TW201308159A - 在一感測器介面之寄生電容消除 - Google Patents

在一感測器介面之寄生電容消除 Download PDF

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Lauri Ilmari Lipasti
Jukka Sakari Riihiaho
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Abstract

在一項實施例中，一種方法包含：將一第一電壓傳遞至一觸控感測器之一驅動線；將該觸控感測器之一感測線設定至一預定電壓；及將一第二電壓傳遞至該驅動線。該驅動線處自該第一電壓至該第二電壓之一所得轉變致使將累積在該感測線上之一電荷量傳遞至一積分器。該方法亦包含：在該積分器處，對自該感測線所傳遞之該電荷量進行積分以將該電荷量轉換成一輸出電壓。該方法亦包含：將該感測線還原至該預定電壓。

Description

在一感測器介面之寄生電容消除
本發明概言之係關於量測電容。
導電驅動及感測電極之一陣列可形成具有一或多個電容性節點之一互電容觸控螢幕。在該陣列中一驅動電極與一感測電極之一交叉點可形成一電容性節點。在該交叉點處，驅動電極與感測電極可彼此靠近，但其彼此不進行電接觸。代替地，感測電極電容性地耦合至驅動電極。施加至驅動電極之一脈衝或交變電壓可在感測電極上感應一電荷，且所感應之電荷量可易受外部影響(諸如，一物件之一觸控或接近)。當一物件觸控或接近驅動及感測電極時，在彼電容性節點處可發生一電容改變。藉由量測整個陣列中之電容改變，控制器可判定觸控感測器上之觸控或接近之位置。
一單個類型(例如，驅動)之導電電極之一陣列可形成一自電容觸控螢幕。該陣列中之導電電極中之每一者可形成一電容性節點，且當一物件觸控或接近該電極時，在彼電容性節點處可發生一自電容改變且一控制器可將該電容改變作為一電壓改變或將電壓升高一預定量所需之電荷量之一改變來量測。如同一互電容觸控螢幕，藉由量測整個陣列中之電壓改變，控制器可判定觸控感測器上之觸控或接近之位置。
在一觸敏顯示器應用中，一觸控螢幕可使得一使用者能 夠與顯示於觸控螢幕下方之一顯示器上之內容直接互動，而非藉助一滑鼠或觸控板與其間接互動。一觸控螢幕可附接至(舉例而言)一桌上型電腦、膝上型電腦、平板電腦、個人數位助理(PDA)、智慧電話、衛星導航裝置、可攜式媒體播放器、可攜式遊戲主控台、資訊亭電腦、銷售點裝置或其他適合裝置，或提供為該等裝置之部分。在一家用電器或其他電器上之一控制面板可包含一觸控螢幕。
圖1圖解說明用於消除在一感測器介面之寄生電容之一實例性系統100。在圖1之實例中，系統100包含一微控制器(MCU)102及一觸控感測器104。微控制器102包含一多工器108、一寄生消除電路110、一驅動器114及一類比轉數位轉換器(ADC)112或任何其他電壓位準偵測器。寄生消除電路110包含一運算放大器116及一多工器118。耦合至運算放大器116之一負輸入端子的係與一切換器120並聯之一積分電容器Cint。運算放大器116之一正輸入端子耦合至一電壓，例如，一參考電壓之一半Vref/2。積分電容器Cint與切換器120之並聯組合與運算放大器116形成一回饋迴路。微控制器102可透過一或多個感測線Y耦合至一觸控感測器104。
