TWI259908B - A structure of object proximity and position detector - Google Patents

Description

1259908 七、指定代表圖： (一）本案指定代表圖為：第（7 )圖。 (^)本代表圖之元件符號簡單說明： 401第一反相器 402第二反相器

403第三反相器 404電阻R 405感測板 406電容器C1 407補償電容器C2 八、 本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的化學式： • , ^ 九、 發明說明： 【發明所屬之技術領域】 - 本發明係有關於一種物體接近偵測器及位置偵測器之構造。 ； 特別是，本發明係有關於一種以多數個傳輸閘極連接至振盪器之 、 輸入及輸出，而感測板則連接至傳輸閘極之物體位置偵測器。 【先前技術】 近代之物體接近偵測器被用以指示一物體接近偵測器並用以 φ 量測物體離偵測器有多遠。一般用於接近之偵測器為電容感測器 (capacitive sensor)或電感感測器（inductive sensor)。電容感 測器將電容之變化轉成數位信號，以判定是否已達有效電容 容之變化與物體對感測板之距離有關。 < 有許多不同的習知方法測量兩塊感測板間之電容量。其中之 一為經由感測板饋送一交流訊號給放大器而在放大器之輸出端測 •量交流訊號之改變。此技術用在授予Robert J· Miller等人之美 國專利案號5/374, 787;美國專利案號5/495, 077及美國專利案^ 5/841，078及授予Timothy P· Allen等人之美國專利案 5/914,465 ;美國專利案號 6/239,389 B1 ;及授予 David'wb Gillespie等人之美國專利案號6/028,271 ;美國專利案號 1259908 6/610, 936 B2。利用此技術之系統包含許多類 中=擇器曰、減法器、取樣/保輪 欠电財類比電路之晶片體積遠比數位電路 、 Ϊ二PWllP 之錢翻成Βίί 感測板之—hi^路。在此電路中’交流訊號電壓源被加到 3理”比電路，如峰值偵測器、放大器及a/d轉換哭。由 來/另而來加至峰值偵測器，而為系統_誤差之 ίί雪盪f之輸人端連接感測板。在振盪器輸入 體3否致振盪态頻率之改變。由偵測頻率之變化，物 體近感翁即被偵測出來。此技術用在授予chris_ η· 之吳國專利案!虎6/583,676 β2。振盪器之頻率與製程束 供ί電麼有關。物體接近偵測器需要做頻率校正以補償 述專利所述’先前技術利用二個電容器及一個電 口、盈為之感測板為物體接近或不為物體接近作判斷。由 ^艾雜在外部予以程式化。為避免對物體接近侧器作頻 η ’需設計-個振盪器使頻率與製程參數及電源供應之相關 ϊί取^上述發明在增加—額外電路至系統内以補償製程對振 盪态之衫響。先珂技術常用之RC振盪器如第i圖所示。此電路包 含二個反相器10卜;[〇2、103，一個電阻1〇4 , 一個電容器丨〇6， ，感測板105，感測板之電容為Cs，第一級反相器1()1P具有斯 j特（Schmitt)觸發（trigger)輸入，在振盪器回授迴路内之電阻 态10^，用於電路之充電/放電元件。振盪器之頻率由電阻器1〇4 及電谷态105、106所決定。電路之波形如第2圖所示。其中谓2 及VTR1為兩個斯密特觸發輸入反相器1〇1之轉換電壓（廿抓^沈 voltage)。於電路之充電週期（cycle)，當反相器1〇1之輸入端之 電壓到達體時，反相n 1〇3之輸纽變狀態（state)而電路開 始放電週期。第一反相器1〇1之輸入端經過VTR2&VTR1。振盪器 1259908 之週期（period)正比於 R(Cs + Cl)(VTR2 — VTRl)/(VCC —（VTR2 + VTR1 )/2)+dt，其中 dt 為反相器之傳送(propagation)延遲(delay) 而VCC為電源供應電壓。由此公式，可知頻率係與轉換電壓vtR2 及VTR1大有關聯。若電路係以CMOS製程設計，則電壓差VTR2 — VTR1與PM0S及1M)S之臨限電壓（threshold voltage)大有關係， 若電源供應電壓減少，VTR2 — VTR1將減少，且dt將增加，因為傳 送延遲在積體電路中非常小，dt之增加不足以補償VTR2-VTR1之 減少。 【發明内容】 本發明之目的在提供一種物體位置偵測器，其靈敏度與製程 參數之改變無關。 η 本發明之次一目的在提供一種物體位置偵測器，使苴且有高 靈敏度。 八八 本發明之再一目的在提供一種物體接近偵測器，其靈敏度與 製程參數之改變無關。 本發明之再一目的在提供一種物體接近偵測器，使其具有高 靈敏度。 ' 為達成上述目的及其他目的，本發明之第一觀點教導一種物 體接近偵測器及位置偵測器之振盪器電路。在電路中，一個增設 ，電二器被加人。此電容器係用以加至斯密特觸發反相器之‘二 巧之電壓擺幅(voltage swing)，此部份之電壓差係正比於供應電 壓VCC，但與電路之PM0S及NM0S兩電晶體之臨限電壓無關^個 f素互相抵消，而使振盪器頻率受製程參數及電源供應電壓之影 專降至^小。除了與製程參數無關，偵測器之靈敏度亦重要。若 Cs為弟1圖中感測板之電容變化，振盪器之週期改變為 dCs/(Cl+Cs)，則靈敏度低。 · 本發明之另一觀點在教導一種將感測板連接至振盪器之輸入 1259908 及輸出端以增加靈敏度之方法，靈敏度將增加一因子2VCC/(VTR2 -VTR1)若VCC》VTR2—VTR1，則靈敏度之增加將报高盘製程夫數 咼靈敏度的特性可以由結合兩個電路之優點而在電路中同 為了偵測物體之接近，物體接近偵測器包含—個振盪器，一 對感測板，一個計數器（counter)及一個微處理器。於 週期，不斷更新參數計數(reference count) Nq。此參[計定’薦 為f無物體接賴·、時之計數值。且此參數計數亦為在 程中曹經記錄之最大計數值。 ^ 一個預設之數Nr，可輸入微處理器且用以定義 偵測物體之接近’計數器計算振盪器之頻率，若在一^之時期 Νχ 5 No_Nx ° ti 付(NQ:NX)>Nr ’即可判定有一物體接近此偵測器。較小之此音匕 二個之系統。前述方法教導如何偵測—個物體接近^ 益。此技f可擴大並改良以偵測—個物體接近偵· 並 辨哪一個陣列中之偵測器偵測到。 刀 本發明之另—較佳實補教示—獅體位置伽指 計物體位置侧If，M轉制係並聯連接於紐^^ =個傳1間係並聯連接於振盪器之輸出端。此』 :形成歸矩陣一對_板形成_ 專輸閘之。此專傳輸間之控制閉極 理器之輸出端，且為微處理哭依雜H Saxe)運接至被處

