TWI344624B - Measuring and controlling method of light emitting module - Google Patents

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TWI344624B TW95124555A TW95124555A TWI344624B TW I344624 B TWI344624 B TW I344624B TW 95124555 A TW95124555 A TW 95124555A TW 95124555 A TW95124555 A TW 95124555A TW I344624 B TWI344624 B TW I344624B
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1344624 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種檢測與控制方法,特別關於一種發 光模組的檢測與控制方法。 【先前技術】 於液晶顯示裝置中,一般是使用陰極螢光燈管作為背 光源的發光單元。然而,因為陰極螢光燈管對於色彩的表 現較不如發光二極體(light emitting diode, LED),因此,在 發光二極體之技術逐漸成熟的前提下,目前已有業者將發 光二極體作為液晶顯示裝置之背光源使用。 然而,因為發光二極體會因為溫度以及時間的變化, 而使其發光強度隨之改變衰減,況且每一發光二極體的衰 減程度皆不相同,因此,將發光二極體應用於液晶顯示裝 置之背光源時,會使得液晶顯示裝置之顯示晝面隨著溫度 以及時間,而產生色彩偏移的問題。 近來有業者利用光二極體(ph〇t〇 diode)檢測發光二極 體之免度’再將發光二極體之亮度調整至預設值,來改善 液晶顯示裝置的色彩偏移問題。 _其結構配置係於液晶顯示裝置中,設置有複數個發光 一極體以及一光二極體’在此以三個發光二極體11a、 llb ' 11c為例。請參照圖所示,為了使光二極體能夠分 別檢測各發光二極體Ua、lib、lie的發光強度,發光二 極 11 a、1 lb、1 lc必需依序開啟及關閉。換言之,當發 5 S) 1344624 光二極體1 la為開啟時,發光二極體lib、lie係為關閉; 當發光二極體lib為開啟時,發光二極體11a、lie係為關 閉;當發光二極體lie為開啟時,發光二極體11a、lib係 為關閉。如此一來,光二極體即可分別檢測到各發光二極 體11a、lib、lie之發光強度,並將其發光強度調整至預 設值,以維持色彩平衡。 上述作法,於檢測時必需關閉某些發光二極體,以利 光二極體的檢測。然而,當發光二極體關閉時勢必會造成 顯示晝面的閃爍(Flicker),而使人眼有不舒適的感受。另 外,除了發光二極體之外,任何需要調整其色彩平衡的發 光單元或由發光單元所構成之發光模組,在使用習知技術 調整時,皆會面臨到於調整色彩平衡時產生閃爍現象的問 題。 爰因於此,如何提供一種發光模組的檢測與控制方 法,而能夠改善每一發光模組之間的差異,以使得發光模 組所應用之電子產品,能夠獲得較佳的色彩表現,同時能 夠改善於調整色彩平衡的同時,產生顯示晝面閃爍的現 象,而使人眼有不舒適的感受,實屬當前重要課題之一。 【發明内容】 有鑑於上述課題,本發明之目的為提供一種能夠於顯 示裝置調整色彩平衡時,降低顯示晝面閃爍之發光模組的 檢測與控制方法。 緣是,為達上述目的,依據本發明之一種發光模組的 1344624 控制方法’其中發光模組係於由一第一電流準位值驅動時 具有一第一發光強度’而檢測與控制方法係包括以下步 驟:調整驅動發光模組之第一電流準位值至一第二電流準 位值,其中第一電流準位值與第二電流準位值之絕對值係 大於零;檢測發光模組於由第二電流準位值驅動時之一第 二發光強度;以及依據第一電流準位值、第一發光強度、 第二電流準位值及第二發光強度,以將發光模組調整至一 預設發光強度。 另外,為達上述目的,依據本發明之一種發光模組的 檢測與控制方法’其係控制複數個發光模組,且該等發光 模組具有一第一總發光強度,而檢測與控制方法係包括以 下步驟:檢測該等發光二極體之其中之一發光二極體之一 第一電流準位值;調整該發光模組之第一電流準位值至一 第一電流準位值,其中第一電流準位值與第二電流準位值 之絕對值係大於零;檢測該等發光模組之一第二總發光強 度,以及依據第一電流準位值、第一總發光強度、第二電 流準位值及第二總發光強度,以將發光模組調整至一預設 發光強度。 