在特定實施例中，觸控感測器104可係一互電容觸控感測器，其包含分別耦合至對應驅動線X及感測線Y中之一者之驅動電極及感測電極之一陣列。一驅動電極與感測電極之每一交叉點形成一電容性節點Cx,y。在特定實施例 中，觸控感測器104可係一自電容觸控感測器104。自電容觸控感測器104包含耦合至一相關聯感測線Y之一或多個電極。自電容觸控感測器104透過一物件與由自電容觸控感測器104之一或多個電極產生之一電場之間的一相互作用來偵測該物件之一存在。在特定實施例中，在圖1中示意性地展示，電容性節點Cx,y之電容顯著小於與感測線Y及驅動線X相關聯之寄生電容Cpy及Cpx之一值。儘管本發明闡述關於特定觸控感測器具有特定功能性之一特定微控制器，但本發明涵蓋關於不具有觸控感測器之任何適合應用具有任何適合功能性之任何適合微控制器。
微控制器102可偵測及處理電容改變以判定一觸控或接近輸入之存在及位置。微控制器102可係一或多個積體電路(IC)，舉例而言，一般用途微處理器、微控制器、可程式化邏輯裝置或陣列、特殊應用IC(ASIC)。儘管本發明闡述且圖解說明在系統100中之一特定微控制器，但本發明涵蓋在系統100中之任何適合微控制器。
驅動器114透過驅動線X將一驅動信號傳輸至一或多個驅動電極。該驅動信號透過電容性節點Cx,y在相關聯之感測電極上感應電荷。作為一實例而非以限制方式，驅動器114可實施為具有p型金屬氧化物半導體(PMOS)晶體管px及n型金屬氧化物半導體(NMOS)晶體管nx之一反相器。驅動器114亦可透過其他電路來實現，例如提供預定電壓位準之一類比緩衝器。在一物件122與觸控感測器104之間的相互作用可影響在一或多個感測電極上所感應之一電荷量。 所感應之電荷由微控制器102感測為一電容改變。
在特定實施例中，比較電容性節點Cx,y之自由空間電容(「無觸控」)與由與接近於觸控感測器104之一物件之互相作用產生之電容(「觸控」)，其之間的電容改變比寄生電容Cpy及Cpx之一值小得多。寄生電容Cpy及Cpx之值可取決於溫度且依據自其他電路接收之干擾而變化。出於至少彼等原因，在觸控感測器104中判定與一「觸控」相關聯之一電容改變和與一「無觸控」相關聯之一電容改變之比較可能由於寄生電容Cpy及Cpx而係有問題的。儘管本發明闡述且圖解說明用於系統100之特定組件之一特定配置，但本發明涵蓋用於系統100之任何適合組件之任何適合配置。
寄生消除電路110之多工器118選擇耦合至輸入多工器118之感測線Y中之一者。多工器118跨越耦合至感測線Y中之選定一者之電容性節點Cx,y將電壓傳遞給運算放大器116。在量測感測線Y中之選定一者之電壓之後，多工器118選擇感測線Y中之另一者。在特定實施例中，多工器118根據一預定序列選擇每一感測線Y上之電壓。
寄生消除電路110具有兩個操作模式。在第一模式中，切換器120閉合，從而繞過積分電容器Cint。繞過積分電容器Cint將運算放大器116變成一單位增益放大器，此將運算放大器116之一負輸入端子處之電壓以及多工器118之一個選定輸入之輸出驅動至運算放大器116之一正端子之電壓，例如，一參考電壓之一半(Vref/2)。另外，閉合運算放 大器116之回饋迴路自積分電容器Cint移除電荷。
在第二模式中，斷開耦合至運算放大器116之回饋迴路之切換器120，從而使用積分電容器Cint及運算放大器116形成一積分器。斷開切換器120將積分電容器Cint耦合在該積分器之負輸入端子與輸出端子之間。該積分器產生係自感測線Y中之選定一者轉移之電荷量之一函數之一電壓。在特定實施例中，可將來自該電荷量之電壓傳輸至ADC112用於轉換成該電壓之一數位表示。