Nr可輪入㈣声二=，切田（SCanned)。一個預設之數 夂處碰用以定義每―開關之靈敏度。每-開關之 Α 於掃描f柳車列(key m伽x)軒以更新。若 (N邊)>Nr在掃瞄開關陣列時被測得， =3 開關陣列巾之某糊。本發明之類 ' ^ 個傳輸_!。本發相多及兩 1259908 圖不及最佳 本發明之以上及其他目的及優點參考以下之來照 實施例之說明而更易完全瞭解。 、 【實施方式】 接近(object proximity)偵測技術在物體或手指接近或接觸 一感測板（sensor plate)之應用上甚為有用。而位置（〇bject position)债測技術於物體或手指在偵測陣列中之位置需要偵測 時應用。 、、

本發明物體接近電路或物體位置偵測器之一實施例至少包含 一對感測板、一個感測振盪器、一個時基(time base)振盪器及 一個微處理器。在許多應用中，振盪器之頻率與製程參數無關至 為重要，且較高之靈敏度亦甚需要。第3圖係顯示依據本^明之 一貝施例之一個感測振盪器電路，此振盈器可補償因製程參數改 變而使頻率改變之因數。第4圖為第3圖之振盪器輸“^^ 時間變化之函數。如第3圖所示，此振盪器包含三個反相器，第 一反相器201、第二反相器202及第三反相器203係串接；二個第 一電谷态206連接於該第一反相器201之輸入與接地之間；一對 感測板205亦連接於該第一反相器201之輸入與接地之間；一個 補領電谷器207連接於該弟一反相器201之輸入與第二反相哭202 之輸出之間；一個反饋電阻器204連接於該第一反相器2〇f之輸 入與該第三反相器203之輸出之間；該反饋電阻器2〇4係用以在 振盪益之輸入端對該第一電容器206、補償電容器207及該感測板 205充電及放電；該第一反相器201有兩個傳輸電壓vtr2及VTR1。 於充電狀悲傳輸電壓為VTR2，於放電狀態傳輸電壓為vtri，在第 一反相器201之輸入端之電壓升至VTR2之水平，第一反相器2〇1 之輸出將改變其狀態（state)，等一段傳送時間後，第二反相器2〇2 之輸出亦改變其狀態。第二反相器202輸出端之電壓跳動（jump) 將經由補償電容器207至第一反相器201之輸入端。第3圖之振 盪器輸入端之充電及放電之電壓範圍包含三部份。第一部份為 1259908 VTR2 —VTRl ;第二部份為由補償電容器207引起，為2vC(Yr9 (Cl+C2+Cs));第三部份為傳送經過反相器201、202及203戶/

起，若臨限電壓增加，VTR2—VTR1將減少。由於反相器内 隨臨限電壓之增加而增加，若臨限電壓增加，則充電或放= 將減少。因之，若臨限電壓增加，VTR2 — VTR1之充電時間必減二、^ 而2VCC(C2/(C1+C2 + Cs))之充電時間將增加而傳送延遲也=苗 加。由適當選擇電容器205、206及207 ,振盪器之時間週期左^ 程參數改變而變化之影響將降至最低。因此振盪器之頻率受 參數之影響將降至最低。則於製造時對振盪器之校準即不需要"。王 本發明另一實施例之振盪器電路如第5圖所示。而振 1哭 入端電壓對時間變化之函數如第β圖所示。在此電路中，一 測板305連接於第一反相器301之輸入與第三反相器3〇3之輸丄 之間，在此電路中，在第三反相器303輸出之電壓轉變幅度為 vcc’由感測電容之改變使時間週期之改變為dT/T=(dCs/(Cs^^ (2VCC/(VTR2-VTR1))。