TW201416852A - 磁碟陣列卡自動修護方法及系統 - Google Patents

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Abstract

一種磁碟陣列卡自動修護方法及系統，該系統用於：讀取發生故障的PHY晶片及備份PHY晶片的資訊；將該發生故障的PHY晶片的位址指定為備份PHY晶片的位址，並將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上；將備份PHY晶片的編號和位址插入到原有的SAS位址中，得到新的SAS位址；根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡的快閃儲存器中。本發明可以用備份的PHY晶片替換發生故障的PHY晶片，保證磁碟陣列卡正常工作。

Description

磁碟陣列卡自動修護方法及系統
本發明涉及一種磁碟陣列卡管理方法及系統，尤其是涉及一種磁碟陣列卡自動修護方法及系統。
過去磁碟陣列卡（RAID Card）若遇到PHY（物理層）晶片發生故障，往往要將該磁碟陣列卡換掉，才可以解決問題。在這個故障排除的過程中，有可能會導致硬碟資訊的流失，而且要浪費很多時間。
鑒於以上內容，有必要提供一種磁碟陣列卡自動修護方法及系統，可以用備份的PHY晶片替換發生故障的PHY晶片，保證磁碟陣列卡正常工作。
所述磁碟陣列卡自動修護方法包括：檢測步驟：透過磁碟陣列卡的串口檢測磁碟陣列卡中的各個PHY晶片是否發生故障；第一讀取步驟：當有PHY晶片發生故障時，從磁碟陣列卡的快閃儲存器內的韌件中讀取該發生故障的PHY晶片的資訊，所述PHY晶片的資訊包括PHY晶片的編號和位址；第二讀取步驟：從快閃儲存器中讀取備份PHY晶片的資訊，並將該備份PHY晶片的資訊填入所述快閃儲存器的韌件中，所述備份PHY晶片的資訊包括備份PHY晶片的編號；替換步驟：將該發生故障的PHY晶片的位址指定為備份PHY晶片的位址，並將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上；插入步驟：從所述韌件中讀取原有的SAS位址，並將備份PHY晶片的編號和位址插入到該原有的SAS位址中，得到新的SAS位址；及生成步驟：根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡的快閃儲存器中。
所述磁碟陣列卡自動修護系統包括：檢測模組，用於透過磁碟陣列卡的串口檢測磁碟陣列卡中的各個PHY晶片是否發生故障；讀取模組，用於當有PHY晶片發生故障時，從磁碟陣列卡的快閃儲存器內的韌件中讀取該發生故障的PHY晶片的資訊，所述PHY晶片的資訊包括PHY晶片的編號和位址；所述讀取模組，還用於從快閃儲存器中讀取備份PHY晶片的資訊，並將該備份PHY晶片的資訊填入所述快閃儲存器的韌件中，所述備份PHY晶片的資訊包括備份PHY晶片的編號；替換模組，用於將該發生故障的PHY晶片的位址指定為備份PHY晶片的位址，並將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上；插入模組，用於從所述韌件中讀取原有的SAS位址，並將備份PHY晶片的編號和位址插入到該原有的SAS位址中，得到新的SAS位址；及生成模組，用於根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡的快閃儲存器中。
相較於習知技術，本發明所述之磁碟陣列卡自動修護方法及系統，能夠檢測到發生故障的PHY晶片，將該發生故障的PHY晶片的位址填入到備份PHY晶片的位址中，並將替換後的備份PHY晶片的位址插入到原有的SAS位址中，得到新的SAS位址，使得資料可以正常傳輸，PHY晶片所連接的硬碟可以正常工作，不用換掉整個磁碟陣列卡。
參閱圖1所示，係為本發明磁碟陣列卡自動修護系統較佳實施方式之架構圖。所述磁碟陣列卡自動修護系統10運行於電腦1中。所述電腦1中還包括主機板20，所述主機板20上插有磁碟陣列卡30，所述磁碟陣列卡30中包括多個PHY晶片40（圖中僅示出兩個作為代表）及與PHY晶片40連接的硬碟50（圖中僅示出一個作為代表）。在本實施方式中，所述磁碟陣列卡30中還包括備份PHY晶片60。
參閱圖2所示，係為本發明磁碟陣列卡自動修護系統較佳實施方式之功能模組圖。
所述磁碟陣列卡自動修護系統10包括檢測模組100、讀取模組200、替換模組300、插入模組400及生成模組500。
所述檢測模組100用於透過磁碟陣列卡30的串口（Serial Port）檢測磁碟陣列卡30中的各個PHY晶片40是否發生故障。
所述讀取模組200用於當有PHY晶片40發生故障時，讀取該發生故障的PHY晶片40的資訊。所述PHY晶片40的資訊包括PHY晶片40的編號和位址等，被寫入儲存在磁碟陣列卡30的快閃儲存器（Flash EPROM，圖中未示出）內的韌件（Firmware）中。在本實施方式中，八個PHY晶片40的編號和位址組成一個SAS位址，各PHY晶片40的位址之間相互獨立，不衝突，不重複。所述SAS位址為傳輸資料的位置標的，每個SAS位址擁有八個PHY晶片40的路徑，並聯傳輸同一筆資料。
