TWI324748B - - Google Patents

Description

1324748 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種電子標籤之測試裝置及其方法，尤指一種藉由 在輸送機構上設有擋板機構及讀寫系統之設計，而能進行靜態及動態 的性能測試，使得本發明具有尋找最佳之電子標籤貼附位置之功效， 而適於應用在各種貼附電子標籤之物品、包裝箱或類似結構者。 【先前技術】

隨著社會進化及高科技發展下，在產品的數量及品質控管上，從 早期的由人工逐一來控制管理數量，演變到出現條碼的設計，改由半 人工狀態控制管理數量’並藉由電腦刷人產品條碼，查詢該產品條碼 後端所登入的產品資訊。 現今高科技的發展下’發展出以RFID電子標籤的方式來取代條 石馬，該RFID電子標籤具有高容量及高感應的效能，其電子標藏内可填 入產品的產品資訊及身份證⑽等資料，—經讀寫器感應後即可判讀 出電子標籤_容及身份證⑽，降低了人μ條碼財式所產生的 不方便及資訊保存不易。 然，以RFID電子標籤的便利性相對也有不便利性，其電子標藏貼 附於物品上的位置或物品槪驗置都會影_電子標紐讀取感應 到的因素，現今在細電子標_大都會先經過職判_最佳蘭 位置再行麟，但在減狀態下_林身須是錢驗態下才能量 測，故目前現行都以人工手動方式來回通過讀寫器前端，測試盆動離 讀取率或動録大讀取距離，由於如人巧財絲控觸態速度 5 1324748 或動態測§式距離，但測g式結果之再現性極低，容易招斧爭議。 因此，本發明人有鑑於上述缺失，舰提出—種可簡化測試程序 及造價低廉之測試裝置，令使用者可_找出最佳之電子標籤貼附位 置，乃潛心研s、設計組製’贿供消fA眾使用。為本發明所欲研 創之創作動機者。 【發明内容】 本發明之主要目的，在提供—種電子標籤之測試裝置及其方法， 以供解決目前市面上以人手來控觸祕度絲_試卿等之測試 問題者。 本發明之次—目的，在提供—種電子標籤之測試裝置及其方法， 藉由測試錢來大幅提升_高雛賴果之魏性，並增加量 測的便利性及實用性者。 本發明之再-目的’藉由各式貼附高頻_電子標籤之物品'