承上所述,因依據本發明之發光模組的檢測與控制方 法’係於發紐組之發総度時,難驅㈣光模組發光 之電流準位值,由於其電流準位值係大於零,因此發光模 組於檢測發光強度之週射,係保持於開啟的狀態 ,如此 來’人眼所觀察到的顯示晝面較不易產生閃爍的現象。 另外’再將發光模組之發光強度調整至預^之發光強度, 1344624 即可避免產生因發光模組之發光強度隨時間或溫度衰減 而造成人眼觀察到顯示晝面發生色彩偏移的問題。 【實施方式】 以下將參照相關圖式,說明依據本發明較佳實施例之 一種發光模組的檢測與控制方法。 請參照圖2所示,與本發明第一實施例配合應用之硬 體架構係包括一發光模組21、一光檢測單元22、一電流 檢測單元23、一控制單元24以及一驅動單元25。於本實 施例中’發光模組21係以一發光二極體為例,其係可為 一白色發光二極體、一紅色發光二極體、一藍色發光二極 體或一綠色發光二極體’當然發光模組21亦可包括複數 個發光二極體,其係可串聯或並聯而相互電性連接;光檢 測單元22係可為一光感測器(Photo Sensor )或一光二極 體(Photo Diode),其係檢測發光模組21之發光強度;電 流檢測單元23係檢測流經發光模組21之電流訊號;控制 單元24係控制驅動單元25產生驅動發光模組21發光之 電流訊號。 請參照圖3所示’上述之發光二極體的檢測與控制方 法係包括步驟S01至步驟S03。 請再搭配圖4所示’首先,驅動單元25係以一第一 電流準位值IL()1驅動發光模組21,而此時光檢測單元22 係可檢測到發光模組21所產生之一第一發光強度。 步驟S01 ’係由控制單元24控制驅動單元25,以將 1344624 驅動發光模組21之第一電流準位值Il〇i調整至一第二電流 準位值IL〇2。於本實施例中,驅動發光模組21之第一電流 準位值iL01以及第二電流準位值Il〇2之絕對值係大於零, 換吕之,發光模組21係保持於發光或開啟之狀態。另外, 於本實施例中,第一電流準位值IL01係可大於第二電流準 位值IL〇2 ’當然,第一電流準位值Il〇i亦可小於第二電流 準位值iL〇2,本實施例係以第一電流準位值Il〇i大於第二 電流準位值IL02為例。 步驟S02’係檢測發光模組21於接受第二電流準位值 IL〇2驅動時之一第二發光強度。於本實施例中,亦係由光 檢測單元22檢測發光模組21之第二發光強度。 於此’在檢測過程中’由於發光模組21皆係保持於 發光的狀態,當其應用於顯示裝置之背光源時,於顯示晝 面中’人眼較不易觀察到閃爍的現象。 另外’於本實施例中,在檢測發光模組21之第二發 光強度之後,更將驅動發光模組21之第二電流準位值IL〇2 調整至一第三電流準位值Il〇3,其中第三電流準位值Il〇3 係可等於或異於第一電流準位值Il〇i。於本實施例中,係 以第二電流準位值iL(B等於第一電流準位值為例。換 言之’本實施例中,於檢測發光模組之發光強度時,驅動 發光模組21之電流準位值係以一脈衝波(Pulse)方式驅 動發光模組21。 值得一提的是,於本實施例中,由於第二電流準位值 iL〇2係小於第一電流準位值iL01,若將第三電流準位值Iu>3 1344624 調整至大於第一電流準位值Il〇i 一小段時間後,再調整至 /、第電流準位值Iloi相同之準位,即可補償發光強度, 使人眼對於發光強度變化的感受減至最小。 步驟S03,係依據第一電流準位值Il〇i、第一發光強 度、第二電流準位值IL〇2及第二發光強度,以將發光模組 U之發光強度調整至一預設發光強度。於本實施例中,係 ^由將驅動發光模組21之電流訊號調整至一預設電流訊 號1PD1’而將發光模組21之發光強度調整至預設發光強度。 由於發光模組21之發光強度與電流訊號係呈正比關 係,因此當光檢測單元22及電流檢測單元23分別檢測到 第一電流準位值1loi、第二電流準位值IL〇2、第一發光強度 及第二發光強度之後’可經由控制單元24之運算或比對 一對照表後’可由驅動單元驅動發光模組21,而將發光模 組21之發光強度調整至預設發光強度。 一般而言’於同一環境中’複數個發光模組所應用之 領域係多於單一發光模組,因此,以下將以複數個發光模 組為例,以說明依據本發明第二實施例之發光模組的檢測 與控制方法。於本實施例中,係以三個發光模組為例。 