TW201643622A - 數位筆 - Google Patents

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傑弗生B 衛斯特
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Abstract

提供一數位筆系統及方法。該數位筆包含了:包含一筆匣與一壓力感測器之一內部筆模組、容置該內部筆模組的一主體、及在該數位筆的一第一端上與該內部筆模組連接及在數位筆的一第二端上與一扭轉機構連接之一梭件。當該扭轉機構作動時,該梭件將移動該筆匣與該壓力感測器。

Description

數位筆
本發明大致上係有關於數位筆。
裝置如觸碰螢幕提供了優雅、簡單、工業上「潔淨」的設計用來提供兩種功能:例如觸碰的輸入、及例如顯示的輸出。一觸碰螢幕可藉由將一透明覆蓋層設置靠近顯示器表面來形成。此類的覆蓋層一般基於覆蓋層的電氣特性上之變化,偵測如觸碰之輸入的出現及位置。在一範例中,如數位筆的一手持式裝置可在此類覆蓋層上使用。
依據本發明之一可行實施例,係特地提出一種數位筆,其包含了:包含有一筆匣和一壓力感測器的一內部筆模組、容置該內部筆模組的一主體、及在數位筆的一第一端上與內部筆模組連接及在數位筆的一第二端上與扭轉機構連接的一梭件,其中當該扭轉機構作動時,該梭件移動該筆匣及該壓力感測器。
100‧‧‧數位筆/筆/位置輸入系統/系統
105‧‧‧偏振光源/光源
110‧‧‧主體/偏振狀態
120‧‧‧扭轉機構/表面
125‧‧‧載體/元件
130‧‧‧梭件/可見透明偏振(改變)元件/(透明)偏振元件/元件/偏振狀態
135‧‧‧已變更偏振狀態/偏振點
140‧‧‧內部筆模組/已變更偏振狀態/偏振狀態
150‧‧‧壓力感測器
150a、150b‧‧‧運算裝置
160‧‧‧筆匣/電腦可讀儲存媒體/電腦可讀媒體
165‧‧‧電腦可執行指令/指令
170‧‧‧框架
170a~e‧‧‧連線
180‧‧‧按鈕
190‧‧‧控制器
20‧‧‧位置輸入系統/系統
21、115‧‧‧顯示器
22‧‧‧個別預定光學圖樣
23、155‧‧‧處理器
24、145‧‧‧檢測器
25、185a、185b‧‧‧數位筆
26、195‧‧‧傳輸器
27‧‧‧表面
30‧‧‧位置輸入方法
31‧‧‧步驟
一些範例係針對以下圖式予以描述:圖1A與圖1B繪示依照本揭露內容之一實施態樣 的範例數位筆;圖2繪示依照本揭露內容之一實施態樣之一範例數位筆的示意圖;及圖3和4繪示依照一實施態樣之一範例程序流程圖。
本揭露內容之多種方面係針對一數位筆。更具體而言及如以下更詳細描述地,本揭露內容多種方面係針對一數位筆藉以經由扭轉機構來縮回筆尖以將其關閉,與延伸筆尖以將其開機而予以操作的方式。
本文所描述本揭露內容之多個方面係揭示允許使用者使用一數位筆,其中該數位筆不需有大的直徑、增加的長度及增加重量以提供縮回筆尖來將其關機與延伸筆尖來將其開機之扭轉機構。更具體而言,該扭轉機構僅移動數位筆的特定內部元件,而非筆內的全部元件。除了其他方面之外,此種方式允許了使用者更有用與較理想的數位筆之選擇。使用者可更舒適地握持數位筆,並使用較長的一段時間。
當本說明書或申請專利範圍請求項引用以下用詞時,係要予以理解如下。單數形式的「一」、「一個」及「該」,意為「一或多個」。「包括」及「具有」等用詞,與「包含」一詞具有相同的含括式意義。
