TWI376620B - Method and sensing device for motion detection in an optical pointing device, such as an optical mouse - Google Patents

Description

1376620 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明大致關係於指標裝置，更明確地說，控制在例 如個人電腦、工作站或其他具有圖形使用者介面的計算裝 置的顯示器的螢幕上之游標的位置。此等指標裝置可以例 如包含滑鼠 '軌跡球、及其他用以控制顯示螢幕上之游標 位置的電腦週邊。 本發明更明確地說關係於光學指標裝置的領域，其包 含一光學感應裝置，具有光檢測陣列，用以量測被以輻射 照射的表面之一部份的變化強度圖案，及用以抽出在光檢 測陣列與表面的受光部份間之相對動作的資訊。 【先前技術】 此一光學指標裝置係爲本技藝所已知。與本案有相同 受讓人之申請號爲WO 03/0490 1 8的國際專利申請案，描 述了一種方法與裝置，用以在光學感應裝置，例如光學滑 鼠中的動作檢測。 第1圖爲依據先前技術的光學指標裝置的一般化示意 方塊圖。其包含一光檢測陣列420，包含有多數像素，此 光檢測陣列42 0被耦接至處理機構400 (或動作檢測處理 電路），用以處理爲光檢測陣列420所輸出的信號。 比較陣列415可以內插在處理機構400與陣列420之 間，此比較陣列4 1 5包含多數比較電路，每一比較電路用 以比較第一像素陣列之光強度與第二像素陣列的光強度， -4- 1376620 及用以輸出所得緣方向狀態。 在緣間依據其 ' 方向"作出一區分。更明確 人定義兩區分緣方向狀態（i)第一緣狀態，或 義爲當第一像素的光強度係少於第二方向的光強 (ϋ)第二緣狀態，或負緣，定義爲其中第一像 度係大於第二像素的光強度。 以光檢測陣列420爲例，第一軸，即軸X 延伸於正方向，以及，第二軸，即軸 Y由下至 正方向。因此，如果選定像素的光強度係小於其 素之光強度，則正緣將被定義爲在選定像素與其 素間。相反地，以沿著軸Y的兩像素爲例，如 素的光強度大於上像素之光強度，則一負緣將被 選定像素與其上方的像素間。兩比較的像素可以 非鄰接。 光學指標裝置更包含至少一光源40，例如 產生輻射，以碰撞在表面S的一部份上。表面S 面或非平面表面，例如爲一表面，其上移動有該 (於例子中爲光學滑鼠），球面（於此例爲光學 ’或任何其他適當表面，其可以提供適當強度圖 爲光檢測陣列420所檢測者。應了解的是，嚴格 源並不需，爲表面S所反射的自然光也可以直接 處理機構4 00更適用以以雙向方式，與—介 通訊’其隨後透過匯流排455與主系統（未示出 游標控制信號（及最後有關於光學指標裝置的其 地說，吾 正緣，定 度時，及 素的光強 由左向右 上延伸於 右側的像 右側的像 果選定像 定義爲在 爲鄰接或 LED，其 可以爲平 指標裝置 軌跡球） 案，用以 地說，光 使用》 面450相 )通訊。 他信號） -5- 1376620 透過匯流排455被供給至主系統。處理機構 匯流排自主系統接收資訊，例如架構信號。 處理機構4 0 0基本上被設計，以依據預 取樣光檢測陣列420的像素輸出》兩連續取 比較，及一相對動作量測値爲處理機構4 0 0 游標控制信號然後由相對動作量測値導出 450傳送至主系統· 仍參考國際專利申請WO 03/049018號 謂"峰/谷動作檢測〃演算法。光檢測陣列 進一步被分析以找出，沿著選定軸（於實際 軸）的連續緣方向中之特定反曲狀態（以下 態’或"峰〃：及第二反曲狀態，或、谷， 圖所示’第一反曲狀態，或峰係被定義爲一 負緣（第2圖中之指向下的箭頭）沿著預定 的連續正緣（於第2圖指向上的箭頭）。同 曲狀態’或谷係被定義爲正緣所跟隨的沿著 負緣。 相反於上述緣方向狀態，可以了解的是 並未在任何地方出現。嚴格說來，吾人應認 狀態，其代表在一選定位置在緣的方向中， 反曲。 參考第3圖，吾人將說明根據上述緣反 動作的基本原理。第3圖顯示十個連續緣方 之一例示狀態（以單軸動作檢測），並由兩 400可以透過 定順序間歇地 樣的緣信號被 所抽出。適當 拉經由線介面 ，其揭示一所 的每一列與行 上沿著X及Y 稱第一反曲狀 )。如於第2 其後跟隨有一 軸（X或Y) 樣地，第二反 預定軸的連續 ，緣反曲狀態 爲有第三反曲 並未出現任何 曲資料，檢測 向狀態的連續 連續閃光所決 -6- 1376620 兩連續光 像素動作 於第3圖 向狀態間 在第七及 以看到谷 像素動作 軸有準備 狀態（峰 反曲狀態 峰及谷的 曲狀態的 中）時， ，以及， 位移値， (1) (2)

