TWI479123B - 雷射頭、雷射模組及十字雷射測量儀 - Google Patents

雷射頭、雷射模組及十字雷射測量儀 Download PDF

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雷射頭、雷射模組及十字雷射測量儀
本發明係有關於一種雷射頭、雷射模組及十字雷射測量儀。
按,雷射標線結構(雷射測量儀)主要藉由雷射光在牆面或地面投射出垂直或水平的基準線或圖形,做為施工的參考依據。習用之雷射頭參考TW 547633號專利所述,於一可旋轉的光束投射器上設置有一定位座,定位座設有雷射測量頭,該雷射測量頭由一中空柱狀本體在一端面上一側突起一樞抵塊,另相對側設有兩側塊,樞抵塊樞設有一具有剖槽的夾鏡座,剖槽內安裝一為樞抵塊夾置之投射鏡石,夾鏡座另端設有一置於兩側塊間的圓柱,讓夾鏡座圓柱兩側,受到側塊上鎖穿的第一調整栓、第二調整栓分別抵定,提供投射鏡石結合於雷射測量頭穩固的用途。然而,受到空間及結構配置的影響,此種雷射頭所能調整的角度相當有限,且於調整固定後,雷射頭仍會有鬆動而造成角度偏移的情況發生,此時即需要重新作角度校正,因而會造成施工效率的降低。
鑑於上述問題,本發明之主要目的在於提供一種可供調整角度之雷射頭,其具有方便調整及高固定效果之功效。
本發明之其一目的在於提供一種可外部即時校正雷射頭之雷射頭模組,其雷射頭模組由至少二雷射頭所組成,藉此達到投射扇形光 束,克服習用扇形光束會光衰的問題。
本發明之另一目的在於提供一種具有本發明雷射頭之十字雷射測量儀,本發明利用該雷射頭本體所組裝之十字雷射測量儀,能達到實際貼壁量測功效,俾利雷射光效不衰減;並且使用者能直接在雷射頭外部進行角度校正,大幅提升使用效率與精確度。
為達成上述目的,本發明提供一種雷射頭,包含一底座、一雷射頭本體、一透鏡柱及複數調整結構。
該底座具有一組裝面且於該組裝面設有複數第一鎖孔;該雷射頭本體具有相對之一第一面、一第二面、一容置部、一開口、一光源投射器及二結合部,該第一面朝向該組裝面,該第二面可供量測表面接觸抵靠用,該容置部位於該第一面與該第二面之間並與該開口連通,該開口開設於該雷射頭本體之一端並貫穿該第一面與該第二面,該光源投射器設於該容置部並朝向該開口,各該結合部具有複數貫穿該第一面之第二鎖孔;該透鏡柱設於該開口並位於該光源投射器之光照路徑上;各調整結構包含有一第一調整件及一第二調整件,各第一調整件與各第二調整件分別螺鎖穿設於各第二鎖孔,各第一調整件末端螺鎖插設於各第一鎖孔,各第二調整件末端抵頂於該組裝面。
藉此,能利用第一調整件與第二調整件的螺鎖深度來調整光照角度方向,並且第一調整件與第二調整件兩者會相互牽制而形成穩固的支撐效果,使得該雷射頭本體與該底座兩者能維持在固定間距角度,以確保雷射頭在使用時光束角度不會任意跑位,增進施工作業便利性。
11‧‧‧底座
111‧‧‧組裝面
112‧‧‧第一鎖孔
12‧‧‧雷射頭本體
121‧‧‧第一面
122‧‧‧第二面
123‧‧‧側面
124‧‧‧容置部
125‧‧‧開口
13‧‧‧透鏡柱
131‧‧‧抵靠面
133‧‧‧第三面
134‧‧‧第四面
14‧‧‧調整結構
141‧‧‧第一調整件
142‧‧‧第二調整件
2‧‧‧本體
21‧‧‧頂部
126‧‧‧結合部
1261‧‧‧第二鎖孔
127‧‧‧第三鎖孔
128‧‧‧第三調整件
129‧‧‧閃避槽
22‧‧‧底部
23‧‧‧周面
3‧‧‧腳架
4‧‧‧雷射光源
