TWI412923B - 電源測試系統 - Google Patents

Description

電源測試系統

本發明涉及一種測試系統，尤指一種適用於電源供應器(以下簡稱“電源”)溫度測試之測試系統。

電源係電腦之功率部件，電腦中每個部件之電能來源都係依靠電源，它係保證電腦硬體正常運作最基本之前提。電源之好壞直接影響著電腦能否正常運行，在電腦之研發、生產、檢測等過程中都需要對電源之各項工作參數進行測試。

在對電源進行溫度測試時，往往需要設置複數測試條件，且在測試過程中需變化不同之測試條件對其進行測試。在習知技術中，測試一個電源約需12小時，且每2小時需要人工作業變化測試條件。因此，測試過程非常繁瑣，給測試人員帶來不便，且浪費了人力、增加了成本。

鑒於以上內容，有必要提供一種可自動切換測試條件之用於溫度測試之電源測試系統。

一種電源測試系統，用於一電源之溫度測試，其包括一容置該電源用於提供測試環境之測試箱、一電子負載、一測試板及一連接 於該電源之交流電源，該電源藉由該測試板與該電子負載相連，該電源上設有一電壓選擇開關，該測試板上設有一電源開機信號控制開關，該電源測試系統還包括一分別連接該電源、該交流電源及該測試板之可編程邏輯控制器，該可編程邏輯控制器檢測該交流電源之輸出電壓及該電子負載之負載狀態，並根據檢測結果控制該電壓選擇開關及電源開機信號開關之開閉。

相對習知技術，本發明在對電源進行溫度測試時，可根據程式設定自動切換測試條件，提高了測試人員之工作效率，減少了人力需求，降低了成本。

10‧‧‧測試箱

11‧‧‧節點

12‧‧‧節點

13‧‧‧節點

14‧‧‧節點

15‧‧‧節點

17‧‧‧節點

18‧‧‧LC模組

20‧‧‧測試板

30‧‧‧可編程邏輯控制器

31‧‧‧光電耦合器

32‧‧‧端子

33‧‧‧光電耦合器

34‧‧‧端子

35‧‧‧燈泡

40‧‧‧電源

50‧‧‧電子負載

60‧‧‧交流電源

80‧‧‧控制設備

圖1為本發明電源測試系統較佳實施方式之結構關係圖。

圖2為本發明電源測試系統中測試條件之變化曲線圖。

圖3為本發明電源測試系統中PLC之接線圖。

圖4為本發明電源測試系統中PLC之工作流程圖。

請參閱圖1，本發明電源測試系統較佳實施方式用於測試一待測電源40之溫度，其包括一容置該待測電源40之測試箱10、一測試板20、一電子負載50、一交流電源60、一連接該電子負載50及交流電源60之控制設備80及一PLC(Programmable Logic Controller，可編程邏輯控制器)30。

該電源40上設有一電壓選擇(115/230V)開關，當開關閉合時，該電源40之輸入電壓選擇為115V，當開關斷開時，其輸入電壓切 換為230V，在不同國家使用時可切換至不同檔位。該測試箱10用於模擬電源40工作時之測試環境，其可設定為兩種自動切換狀態：電腦待機時之低溫狀態及電腦運行時之高溫狀態。該測試板20上設有一用於控制該電源40開機信號PS-ON(Power Supply-ON)之電源開機信號控制開關(PS-ON開關)，當開關閉合時，該電源40處於工作狀態，當開關斷開時，該電源40處於待機狀態。該電子負載50係一種測試電源之電壓、電流等參數之測試設備，其包括複數輸入介面，可類比該電源40之負載在電源供電下進行測試。在本發明中，設有以下三種負載：待機負載、第一滿載及第二滿載。該電源40與該交流電源60相連，接收該交流電源60輸出之交流電壓。該電源40藉由該測試板20與該電子負載50相連。該電子負載50與該交流電源60分別藉由該控制設備80控制，在本發明中，該控制設備80為一Chroma8200設備，用以實現該電子負載50在三種負載之間之自動切換，並控制該交流電源60之輸出電壓在230V與115V之間自動切換，該控制設備80藉由GPIB(General-Purpose Interface Bus，通用介面匯流排)匯流排分別與該電子負載50及該交流電源60進行資料傳輸。該PLC30分別與該電源40、該交流電源60及該測試板20相連，用於檢測該電源40是否正常及控制該115/230V開關及PS-ON開關之自動開閉。