包裝箱或類似結構’以高頻RFID讀寫器及其天線來作動態讀取率測 試’供尋找最佳之電子標_陳置者。 為達成上述目的，本發_—㈣子標籤之職裝置及其方法， 係包3有輸达機構、—擋板機構、一讀寫系統；該輸送機構係設有 一瓣’爾軸_倾_恤導引板調 整〃中。亥仃進導？丨板之一側連接有導引板調整器，以供調整行進 導引板的位置，丨板咖—端賴導咖定座該導引板 固定細紐崎下^瓣行物，而該行進 6 置於輸送機構的輸送帶上，該讀寫系統包含有-讀寫器及 f ㈣冑爛她__±，_編係設於 ，以_子標籤所發射出之數據資料，藉此，以_ ^在制物上錢外表之信號強度，找尋㈣佳之電子標鐵貼附 中 本發明之無_及具體倾财於町配合關之詳細說明 ’進一步瞭解。 【實施方式】 請參考第1圖所示，係為本發明電子標鐵之測試裝置結構示意 圖，主要係包含有—輸送機構1(3、—擋板機構20及—讀寫系統3 〇 ;該輸送機構1Q係設有—輸送帶i χ，該輸出帶2 i係為可調整 變速’而該擴板機構20係、設有行進導服2 1、導引板固定座。 及導引板調整H23，該行進導引板2!係放置於輸送機構χ 〇的輸 送帶1 1上，其中行進導引板2 i之—舰接有導引板調整器2 3， 以供調整行進導引板2 i的位置，而導引板調整器2 3—端係連接導 引板固疋座2 2，δ亥導f丨板固定座2 2係固定於輸送帶1 1下方，以 供固定行進導引板2 1的位置。另闕寫祕3Q包含有—讀寫器3 1及-電子標籤3 2，其中該電子標籤3 2係貼附於待測物上，該讀 寫器31係设於輸送機構1〇上，另讀寫系統3 〇之讀寫器31的下 方設為中妹’而讀寫器3 1係採水平方式或垂直方纽輸送帶U 上方安置，以讀取電子標籤3 2所發射出之數據資料，其令該讀寫系 統3 0中之瀆寫器3 1係為高頻（High Frequency)讀寫器3 1，而， 讀寫系統3 0進一步連結—雷聰名 。電知糸統3 3，該電腦系統3 3中設有靜 動態測試軔體，供收集測試數據資料。 凊參考第2圖麻’料本發明電子標籤之職裝置實施例結構 丁思圓》亥測试裝置可配合市售的各式咖(_〇 Fre_ncy Ider^hcat應）高頻讀寫器3 i及電子標籤3 2，來量測貼附瞻 高頻電子賴3 2制物件在靜、祕時之重要雜數據量測。藉此 來評估電子贼3 2在铜物上各處外表之信號強度，找尋出最佳之 電子標籤3 2蘭位置，以利實際導人制時之解決方紐定參考或 問題解決。其應用的頻率細可達卜·Hz可符合應用在特定頻率、 多重頻率下’或配合各式包裝箱及不同材質屬性之内容物，如金屬、 液體、玻璃、塑膠......等。如同本實施例在輸送帶11上設有一擋板 機構20，該擋板機構2〇係設有行進導引板2x、導引板固定座2 2及導引板調整器2 3，該行進導引板21係放置於輸送機構1〇的 輸送帶1 1上，其中行進導引板21之一側連接有導引板調整器2 3，以供調整行進導引板21的位置，而導引板調整器2 3—端係連 接導引板固定座2 2，該導引板固定座2 2係固定於輸送帶1 1下 方’以供固定行進導引板21的位置，而本實施例係以測試瓶子4 〇 的電子標籤3 2貼附位置為例，藉由行埠導引板21調整出行進路 線，並調整好輸送帶1 1輸送之速度及測試距離，於測試瓶子4 〇上 貼附電子標籤3 2，供讀寫系統3 0之讀寫器31讀取電子標籤3 2 所發射之數據資料，並傳送於電腦系統3 3中供收集測試數據資料， 以利判讀出最佳貼隨置，其中物_3 3中安裝有靜動態測試 _，以供啟動測試流程及動作，並監控其測試步驟。 而該靜動態職姆中設計了有對靜態最大讀取距離測試、動態 最大讀取讀取距離職及動態讀取率測試三種_試方法，其中該靜 態最大讀取_戦鑛被測_置於可變輯送帶i 1上，與高頻 讀寫器3!固定處之相對距離，並以靜動態測試軔體執行測試是否能 讀取電子標籤3 2所發射出的訊號資料，若上述相對距離下能穩定讀 取電子標籤3 2資料’則再增加二者相對距離，直到穩態讀取資料情 形無法成立時’則上—個量測相對轉就是靜g最大讀取距離。而該 動態最大讀取讀取距離測試係對被測物體置於可變速輸送帶丄丄上， 周整行進導引板21二側間距離，使得被測物體在可變速輸送帶1 1 上移動時’可與〶頻讀寫器3丨固定處之相對距離保持—定距離，然 後啟動可。聽輸送帶丨K速度制試需求而定），並赠祕測試初 體執行測試是雜讀取電子標籤3 2 t料，若上述相對轉下能穩定 。賣取電子賴3 2詩，則再增加二者減贿，朗穩定讀取資料 If形無法成立時’則上—個制相對距雜是觸最大讀取距離。另 動態讀取率峨係對侧物Μ與可變速輸送帶1 1上，調整行進導 引板21二測間距使得被測物體在輸送帶工工上移動時可與冊讀寫 器31固疋處之相對距離保持一定距離，然後啟動可調速輸送帶11 (速度視測試需求而定），並以靜動態測試細執行測試是否能讀取電 子標藏3 2資料，所讀取之獅電子標籤3 2總數除以可變速輸送帶 11上被測物體所通過高頻讀寫器3工 態讀取率。 固定處之總數後， 所得即為動 =彻味，絲她—種電爛娜方法的步驟 續寫率H、係包3下列步驟系统啟動51:將電腦系統與 收系統連接’並啟動電射統之_程式；測試條件設定5 擋板機構中的有導引板咖該㈣調整 器1係連接導引板_座，該導_植_於輸送帶下方， 而该行進導刪&纖嫩，胃議_爛係貼附於 待測物上’喊寫驗之讀寫胃錢於輸賴構上，並簡板機構中 欲量測距離與待測物位置定位及設定輪送機構的速度；開肖測量5 3 :執行㈣程式處理，並啟输送機構，且執行讀㈣及電子標藏 的伯測動作’並將偵測結果傳回電腦系統中；以及選取貼附位置$ 4 : 經由電H统判讀出最佳之電子標籤貼附位置。 由上可知，本發明之裝置係具有如下實用優點： 除大幅提ff* RFID高頻性能測試結果之再現性，並增加量測的便 利性及實用性者。 2、 本裝置其應用的頻率範圍可達卜2〇MHZ可符合應用在特定頻率、 多重頻率下’或配合各式包裝箱及不同材質屬性之内容物如金 屬、液體、玻璃、塑膠......等者。 3、 藉由本裝置找尋出最佳之電子標籤貼附位置者。 丄JZ外/斗¢5 以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，舉凡依本發明申請 專利範圍職之均等設計變化，補為杨之技術所涵蓋。 综上所述，本發明揭示—種可有效找尋出最佳之電子標藏貼附位 置，並增加量漸制性及”,_電子標紅測試裝置及其方法， 具有新馳，以及產業上之_價值，級法提出發明專利申請。 1324748 - 【圖式簡單說明】 ._ 第1圖係為本發明測試裝置之結構示意圖。 第2圖係為本發明測試裝置之實施例結構示意圖。 第3圖係為本發明步驟流程示意圖。 【主要元件符號說明】 ' 10、輸送機構 1 1、輸送帶 • 2 0、擋板機構 21、行進導引板 2 2、導引板固定座 2 3、導引板調整器 3 0、讀寫系統 3 1、讀寫器 3 2、電子標簸 ® 3 3、電腦系統 4 0、瓶子 51、系統啟動 5 2、測試條件設定 5 3、開始測量 5 4、選取貼附位置 12