如與第1圖之振盪電路比較，第5圖之當 敏度被放大2VCC/(VTR2 —VTR1)倍。 孤 ，了同時改善振盪頻率隨製程參數改變之影響及增加偵測器 之靈度丄第3圖及第5圖之優點可以结合在―起。具有此特^ =電路如第7圖所示。而振盪器輸入端電壓對時間變化之函數如 =8圖=*不。在此電路中，感測板4〇5連接於第三反相器4⑽之 第一反相器401之輸入之間；補償電容器407連接於第二 i目态402之輸出與第一反相器4〇1之輸入之間；補償電容器4〇? =應將=為感測板4〇5之電容所抵銷。若考慮反相器4〇1輸 之充電時程(Charging range) ’補償電容器407之電容C2必 測板405之電容Cs大。由適當選擇電容器4〇5、4〇6及4〇7 電容，振盪頻率隨製程參數改變之影響可以降至最小。 明以上之電路為用於物體接近偵測器或物體位置偵測器 择、、易又1為。—個物體接近侧器至少包含-對感測板、-個感測 又盈為、一個時基(time base)振盪器、一個計數器及一個微處理 l2599〇8 。圖所不之系統為依據本發明之一實施例之物體接近偵測 圖+中’系統包含一對感測板501，連接至一個感測振盪器 咸、、寺基振蓋器503，一個計數器504及一個微處理器505。 i二振f器502與感測板501為前述第3圖、第5圖或第7圖之 助ρθ。日守基振盪器503提供系統時脈給微處理器505。於系統偵測 儲f 一個參考計數Nq在微處理器505中，且隨時更新。此 计數ί義為當沒有物體接近感測板5G1時之計數值，且參考 ^ ^計數⑽巾所f數過最大值。—細設值Nr可輸入至微 =鹏〇5並用以定義物體接近感測板之靈敏度。為了偵測一個 湘ρθ之ί妾近，計數器504計算感測振盪器502之頻率，若在預定 二内數值為Νχ，Ν°—Νχ可測出一個物體是否接近感測板5〇1。 】/立i)^Nr被測出，即可判定一個物體接近感測板5〇1。較小 r忍謂較靈敏之系統。輸入不同之此至微處理器5〇5，物體 近偵測器^靈敏度可由外部操控(pr〇grammed)。 振盪器頻率受電源供應電壓之影響而改變。為 :測;之穩”，具有電源供應調節器_之系統 “ 6〇2及時基振盈器603之電源供應由電源供應調 仏。由此改進，系統可較穩定而獲得高靈敏度。 * =述方法教導如何_一個物體接近侧器。此技術可擴大 ^ 個物體接近—個侧陣列，並分辨在陣列中哪一個偵 測杰被偵測。此系統稱之為物體位置偵測器。 、 严11 ®為物體位置偵測器一實施例。在此電路中，有Μ個 ==6Μ)並聯連接於感測振堡器703之輸入端7(Π，而Ν ^ Ϊί甲^^78Ν)並聯連接於感測振盈器703之輸出端702。此等 =閘之輸出端可用以形成關轉。要形成一個制器: 接感測板之一片至Μ個傳輸閘（731_7洲)之一，， ^接^ =輸閘⑽-74Ν)之一。此等傳輸問“，及 761 76Μ)之控制閘極（711-71Ν及721-72Μ)連接至微虚理哭7⑽ 輸出端（711-71Ν及721-72Μ)，且為微處理器.依°序掃描 10 1259908 i^aiLned)。一個預設之數Nr可輸入至微處理器706並用以定義 之每—開關之靈敏度。每—開關之參考計數⑹可以於掃