請參閱圖2，圖2為本發明電源測試系統中測試條件之變化曲線圖。在對該電源40進行溫度測試時，共需要12小時(H)，且每2小時需變化部分測試條件。在0H~2H內，電源40之輸入電壓為230V ，115/230V開關處於斷開狀態，電子負載50設置為待機負載，PS-ON開關處於斷開狀態，測試箱10之溫度為待機時之低溫狀態。在2H~4H內，將該電子負載50變換為第一滿載，PS-ON開關切換為閉合狀態，測試箱10之溫度切換為高溫狀態，其他測試條件無需改變。在4H~6H內，將該電子負載50變換為第二滿載，其他測試條件不變。在6H~8H內，輸入電壓變為115V，115/230V開關切換為閉合狀態，其他測試條件不變。在8H~10H內，將該電子負載50變換為第一滿載，其他測試條件不變。在10H~12H內，將該電子負載50變換為待機負載，PS-ON開關切換為斷開狀態，測試箱10之溫度切換為低溫狀態，其他測試條件不變。每變換一次測試條件測試完成後，電源40及其內部元件之溫度參數將自動保存於一資料存儲中心，測試人員可按照時間查找並記錄資料。

請參閱圖3，圖3為本發明電源測試系統中PLC30之接線圖。該交流電源60之兩輸出端分別藉由一開關KM與該電源40之輸入端相連，其中一輸出端藉由一電阻R1及兩並聯連接之發光二極體D1、D2連接至另一輸出端，該發光二極體D2一側設有一用於感應其光源之光敏電阻R2，該電阻R2之兩端分別與該PLC30之兩輸入端X0、COM相連，該兩輸入端X0、COM之間連接一開關K1。該電源40輸出之一+5Vsb(stand by)輔助電壓藉由一電阻R3及一光電耦合器31與該PLC30之兩輸入端X1、COM相連，該兩輸入端X1、COM之間連接一開關K2。該電源40輸出之一PG(Power Good)電源電壓信號藉由一電阻R4及一光電耦合器33與該PLC30之兩輸入端X2、COM相連，該兩輸入端X2、COM之間連接一開關K3。該PLC30之輸出端Y0、 COM0之間連接一開關K4，該輸出端Y0藉由一節點11與該PS-ON開關相連，該輸出端COM0藉由一節點13接地，該節點11與13之間連接一二極體D3。該PLC30之輸出端Y2、Y3及Y4一端分別連接一開關K5、K6及K7，且開關K5、K6及K7之另一端分別與輸出端COM2相連。該輸出端Y2之另一端藉由一燈泡35及一節點12與一端子32相連。該輸出端Y3之另一端藉由一節點14、開關KM及一節點15與節點12相連，該節點14還藉由一LC模組18、一節點17及節點15與節點12相連。該輸出端Y4之另一端藉由一繼電器J與節點17相連。該輸出端COM2之另一端與一端子34相連。該端子32及端子34之間輸入一220V交流電壓。當發光二極體D1或D2發光時，開關K1處於閉合狀態；當+5Vsb電壓正常輸入時，光電耦合器31將控制開關K2閉合；當PG電壓信號正常輸入時，光電耦合器33將控制開關K3閉合；開關K4用於控制PS-ON開關之開閉；開關K5及K6在正常情況下處於常閉狀態；開關K7藉由控制繼電器J觸點之開閉來實現115/230V開關之開閉。