5‧‧‧雷射模組
圖1為本發明雷射頭之分解圖。
圖2為本發明雷射頭之立體圖。
圖3為本發明雷射頭之前視圖。
圖4及圖5為本發明雷射頭之使用狀態示意圖。
圖6為本發明十字雷射測量儀之前視圖。
以下將以較佳實施例說明本發明之結構特徵及其預期達成之功效,然並非用以限制本發明所欲保護之範疇,合先敘明。
請參考圖1至圖3,本發明之雷射頭,包含一底座11、一雷射頭本體12、一透鏡柱13及複數調整結構14。
該底座11具有一組裝面111且於該組裝面111設有複數第一鎖孔112,各第一鎖孔112為具有內螺紋之鎖孔。該雷射頭本體12具有相對之一第一面121、一第二面122、二側面123、一容置部124、一開口125、一光源投射器及二結合部126,該第一面121朝向該組裝面111,該第二面122可供量測表面接觸抵靠用(較佳者第二面為平面態樣),該二側面123連接該第一面121與該第二面122,該容置部124位於該第一面121與該第二面122之間並與該開口125連通,該開口125開設於該雷射頭本體12之一端並貫穿該第一面121與該第二面122。該光源投射器為可發出雷射光之發光結構,該光源投射器設於該容置部124並朝向該開口125。該二結合部126分別設於該二側面123,該二結合部126低於該第二面122而形成階級狀之落差,各該結合部126具有複數貫穿該第一面121之第二鎖孔1261(第 二鎖孔1261為具有內螺紋之鎖孔),各該結合部126之第二鎖孔1261呈一直線排列,並且該二結合部126之第二鎖孔1261排列方向相互平行;該透鏡柱13設於該開口125並位於該光源投射器之光照路徑上;各調整結構14包含有一第一調整件141及一第二調整件142,各第一調整件141與各第二調整件142分別螺鎖穿設於各第二鎖孔1261,各第一調整件141末端螺鎖插設於各第一鎖孔112,各第二調整件142末端抵頂於該組裝面111。
藉此,前述之雷射頭可應用在十字雷射測量儀(搭配參考圖1及圖6),該十字雷射測量儀更包含一本體2、複數腳架3、一十字定位座及一雷射模組5,該本體具有一頂部21、一底部22及一連接該底部22與該頂部21之周面23,各腳架3與該十字定位座分別設於該本體2之底部22及頂部21,該十字定位座具有四投射端且分別設有一雷射光源4(各雷射光源4呈斜向往周圍照射時雷射框圖形會相交而形成十字狀之圖形,此為習用技術而不再贅述)。該雷射模組5設於該本體2之周面23任一處,本實施例之雷射模組5呈垂直的方式直立設置,以便抵靠於垂直的牆壁使用;該雷射模組5包含三個前述之雷射頭,各底座11之一端相接而概呈Y狀,各底座11平行於同一平面且夾角為120度,各光源投射器朝向周圍,以在各光源投射器於照射時所形成之線條相接而形成封閉之雷射框圖形。在量測使用時,能將第二面122緊貼牆面,使雷射框圖形能夠平貼於牆面,以作為施工時厚度及平整度的參考標準。
本發明之特點在於調整結構14的設計供施工者能調整光源投射器之照射角度,能做雷射框圖形之微調校正;更明確地說,於雷射頭本體12與底座11進行組裝時,可先將第一調整件141螺鎖於第一鎖孔112 