定之抽出緣反曲狀態（即由光檢測陣列所檢測的 強度圖案所導出之狀態）。此例示狀態典型爲次 (在兩連續閃光間，低於像素間距的位移）。如 所示，檢出三緣反曲狀態，即在第二及第三緣方 一峰，及在第四及第五緣方向狀態間有一谷，及 第八緣方向狀態間有一峰。在第二閃光後，只可 狀態被移動向右一單位（此狀態再次爲典型的次 )。除了用以追蹤緣反曲狀態的累積器外，每一 有另一累積器，以計數出現在每一軸上之緣反曲 及谷一起）的總數。 再次參考第3圖，可以了解的是，有關於緣 的動作追蹤之累積器將增量，爲累積器所檢測之 總數在此例子中爲三，該累積器係用以計數緣反 總數。當沿著兩軸之動作檢測（如同在指標裝置 可以了解這些步驟係沿著軸X的陣列之每一列 沿著軸Y的陣列的每一行加以執行。 計算方法可以包含直接沿著軸X及Y計數 並被槪括如以下之分析式：

XpicriAcnunm - i^PEAK~RtGHT -^Nnull-right ^-(Npeak--left ^Nnull-left ) {Nxpeak A-Nxnull ) 此方法每軸需要最少兩累積器，一個用以追蹤緣反曲 狀態的動作（峰及谷仍被獨立追蹤），以及，另一個用以 137,6620 追蹤沿著選定軸所檢測之緣反曲狀態總數。 雖然此計算法在多數情形下可以給出可接受的結果， 但在本發明之範圍內顯示，在部份極端情形下，其並不可 靠。事實上，當光學感應器沿著一軸（例如沿著軸γ)照 射時，而以上述計算法之檢測動作係接近沿著非照射軸（ 即，軸X)的真實動作，反言之，沿著所照射軸所檢出之 動作係較不可靠。當照射在兩軸之間時，沿著兩軸所偵得 之動作變成較不可靠。 【發明內容】 因此，本發明之目的爲克服前述先前技術的缺點，藉 由只要當光感應器有照明時，即提供更可靠的檢測動作計 算法。爲了該目的，本案提供一種量測於一表面受光部份 與一光學感應裝置間之相對動作的方法，該光學感應裝置 包含一光檢測陣列，其包含多數行列的像素，分別沿著第 一及第二軸排列，該方法包含步驟： a)藉由該光檢測陣列，檢測在第一時間點之該表面 的受光部份的第一光強度圖案； b )比較於該光檢測陣列之相鄰像素間之光強度，並 沿著第一軸及第二軸的每一軸，由所檢測第一光強度圖案 決定緣方向資料，該緣方向資料係爲相鄰像素間之光強度 差的說明，並包含： —第一緣狀態或正緣，其被定義爲第一像素的光強度 小於第二像素的光強度的狀態；及 -8- 13X6620 一第二緣狀態或負緣’其被定義爲第一像素的光強度 大於第二像素的光強度的狀態； C)自該緣方向資料抽出緣反曲資料，該緣反曲資料 係爲光檢測陣列第一軸及第二軸沿著每一軸之連續正及負 緣的說明，並包含： 一第一反曲狀態或峰，定義爲沿著該軸之一的爲負緣 • 所跟隨的連續正緣：及 • 一第二反曲狀態或谷，定義爲沿著該軸之一的正緣所 跟隨的連續負緣； d)儲存自該緣方向資料抽出的該緣反曲資料； e )檢測在第二時間點’該表面的受光部份的第二光 強度圖案； f )比較於該光檢測陣列之相鄰像素間之光強度並沿 者第一及第一軸的每~軸由來自該所檢測第二光強度圖案 決定該緣方向資料； ® g)自來自該所檢測第二光強度圖案的該緣方向資料 ，抽出緣反曲資料； 其中該步驟c)或g)進一步包含步驟： (α)計數在步驟。）