一檢測器可被設置,其可為如一數位尖筆或數位筆之手持式裝置的一部分。一預定系列之通常採點、方 形、或類似標示的形式之位置編碼元件,可設置在一顯示裝置上。一種此類系列元件係為由安諾拓集團公司(Anoto Group AB,瑞典隆德市)販售提供之獨特預定位置編碼圖樣。利用此種預定圖樣,一檢測器可在置設靠近該式樣時判定其相對於該圖樣的位置。檢測器的位置分辨能力可例如藉由以下方式而增加:(1)提高諸元件相對於彼此的位置精準度,及/或(2)增加同時使用來確定一位置位址之點的數量,使得定位這些點時的誤差縮小。該檢測器可以是二維陣列檢測器,如一CMOS或者一電荷耦合元件(CCD)成像器。該檢測器可適當地設計為有高解析度檢測能力,使得其支援如上所述的圖樣之位置解析分辨能力。一可見透明、預定元件圖樣可置設在一可見透明載體上、中、或周圍附近。在一範例中,一光源可產生偏振光。該光源可位在容置該顯示器之一運算裝置之內,或可位於運算裝置之外,例如數位筆的一部分。產生之偏振光可傳送經過置設在一顯示裝置的表面上之可見透明偏振狀態改變元件的一預定圖樣,且該偏振光於位置編碼元件與顯示背景之間的偏振狀態之改變可由一檢測器予以檢測出來。該改變可與檢測器在顯示裝置上的位置對應。在一些範例中,該位置可用高解析度及高精確度予以判定。該數位筆可包括用來傳送表示檢測器的位置之資料到運算裝置的一傳輸器。響應地,該運算裝置可致使顯示裝置修改其輸出。
雖然該光學圖樣於上文描述為包含偏振元件,但亦可使用其它類型的光學圖樣。除了偏振元件,例如該 圖樣可以是諸如點或任何其它形狀之可吸收近紅外線(近IR)的油墨印刷元件組成的一圖樣。在此範例中,運算裝置的外部或內部的光源可產生由此等吸收元件吸收的近IR光。近IR光不需偏振。近IR光可穿過此種吸收元件圖樣且反射或傳輸給檢測器。檢測器可基於有吸收元件吸收了近IR光的區域及無吸收元件因而該近IR光沒有被吸收的區域之間檢知的對比,來檢測該圖樣。
在其它範例中,可以提供不管有或無光源,可利用光學方法、利用組成光學圖樣之任何合適種類的元件,來進行檢測之任何其他光學圖樣。
上述系統可於顯示器及視覺透明輸入系統上提供以觸碰為基礎之輸入的高解析度和高精準度。然而,在一些範例中,於該數位筆附近可以有多個顯示器及/或多個數位筆存在。
因此,本揭露內容提供的系統及方法用以在一多顯示器系統中,提供辨識出用於顯示互動之一數位筆鄰近於哪一個顯示器的能力。本揭露內容亦可在一多數位筆的系統中,提供管理來自各個數位筆之多個輸入的能力。
在本文中使用時,「光」一詞是指落在可見光譜內的電磁輻射,此光譜從400奈米(紫色)延伸至700奈米(紅色)。「光」一詞亦可以包括落在從700奈米延伸至3000奈米之近紅外光譜內的電磁輻射。
圖1A和1B繪示依照本揭露內容之多種實作態樣的範例數位筆。更具體地,圖1A繪示處於筆尖延伸的開機 模式之一數位筆100,及圖1B繪示處於筆尖縮回的關機模式之該數位筆100。但應當顯而易理解的是,本圖示之解釋不應受限於顯示於圖1A、1B中之特定繪示性架構,且該數位筆100表示一通用圖示,而且可添加其它元件或者移除、修改、或以多種方式重新排列所繪示元件。
數位筆100包括但可不限於一主體110,包括有含有一壓力感測器150和一筆匣160的一內部筆模組140、一扭轉機構120、一梭件130、一框架170及按鈕180。在一實作態樣中,該數位筆100包括供於數位螢幕上使用的一塑料筆尖(圖1A和1B中未示出)。
數位筆100的主體110為內部筆模組140提供了殼體。如上所述,內部筆模組140包括壓力感測器150和筆匣160。此外,內部筆模組140可包括各種電子元件、紅外線LED、及一相機。該扭轉機構當成數位筆100的一互動點。筆100之使用者可利用扭轉機構延伸或縮回該筆100的筆匣160。梭件130於筆100的一端上與扭轉機構120連接,且在另一端上附接於內部筆模組140。當扭轉機構120被轉動時,梭件130移動內部筆模組140中的壓力感測器150及筆匣160。在圖1A顯示的範例實作態樣中,梭件130將壓力感測器150和筆匣160向前移動,此造成筆匣160延伸出主體110且將筆100開機。在圖1B顯示的範例實作態樣中,梭件130將壓力感測器150和筆匣160向後移動,此造成筆匣160縮回主體110內且將筆100關機。應當注意的是,梭件130不移動壓力感測器150和筆匣160以外的任何其它元 件,且因此並不需要在數位筆100的最佳直徑、重量或長度上作任何改變。