圖2圖解說明針對圖1之實例性系統之實例性波形。在圖2之實例中，實例性波形包含驅動線之電壓V(Cpx)、感測線中之選定一者之電壓V(Cpy)及在多工器108之選定輸入上之寄生消除電路之輸出電壓V(MUX)。可關於兩個不同階段闡述每一波形V(Cpx)、V(Cpy)及V(MUX)之行為。
在階段1期間，驅動信號V(Cpx)施加一供應電壓(即，Vcc)至驅動線。如上文所論述，透過驅動線傳輸之驅動信號V(Cpx)在電容性節點之感測電極上感應電荷。大約同時，閉合耦合至運算放大器之切換器。閉合運算放大器之回饋迴路將運算放大器變成一單位增益放大器，且將運算放大器之負輸入端子處之電壓以及多工器108之輸出V(MUX)驅動至運算放大器之一正輸入端子之電壓Vref/2。另外，透過寄生消除電路之多工器將運算放大器之正端子之電壓傳遞至感測線Y中之選定一者，如由電壓V(Cpy)所見。
在階段2期間，斷開耦合至運算放大器之回饋迴路之切 換器。如上文所論述，斷開切換器將積分電容器耦合在運算放大器之負輸入端子與輸出端子之間。大約同時，驅動信號V(Cpx)施加一低電壓(舉例而言，接地)至電容性節點之驅動線。將在階段1期間在電容性節點之感測電極上所感應之電荷轉移至耦合至運算放大器之積分電容器。最初可將電荷之轉移視為感測線之電壓V(Cpy)之下降及多工器108之輸出處之電壓V(MUX)之一增加。來自電荷之轉移之負回饋致使積分器電路藉由提供一電流至感測線直至感測線之電壓返回至Vref/2為止來進行補償。因此，在選定感測電極上所感應之電荷藉由積分電容器積分，其中所積分之電荷可藉由以下方程式近似：Q=(V low -V high )×C xy (1)Q係來自選定感測電極之所轉移電荷，Vhigh係在階段1期間驅動線驅動器114之高輸出值(例如，Vcc)，且Vlow係在階段2期間驅動線驅動器114之低值(例如，接地)，且Cxy係電容性節點中之選定一者之電容。使用方程式(1)之結果，積分器電路之輸出電壓Vout可藉由以下方程式近似，其中Cint係積分電容器之電容：
藉由在電荷轉移之開始(階段1之結束)及電荷轉移之結束(階段2之結束)期間將感測線中之選定一者之電壓V(Cpy)保持在實質上Vref/2，自傳輸至積分器之電壓V(Cpy)消除寄生電容對感測線之影響。因此，在階段2期間輸出電壓 V(MUX)之改變實質上僅由在感測電極上所感應之電荷產生。電壓V(MUX)自初始電壓Vref/2之任何改變主要係在感測電極上所感應之電荷之一結果。在感測電極上所感應之電荷取決於欲偵測之一物件122之存在或接近。儘管本發明闡述且圖解說明由特定觸控感測器引起之一特定電壓改變，但本發明涵蓋量測自包含或不包含觸控感測器之任何裝置之任何適合電壓改變。
圖3圖解說明圖1之實例性系統之一實例性使用。在圖3之實例中，觸控感測器104(連同控制器102)可偵測觸控感測器104之一區域內之一物件之一觸控或接近之存在及位置。觸控感測器104可實施一電容性形式之觸控感測。作為一實例而非以限制方式，觸控感測器104可包含形成電容性節點之驅動電極及感測電極之一陣列。觸控感測器104之一電容性節點處之一電容改變可指示節點之位置處一物件之一觸控或接近。在一單層組態中，驅動電極及感測電極可以一圖案安置在一基板之一個側上。在此一組態中，跨越其間之一間隙彼此電容性地耦合之一對驅動電極及感測電極可形成一電容性節點。作為一替代方案，在一雙層組態中，驅動電極可以一圖案安置在一基板之一個側上且感測電極可以一圖案安置在基板之另一側上。在此一組態中，一驅動電極與一感測電極之一交叉點可形成一電容性節點。此一交叉點可係其中驅動電極與感測電極在其各別平面中「相交」或彼此最靠近之一位置。驅動電極與感測電極彼此不進行電接觸，而是其跨越基板在交叉點處 彼此電容性地耦合。儘管本發明闡述形成特定節點之特定電極之特定組態，但本發明涵蓋形成任何適合節點之任何適合電極之任何適合組態。此外，本發明涵蓋以任何適合圖案安置在任何適合數目個任何適合基板上之任何適合電極。