或g)沿著第—及第二軸的每 • 一軸所抽出之該反曲狀態的總數；及 (々）抽出反曲線資料，其係爲橫向於第—及第二軸 的至少一預定軸的相同類型的連續兩鄰近緣反曲資料的說 明，並包含： 一第一線狀態或峰線’其被定義爲橫向於該預定軸的 -9- 1376620 連續兩鄰近峰；及 一第二線狀態或谷線，其定義爲橫向於該預定軸之連 續兩鄰近谷，及 (r )計數橫向於該至少一預定軸的線狀態的總數： 及其中該方法更包含步驟： h)決定該光感應裝置與該表面的受光部份間，沿著 至少一預定軸之相對動作的量測値，根據以下的一比率： (hi)在步驟c)及g)所抽出之緣反曲資料的比較 ，及 (h2 )沿著至少一預定軸，反曲狀態的計數總數與橫 向於該至少一預定軸的線狀態總數的函數。 有關於先前技藝的'^峰/谷動作檢測〃演算法，此計 算方法更明確地說引入反曲線資料，其係爲沿著第一及第 二軸的每一軸橫向檢測的同一類型之兩鄰近緣反曲連續的 說明，並包含（i)第一線狀態，或線峰，被定義爲橫向 於該軸之一的兩鄰近峰的連續，及（ii)第二線狀態，或 線谷’被定義爲橫向於該軸之一的兩鄰近谷的連續。 已經顯示本發明的範圍內，這些反曲線狀態係緊密地 相關於動作的真實量，更明確地說，其更似乎在滑鼠的真 實動作後’檢測一線狀態。當光學感應器被沿著一預定軸 '照受時，所檢測的線狀態在橫向上係遠大於被照射的軸。 因此’將計算法中之這些線狀態列入考量，特別是沿著照 射軸’即改良了所檢測動作的可靠性。 -10- 1376620 【實施方式】 於以下說明中，動作檢測方法將以非限定方另 明，配合上如第1圖所示之光學指標裝置。然而， 解的是，任何其他合適光學指標裝置均可以使用， 依據本發明之方法。再者，以下的動作檢測法係衽 專利申請第WO 03/0490 1 8號的所謂，峰/谷動竹 ' "，並且，以下將稱爲線特性演算法"。 φ 參考第4a及4b圖，以下將說明根據緣反曲資 曲線資料的用以檢測動作的基本原理。第4a及4b 沿著列1，2及3的連續緣方向狀態及抽出緣反曲 連續及由該處油出反曲線狀態，決定爲用於兩連續 及N 1 (即由光檢測陣列所檢出之光強度圖案所導 態）例示狀態（其中一軸動作檢測）。 如第4a及4b圖所示，向上及向下箭頭1〇及 對應至正及負緣狀態。這些緣狀態係爲沿著一軸的 # 素間之光強度差的說明，並包含一正緣，其被定義 態，其中第一像素的光強度係小於第二像素的光強 一負緣，被定義爲第一像素的光強度大於第二像素 度。因此，於第4a及4b圖的代表例中，每一箭頭 _ 較暗像素（具有低光強度）指向較亮像素（具有較 度）。 由緣方向狀態中，抽出反曲狀態。這些如朝下 反曲箭頭14及16所示之緣反曲狀態係爲沿著一軸 之正及負緣的說明。第_反曲狀態，或峰（P)係 加以說 可以了 以實施 據國際 演算法 料及反 圖顯示 狀態的 閃光N 出之狀 1 2分別 相鄰像 爲一狀 度，及 的光強 係由一 高光強 及朝上 的連續 被定義 -11 - 1376620 爲—負緣所跟隨的連續正緣。第二反曲狀態或谷（N)被 定義爲一正緣所跟隨的連續負緣。 如第4a圖所示’四個緣反曲狀態，即兩個峰及兩個 谷’五個緣反曲狀態’即兩個峰及三個谷，及四個緣反曲 狀態，即兩峰及兩個谷已經分別沿著第1，2及3列所檢 • 出。 較佳地，峰及谷被分開追蹤。吾人可以想到無關於其 φ 類型加以追蹤緣反曲狀態。沿著每一軸追蹤可以簡單地藉 由將每一軸的至少一累積器（或每軸兩累積器，用以分開 追蹤峰及谷的動作）相關至依據緣反曲狀態的動作方向爲 增量或減量而加以完成（當緣反曲狀態沒有動作時，累積 器被保持不調整）。除了用以追蹤動作的緣反曲狀態的累 積器外，其他累積器也被提供用以計算出現在每一軸上之 峰及谷的總數。每一軸的累積器可以被提供用以追蹤緣反 曲狀態的總數（峰及谷一起算）。 • 再次參考例示之第4a及4b圖狀態，在閃光N及N+1 間之列1上，一緣反曲狀態，即峰己經被移動向右，以及 ，另一緣反曲狀態，也是峰消失。當每軸只使用一累積器 ，以追蹤反曲狀態的動作時，累積器所提供給此軸的爲增 ' 量一（動作檢測向右）。在列2上，在閃光N及N+1間 ，兩緣反曲狀態，即兩谷已經被移動向右及第三緣反曲狀 態，即谷已經消失。然後，累積器被進一步增量2。在線 3上，在閃光N及N+1間，一緣反曲狀態，即谷已經移動 向右，以及，另一緣反曲狀態，即谷消失。然後，累積器 -12- 13X6620 進一步增量1。於此例子中，累積器已經增量四次，因爲 四個反曲狀態移動向右已經被檢出。相同於此方式，如果 反曲狀態移動向左被檢出，則吾人可以減量。可以了解的 是，任何其他動作檢測技術（例如，使用檢測反曲動作的 對角線）可以應用至本案之動作檢測，這係如國際專利申 請第WO 03/0490 1 8號所揭示。爲了決定於光學指標裝置 與照射面部份間之整個位移，反曲狀態的檢測及計數必須 沿著光檢測陣列的兩軸加以處理。 然而，在本發明之範圍內，已經顯示用以計數位移或 動作的更準確公式係藉由引入線標示，即橫向於同一軸的 兩鄰近反曲而加以取得。在動作檢測演算法中，引入此校 正的想法係當來自相同方向（左或右）的至少兩反曲已經 貢獻在下一閃光中形成一反曲，一校正因數必須列入考慮 這些多反曲貢獻。 反曲線資料係由緣反曲資料抽出。當包含多數像素列 及行沿著兩軸（X，Y )對準的光檢測陣列時，線特性或 反曲線包含兩反曲並用於X軸及Y軸被定義如下： X軸反曲線，如果X峰（沿著軸X檢出）存在低於 另~ X峰’則檢出一 X峰反曲，及如果X谷存在低於另 一 X谷，則檢出X谷反曲線； Y軸反曲線’如果Y峰（沿著軸γ檢出）存在於另 —Y峰右側，則檢出一Y峰反曲，及如果Y谷存在低於 另一 Y谷右側，則檢出Y谷反曲線。 應注意，X線及Y線被橫向定義至動作檢測軸。因此 -13- 137卿0 ’ x線被定義沿著Y軸，及Y線被定義沿著X軸。 回到參考第4a圖的例示狀態，沿著軸X檢出一動作 。然後’必須考量X線被橫向於軸X定義’即沿著軸γ 。兩緣反曲必須相同類型（峰或谷）並且鄰近，且視爲~ 反曲線。吾人可以區分出在列2及3間之一谷線18及一 峰線20。沿著相同橫向線排列之幾個鄰近反曲的每—對 係被認爲一反曲線，即三個鄰近峰2 2橫向於軸X，即沿 著Y軸對準，被認爲是兩反曲線24及26。再者，應注意 不是上述定義的反曲線的無關連續反曲狀態。一反曲線只 有當兩反曲沿著橫向線對準時被檢出。因此，沿著一對角 反曲線28對準的反曲並不認爲是一反曲線。再者，兩非 鄰近反曲30，甚至相同類型，或者，兩不同類型（―峰 跟著一谷，反之亦然）的鄰近反曲的線都不認爲是一反曲 線。每軸至少提供一累積器’以計數橫向於此軸的檢測反 曲線的總數。可以了解的是，也可以提供兩累積器，以分 開計數峰線的總數及谷線的總數。當沿著兩軸之動作檢測 時（即光學指標裝置），當然應了解的是，這些步驟係被 執行，用於沿著軸X的陣列之每一列，及沿著軸Y的陣 列的每一行。 對於每一閃光，依據所謂"線特性演算法〃，橫向於 軸X的X線的總數（Nxune)以及橫向於軸γ的γ線的 總數（NYLiNE)應被計數。X線的總數相當橫向於軸X的 峰線與谷線的總數（Nxline = Nx.PEak.line + nx.Null-line ) 。Y線的總數相當橫向於軸Y的峰線與谷線的總數（ -14- 137.6620