在一實作態樣中,按鈕180被定置在框架170上。此等按鈕180可被規劃用來作為諸如滑鼠點擊的控制器,且可被設定為預設設定值或者基於使用者偏好來規劃。
圖2係為繪示根據一些範例之一位置輸入系統20之一方塊圖。系統20可包括數個顯示器21。顯示器21中之每一者可有一個別預定光學圖樣22設置於其上。系統20可包括一處理器23用以判定一檢測器24是接近數個顯示器21中之何者。雖然在系統20中,處理器23繪示成在其他元件之外,但處理器23可設於系統20中的任一裝置內。系統20可包括具有該檢測器24及一傳輸器26的一數位筆25。該檢測器24可用來檢測設置在此檢測器24所靠近的顯示器21上之預定圖樣的一部分。該部分之預定圖樣可對應到此一顯示器21的一表面27上的一位置。傳輸器26可以用來傳輸表示該數位筆之位置的資料至與數位筆25通訊式耦接的一運算裝置。
圖3係繪示依據一些範例之一位置輸入方法30的一流程圖。該方法可在包含數個顯示器的系統中執行,其中此等顯示器各具有設置在其上的個別光學圖樣。在步驟31,針對數個檢測器中之每一者,可利用此檢測器來檢測設置在數個顯示器中為此檢測器所靠近之一顯示器上的一光學圖樣的至少一部分。該部分之光學圖樣可對應到該顯 示器之一表面上的一位置。
圖4是繪示依據一些範例一位置輸入系統100的一方塊圖。系統100可包括一運算裝置150a-b和數位筆185a-b。每一數位筆185a及185b具有一檢測器145和一控制器190。每一數位筆185a及185b可以是尖筆、行動電話、智慧型手機、遙控器、筆、或者任何其它合適的數位筆。數位筆185a及185b可以是彼此相對不同類型的裝置。以下敘述將特定地描述該運算裝置150a及數位筆185a的運作,運算裝置150b係與運算裝置150a相似,且數位筆185b與數位筆185a相似。
運算裝置150a可以是一平板、膝上型電腦、智慧型手機、桌上型電腦、電視、或者任何其他類型的運算裝置。該運算裝置150a可包括用於執行諸如本文方法所描述者之指令的一處理器155。例如,該處理器155可以是一微處理器、一微控制器、一可規劃閘陣列、一特定應用積體電路(ASIC)、一電腦處理器、或類似物。處理器155可例如包括諸如一晶片上的多個核心、跨多個晶片的多個核心、跨多個裝置的多個核心、或者以上的組合。在一些範例中,處理器155可包括至少一積體電路(IC)、其它控制邏輯、其它電子電路、或其組合。
處理器155可藉由通訊匯流排與一電腦可讀儲存媒體160連通。此電腦可讀儲存媒體160可包括單一或多個媒體。例如,電腦可讀儲存媒體160可包括ASIC之一記憶體與運算裝置150a中的一單獨記憶體的其中一者或兩者。 電腦可讀儲存媒體160可以是任何電子、磁性、光學、或者其他物理性儲存裝置。例如,電腦可讀儲存媒體160可以是諸如隨機存取記憶體(RAM)、靜態記憶體、唯讀記憶體、電氣可抹除可規劃唯讀記憶體(EEPROM)、一硬碟、一光碟機、一儲存驅動機、一CD、一DVD、及類似物。電腦可讀儲存媒體160可為非暫態者。電腦可讀儲存媒體160可儲存、編碼或攜載電腦可執行指令165,此等指令165在由處理器155執行時,可致使處理器155執行本文依據各種範例揭露的任何方法或操作的步驟。
該運算裝置150a可包括一顯示裝置,其包括了具有一表面120的一顯示器115。顯示器115可經由該通訊匯流排,與處理器155與電腦可讀媒體160通訊上耦接。