例如，假設磁碟陣列卡30中有八個PHY晶片40，編號分別為PHY_0、PHY_1、PHY_2、PHY_3、PHY_4、PHY_5、PHY_6、PHY_7。其中，PHY_0的位址為5865530000，PHY_1的位址為5865530001，PHY_2的位址為5865530002，PHY_3的位址為5865530003，PHY_4的位址為5865530004，PHY_5的位址為5865530005，PHY_6的位址為5865530006，PHY_7的位址為5865530007。這八個PHY晶片40的編號和位址組成一個SAS位址。若所述檢測模組100透過磁碟陣列卡30的串口檢測到PHY_2發生故障，則所述讀取模組200讀取PHY_2的位址5865530002。
所述讀取模組200還用於從磁碟陣列卡30的快閃儲存器中讀取備份PHY晶片60的資訊，並將該備份PHY晶片60的資訊填入所述快閃儲存器的韌件中。所述備份PHY晶片60的資訊包括備份PHY晶片60的編號等。在初始狀態，備份PHY晶片60的位址未指定。例如，備份PHY晶片60為PHY_50，則所述讀取模組200將該編號PHY_50填入所述快閃儲存器的韌件中。
所述替換模組300用於將該發生故障的PHY晶片40的位址指定為備份PHY晶片60的位址，並將硬碟50與該發生故障的PHY晶片40的連接切換至備份PHY晶片60上。所述切換可以透過控制磁碟陣列卡30上的切換器（圖中未示出）來完成。例如，所述替換模組300將發生故障的PHY_2的位址5865530002指定為備份的PHY_50的位址，則PHY_50的位址變為5865530002，並且硬碟50與PHY_2的連接切換至PHY_50。
所述插入模組400用於從所述韌件中讀取原有的SAS位址（發生故障前），並將備份PHY晶片60的編號和位址插入到該原有的SAS位址中（即用備份PHY晶片60的編號和位址取代原有的SAS位址中發生故障的PHY_2的編號和位址），得到新的SAS位址。例如，當將備份的PHY_50的編號和位址插入到原有的SAS位址中後，所述插入模組400生成新的SAS位址包括：PHY_0的位址為5865530000，PHY_1的位址為5865530001，PHY_50的位址為5865530002，PHY_3的位址為5865530003，PHY_4的位址為5865530004，PHY_5的位址為5865530005，PHY_6的位址為5865530006，PHY_7的位址為5865530007。
所述生成模組500用於根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡30的快閃儲存器中。所述新的韌件中寫入了新的SAS位址，指定了未發生故障的PHY晶片40及備份PHY晶片60的編號和位址，使得PHY晶片40與硬碟50之間的資料可以繼續正常傳輸，硬碟50可以正常工作，不用換掉整個磁碟陣列卡30。
參閱圖3所示，係為本發明磁碟陣列卡自動修護方法較佳實施方式之流程圖。
步驟S10，所述檢測模組100透過磁碟陣列卡30的串口檢測磁碟陣列卡30中的各個PHY晶片40是否發生故障。
步驟S12，當有PHY晶片40發生故障時，所述讀取模組200讀取該發生故障的PHY晶片40的資訊。所述PHY晶片40的資訊包括PHY晶片40的編號和位址等，被寫入儲存在磁碟陣列卡30的快閃儲存器內的韌件中。
步驟S14，所述讀取模組200從磁碟陣列卡30的快閃儲存器中讀取備份PHY晶片60的資訊，並將該備份PHY晶片60的資訊填入所述快閃儲存器的韌件中。所述備份PHY晶片60的資訊包括備份PHY晶片60的編號等。在初始狀態，備份PHY晶片60的位址未指定。
步驟S16，所述替換模組300將該發生故障的PHY晶片40的位址指定為備份PHY晶片60的位址，並將硬碟50與該發生故障的PHY晶片40的連接切換至備份PHY晶片60上。所述切換可以透過控制磁碟陣列卡30上的切換器來完成。
步驟S18，所述插入模組400從所述韌件中讀取原有的SAS位址（發生故障前），並將備份PHY晶片60的編號和位址插入到該原有的SAS位址中，得到新的SAS位址。
步驟S20，所述生成模組500根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡30的快閃儲存器中。所述新的韌件中寫入了新的SAS位址，指定了未發生故障的PHY晶片40及備份PHY晶片60的編號和位址，使得PHY晶片40與硬碟50之間的資料可以繼續正常傳輸，硬碟50可以正常工作，不用換掉整個磁碟陣列卡30。
值得注意的是，本方法不僅適用於一個PHY晶片40故障，同樣也適用於多個PHY晶片40故障。當有多個PHY晶片40故障時，將發生故障的PHY晶片40的位址分別指定為到多個備份PHY晶片60的位址，並將多個備份PHY晶片60的編號和位址插入到原有的SAS位址中，即可得到新的SAS位址。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅爲本發明之較佳實施方式，本發明之範圍並不以上述實施方式爲限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
1．．．電腦
10．．．磁碟陣列卡自動修護系統
20．．．主機板
30．．．磁碟陣列卡
40．．．PHY晶片
50．．．硬碟
60．．．備份PHY晶片
100．．．檢測模組
200．．．讀取模組
300．．．替換模組
400．．．插入模組
500．．．生成模組
圖1係為本發明磁碟陣列卡自動修護系統較佳實施方式之運行環境圖。
圖2係為本發明磁碟陣列卡自動修護系統較佳實施方式之功能模組圖。
圖3係為本發明磁碟陣列卡自動修護方法較佳實施方式之流程圖。
10．．．磁碟陣列卡自動修護系統
100．．．檢測模組
200．．．讀取模組
300．．．替換模組
400．．．插入模組
500．．．生成模組