觸控感測器104之驅動電極可耦合至驅動線X，且觸控感測器104之感測電極可耦合至感測線Y。驅動線X及感測線Y可藉由具有觸控感測器104之基板上之接合墊630且藉由連接器670耦合至一控制器102，連接器670可係控制器102位於其上之一撓性印刷電路(FPC)中之導線。可使用一各向異性導電膜(ACF)來接合接合墊630。除驅動線X及感測線Y之外，亦可存在具有一相關聯接地連接器640之一接地跡線610。驅動線X及感測線Y端接於接合墊630處。
控制器102(其可係一微控制器)可偵測及處理在觸控感測器104之一區域內之一物件之一觸控或接近之存在及位置。如上文所闡述，觸控感測器104之一電容性節點處之一電容改變可指示該電容性節點之位置處之一觸控或接近輸入。控制器102可偵測及處理電容改變以判定該觸控或接近輸入之存在及位置。控制器102然後可將關於該觸控或接近輸入之資訊傳遞至一裝置(諸如，一智慧電話、一PDA、一平板電腦、一膝上型電腦、一桌上型電腦、一資訊亭電腦、一衛星導航裝置、一可攜式媒體播放器、一可攜式遊戲主控台、一銷售點裝置、另一適合裝置、此等項中之兩者或兩者以上之一適合組合、或此等項中之一或多 者之一適合部分)之一或多個其他組件(諸如，一或多個中央處理單元(CPU)或數位信號處理器(DSP))，該一或多個其他組件可藉由起始與該觸控或接近輸入相關聯的系統之一功能(或運行於該裝置上之一應用程式)來回應於該觸控或接近輸入。儘管本發明闡述關於特定裝置及特定觸控感測器具有特定功能性之一特定控制器，但本發明涵蓋關於任何適合裝置及任何適合觸控感測器具有任何適合功能性之任何適合控制器。
控制器102可係一或多個IC，舉例而言，一般用途微處理器、微控制器、可程式化邏輯裝置或陣列、或ASIC。控制器102可包含一處理器單元740、一驅動單元710、一感測單元720及一儲存單元730。驅動單元710可包含用以將驅動信號傳遞至觸控感測器104之驅動電極之驅動器。感測單元720可感測觸控感測器104之電容性節點處之電荷(如上文所闡述，由驅動電極與感測電極之交叉點或由彼此電容性地耦合之驅動電極與感測電極之對形成)且將表示電容性節點處之電容之量測信號提供至處理器單元740。感測單元720可包含一寄生消除電路，如上文所闡述。處理器單元740可控制由驅動單元710將驅動信號傳遞至驅動電極且處理來自感測單元720之量測信號以偵測及處理觸控感測器104上之一觸控或接近輸入之存在及位置。處理器單元740亦可追蹤觸控感測器104上之一觸控或接近輸入之位置之改變。儲存單元730可儲存用於由處理單元740執行之程式，包含用於控制驅動單元710將驅動信 號傳遞至驅動電極之程式、用於處理來自感測單元720之量測信號之程式及在適當時其他適合程式。儘管本發明闡述具有具特定組件之一特定實施方案之一特定控制器102，但本發明涵蓋具有具任何適合組件之任何適合實施方案之任何適合控制器102。