Claims (1)

1324748 十、申凊專利範圍·· 1、-種電子標籤之測試裳置，係包含有： 一 ’該輸送機構係設有—輸送帶； 1_構’ 細㈣、^咖定座及導 引板娜器，其中該行進導引板之-側連接雜板調整器， 以供行進導引板的位置，而導_整器一端係連接導引 皇固定座’物丨崎細侧㈣τ方，簡定行 、·引板的位置’而该行進導引板係放置於輸送機構的輸送帶 上；以及 。貝寫系統寫系統包含有—讀寫器及—電子標籤，其令該 電子標籤係貼附於待測物上，而該讀寫器係設於輸送機構上， 以讀取電子標籤所發射出之數據資料； 藉此’以侧電子賴在待測物上各處外表之域強度，找尋出 最佳之電子標籤貼附位置者。 2、 如申請專利範圍第工項所述之電子標籤之測試裝置，其中該讀寫 系統之璜寫器係為高頻（High Frequency)讀寫器者。 3、 如申請專利範圍第工項所述之電子標籤之測試裝置，其中該讀寫 系統進-步連結-電腦系統，該電腦系統中設有靜動態測試軔 體’供收集測試數據資料者。 4、 如申請專利範圍第！項所述之電子標籤之測試裝置，其中該輸送 機構於讀寫器的下方係設為中空狀者。 5、 如申請專利範圍第χ或2項所述之電子標籤之測試裝置，其令該 13 言買寫系統之讀寫器係採水平方式設置於輸送帶上方者。 6、 如申請專利範圍第1或2項所述之電子標藏之測試裝置，其中該 喂寫系統之t|寫||係麵直方式設置於輸送帶上方者。 7、 -種電子標籤之測試方法，其係包含下列步驟： 么 y ju 、、·'先啟動：將電腦系統與讀寫系統連接，並啟動電腦系統之 軔體程式； 、条件°又疋·將擋板機構中的行進導引板之一側連接有導引板 調整器，該導引板調整器一端係連接導引板固定 座’ s玄導引板固定座係固定於輸送帶下方，而該 行進導引板係放置於輸送帶上，該讀寫系統之電 子標籤係貼附於待測物上，而讀寫系統之讀寫器 係設於輸送機構上，並將擋板機構中欲量測距離 與待測物位置定位及設定輸送機構的速度； 開始測量：執行軔體程式處理，並啟動輸送機構，且執行讀寫 '器及電子標籤的偵測動作，並將偵測結果傳回電 腦為統中；以及 ’、、占附位置.經由電腦系統判讀出最佳之電子標藏貼附位置。 8如中睛專利範_7項所述之電子標籤之測試方法，射該讀寫 系先之。賣寫器係為高頻(High Frequency)讀寫器者。 9、如申轉利範岭7項所述之電子標籤之測試方法，其t該讀寫 V連、。—電腦系統’該電腦系統中設有靜動態測試物 14 1324748 體，供收集測試數據資料者。 10、 如申請專利範圍第7項所述之電子標籤之測試方法，其中該輸送 機構於讀寫器的下方係設為中空狀者。 11、 如申請專利範圍第7或8項所述之電子標籤之測試方法，其中該 讀寫系統之讀寫器係採水平方式設置於輸送帶上方者。 12、 如申請專利範圍第7或8項所述之電子標籤之測試方法，其中該 讀寫系統之讀寫器係採垂直方式設置於輸送帶上方者。