SlI? t?,2ey matrix)B^^^^ ° ^(N〇-Nx)>Nr 關。守被測侍，即可判定一個物體已接近開關陣列中之某一個開 電源中之缝器之頻率穩定性亦可由增設-個 之物^仔以改善。第12圖為具有電源供應調節器807 仏武、au i偵測器。該電源供應調節器807係用以提供電源供應 測振盥器803及時基振盪器805。電源供應調節器8〇7之

包，不因電源供應電壓之變化而改變，因此振堡器咖及別 太4,Ϊ由=較佳之具體實關之詳述，係希望能更加清楚描述 太工之巧與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實例來對 加嫌制。相反的’其目的是希望能涵蓋各種改變 及/、相專性的安排於本發明所欲申請之專利範脅内。 【圖式簡單說明】 第1圖（先前技術）常用之RC振盪器。 第2圖（先前技術）第1圖之振盪器輸入端電壓對時間變化之函數。 弟3圖顯示依據本發明之一實施例之感測振盪器電路， 第4圖為第3圖之振盪器輸入端電壓對時間變化之函數。 第5圖為依據本發明另一實施例之振盪器電路。 弟6圖為第5圖之振盪器輸入端電壓對時間變化之函數。 第7圖依據本發明之一實施例之具有第3圖及第5圖之特性之電路。 第8圖為第7圖之振盪器輸入端電壓對時間變化之函數。 1259908 第9圖為依據本發明之一實施例之物體接近偵測器。 第10圖具有電源供應調節器之物體接近偵測器。 第11圖為依據本發明之一實施例之物體位置偵測器。 第12圖為具有電源供應調節器之物體位置偵測器。 【主要元件符號說明】 101第一級反相器 103第三級反相器 105感測板 201第一反相器 203第三反相器 205感測板 207補償電容器C2 302第二反相器 304電阻R 306 電容器C1 402第二反相器 404 電阻R 406 電容器C1 501感應板 503時基振盪器 505微處理器 602感測振盪器 604計數器 606 電源供應調節器 702振盪器之輸出端 704計數器 706微處理器 802振盪器之輸出端 102 第二級反相器 104 電阻R 106 電容器C1 202第二反相器 204反饋電阻器R 206第一電容器C1 301第一反相器 303第三反相器 305感測板 401第一反相器 403第三反相器 405感測板電容Cs 407補償電容器C2 502感測振盪器 504計數器 601感應板 603時基振盡裔 605微處理器 701振盪器之輸入端 703感測振盪器 705 時基振盪器 801振盪器輸入端 803感測振盪器 12 1259908 804計數器 805 806微處理器 807 時基振盤裔 電源供應調節器

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Claims (1)

1259908 十、申請專利範圍： ^二種物體接近(object proximityM*測器，包含 ίίί^(fnS〇r Plate) ? ”振盛器之頻率，其輸出與一個微處理器互通； 振盪器，提供微處理器之系統時脈(cl〇ck)，-個ί ；5