後,再把第二調整件142裝入並抵頂在組裝面111(亦可將順序相反);藉此,能利用第一調整件141的螺鎖深度來控制該雷射頭本體12與該底座11兩者之間距及傾斜角度(如圖4及圖5所示),以改變光源投射器之光照角度,達到微調光照角度之目的,如本實施例中設有四組調整結構14,只要改變其中一者即能使光照角度做些微改變,又或者同時改變二者、三者或四者等,自由度極高,依需求做使用,相當方便;再者,第二調整件142抵頂在組裝面111,第二調整件142確保該雷射頭本體12與該底座11間距能至少維持在一距離(提供一支撐點),以讓第一調整件141與第二調整件142會相互牽制而形成一穩固的固定效果,故當第一調整件141與第二調整件142兩者皆迫緊固定後,能夠在雷射頭本體12與底座11之間形成極佳之固定效果,使兩者無法任意分離或相靠近,能維持在固定角度,改善習用雷射頭角度容易偏移跑位的情況,確保施工作業能順利進行。
此外,需補充的是,該雷射頭本體12設有複數第三鎖孔127,各該第三鎖孔127貫穿於該開口125與該側面123之間,並於各第三鎖孔127螺鎖穿設有一第三調整件128,各第三調整件128能藉由第三鎖孔127而進出該開口125並抵頂於該透鏡柱13;藉此,當一側之第三調整件128螺鎖深度增加,另一側之第三調整件128螺鎖深度減少時,該透鏡柱13即會做些許角度偏擺,利用一進一出的螺鎖方式來達到調整透鏡柱13角度之目的。因此,本發明除了做能雷射頭本體12與底座11之角度調整外,還能再進一步做透鏡柱13角度的調整,以能應用多種使用狀況及需求。
再者,該雷射頭本體12於該開口125之一端更設有二閃避槽129,該二閃避槽129分別位於該透鏡柱13之兩側處,該二閃避槽129 之連線方向垂直於該第一面121與該第二面122之連線方向,該閃避槽129概呈ㄇ形凹槽之態樣,該透鏡柱13較該二閃避槽129凸出於該開口125之一端;藉此,該閃避槽129有助於提高透鏡柱13之光照角度範圍,減少雷射頭本體12對於透鏡柱13所產生的阻擋干擾,確保成形後的雷射框圖形能夠具有高亮度及明顯的視覺效果。
又,該透鏡柱13於鄰近該第二面122之一端呈平面狀之抵靠面131,該抵靠面131與該第二面122切齊;藉此,當第二面122抵靠於牆壁使用時,抵靠面131切齊的設計能夠讓該透光柱13更為接近牆壁,增加雷射框圖形與牆壁平面之重疊效果,使圖形更為貼近施工表面。
該透鏡柱13具有一朝向該容置部之第三面133及一背向該容置部之第四面134,該第三面133呈平面狀,該第三面133平貼抵靠於該雷射頭本體12(雷射頭本體12之接觸表面同樣呈平面),該第四面134呈平面狀,該第四面134與該雷射頭本體12於該開口125之一端切齊;藉此,第三面133供該透鏡柱13裝設時能夠穩固抵靠在該雷射頭本體12,第四面134切齊之設計,使得透鏡柱13不會凸出或凹入該雷射頭本體12,以減少角度誤差而能夠增進抵靠準確性。
習用雷射頭之結構主要是利用雷射頭晶片、透鏡柱與反射鏡所組成,其實際雷射發射經由雷射頭晶片投射雷射光束在反射鏡上,再反射由透鏡柱發射出,用以形成雷射扇形構面,但此種結構因為雷射光束須經由反射鏡反射,因此造成發射的雷射扇形會因距離而有光衰現象缺點,造成使用者之精度降低;本發明之主要特點在於解決習知雷射頭光衰問題,本發明結構主要由雷射頭晶片、透鏡柱與調整件所組成,其雷射發射 僅須由雷射頭晶片投射雷射光束透過透鏡柱直接發射,即可形成雷射扇形構面,因此解決習知結構光衰現象缺點,此外本發明之另一特點在於將習知調整結構直接一體設立在雷射頭本體上,俾利使用者能即時針對雷射頭本體進行校正,避免習用結構必須拆卸雷射頭本體才能校正的問題。
本發明更重要的是將雷射頭本體裝設於十字雷射測量儀上,藉此該十字雷射測量儀能形成一全面性的垂直、水平雷射扇形構面,因此,使用者於使用本發明時,可更貼近於施工牆面線,且不會有光衰現象產生,用以提供裝飾或粉刷等工程的施工厚度的參照基準。