請繼續參閱圖4，圖4為PLC30之工作流程圖。當PLC30內部檢測到輸入電壓為230V，電子負載50為待機負載之狀態時，會控制開關K4斷開、K5閉合、K6閉合、K7斷開，若開關K2斷開，則需進行故障處理；當PLC30內部檢測到輸入電壓為230V，電子負載50變換為第一滿載之狀態時，會控制開關K4閉合、K5閉合、K6閉合、K7斷開，若開關K2或K3斷開，則需進行故障處理；當PLC30內部檢測到輸入電壓為230V，電子負載50變換為第二滿載之狀態時，會控制開關K4閉合、K5閉合、K6閉合、K7斷開，若開關K2或K3斷開 ，則需進行故障處理；當輸入電壓從230V變為115V時，會存在大約5ms之延遲，此時PLC30會控制開關K4斷開、K5閉合、K6斷開、K7閉合；當PLC30內部檢測到輸入電壓為115V，電子負載50為第二滿載之狀態時，會控制開關K4閉合、K5閉合、K6閉合、K7閉合，若開關K2或K3斷開，則需進行故障處理；當PLC30內部檢測到輸入電壓為115V，電子負載50變換為第一滿載之狀態時，會控制開關K4閉合、K5閉合、K6閉合、K7閉合，若開關K2或K3斷開，則需進行故障處理；當PLC30內部檢測到輸入電壓為115V，電子負載50變換為待機負載之狀態時，會控制開關K4斷開、K5閉合、K6閉合、K7閉合，若開關K2斷開，則需進行故障處理。出現故障後，開關K5或K6將斷開，可藉由觀察燈泡35是否發光或開關KM之開閉來顯示故障。待測試結束後，可藉由資料存儲中心查找並記錄測試後之資料。因此，在對電源40進行溫度測試時，無需手動切換測試條件：藉由該控制設備80控制交流電源60之輸入電壓與電子負載50之切換，藉由PLC30控制電源40上之115/230V開關及PS-ON開關之開閉，測試箱10之溫度可設置為自動切換。

本發明電源測試系統相較於傳統之測試系統具有以下優點：1.測試條件可按照程式自動切換，提高了工作效率，減少了人力需求，降低了成本。2.可自動進行故障檢測，及時顯示故障。3.測試結果可自動存儲於資料存儲中心，測試人員無需手動存儲。

10‧‧‧測試箱

20‧‧‧測試板

30‧‧‧可編程邏輯控制器

40‧‧‧電源

50‧‧‧電子負載

60‧‧‧交流電源

80‧‧‧控制設備

Claims (10)

1. 一種電源測試系統，用於一待測電源之溫度測試，其包括一容置該待測電源用於提供測試環境之測試箱、一電子負載、一測試板及一連接於該電源之交流電源，該電源藉由該測試板與該電子負載相連，該電源上設有一電壓選擇開關，該測試板上設有一電源開機信號控制開關，該電源測試系統還包括一分別連接該電源、該交流電源及該測試板之可編程邏輯控制器，該可編程邏輯控制器檢測該交流電源之輸出電壓及該電子負載之負載狀態，並藉由檢測結果控制該電壓選擇開關及電源開機信號控制開關之開閉；所述可編程邏輯控制器接有光電耦合器及與該光電耦合器相連之開關，所述電源之至少一輸出信號端透過所述光電耦合器連接至所述可編程邏輯器件，所述可編程邏輯控制器根據所述開關之開閉狀態判斷所述電源輸出至所述光電耦合器之信號是否有故障。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試系統，其中該交流電源與該電子負載藉由一控制設備相連，該控制設備控制該交流電源之輸出電壓與該電子負載之負載狀態自動切換。
3. 如申請專利範圍第2項所述之電源測試系統，其中該控制設備藉由通用介面匯流排分別與該交流電源及該電子負載進行資料傳輸，從而控制該交流電源之輸出電壓與該電子負載之自動切換。
4. 如申請專利範圍第2項所述之電源測試系統，其中該交流電源之輸出電壓為230V或115V；該電子負載之負載狀態包括待機負載及滿載狀態。
5. 如申請專利範圍第4項所述之電源測試系統，其中該可編程邏輯控制器若檢測到該交流電源之輸出電壓為230V、該電子負載為待機負載，則控制該電壓選擇開關斷開、該電源開機信號控制開關斷開。
6. 如申請專利範圍第5項所述之電源測試系統，其中該可編程邏輯控制器若檢測到該電子負載由待機負載變為滿載狀態，則將該電源開機信號控制開關切換為閉合。
7. 如申請專利範圍第4項所述之電源測試系統，其中該可編程邏輯控制器若檢測到該交流電源之輸出電壓為115V、該電子負載為滿載，則控制該電壓選擇開關及該電源開機信號控制開關閉合。
8. 如申請專利範圍第7項所述之電源測試系統，其中該可編程邏輯控制器若檢測到該電子負載由滿載變為待機負載，則將該電源開機信號控制開關斷開。
9. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試系統，其中該電源輸出至所述光電耦合器之信號為一輔助電壓信號或電源電壓信號。
10. 如申請專利範圍第1項所述之電源測試系統，其中該測試箱之溫度可自動切換為電腦待機時之低溫及電腦運行時之高溫兩種狀態。