控制器190可包括類似於處理器155及電腦可讀媒體160的一處理器及一電腦可讀媒體,以便執行本文所揭露之方法的某些步驟。
運算裝置150a可包括提供具有一偏振狀態110之光的一偏振光源105。偏振光源105可於顯示器115之內或接近顯示器115。具有如光學圖樣之由可見透明偏振改變元件130組成之一預定圖樣的一載體125,可被設置在靠近表面120,用以改變或用其他方式變更偏振光源105產生之入射光的至少一部分的偏振狀態110,用以提供具有一已變更偏振狀態135的光。通過載體125但不通過偏振元件130的光之偏振狀態可被改變到一偏振狀態140,此偏振狀態140於一個或多個特性上不同於:(1)具有偏振狀態110的 來自光源105的光、及(2)具有已變更偏振狀態135的從偏振元件130其中一者離開的光。
離開顯示器115的光的相異已變更偏振狀態135及140,可致使能利用可分辨此等已變更偏振狀態135及140的一檢測器145「讀出」偏振元件130的圖樣。基於檢測器145辨別離開偏振元件130的光之已變更偏振狀態135與離開載體125的光之背景已變更偏振狀態140的能力,讀出偏振元件的圖樣是可能的。
基於該等可見透明偏振元件130間的獨特編碼的絕對位置資訊,檢測器145可判定其在顯示器115的表面120上的位置。可見透明偏振元件130的圖樣及相對準確性可有助於檢測器145在判定其相對於顯示器115之位置時的準確性。跨越顯示器115的表面120設置之可見透明偏振元件130組成之較高準確性及/或較高密度圖樣,普遍可提高由檢測器145所作位置判定的準確性。基於該等可見透明偏振元件130之間的獨特編碼的絕對位置資訊,相對於偏振元件130的圖樣之檢測器145位置的極精確判定係為可能的。
偏振狀態110可包括數個偏振狀態。然而,在一些範例中,可使用產生只具有該偏振狀態110的光之一偏振光源105來提供光,例如使用僅產生一垂直偏振光或一水平偏振光之一的一線性偏振光源。但在其它範例中,可使用產生具有數個偏振狀態的光之一非特定的偏振光源105來提供光,例如使用產生垂直、水平、或圓偏振光中 至少兩種的一偏振光源105。使用非特定之偏振光源105產生的光可被過濾或經類似方式調整,以提供僅具有該偏振狀態110的光。偏振光源105可包括任何數目的個別偏振光源。
顯示器115可有一表面120,具有偏振狀態110的光從該表面120離開或以其他方式發射。顯示器115可結合任何技術,例如液晶顯示器(LCD)技術、發光二極體(LED)、有機LED(OLED)、主動矩陣OLED(AMOLED)、或任何其它顯示器技術。雖然未在圖4如此描繪,偏振光源105可被結合到顯示器115中,例如,形成一LED型顯示器115之多個獨立LED可各被視為一偏振光源105。或者,LCD顯示器經由其固有設計發出線性偏振光。
具有可見透明偏振元件130構成之預定圖樣設置在其中的一載體125,可以被設置在靠近,如附加,於表面120上,用以改變或以其它方式變更該偏振狀態110,以提供:(1)穿過偏振元件130且具有已變更偏振狀態135的光,和(2)穿過載體125且具有已變更偏振狀態140的光。載體125可為由不會影響通過此載體傳輸之光的偏振狀態至之材料製成的任何基體。載體125可經由粘接劑附加到顯示器115的表面120。例如,該載體125可以是一貼紙、面板、玻璃基體、或任何適當的載體。然而,在其它範例中,可見透明偏振元件130組成的預定圖樣可直接被附加到顯示器115的表面120,諸如使元件130整併到表面120上。因此,在本文中理解的是,當述及元件125是「設置在 」顯示器115上時,這包括兩種:(1)使用一載體125的範例,及(2)元件130直接施附在顯示器上的範例。此外,在本文中所描述關於使用一載體125之任何範例的範圍之內,應該理解的是,這類例子亦可藉由直接施用元件130來實作。在一些範例中,如貼紙或其它載體的一額外的載體,也可施用於「鄰近於顯示器」的區域上,即除了顯示器115以外在運算裝置150a上的一區域。例如,載體125可附加到鄰近於顯示器115及/或環繞顯示區域周圍在運算裝置150a上設置該顯示器115的同一側上。如同將針對圖6所描述地,該額外的載體可被用於判定一檢測器緊鄰哪個顯示器。