請參照圖5所示,與本發明第二實施例配合應用之硬 體架構係包括一第一發光模組31 a、一第二發光模組3 lb、 一第三發光模組31c、一光檢測單元32、一電流檢測單元 33、一控制單元34以及一驅動單元35 ’其中,光檢測單 元32、電流檢測單元33、控制單元34以及驅動單元35 係與第一實施例中之光檢測單元22、電流檢測單元23、 1344624 控制單元24以及驅動單元25之構成與功效相同,故於此 不再贅述。另外,於本實施例中,第一發光模組31a、第 二發光模組31b及第三發光模組31c係可分別包括一發光 二極體,且其係可分別為白色、紅色、藍色或綠色發光二 極體。另外,第一發光模組31a、第二發光模組31b及第 三發光模組31c亦可分別包括複數個發光二極體,其係可 串聯或並聯而相互電性連接。 請參照圖6所示,上述之發光模組的檢測與控制方法 係包括步驟S11至步驟S14。 請再搭配圖7所示,首先,係由光檢測單元32檢測 第一發光模組31a、第二發光模組31b及第三發光模組31c 之一第一總發光強度La。 步驟S11,係檢測第一發光模組31a之一第一電流準 位值IL11。步驟S12,係由驅動單元35將驅動第一發光模 組31a之第一電流準位值IL11調整至一第二電流準位值 ILi2。於本實施例中,驅動發光模組21之第一電流準位值 IL11以及第二電流準位值IL12之絕對值係大於零,換言之’ 第一發光模組31a係保持於發光或開啟之狀態。另外,於 本實施例中,第一電流準位值〗1^係可大於第二電流準位 值IL12,當然,第一電流準位值IL1i亦可小於第二電流準 位值IL12,本實施例係以第一電流準位值〗L11大於第二電 流準位值 IL12 為例。 步驟S13,係由光檢測單元32檢測第一發光模組 31a、第二發光模組31b及第三發光模組31c之一第二總發 11 S) 光強度Lb。 持於此,在檢測過程中,由於第一發光模組31a皆係保 '於發光的狀態,當其應用於顯示裝置之背光源時時,於
顒示t A 意面中,人眼較不易觀察到閃爍的現象。 一另外,於本實施例中’在檢測第一發光模組31a、第 之發光模組31b及第三發光模組31(;之第二總發光強度Lb 調=,更將驅動第一發光模組31a之第二電流準位值ILn ^ B至一第二電流準位值1L13,其中第三電流準位值IU3 以可等於或異於第一電流準位值1LU。於本實施例中,係 令=二電流準位值iLls等於第一電流準位值Ilii為例。換 ,本實施例中,於檢測發光模組之發光強度時,驅動 發光模组31a之電流準位值係以脈衝波(Pulse)方式 驅動第一發光模組3U。 j 值得一提的是,於本實施例中,由於第二電流準位值 係小於第一電流準位值Ilu,若將第三電流準位值^3 至大於第一電流準位值IL11 一小段時間後,再調整至 與第一 . 電流準位值1LU相同之準位,即可補償發光強度, 眼對於發光強度變化的感受減至最小。 步驟S14,係依據第一電流準位值Iui、第一總發光 強度La、第二電流準位值Iu2及第二總發光強度Lb,以 將第一發光模組31a調整至一預設發光強度。 於本實施例中,第一發光模組31a於第一電流準位值 IL11之驅動下所產生之發光強度L31a係可由式(1)而得: 12 1344624 ^ 式(l) hn ~hn 接考’由於預設發光強度係為已知,其係可於發光模組生 產後所執行之測試而得,因此預設電流準位值1PD2係可由 式(2)而得: ^〇2 =ILn(~-) 式⑴ ^3\α 其中,Lt係為預設發光強度。 另外,於本實施例中,係藉由將驅動第一發光模組31a 之電流訊號調整至一預設電流訊號Ipd2,而將第一發光模 組31a之發光強度調整至預設發光強度。 上述實施例係以第一發光模組31a為例,而第二發光 模組31b以及第三發光模組31c之檢測及控制方法,皆與 上述雷同,故於此不再多加贅述。 綜上所述,因依據本發明之發先模組的檢測與控制方 法,係於檢測發光模組之發光強度時,調整驅動發光模組 發光之電流準位值’由於其電流準位值之絕對值係大於 零,因此發光模組於檢測發光強度之週期中,係保持於發 光或開啟的狀態,如此一來,當發光模組應用於顯示裝置 時,人眼所觀察到的顯示晝面較不易產生閃爍的現象。另 外,再將發光模組之發光強度調整至預設之發光強度,即 可避免產生因發光模組之發錢度隨時間或溫度^減而 造成人眼觀察到顯示晝面發生色彩偏移的問題。 以上所述僅為舉例性,而非為限制性者。任何未脫離 S) 13 1344624
