對此舉例說明。圖7是本發明另一實施例的光學觸控系統的示意圖。在圖7的光學觸控系統200中，顯示面210、反射結構220、第一群組G1’及第二群組G2’的配置與作用方式類似於圖1及圖3之顯示面110、反射結構120、第一群組G1及第二群組G2的配置與作用方式，於此不再贅述。光學觸控系統200與光學觸控系統100的不同處在於偵測模組的數量，如圖7所示，第一群組G1’包含了四個偵測模組，即偵測模組230a、偵測模組230b、偵測模組230c及偵測模組230d，而第二群組G2’包含了兩個偵測模組，即偵測模組230e及偵測模組230f。在其它實施例中，第一群組G1’及第二群組G2’可分別具有其它適當數量的偵測模組，本發 明不對此加以限制。

此外，本發明前述之實施例中例如圖1中之第一區段R1及第二區段R2係分別指觸控面110之上側與下側，惟其區分並不以此為限，例如亦可以將觸控面110水平對分而以上半區域為第一區段R1而下半區域為第二區段R2，或是將觸控面110垂直對分而以左半區域為第一區段R1而右半區域為第二區段R2，亦或是將觸控面110以對角對分而以左上半區域為第一區段R1而右下半區域為第二區段R2，或是其它只要能將造成對看之多個偵測模組予以以合理方式適當區分群組皆可。

綜上所述，在本發明的光學觸控系統中，當第一群組的發光單元發出偵測光以對觸控輸入進行偵測時，相向於第一群組的第二群組之發光單元會發出補償光，以使反射結構之間隙處因反射光線不足而產生之暗點問題可藉由補償光而被補償，同時，第二群組之偵測單元不作用。反之，當第二群組的發光單元發出偵測光以對觸控輸入進行偵測時，第一群組亦以相同的作用方式利用補償光對暗點問題進行補償同時亦不偵測，以讓偵測單元能夠正確地判斷觸控物的數量及位置，使光學觸控系統能夠利用數量較多的偵測模組準確地進行多點觸控感測。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

50a、50b、50c、50d‧‧‧第一發光元件

60a、60b、60c、60d‧‧‧第二發光元件

100‧‧‧光學觸控系統

110‧‧‧觸控面

120‧‧‧反射結構

120a~120d‧‧‧間隙

122‧‧‧反射邊條

130a~130d‧‧‧偵測模組

132a、132b、132c、132d‧‧‧發光單元

134a、134b、134c、134d‧‧‧偵測單元

G1‧‧‧第一群組

G2‧‧‧第二群組

L1‧‧‧偵測光

L2‧‧‧補償光

OB‧‧‧物體

R1‧‧‧第一區段

R2‧‧‧第二區段

Claims (17)

