TWI421515B - 開路偵測方法與具有開路偵測功能之測試載台 - Google Patents

Description

開路偵測方法與具有開路偵測功能之測試載台

本發明係關於一種開路偵測方法與具有開路偵測功能之測試載台，並且特別是關於一種在進行高壓測試以前，以低能量電壓對待測物兩端進行開路檢查之開路偵測方法與具有開路偵測功能之測試載台。

在一般電氣零件或成品或者零件的品質檢驗必須使用耐壓機進行高壓量測以確認該待測物是否符合安全規格的耐電壓條件。然而，在實際進行高壓測試時，如果與測試點與待測物接觸不佳時會發生弧光，進而長期影響接觸點的壽命，又因為不良的接觸可能高電壓並沒有確實傳送到待測物，更有機會發生耐電壓不良品誤判定為良品之情況。因此，對高壓產生設備而言，上述弧光的產生會對設備本身或其他附屬的測試設備造成干擾，相對影響設備的可靠度以及穩定性，進而影響的測試結果的可靠性。

傳統的高壓測量設備多已具備開路偵測技術。舉例來說，以直流方式進行高壓量測時，多是利用待測物瞬間充電電流特性，對低容量待測物無法確認高壓是否連接正常，也就是說，當待測物僅具有微小電容量時，傳統的高壓測量設備無法有效偵測待測物是否連接。此外，以交流方式進行待測試是否連接也有低容量無法偵測的問題。

因此，針對上述問題需要一種新的開路偵測方法，在 進行高壓測試以前，以低能量電壓對待測物兩端進行開路檢查，確認正常以後再執行高壓測試，確保高壓測試的有效性，進而達到提高測試可靠度的要求。

本發明揭露一種在進行高壓測試以前，以低能量電壓對待測物兩端進行開路檢查之具有開路偵測功能之測試載台，藉此，本發明之測試載台可減少進行待測物之高壓測試時的弧光發生，提高測試設備的使用壽命以及可靠度。

本發明提出一種具有開路偵測功能之測試載台，電性連接具有一測試程序之一測試設備，測試載台用以卡持至少一待測物，且測試載台包含一第一電路、一第二電路以及一控制單元。第一電路具有一第一測試端與一第二測試端，當第一測試端與第二測試端同時電性連接於待測物時，第一電路與待測物形成一第一電流迴路並產生一第一控制信號。第二電路具有一第三測試端與一第四測試端，當第三測試端與第四測試端同時電性連接於待測物時，第二電路與待測物形成一第二電流迴路並產生一第二控制信號。控制單元電性連接第一電路、第二電路與測試設備，用以接收第一控制信號與第二控制信號並據以控制測試設備執行測試程序。

於一示範實施例中，本發明之第一測試端電性連接測試設備之一高壓端並與高壓端等電位，第三測試端電性連接測試設備之一低壓端並與低壓端等電位。此外，第一電路具有一第一電源與一第一耦合單元，當第一電流迴路形成後，第一電源驅動第一耦合單元以產生第一控制信號。

此外，本發明另揭露一種開路偵測方法，可在進行高壓測試以前，以低能量電壓對待測物兩端進行開路檢查。藉此，本發明可減少進行待測物之高壓測試時的弧光發生，提高測試設備的使用壽命以及可靠度

本發明所提出一種開路偵測方法，包含下列步驟：首先，將一待測物卡持於一測試載台，測試載台具有一第一電路以及一第二電路。接著，判斷第一電路是否與待測物形成一第一電流迴路，以及判斷第二電路是否與待測物形成一第二電流迴路。接著，當第一電流迴路與第二電流迴路皆導通時，執行一測試程序。

因此，本發明之開路偵測方法與具有開路偵測功能之測試載台可在進行高壓測試以前，以低能量電壓對待測物兩端進行開路檢查，確認正常以後再執行高壓測試，確保高壓測試的有效性，進而減少弧光發生，提高測試設備本身以及其他設備的可靠度。此外，本發明之測試載台的結構簡單，不需複雜的電路即可使用簡單的接觸測試電路確保執行高壓測試的有效性，以減少誤判造成的測試失誤。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

請一併參閱圖一A以及圖一B，圖一A係繪示根據本發明之一示範實施例之具有開路偵測功能之測試載台的功能方塊圖。圖一B係繪示根據圖一A之測試載台的功 能方塊圖。如圖所示，本發明之測試載台1適於搭配測試設備2以卡持待測物3。其中，測試載台1進一步包含第一電路10、第二電路12以及控制單元14。以下分別描述本發明的元件。

第一電路10具有測試端102a與測試端102b，當測試端102a與測試端102b同時電性連接於待測物3時，第一電路10與待測物3形成第一電流迴路並產生第一控制信號。於實務中，第一電路10具有第一電源與第一耦合單元，第一電源可用以驅動第一耦合單元以輸出第一控制信號。在此，第一耦合單元係用以將測試設備2之高壓端22a的測試結果傳遞到低壓側的零件，第一耦合單元可以是光耦合器或其它形式具隔離作用的零件。