NylINE = Ny-PEaK-LINE + Ny-NULL-L1NE 依據本發明較佳實施例，計算方法包含沿著軸X及γ 直接計數位移値，如同以下之分析式所總結= _ PEAK-RJGHT ^ ^bnjU-RSGHr)~ij^PEAK-LEFT + ^NUi

X

DISPUCEMENT F[NX- (3) E-PREV .

^PEAK-UP + ^NULL-UP ) PE

-DOWN MVLL-DOWN t

SPLACEMENT ，,N, ⑷ YUNE-PREV t

此方法每軸需要最少三個累積器，一個用以追蹤緣反 曲狀態的動作（峰及谷仍獨立追蹤），另一個用以追蹤沿 著選定軸所檢測的緣反曲狀態的總數；以及，再一個，用 以追蹤橫向於選定軸的反曲線的總數。 公式（3)的分子相當於沿著軸X移動向左反曲數減 去移動向右的反曲次數（峰及谷一起算），以及公式（4 )的分子相當於沿著軸 Y移動向上反曲數減去移動向下 反曲數。 相較於先前技藝的國際專利申請案第 WO 03/0490 1 8 號的位移計算，新計算方法已經在可以爲使用者定義分母 上引入新函數，其較佳爲以下形式， 對於X位移計算= F(NX_

INFLECTION

-PREV )=ΑχΝχ_

INFLECTION

^BxN

XUNE-PREV (5). 及對於Y位移計算= F{Ny-t

)=AxNY + BxNv ⑹ -15- 137^620 其中： Νχ·丨nflection = Nx.peak + Nx-null(沿者軸 X 的反曲總 數）；