通過設置在顯示器115的表面120上之每個透明偏振元件130之光的偏振狀態,可基於該偏振元件130的物理特性、成分、或其組合,而被改變或以其他方式變更。每個透明偏振元件130可由例如一聚合材料的一種材料製成,其能轉化或以其他方式改變穿過偏振元件的光之偏振狀態。例如,由光源產生且穿過偏振元件130的線性垂直偏振光,可以在例如左或右的一方向上有四分之一波的相位延遲,而僅穿過載體125之線性偏振光則可以在相反方向上有四分之一波的相位延遲。穿過載體125、偏振元件130、或者兩者的光之偏振狀態上的其他變化,亦可運用。類似地,可使用任何偏振光源105使得僅穿過偏振元件130之光的已變更偏振狀態135,可與僅穿過載體125的光之已變更偏振狀態140區別開來。
能提供透明偏振元件130的一範例聚合材料可包 括但不限於一光對齊各向異性光學薄膜,諸如由Rolic®研究有限公司生產者,但能夠提供類似的基於偏振之過濾功能的其它材料和其他廠商亦可取代之。Rolic®公司提供了一可固化液態光控分子取向(“LCMO”)聚合材料,適用於光學微影式製造載體125內的偏振元件130。藉由使用LCMO材料,即可利用LCMO材料內分子的光誘發空間對齊,來製成一微觀或宏觀級別之結構化光學元件。LCMO藉由以紫外線偏振光照射光對齊層而在它們內部以一預界定方式,使例如形成偏振元件130的分子之該等分子對齊。基於用來形成偏振元件130之材料及光的入射方向與偏振之選擇,即可讓形成偏振元件130的分子在三維空間之任意方向被配向對齊。雙折射的折射率亦可能引入其材料中,因而產生此等偏振改變相位遲滯元件。
當可見透明偏振元件130設置在一合適的載體125上或形成在載體125內時,可見透明偏振元件130在背向照明時(例如在由偏振光源105背向照明時)是非肉眼可見的。藉由包括但不限於光刻和傳統印刷技術之任何方法或系統,此等可見透明偏振元件130可被積設在基體上或以其他方式形成在基體內。
偏振元件130可以採用一獨特的特定空間性或位置性圖樣設置在載體125之內。使用這樣的圖樣產生了偏振元件130與其在顯示器115上的位置之間的一幾何關係。偏振元件130與顯示器115之間的此種幾何關係,允許了在檢測器145放置於鄰近顯示器115時,可測定對偏振元件 130發出之光的已變更之偏振狀態130敏感的檢測器145之位置的能力。
具有由檢測器145感應之已變更偏振狀態130的光之圖樣,允許了精確測定(判定)顯示器115上的檢測器145的實體位置。提高偏振元件130之位置的精確度或密度(諸如藉由形成更大數目的物理上較小、較緊密分組的偏振元件130),可增強檢測器145的位置檢知能力。各偏振元件的尺寸可基於諸如期待的解析度、母模形成技術、及該顯示器115的整體大小的因素而變化,然而偏振元件130的尺寸大致約為100微米的等級且可以小至直徑15至25微米。
足以提供這些可見透明偏振元件130之間的獨特編碼絕對位置資訊的一範例圖樣,係為上述的Anoto點圖樣。將偏振元件130設置成Anoto兼容圖樣,提供了一獨特位置識別系統,該系統使用能檢測穿過偏振元件130之光的已變更偏振狀態135的檢測器145。雖然Anoto點圖樣用來當作一說明性的範例,但能夠提供此等可見透明偏振元件130間的獨特編碼絕對位置資訊的任何相當之預定圖樣,亦可類似地運用來設置或定位偏振元件130在載體125內、上、或周圍附近。