換句話說，第一電路10透過測試端102a與測試端102b進行待測物3的接觸測試，第一電流迴路形成表示第一電路10與待測物3已確實接觸，而第一電流迴路導通後，由第一電源驅動第一耦合單元以產生第一控制信號做為接觸測試的測試結果。

此外，第一電路10更可包含一第一限流電路，其功能在於限制第一電流迴路中的電流，舉例來說，第一限流電路可以是電阻或任意型式的限流電路。更詳細來說，測試端102a電性連接測試設備2之高壓端22a並與高壓端22a等電位端等電位，且測試端102a可耦接於第一電源。其中，第一電源提供第一電流迴路中所需的電源，如果測試端102a具有高電壓，此第一電源必須具備高隔離功能。

第二電路12具有測試端122a與測試端122b，當測試端122a與測試端122b同時電性連接於待測物3時，第二電路12與待測物3形成第二電流迴路並產生第二控制信號。於實務中，第二電路12具有第二電源與第二耦合單元，第二電源可用以驅動第二耦合單元以輸出第二控制信號。在此，第二耦合單元係用以將測試設備2之低壓端22b的測試結果傳遞到低壓側的零件，它可以是光耦合器或其它形式具隔離作用的零件，當然，實際上也可以不需要隔離。

換句話說，第二電路12透過測試端122a與測試端122b進行待測物3的接觸測試，第二電流迴路形成表示第二電路12與待測物3已確實接觸，而第二電流迴路導通後，由第二電源驅動第二耦合單元以產生第二控制信號做為接觸測試的測試結果。

此外，第二電路12更可包含一第二限流電路，其功能在於限制第二電流迴路中的電流，舉例來說，第二限流電路可以是電阻或任意型式的限流電路。更詳細來說，測試端122a電性連接測試設備2之低壓端22b並與低壓端22b等電位端等電位，且測試端122a可耦接於第二電源。

控制單元14電性連接第一電路10、第二電路12與測試設備2，接收第一控制信號與第二控制信號並據以控制測試設備2執行測試程序。於實務中，控制單元14可包含一乘法器或其他適於訊號合併之電路，用以將第一電路10與第二電路12之測試結果合併，當測試載台1確實卡持待測物3時，進而控制測試設備2執行測試程序。

值得一提的是，測試設備2可具有一測試程序。於實務上，測試設備2可對應不同的測試程序產生測試所需的測試 訊號。舉例來說，測試設備2可隨待測物3不同而產生高壓訊號或其他訊號，也就是說，測試設備2可以是高壓測試設備或其它零件測試設備。此外，待測物3可為一光耦合器或者一電容器。以下搭配本發明之開路偵測方法加以說明。

請參閱圖一B與圖二，圖二係繪示根據本發明之一示範實施例之開路偵測方法的流程圖。如圖所示，於步驟S40中，待測物3可由機械或人工方式卡持於測試載台1中。接著，於步驟S42中，若測試載台1與待測物3電性連接，則第一電路10與第二電路12將分別形成第一電流迴路與第二電流迴路，進而分別送出第一控制信號與第二控制信號至控制單元14以指示待測物3已妥善連接於測試載台1。另一方面，若測試載台1與待測物3未確實電性連接，則第一電流迴路與第二電流迴路至少其中一個無法導通，進而第一控制信號與第二控制信號至少其中一個無法傳遞至控制單元14，控制單元14可從而判斷待測物3未妥善連接於測試載台1。

上述步驟S42中，當控制單元14判斷待測物3已妥善連接於測試載台1時，可進一步由步驟S44中所示，控制單元14可控制測試設備2執行測試程序。此外，當控制單元14判斷待測物3未妥善連接於測試載台1時，可進一步由步驟S46中所示，控制單元14可再指示相關機械或人員將待測物3由機械或人工方式移除於測試載台1中。緊接著由步驟S48中，控制單元14可指示所述相關機械或人員將待測物3再次由機械或人工方式重新卡持於測試載台1中。於實務中，若干不理想的因素可由重新連接的過程中排除，本發明在此並不限定重新連接待測物3於測試載台1中的次數，本發明所 屬技術領域具有通常知識者可以自行設定之。

當重新連接待測物3於測試載台1的步驟完成後，可繼續步驟S50，其中步驟S50與步驟S42相同，在此不予贅述。若重新連接之後控制單元14判斷待測物3已妥善連接於測試載台1，則表示造成接觸不良的不理想因素已被排除，可進一步執行步驟S44，由控制單元14控制測試設備2執行測試程序。另一方面，若重新連接之後，待測物3仍未妥善連接於測試載台1，則可由步驟S52中，控制單元14將待測物3歸類為不良品，並可進行下一個待測物3的接觸測試。

於實際應用上，請參閱圖三A以及圖三B，圖三A係繪示根據本發明之一示範實施例之具有開路偵測功能之測試載台的電路示意圖。圖三B係繪示根據本發明之另一示範實施例之具有開路偵測功能之測試載台的電路示意圖。其中，圖三A與圖三B不同的地方在於，待測物3可為於圖三A中為一光耦合器，待測物3可為於圖三B中為一電容器。如圖所示，第一電路10具有第一電源104、第一限流電路106與第一耦合單元108。第一電源104提供第一電流迴路中的電源，並驅動第一耦合單元108以輸出第一控制信號。第一限流電路106可用以限制第一電流迴路中的電流。同樣的，第二電路12具有第二電源124、第二限流電路126與第二耦合單元128。第二電源124提供第二電流迴路中的電源，並驅動第二耦合單元128以輸出第二控制信號。第二限流電路126可用以限制第二電流迴路中的電流。