第三：：：包含三個反相器，第一反相器、第二反相器及 ϋΐ 亦連接於該第—反相器之輸入與接地之 輸出之門彳Ί=連接於該第—反撼之輸人與第二反相器之 t目阻11連接於該第—反相11之輸人與該第三 第一二Ϊ出亥反饋電阻器係用以在振I器之輸入端對該 = = 、補仞黾容器及該感測板充放 JJJ^^,KSchmitt trigger) 合时係用以降低振盪頻率隨製程參數改變之影塑。 ϋ申請專利細第1項之物體接近_^、，進-步包含： 以保持调即器’連接至該感測振盪器及該時基振盪器 保持δ亥感測振盪器及該時基振盪器之穩定。 測振。i=i=ject prGxl㈣)偵測器’包含連接至感 體之2 or plate)，以電容之改變來偵測物 ίί 連接至一計數器之輸入；一個計數器，計 (t—'、率，其輸出與一個微處理器互通；-個時基 處理哭盈/’提供微處理器之系統時脈（clock)，-個微 之醉關定—獅體已接近該 14 1259908 一該感測振盪器包含三個反相器，第一反相器、第二反相哭及 第三反相器係串接；一個第一電容器連接於該第一反相器之g入 與接，之間；一對感測板亦連接於該第一反相器之輸入與該第三 反輸出之間；一個反饋電阻器連接於該第一反相器之輸入 與该第二^相器之輸出之間；該反饋電阻器係用以在振盪器之輸 入螭對该第一電容器及該感測板充電及放電；該第一反相器且 有斯密特觸發(Schmitt trigger)輸入之反相器；該感測板之& 接係用以增加該物體接近偵測器之靈敏度。 4·如申請專利範圍第3項之物體接近偵測器，進一步包含·· • 一個電源供應調節器，連接至該感測振盪器及該時基振盪哭 以保持該感測振盪器及該時基振盪器之穩定。 ^ 、5· ^一種物體接近(object proximity)偵測器，包含連接至感 測振盪器之一對感測板(sensor plate)，以電容之改變來偵測物 體之接近，-個感測振盤器，電容之改變使感測振盪器之頻率改 •變^感測振盪器之輸出連接至一計數器之輸入；一個計數器，計 .數u亥感測振盈态之頻率，其輸出與一個微處理器互通；一個時基 (time base)振盪器，提供微處理器之系統時脈(cl〇ck)，一個微 處理器，計算並處理由該計數器之頻率以判定—個物體已接近該 偵測器；其中改良之處至少包含： # # „振盪11包含三個反相器，第-反相器、第二反相器及 第二反相器係串接；一個第一電容器連接於該第一反相器之輸入 與接地之間；一對感測板連接於該第一反相器之輸入盥該第三反 ，器之輸^之間· ’一個補償電容器連接於該第一反相器之輸入與 第一反相為之輸出之間；一個反饋電阻器連接於該第一反相器之 輸入與该第二反相ϋ之輸出之間；該反饋電阻器制以在振盪器 j入端對—電容H、補償電容H及該感測板充電及放電； 邊第一反相裔為具有斯密特觸發(Schmitt trigger)輸入之反相 态’该補偵電谷态係用以降低振I頻率隨製程參數改變之影響， 该感測板之連接係用以增加該物體接近偵測器之靈敏度。 15 1259908 申％專利範圍第5項之物體接近偵測ϋ，進-步包含： 以佯供應調節器，連接至該感測缝器及該時基振盪器 保持该感測振盪器及該時基振盪器之穩定。 振盈i. 一物士體位置（object positi〇n)偵測器，包含一個感測 (ci〇i，’提供微處理器之系統時脈 微處理哭互i十數f數该f則振蓋器之頻率，其輸出與一個 至該感一订()傳輸閑（transmissi〇n _)，連接 之輪輸入；一列(row)傳輸間’連接至該感測振盈器 經由傳每一開關為一對感測板所形成，以一感測板 由傳輪严出連接至該感測振盪器之輸入；而另一感測板經 (control ^連接至該制減11之輸雜閘之控制閘 處理由個微處理11所掃描；—織處麵，計算並 (array)H —2頻率以判定一個或多個物體已接近僧測陣列 位置j其巾定—崎個倾在鋪測陣列之 第三器包含三個反相器’第-反相器、第二反相器及 與接地^ ί ί ;、—個第—電容11連接於該第—反相11之輸入 間；一個^ ^測板亦連接於該第—反相器之輸人與接地之 輸出之間.