由於光的偏振狀態之變化是人眼難以察覺的,不論光的已變更偏振狀態135及140為何,由顯示器115發出的光可能橫跨過顯示器看起來都顯得均勻。提供含有視覺透明之偏振元件130之一視覺透明性載體125的能力,可使得能夠使用對穿過偏振元件130的光之已變更偏振狀態 135敏感的一檢測器145,來測定檢測器145在顯示器115上的實體定位地點或位置,且同時對顯示器115的使用者之視感只產生最小損害。提供基於位置的資料給檢測器145且同時對使用者提供顯示器115最小損害視感的這種能力,提供了顯示器有能力用以同時成為一輸入裝置,例如成為能透過檢測器145檢出基於位置的輸入之一裝置,及作為一輸出裝置,例如作為能夠顯示資料的一顯示器。使用此種裝置的實用設備之一範例,可見於基於顯示器之輸入平板。此類的平板可使得使用者能在平板表面上將各種拼接塊和輸入指定符作容易且可客製化的組配。
檢測器145可包括適合於檢出離開偏振元件130的光之已變更偏振狀態135的任何裝置、系統、或系統與裝置之組合。例如,對離開偏振元件130的光之已變更偏振狀態135敏感之一檢測器145,可結合具適當旋向性的一圓偏振器分析儀和一線性偏振器配向,用以區分使用相反旋轉旋向性之¼波偏振元件130的圖樣。具有類似性能之其他極化偏振感應技術亦可用來作為建構該檢測器145的基礎。
當檢測器145被當成平板的輸入裝置或當檢測器145被當成類似繪圖筆使用時,檢測器145跨過顯示器115的表面120上之實體位移可能影響用以正確辨別偏振點135圖樣之檢測器145的掃描速率、曝光和模糊降低能力。數位筆185a中的一閃爍和短期間的LED近紅外照明器可用於凍結動作及補償此等動作效應並允許數位筆185a的高速率 平移動作。因此,可將額外邏輯部件併入檢測器145中,以至少部分基於該檢測器145移動經過顯示器115之表面120上時所用的速度,增加或減少檢測器的掃描速率。類同地,至少部分基於該檢測器145移動經過顯示器115之表面120上時所用的速度,提供曝光補償和模糊減少功能的邏輯部件亦可併入檢測器145中。
數位筆185a可包括傳輸器195以傳輸表示檢測器之位置的資料到一運算裝置。表示位置的資料可以是檢測出的圖樣。
在一些範例中,除了運算裝置150a內和顯示器115後的光源105之外、或作為其替代品,如IR光源的一光源可提供於運算裝置150a之外部。此IR光源可當成數位筆185a的一部分來提供及/或可附接到檢測器145。
如圖所示,數位筆185a可通訊上經由連線170a與運算裝置150a耦接,及經由連線170b與運算裝置150b耦接。數位筆185b通訊上經由連線170c與運算裝置150a耦接,且經由連線170d與運算裝置150b耦接。此外,運算裝置150a和150b可經由連線170e彼此通訊上耦接。連線170a-e可以是有線或無線的。例如,可透過藍牙連線及/或任何其它射頻(RF)傳輸來進行無線通訊。
在一些範例中,系統100可允許本文所述的各種方法以數位筆185a-b中之任一者來執行,作為與運算裝置150a-b連通的一主機裝置,使得運算裝置150a-b不必相互連通。在其他範例中,運算裝置150a-b之其中一者、或獨 立於運算裝置150a-b以外具有顯示器115的另一運算裝置,可當成與其它運算裝置連通及與數位筆185a-b連通的一主機裝置。
在一些範例中,並非是採用兩個運算裝置150a-b,可以有三個、四個、或任何更大數目的運算裝置。此外,並非是採用兩個數位筆185a-b,可以有三個、四個、或任何更大數目的數位筆。