1. 一種光學觸控系統，包括：一觸控面；一反射結構，配置於該觸控面的周緣而圍繞該觸控面；以及多個偵測模組，配置於該觸控面的周緣，其中各該偵測模組具有一發光單元與一偵測單元，各該發光單元用以發出一偵測光，各該偵測單元用以偵測該偵測光被該反射結構反射後的一亮度值分佈，以判斷該觸控面上的各個位置是否接收觸控輸入，其中該觸控面的周緣包括彼此相向的一第一區段及一第二區段，一部分該些偵測模組位於該第一區段而組成一第一群組，另一部分該些偵測模組位於該第二區段而組成一第二群組，當該第一群組的至少一該發光單元往該第二區段發出該偵測光時，該第二群組的各該發光單元不發出該偵測光且該第二群組的各該偵測單元不作用，該偵測光在該第二群組的該些偵測模組處不被該反射結構反射而使該亮度值分佈產生至少一低亮度區，且該第二群組的各該發光單元發出一補償光以對該低亮度區進行補償，當該第二群組的至少一該發光單元往該第一區段發出該偵測光時，該第一群組的各該發光單元不發出該偵測光且該第一群組的各該偵測單元不作用。
2. 如申請專利範圍第1項所述的光學觸控系統，其中當該第二群組的至少一該發光單元往該第一區段發出該偵測光時，該偵測光在該第一群組的該些偵測模組處不被該反射結構反射而使該 亮度值分佈產生至少一低亮度區，且該第一群組的各該發光單元發出一補償光以對該低亮度區進行補償。
3. 如申請專利範圍第1項所述的光學觸控系統，其中該補償光的強度低於該偵測光的強度。
4. 如申請專利範圍第1項所述的光學觸控系統，其中各該發光單元包括一發光元件，該發光元件的發光強度可被調整，以發出該偵測光或發出該補償光。
5. 如申請專利範圍第1項所述的光學觸控系統，其中各該發光單元包括一第一發光元件及一第二發光元件，該第一發光元件用以發出該偵測光，該第二發光元件用以發出該補償光。
6. 如申請專利範圍第1項所述的光學觸控系統，更包括：一處理單元，用以判斷該補償光是否足以對該低亮度區進行補償；以及一光源控制器，用以控制各該發光單元發出該偵測光或該補償光，其中若該補償光不足以對該低亮度區進行補償，則該光源控制器調升該補償光的強度，直到該補償光足以對該低亮度區進行補償。
7. 如申請專利範圍第6項所述的光學觸控系統，其中若該補償光可將該低亮度區的亮度值補償至等於或大於一門檻值，則該處理單元判斷該補償光足以對該低亮度區進行補償。
8. 如申請專利範圍第7項所述的光學觸控系統，其中當該補償光將該低亮度區的亮度值補償至等於一基準值時，該低亮度區 被完全地補償，該門檻值低於該基準值。
9. 如申請專利範圍第1項所述的光學觸控系統，其中該反射結構包括多個反射邊條，該些反射邊條沿該觸控面的周緣間隔地排列而形成多個間隙，該些偵測模組分別位於該些間隙。
10. 一種觸控偵測方法，適用於一光學觸控系統，該光學觸控系統包括一觸控面、一反射結構及多個偵測模組，各該偵測模組具有一發光單元及一偵測單元，部分該些偵測模組組成一第一群組，另一部分該些偵測模組組成一第二群組，該觸控偵測方法包括：藉由該第一群組的至少一該發光單元發出一偵測光，當該第一群組的至少一該發光單元發出該偵測光時，該第二群組的各該發光單元不發出該偵測光且該第二群組的各該偵測單元不作用，其中該偵測光在該第二群組的該些偵測模組處不被該反射結構反射，而使該偵測光被該反射結構反射後的一亮度值分佈產生至少一低亮度區；藉由該第二群組的各該發光單元發出一補償光以對該低亮度區進行補償；藉由該第一群組的各該偵測單元偵測該亮度值分佈，以判斷該觸控面上的各個位置是否接收觸控輸入；以及當該第二群組的至少一該發光單元發出該偵測光時，該第一群組的各該發光單元不發出該偵測光且該第一群組的各該偵測單元不作用。
11. 如申請專利範圍第10項所述的觸控偵測方法，更包括：藉由該第二群組的至少一該發光單元發出一偵測光，其中該偵測光在該第一群組的該些偵測模組處不被該反射結構反射，而使該偵測光被該反射結構反射後的一亮度值分佈產生至少一低亮度區；藉由該第一群組的各該發光單元發出一補償光以對該低亮度區進行補償；以及藉由該第二群組的各該偵測單元偵測該亮度值分佈，以判斷該觸控面上的各個位置是否接收觸控輸入。
12. 如申請專利範圍第11項所述的觸控偵測方法，藉由各該發光單元發出該偵測光的步驟包括：藉由一光源控制器控制該第一群組及該第二群組輪流發出該偵測光。
13. 如申請專利範圍第11項所述的觸控偵測方法，其中藉由各該發光單元發出該偵測光的步驟包括：藉由一光源控制器控制該第一群組的該些發光單元同時或輪流發出該偵測光；以及藉由該光源控制器控制該第二群組的該些發光單元同時或輪流發出該偵測光。
14. 如申請專利範圍第10項所述的觸控偵測方法，其中藉由各該發光單元發出該偵測光及該補償光的步驟包括：當該第一群組發出該偵測光與該補償光的其中之一且該第二 群組發出該偵測光與該補償光的其中之另一時，藉由一光源控制器將該補償光的強度控制為低於該偵測光的強度。
15. 如申請專利範圍第10項所述的觸控偵測方法，更包括：藉由一處理單元判斷該補償光是否足以對該低亮度區進行補償；以及若該補償光不足以對該低亮度區進行補償，則藉由一光源控制器調升該補償光的強度，直到該補償光足以對該低亮度區進行補償。
16. 如申請專利範圍第15項所述的觸控偵測方法，其中判斷該補償光是否足以對該低亮度區進行補償的步驟包括：若該補償光可將該低亮度區的亮度值補償至等於一基準值而使該低亮度區被完全地補償，則該處理單元判斷該補償光足以對該低亮度區進行補償。
17. 如申請專利範圍第15項所述的觸控偵測方法，其中判斷該補償光是否足以對該低亮度區進行補償的步驟包括：若該補償光可將該低亮度區的亮度值補償至等於或大於一門檻值，則該處理單元判斷該補償光足以對該低亮度區進行補償，其中該門檻值低於一基準值，當該補償光將該低亮度區的亮度值補償至等於該基準值時，該低亮度區被完全地補償。