在此，第一電路10之測試端102a與測試端102b同時電性連接於待測物3時，於第一電路10內部可形成第一電流迴路。於此第一電流迴路中，第一電源104可用以驅動第一耦合單元108以輸出第一控制信號至控制單元14。同樣的，第二電路12之測試端122a與測試端122b同時電性連接於待測物3時，於第二電路12內部可形成第二電流迴路。於此第二電流迴路中，第二電源124可用以驅動第二耦合單元128以輸出第二控制信號至控制單元14。當控制單元14接收第一控制信號與第二控制信號之後，可進一步控制測試設備2執行測試程序。

綜上所述，本發明之開路偵測方法與具有開路偵測功能之測試載台可提供完整高壓測試的解決方案，保證高低壓測試端連接正常後開始高壓測試，提高產品測試可靠度。也就是說，本發明可在進行高壓測試以前，以低能量電壓對待測物兩端進行開路檢查，確認正常以後再執行高壓測試，確保高壓測試的有效性，進而減少弧光發生，提高測試設備本身以及其他設備的可靠度。此外，本發明之測試載台的結構簡單，不需複雜的電路即可使用簡單的接觸測試電路確保執行高壓測試的有效性，以減少誤判造成的測試失誤

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

1‧‧‧測試載台

2‧‧‧測試設備

3‧‧‧待測物

10‧‧‧第一電路

12‧‧‧第二電路

14‧‧‧控制單元

102a、102b、122a、122b‧‧‧測試端

104‧‧‧第一電源

106‧‧‧第一限流電路

108‧‧‧第一耦合單元

124‧‧‧第二電源

126‧‧‧第二限流電路

128‧‧‧第二耦合單元

22a‧‧‧高壓端

22b‧‧‧低壓端

S40~S52‧‧‧流程步驟

圖一A係繪示根據本發明之一示範實施例之具有開路偵測功能之測試載台的功能方塊圖。

圖一B係繪示根據圖一A之測試載台的功能方塊圖。

圖二係繪示根據本發明之一示範實施例之開路偵測方法的流程圖。

圖三A係繪示根據本發明之一示範實施例之具有開路偵測功能之測試載台的電路示意圖。

圖三B係繪示根據本發明之另一示範實施例之具有開路偵測功能之測試載台的電路示意圖。

1‧‧‧測試載台

2‧‧‧測試設備

3‧‧‧待測物

10‧‧‧第一電路

12‧‧‧第二電路

14‧‧‧控制單元

102a、102b、122a、122b‧‧‧測試端

22a‧‧‧高壓端

22b‧‧‧低壓端

Claims (8)

1. 一種具有開路偵測功能之測試載台，電性連接具有一測試程序之一測試設備，該測試載台用以卡持至少一待測物，且該測試載台包含：一第一電路，具有一第一測試端與一第二測試端，該第一測試端電性連接該測試設備之一高壓端並與該高壓端等電位，當該第一測試端與該第二測試端同時電性連接於該待測物時，該第一電路與該待測物形成一第一電流迴路並產生一第一控制信號；一第二電路，具有一第三測試端與一第四測試端，該第三測試端電性連接該測試設備之一低壓端並與該低壓端等電位，當該第三測試端與該第四測試端同時電性連接於該待測物時，該第二電路與該待測物形成一第二電流迴路並產生一第二控制信號；以及一控制單元，電性連接該第一電路、該第二電路與該測試設備，用以接收該第一控制信號與該第二控制信號並據以控制該測試設備執行該測試程序。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試載台，其中該第一電路具有一第一電源與一第一耦合單元，當該第一電流迴路形成後，該第一電源驅動該第一耦合單元以產生該第一控制信號。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試載台，其中該待測物係一光耦合器。
4. 如申請專利範圍第1項所述之測試載台，其中該待測物係一電容器。
5. 一種開路偵測方法，該方法包含下列步驟：將一待測物卡持於一測試載台，該測試載台具有一第一電路以及一第二電路，該第一電路設置於該測試載台之一高壓端，該第二電路設置於該測試載台之一低壓端；判斷該第一電路是否與該待測物形成一第一電流迴路；判斷該第二電路是否與該待測物形成一第二電流迴路；以及當該第一電流迴路與該第二電流迴路皆導通時，執行一測試程序。
6. 如申請專利範圍第5項所述之開路偵測方法，其中當該第一電流迴路與該第二電流迴路未皆導通時，更包含下列步驟：將該待測物自該測試載台上移除；以及重新將該待測物卡持於該測試載台。
7. 如申請專利範圍第5項所述之開路偵測方法，其中該待測物係一光耦合器。
8. 如申請專利範圍第5項所述之開路偵測方法，其中該待測物係一電容器。