Ny-|NFLECTION=Ny-peaK + Ny-NULL(沿著軸 Y 的反曲總 數）： NX.UNE-PREV爲於前一閃光中橫向於軸X的線總數； Νγ-LINE-PREV爲於前一閃光中橫向於軸Y的線總數； 及 A及B爲可以爲使用者定義的實數加權係數。 可以了解的是，公式（5)及（6)表示在前一閃光中 之反曲線的總數，然而，反曲線的平均總數並未認爲在一 閃光到下一閃光劇烈的改變，除了光學指標裝置自照射面 部份抬舉的情形外。於此時，一抬舉檢測機制可以被設置 ’以停止動作檢測。因此，公式（5 )及（6 )也可以與現 行閃光中之反曲線的總數一起使用，而不是前一閃光中之 反曲線的總數。 有關於A及B的値，範圍應採〇至10。依據第一變 化例，第一加權係數A的値係被選擇範圍由〇變化至1， 以及’第二加權係數B的値被選擇範圍由1至8。依據一 較佳變化例’第一加權係數A的値被選擇範圍由〇 . 1 2 5至 0.4，及第二加權係數B的値係選擇範圍由2至6。 於上述公式（3)及（4)中定義的位移然後被平均及 結果可以爲像素間距L p p所縮放，以給定沿著每一軸移動 的整個距離。 -16- 137^620

本案已經參考某些特定實施例加以詳述，應可以了解 的是，這些實施例並不表示本發明的限定。對於熟習於本 技藝者，可以在不脫離本發明隨附申請專利範圍下加以完 成各種修改及/或變化。例如，所提之實施例並不必然限 定於包含一規則像素陣列沿著兩正交軸排列之感應裝置。 其他像素配置也可以想出，例如包含沿著兩（或更多）非 正交軸排列像素的像素配置。 最後，可以了解每一比較器輸入可以連接至一個以上 之感應器元件。例如，幾個鄰近或甚至非鄰近像素的輸出 信號可以被總合，以建立如美國專利第6,8 06,45 8號案第 1 3圖所述之’過濾〃像素。 【圖式簡單說明】 本發明之其他態樣、特性及優點將以下之非限定例及 實施例的詳細說明配合上附圖加以了解。 第1圖爲依據先前技術的光學指標裝置的方塊圖； 第2圖爲依據先前技術之$峰//谷動作檢測〃技術， '沿著一預定軸所導出之緣方向狀態順序的緣反曲狀態，或 峰或谷的示意圖； 第3圖爲依據先前技術的'^峰/谷動作檢測〃技術， 之根據沿著一軸的峰及谷的追蹤之動作檢測技術的示意圖 -17- 137,6620 第4a及4b圖爲根據沿著橫向於此軸的線峰及線谷及 沿著一軸的峰及谷的追蹤，之動作檢測技術的較佳實施例 【主要元件符號說明】

1-3 :列 1 0 :向上箭頭 12 :向下箭頭 1 8 :谷線 2 0 :峰線 2 4 ·反曲線 26 :反曲線 28 :對角反曲線 30:兩非鄰近反曲的線 32 :兩鄰近反曲 -18-

Claims (1)