所有在本說明書(包括任何所附請求項、摘要及圖式)中揭露的特徵及/或所揭露之任何方法或程序的所有步驟,可用任何組合來結合,除了至少一些此類特徵及/或步驟是互相排斥的組合。
在前面敘述中,闡述許多細節以供理解本文所揭露主體。然而,一些範例仍可在沒有一些或所有這些細節的狀況下來實施。其他的範例則可包括從以上所討論細節作出的修改及變化。後附申請專利範圍之請求項意欲涵蓋這些修改和變化。
100‧‧‧數位筆/筆
110‧‧‧主體
120‧‧‧扭轉機構
130‧‧‧梭件
140‧‧‧內部筆模組
150‧‧‧壓力感測器
160‧‧‧筆匣
170‧‧‧框架
180‧‧‧按鈕

Claims (15)

  1. 一種數位筆,包含:一內部筆模組,包含一筆匣和一壓力感測器;容置該內部筆模組之一主體;及一梭件,其在該數位筆的一第一端上與該內部筆模組連接,及在該數位筆的一第二端上與一扭轉機構連接,其中當該扭轉機構作動時,該梭件移動該筆匣及該壓力感測器。
  2. 如請求項1之數位筆,其中該內部筆模組包含電子元件、紅外線LED及一相機。
  3. 如請求項1之數位筆,其中當該梭件將該筆匣及該壓力感測器向前移動時,該筆匣即被延伸且該數位筆切換成開機模式。
  4. 如請求項1之數位筆,其中當該梭件將該筆匣及該壓力感測器向後移動時,該筆匣即被縮回且該數位筆切換成關機模式。
  5. 如請求項1之數位筆,其中該筆匣可替換成其他墨水匣且可與欲於數位表面上使用的一塑膠尖筆互換。
  6. 如請求項3之數位筆,其中該梭件將該筆匣向前移動用以將該數位筆之筆尖露出於該數位筆外所需的一距離。
  7. 如請求項4之數位筆,其中該梭件將筆匣向後移動用以將該數位筆之筆尖蓋覆於該數位筆內所需的一距離。
  8. 如請求項1之數位筆,其中,該梭件不會移動除該筆匣與該壓力感測器以外的任何元件。
  9. 如請求項1之數位筆,其中該感測器係為一射頻(RF)感測器、一聲學感測器、一觸碰感測器、一磁力計、或一光感測器。
  10. 一種位置輸入方法,包含:使用一檢測器檢測設置在一顯示器上的一光學圖樣之至少一部分,該光學圖樣之該部分與該顯示器上的一位置對應;其中該檢測器位在一數位筆中,該數位筆包含:包含一筆匣及一壓力感測器之一內部筆模組;一梭件,在該數位筆的一第一端上與該內部筆模組連接及在該數位筆的一第二端上與一扭轉機構連接,其中,當該扭轉機構作動時,該梭件移動該筆匣及該壓力感測器。
  11. 如請求項1之位置輸入方法,其中該光學圖樣是藉由以下方式來檢測:使由一光源所產生之一偏振光穿過該光學圖樣,該光學圖樣係為設置於該顯示器上之可見透明偏振元件的一預定圖樣;及檢測該偏振光之偏振狀態與該顯示器上之該位置對應之一改變。
  12. 一種位置輸入系統,包含: 數個顯示器,該等顯示器中之每一者具有一個別預定光學圖樣設置於其上;一處理器,用以判定一感測器靠近該等數個顯示器中之何者;及一數位筆,包含:該感測器,用以檢測設置於檢測器所靠近的該顯示器上之該預定光學圖樣的一部分;一傳輸器,用以傳輸表示該數位筆之位置的資料至與該數位筆通訊上耦接之一運算裝置,其中該感測器與一筆匣一同設置於一內部筆模組中,且當該數位筆中的一扭轉機構作動時該筆匣及壓力感測器即被移動。
  13. 如請求項12之位置輸入系統,其中該數位筆包含在該數位筆的一第一端上與該內部筆模組連接及在該數位筆的一第二端上與該扭轉機構連接之一梭件。
  14. 如請求項12之位置輸入系統,其中有梭件在該數位筆中的該扭轉機構作動時,移動該筆匣及該壓力感測器。
  15. 如請求項12之位置輸入系統,其中當該數位筆中的扭轉機構作動時,該內部筆模組保持穩定。
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