圖4圖解說明用於消除在一感測器介面之寄生電容之一實例性方法。該方法可在步驟500處閉始，其中將一第一電壓傳遞至一驅動線。在特定實施例中，該第一電壓可由如圖3中所圖解說明之一驅動單元產生。在步驟502處，可將一感測線設定至一預定電壓。在特定實施例中，該預定電壓可由耦合至如圖1中所圖解說明之一運算放大器之一負輸入端子之電源提供。在步驟504處，將一第二電壓傳遞至該驅動線。在特定實施例中，該第二電壓可係一邏輯低，如圖2中所圖解說明。在特定實施例中，將第二電壓傳遞至該驅動線可在一對應感測電極上感應電荷，從而在該感測線上產生一電壓下降，如圖2中所圖解說明。
在步驟506處，對感測電極上所感應之電荷進行積分。在特定實施例中，感測電極上所感應之電荷可由耦合在一運算放大器之負輸入端子與輸出端子之間的一電容器進行積分，如圖1中所圖解說明。在特定實施例中，可將所積分之電荷作為預定電壓與在對所感應之電荷進行積分之後之電壓之間的一電壓差來量測。在步驟508處，可將感測線之電壓還原至預定電壓，此時該方法可結束。在特定實施例中，與所積分之電荷成比例之一電壓可經受進一步處 理，例如臨限值判定。儘管本發明將圖4之方法之特定步驟闡述且圖解說明為以一特定次序發生，但本發明涵蓋圖4之方法之任何適合步驟以任何適合次序發生。此外，儘管本發明闡述且圖解說明實施圖4之方法之特定步驟之特定組件，但本發明涵蓋實施圖4之方法之任何適合步驟之任何適合組件之任何適合組合。
本文中，對一電腦可讀儲存媒體之提及涵蓋擁有結構之一或多個非暫時有形電腦可讀儲存媒體。作為一實例而非以限制方式，一電腦可讀儲存媒體可包含一基於半導體之IC或其他IC(舉例而言，一場可程式化閘陣列(FPGA)或一ASIC)、一硬碟機、一HDD、一混合硬碟機(HHD)、一光碟、一光碟機(ODD)、一磁光碟、一磁光碟機、一軟磁碟、一軟磁碟機(FDD)、磁帶、一全息儲存媒體、一固態磁碟機(SSD)、一RAM磁碟機、一安全數位卡、一安全數位磁碟機或另一適合電腦可讀儲存媒體或在適當時此等項中之兩者或兩者以上之一組合。本文中，對一電腦可讀儲存媒體之提及不包含不具有依據35 U.S.C.§ 101受專利保護之資格之任何媒體。本文中，對電腦可讀儲存媒體之提及不包含暫時形式之信號傳輸(諸如，一傳播電或電磁信號自身)，從而其不具有依據35 U.S.C.§ 101受專利保護之資格。一電腦可讀非暫時儲存媒體可係揮發性、非揮發性或在適當時揮發性與非揮發性之一組合。
本文中，「或」係包含性而非排斥性，除非明確地另有指示或上下文另有指示。因此，本文中，「A或B」意指 「A、B或兩者」，除非明確地另有指示或上下文另有指示。此外，「及」既係聯合的又係各自的，除非明確地另有指示或上下文另有指示。因此，本文中，「A及B」意指「A及B，聯合地或各自地」，除非明確地另有指示或上下文另有指示。
本發明涵蓋熟習此項技術者將理解之對本文中之實例性實施例之所有改變、替代、變化、更改及修改。類似地，在適當時，隨附申請專利範圍涵蓋熟習此項技術者將理解之對本文中之實例性實施例之所有改變、替代、變化、更改及修改。此外，在隨附申請專利範圍中對經調適以、經配置以、能夠、經組態以、經啟用以、可操作以或操作以執行一特定功能之一設備或系統或者一設備或系統之一組件之提及涵蓋該設備、系統、組件，不論其或彼特定功能是否被啟動、接通或解除鎖定，只要彼設備、系統或組件經如此調適、經如此配置、能夠如此、經如此組態、經如此啟用、可如此操作或如此操作即可。
100‧‧‧系統
102‧‧‧微控制器(MCU)
104‧‧‧觸控感測器/自電容觸控感測器
108‧‧‧多工器
110‧‧‧寄生消除電路
112‧‧‧類比轉數位轉換器(ADC)