本發明之精神與範疇,而對其進行之等效修改或變更,均 應包含於後附之申請專利範圍中。 【圖式簡單說明】 圖1為顯示習知檢測發光模組之發光強度之一時序 圖, 圖2為顯示與本發明第一實施例之發光模組的檢測與 控制方法配合應用之一硬體示意圖; 圖3為顯示依據本發明第一實施例之發光模組的檢測 與控制方法之一流程圖; 圖4為顯示依據本發明第一實施例之發光模組的檢測 與控制方法之一時序圖; 圖5為顯示與本發明第二實施例之發光模組的檢測與 控制方法配合應用之一硬體示意圖; 圖6為顯示依據本發明第二實施例之發光模組的檢測 與控制方法之一流程圖;以及 圖7為顯示依據本發明第二實施例之發光模組的檢測 與控制方法之一時序圖。 元件符號說明: 11a、lib、11c :發光二極體 21 :發光模組 22、 32 :光檢測單元 23、 33 :電流檢測單元 1344624 24、 34 :控制單元 25、 35 :驅動單元 31a :第一發光模組 31b :第二 發光模組 31c :第三發光模組 Iloi 、 Ilii 第一電流準位值 Il〇2 、 Il12 第二電流準位值 Il〇3 、【L13 第三電流準位值 IpDl 、 IpD2 :預設電流準位值
La :第一總發光強度 Lb :第二總發光強度 S01-S03:第一實施例之流程步驟 S11-S14:第二實施例之流程步驟
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Claims (1)

1344624 f 十、申請專利範圍: 100年3月30日申復補充修正修正版 、一種發光模組的檢測與控制 流準位值所驅動之該發光模 該檢測方法包含: 方法’其中,由一第一電 組具有一第一發光強度, 調整驅動該發光模組之該第—電流準位值至―第二電 流準位值,其中該第—電流準位值與該第二電流準 位值之絕對值係大於零;
檢測由該第二電流準位值驅動之該發光模組之一第二 發光強度;以及 依據該第-電流準位值、該第一發光強度、該第二電 流準位值及該第二發_度,以將該發储組調整 至一預設發光強度。 、=申請專利範圍第丨項所述之發錢組的檢測與控制 方法,其中該第一電流準位值係大於該第二電流準位
如申請專利範圍第丨項所述之發光模組的檢測與控制 方法,其中該第一電流準位值係小於該第二電流準位 值。 如申請專利範圍第!項所述之發光模組的檢測與控制 方法,其中該發光模組係包含至少一發光二極體。 =申請專利範圍第4項所叙發光触的檢測與控制 么法,其中該發光二極體係為一白色發光二極體、— 紅色發光二極體、—綠色發光二極體或一藍色 極體。 七无— 16 6 如申锖專 100年3月30日申復補充修正修正版 二 =乾圍弟1項所述之發光模組的檢測與控制 方法,更包含將驅動該發光模組之 調整至-第三電流準位值。 卓位值 7 Π =範圍第6項所述之發光模組的檢測與控制 值:弟三電流準位值係等於該第-電流準位 8、=請=範圍第6項所述之發光模組的檢測與控制 籲 值:中该第二電流準位值係異於該第-電流準位 9 光模組的檢測與控制方法,其係控制複數個發 辦=、、且且轉發域組具有―第—總發光強度,节 控制方法包含: 反及 檢測該等發光模組之其中m 準位值; $ 甩仇 調,驅動該發光模組之該第一電流準位值至—第二電 • 机準位值’其中該第一電流準位值與該第二電流準 位值之絕對值係大於零; 檢測該等發光模組之一第二總發光強度;以及 選5亥第-電流準位值、該第—總發光強度、該第二 =位值及該第二總發光強度,以將該發光模組 凋整至一預設發光強度。 10、=申請專利範,第9項所述之發光模組的檢測與控制 值^其中该第—電流準位值係大於該第二電流準位 17 11、 如由▲主宙 100年3月30日申復補充修正修正版 方利範圍第9項所述之發光模組的檢測與控制 ’、中"亥弟龟流準位值係小於該第二電流準位 值 如申清專利範圍第 制方法,苴 12項所述之發光模組的檢測與控 該發光二極體係為—白色發光二極體、 、、、色叙光—極體、—綠色發 極體 X 光一極體或一藍色發光 * f Μ 5 \J =請=圍第9項所述之發光模組 更包含將驅動該料模組之該第 ^ 调整至一第三電流準位值。 “羊位值 如申請專利範圍第14垣邮、+、々 制方法,其中該第三it 舍光模組的檢測與控 位值。 电机準位值係等於該第-電流準 16、如申請專利範圍第14 制方法,其中該第:恭、4 命光模組的檢測與控 .位值。 4準位值係異於該第-電流準 14 15 !8
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