總結上述,本發明之雷射頭不僅結構創新,且極具進步之功效,符合專利法相關規定,爰依法提起專利申請,鑑請 鈞局早日核予專利,實感德便。
11‧‧‧底座
111‧‧‧組裝面
112‧‧‧第一鎖孔
12‧‧‧雷射頭本體
121‧‧‧第一面
122‧‧‧第二面
123‧‧‧側面
124‧‧‧容置部
125‧‧‧開口
126‧‧‧結合部
1261‧‧‧第二鎖孔
127‧‧‧第三鎖孔
128‧‧‧第三調整件
129‧‧‧閃避槽
13‧‧‧透鏡柱
131‧‧‧抵靠面
133‧‧‧第三面
134‧‧‧第四面
14‧‧‧調整結構
141‧‧‧第一調整件
142‧‧‧第二調整件

Claims (8)

  1. 一種雷射頭,包含:一底座,頂面具有一組裝面且於該組裝面設有複數第一鎖孔;一雷射頭本體,位於該底座上方而具有相對之一第一面、一第二面、一容置部、一開口、一光源投射器及二結合部,該第一面朝向該組裝面,該第二面朝上而可供量測表面接觸抵靠用,該容置部位於該第一面與該第二面之間並與該開口連通,該開口開設於該雷射頭本體之一端並貫穿該第一面與該第二面,該光源投射器設於該容置部並朝向該開口,該二結合部分別位於該雷射頭本體的左右兩側且具有一低於該第二面的頂面,使該第二面與各該結合部呈階梯狀,各該結合部具有複數縱向貫穿該結合部頂面與該雷射頭本體第一面之第二鎖孔;一透鏡柱,設於該開口並位於該光源投射器之光照路徑上,該開口左右兩側分別形成一鉛直的側壁,各該側壁橫向穿設有連通該開口與外界的複數個第三鎖孔;複數調整結構,各包含有一第一調整件及一第二調整件,各第一調整件與各第二調整件分別螺鎖穿設於各第二鎖孔,各第一調整件末端螺鎖插設於各第一鎖孔,各第二調整件末端抵頂於該組裝面;複數個第三調整件,各該第三調整件螺合於其中一第三鎖孔而伸入該開口以側向抵頂該透鏡柱。
  2. 如請求項1所述之雷射頭,其中各該結合部之第二鎖孔呈一直線排列,並且該二結合部之第二鎖孔排列方向相互平行,該些第一調整件與該些第二調整件係呈交替依序排列。
  3. 如請求項1所述之雷射頭,其中該開口兩側的側壁之前端端面更凹設有二閃避槽,該二閃避槽分別位於該透鏡柱之兩側處,該透鏡柱較該二閃避槽向前凸出,而該透鏡柱不較該開口兩側的側壁之前端端面向前凸出。
  4. 如請求項1所述之雷射頭,其中該透鏡柱於鄰近該第二面之一端呈平面狀並與該第二面切齊。
  5. 如請求項1所述之雷射頭,其中該透鏡柱具有一朝向該容置部之第三面,該第三面呈平面狀,該第三面平貼抵靠於該雷射頭本體。
  6. 如請求項3所述之雷射頭,其中該透鏡柱具有一背向該容置部之第四面,該第四面呈平面狀,該第四面與該二側壁之前端端面切齊。
  7. 一種雷射模組,包含三如請求項1至6中任一項所述之雷射頭,其中各底座較遠離該透鏡柱之一端相接而概呈Y狀,各光源投射器朝向周圍。
  8. 一種十字雷射測量儀,包含至少一如請求項7所述之雷射模組,更包含一本體、複數腳架及一十字定位座,該本體具有一頂部、一底部及一連接該底部與該頂部之周面,各腳架與該十字定位座分別設於該本體之底部及頂部,該十字定位座概呈水平、具有四投射端且各投射端分別設有一水平之雷射光源,該雷射模組設於該本體之側周面且概呈鉛直,該三雷射頭本體的第二面背向該本體且呈鉛直,使該三雷射頭本體射出的光線位於一鉛直面上而分別往不同方向延伸。
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