137,6620 _ • W年ii月θ曰修正本 - . -- 十、申請專利範圍 1.—種用以量測表面受光部份與光學感應裝置間之 相對動作的方法，該光學感應裝置包含一光檢測陣列，其 包含多數列與行之像素，分別沿著第一及第二軸排列，該 方法包含步驟： • a )以該光檢測陣列檢測在第一時間點之在該表面的 • 受光部份的第一光強度圖案； φ b )比較光檢測陣列之鄰近像素間之光強度，並沿著 第一及第二軸的每一軸’由所檢測該第一光強度圖案決定 緣方向資料，該緣方向資料爲鄰近像素間之光強度差的說 明並包含： 第一緣狀態或正緣，被定義爲當第一像素的光強 度小於第二像素的光強度時的狀態；及 第二緣狀態或負緣，被定義爲當第一像素的光強 度大於第二像素的光強度時的狀態； Φ c)自該緣方向資料抽出緣反曲資料，該緣反曲資料 係爲該光檢測陣列沿著第一及第二軸的每一軸，連續正及 負緣的說明並包含： 第一反曲狀態或峰，被定義爲沿著該等軸之—軸 • 的爲負緣所跟隨的連續正緣；及 第二反曲狀態或谷，被定義爲沿著該等軸之_軸 的爲正緣所跟隨的連續負緣； d)儲存自該緣方向資料所抽出的該緣反曲資料； e )檢測在第二時間點，該表面的受光部份的第二光 -19- 137,6620 強度圖案： f) 比較該光檢測陣列的鄰近像素間之光強度並沿著 第一及第二軸的每一軸由所檢測第二光強度圖案決定緣方 向資料； g) 由所檢測第二光強度圖案從緣方向資料，抽出緣 ' 反曲資料； 其中該步驟〇或g)更包含步驟有： • (α)計數在步驟c)或g)沿著第一及第二軸的至 少一軸抽出的該反曲狀態的總數；及 (召）抽出反曲線資料，其係爲橫向於該第一及第二 軸的至少一軸的相同類型的連續兩鄰近緣反曲資料的說明 並包含： 第一線狀態或峰線，被定義爲橫向於該軸的連續 兩鄰近峰；及 第二線狀態或谷線，被定義爲橫向於該預定軸的 φ 連續兩鄰近谷，及 (r )計數橫向於該至少一軸的線狀態的總數及其中 該方法更包含步驟： h) 根據以下比率，決定在該光學感應裝置與沿著該 ' 至少一軸的該表面之受光部份間之相對動作的量測値： (hi)在步驟c)及g)抽出之該緣反曲資料的比較 ;及 (h2 )沿著至少在上述一決定軸之反曲狀態的計數總 數與橫向於該至少一決定軸的線狀態的總數之函數。 -20- 137,6620 2. 如申請專利範圍第丨項所述之方法，其中該表面 部份沿著一決定軸照射’以及，其中步驟（0 )係相對於 上述所決定軸加以完成。 3. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該步驟 (泠）’ （Τ)係沿著第一及第二軸加以完成，以及其中 該步驟（h)包含： 沿者桌一及第一軸’決定該光學感應裝置與表面的受 光部份間之相對動作的量測値，根據以下比率： (hi)在步驟c)及g)所抽出之緣反曲資料的比較 :及 (h2)沿著第一及第二軸的每一軸的反曲狀態的計數 總數與橫向於第一及第二軸的每一軸的線狀態的總數的函 數。 4 .如申請專利範圍第3項所述之方法，其中該反曲 狀態的計數總數與線狀態總數的函數係根據：與反曲狀態 的總數有關的第一加權係數；以及小於有關於線狀態總數 之第一加權係數的第二加權係數。 5.如申請專利範圍第4項所述之方法，其中該反曲 狀態的計數總數與線狀態總數的函數爲以下形式： F(Nxinf，Nxline_prev) = AxNxinf + BX Nxline_prev ·,及 F{Nyinf,Nyline_prev) = Ay. Nymi+ Bx. Nyline_prev; 分別沿著第一及第二軸，及其中A及B係爲該第一 及第二加權係數 -21 - 1376620 6-如申請專利範圍第5項所述之方法， 加權係數的値被選擇範圍由〇至1，及第二加 被選擇範圍由1至8。 7.如申請專利範圍第6項所述之方法，其 權係數的値被選擇範圍由0.125至0.4，以及， 數的値被選擇範圍由2至6。 其中該第一 權係數的値 中該第一加 第二加權係

-22-