Claims (8)

  1. 一種磁碟陣列卡自動修護方法，該方法包括：
    檢測步驟：透過磁碟陣列卡的串口檢測磁碟陣列卡中的各個PHY晶片是否發生故障；
    第一讀取步驟：當有PHY晶片發生故障時，從磁碟陣列卡的快閃儲存器內的韌件中讀取該發生故障的PHY晶片的資訊，所述PHY晶片的資訊包括PHY晶片的編號和位址；
    第二讀取步驟：從快閃儲存器中讀取備份PHY晶片的資訊，並將該備份PHY晶片的資訊填入所述快閃儲存器的韌件中，所述備份PHY晶片的資訊包括備份PHY晶片的編號；
    替換步驟：將該發生故障的PHY晶片的位址指定為備份PHY晶片的位址，並將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上；
    插入步驟：從所述韌件中讀取原有的SAS位址，並用備份PHY晶片的編號和位址取代該原有的SAS位址中發生故障的PHY晶片的編號和位址，得到新的SAS位址；及
    生成步驟：根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡的快閃儲存器中。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之磁碟陣列卡自動修護方法，其中，所述SAS位址由八個PHY晶片的編號和位址組成，並聯傳輸同一筆資料。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之磁碟陣列卡自動修護方法，其中，在所述替換步驟中，將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上是透過控制磁碟陣列卡上的切換器來完成。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之磁碟陣列卡自動修護方法，其中，所述新的韌件中寫入了新的SAS位址，指定了未發生故障的PHY晶片及備份PHY晶片的編號和位址。
  5. 一種磁碟陣列卡自動修護系統，該系統包括：
    檢測模組，用於透過磁碟陣列卡的串口檢測磁碟陣列卡中的各個PHY晶片是否發生故障；
    讀取模組，用於當有PHY晶片發生故障時，從磁碟陣列卡的快閃儲存器內的韌件中讀取該發生故障的PHY晶片的資訊，所述PHY晶片的資訊包括PHY晶片的編號和位址；
    所述讀取模組，還用於從快閃儲存器中讀取備份PHY晶片的資訊，並將該備份PHY晶片的資訊填入所述快閃儲存器的韌件中，所述備份PHY晶片的資訊包括備份PHY晶片的編號；
    替換模組，用於將該發生故障的PHY晶片的位址指定為備份PHY晶片的位址，並將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上；
    插入模組，用於從所述韌件中讀取原有的SAS位址，並用備份PHY晶片的編號和位址取代該原有的SAS位址中發生故障的PHY晶片的編號和位址，得到新的SAS位址；及
    生成模組，用於根據新的SAS位址，重新生成一個新的韌件，儲存至所述磁碟陣列卡的快閃儲存器中。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之磁碟陣列卡自動修護系統，其中，所述SAS位址由八個PHY晶片的編號和位址組成，並聯傳輸同一筆資料。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之磁碟陣列卡自動修護系統，其中，所述替換模組將硬碟與該發生故障的PHY晶片的連接切換至備份PHY晶片上是透過控制磁碟陣列卡上的切換器來完成。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之磁碟陣列卡自動修護系統，其中，所述新的韌件中寫入了新的SAS位址，指定了未發生故障的PHY晶片及備份PHY晶片的編號和位址。
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