^^連接於該第—反相器之輸人與第二反相器之 反相器之輪出U饋Ϊ =接於該第一反相器之輸入與該第三 第-電容哭、ΪΞ，5亥反饋電阻器係用以在振盪器之輸入端對該 為具有斯容器及該感測板充電及放電；該第一反相器 #(SChmitt tHgger) ^ ，用，低振盈頻率隨製程參數改變之影響。 二d專利範圍第7項之物體位置偵測器，進—步包含： 以保；=時==盪器及該時基振盪器 種物體位置(〇bject positi〇n)偵測器，包含一個感測 16 1259908 振盪器；一個時基(timebase)振盪器，提供微處理器之系統時脈 ^clock^個计數态，計數该感测振盪器之頻率，其輸出與一個 小1^理、的互通，一行（c〇lumn)傳輸閘（廿如^如⑽职仏），連接 至ΐ感測^盪裔之輸入；一列（r〇W)傳輸閘，連接至該感測振盪器 之輸出，該行傳輸閘及該列傳輸閘形成一個開關矩陣（key maty’開關矩陣之每一開關為一對感測板所形成，以一感測板 經傳輸閑之輸iij連接至該制振㈣之輸人；而另_感測板經 由傳輸閘之輸出連接至該感測振盪器之輸出；傳輸閘之控制閘 (control gate)為一個微處理器所掃描；一個微處理器，計算並 • f理由該計數器之頻率以判定一個或多個物體已接近偵測陣列 array)之某一對感測板，以判定一個或多個物體在該偵測陣列之 位置；其中改良之處至少包含： #一该感j振盪器包含三個反相器，第一反相器、第二反相器及 f二反相态係串接；一個第一電容器連接於該第一反相器之輸入 ‘共接，之間；一對感測板亦連接於該第一反相器之輸入與該第三 • ^相，^輸出之間；一個反饋電阻器連接於該第一反相器之輸入 第相器之輸出之間；該反饋電阻器係用以在振盪器之輸 入^，5亥第一電容器及該感測板充電及放電；該第一反相器為具 ^斯密特觸發(Schmitt trigger}輸入之反相器；該感測板之連 接係用以增加該物體接近偵測器之靈敏度。 10·如申請專利範圍第9項之物體位置偵測器，進一步包含： 一個電源供應調節器，連接至該感測振盪器及該時基振盪器 以保持該感測振盪器及該時基振盪器之穩定。 ^1· 一種物體位置(object position)偵測器，包含一個感測 j辰盟; 一個時基(timebase)振盪器，提供微處理器之系統時脈 iCl〇Cki’ 一個計數器，計數該感測振盪器之頻率，其輸出與一個 镟，理器互通；一行(column)傳輸閘（transmission gate)，連接 至ί感測振盪器之輸入；一列（r〇w)傳輸閘，連接至該感測振盪器 之輸出；該行傳輸閘及該列傳輸閘形成一個開關矩陣（key 17 1259908 matrix);開關矩陣之每一開關為 經由傳輸閘之輪出連接至該感測所形成，以-感測板 由傳輸閘之輪出連接至該感測振^之^ 另—感測板經 (control gate)為一個微處理 ^之輸f2輸閘之控制閘 處理由該計數||之_叫定—鑛纽ϋ，計算並 (array)之某-對_板，關 已接近偵測陣列 位置；其中改良之處至少包含：自或夕個物體在該偵測陣列之 該感測振盪器包含三個反相器 第三反相ϋ係φ接；—個第—心f反彳H一反相益及 第二』第-反，之輸，與 ;rr 一 ϊίί=電:=== 具有斯密特觸發(Sch咖吨㈣輸入之反相 電谷ϋ制以降低振盪頻率隨製程參數改變之影響， 為感;則板之連接個以增加，_體接近细傻之靈敏度。 2.如申請專利範圍第11項之物體位置侧器，進一步包含： 二個電祕應調節器’軸至該_缝狀該時基振盪器 L保持该感測振盪器及該時基振盪器之穩定。 18