114‧‧‧驅動器/驅動線驅動器
116‧‧‧運算放大器
118‧‧‧多工器/輸入多工器
120‧‧‧切換器
122‧‧‧物件
610‧‧‧接地跡線
630‧‧‧接合墊
640‧‧‧接地連接器
670‧‧‧連接器
710‧‧‧驅動單元
720‧‧‧感測單元
730‧‧‧儲存單元
740‧‧‧處理器單元
Cpx‧‧‧寄生電容
Cpy‧‧‧寄生電容
Cx,y‧‧‧電容性節點
Cint‧‧‧積分電容器
nx‧‧‧n型金屬氧化物半導體(NMOS)晶體管
px‧‧‧p型金屬氧化物半導體(PMOS)晶體管
V(Cpx)‧‧‧驅動線之電壓/波形/驅動信號
V(Cpy)‧‧‧感測線中之選定一者之電壓/波形/電壓/感測線之電壓
V(out)‧‧‧輸出電壓
V(MUX)‧‧‧寄生消除電路之輸出電壓/波形/多工器之輸出/輸出電壓/電壓
Vcc‧‧‧供應電壓
Vref‧‧‧參考電壓
圖1圖解說明在一感測器介面用於消除寄生電容之一實例性系統。
圖2圖解說明針對圖1之實例性系統之實例波形。
圖3圖解說明圖1之實例性系統之一實例使用。
圖4圖解說明在一感測器介面用於消除寄生電容之一實例方法。
100‧‧‧系統
102‧‧‧微控制器(MCU)
104‧‧‧觸控感測器/自電容觸控感測器
108‧‧‧多工器
110‧‧‧寄生消除電路
112‧‧‧類比轉數位轉換器(ADC)
114‧‧‧驅動器/驅動線驅動器
116‧‧‧運算放大器
118‧‧‧多工器
120‧‧‧切換器
122‧‧‧物件
Cpx‧‧‧寄生電容
Cpy‧‧‧寄生電容
Cx,y‧‧‧電容性節點
Cint‧‧‧積分電容器
nx‧‧‧n型金屬氧化物半導體(NMOS)晶體管
px‧‧‧p型金屬氧化物半導體(PMOS)晶體管
Vref‧‧‧參考電壓

Claims (20)

  1. 一種方法，其包括：將一第一電壓傳遞至一觸控感測器之一驅動線；將該觸控感測器之一感測線設定至一預定電壓；將一第二電壓傳遞至該驅動線，該驅動線處自該第一電壓至該第二電壓之一所得轉變致使將累積在該感測線上之一電荷量傳遞至一積分器；在該積分器處，對自該感測線傳遞之該電荷量進行積分以將該電荷量轉換成一輸出電壓；及將該感測線還原至該預定電壓。
  2. 如請求項1之方法，其中將該感測線還原至該預定電壓包括：透過該積分器將電流傳遞至該感測線。
  3. 如請求項1之方法，其進一步包括：自複數個感測線選擇該感測線。
  4. 如請求項1之方法，其中對該電荷量進行積分包括：將該積分器之一積分電容器耦合在一運算放大器之一負端子與一輸出端子之間。
  5. 如請求項1之方法，其中該預定電壓係一參考電壓之一半。
  6. 如請求項1之方法，其進一步包括：藉由繞過該積分器之一積分電容器而自該積分器移除電荷。
  7. 如請求項1之方法，其進一步包括：將該輸出電壓傳遞至一類比轉數位轉換器；及將該輸出電壓轉換成一數位表示。
  8. 一種電路，其經組態以：將一第一電壓傳遞至一觸控感測器之一驅動線；將該觸控感測器之一感測線設定至一預定電壓；將一第二電壓傳遞至該驅動線，該驅動線處自該第一電壓至該第二電壓之一所得轉變致使將累積在該感測線上之一電荷量傳遞至一積分器；在該積分器處，對自該感測線傳遞之該電荷量進行積分以將該電荷量轉換成一輸出電壓；及將該感測線還原至該預定電壓。
  9. 如請求項8之電路，其中該電路進一步經組態以透過該積分器將電流傳遞至該感測線。
  10. 如請求項8之電路，其中該電路進一步經組態以自複數個感測線選擇該感測線。
  11. 如請求項8之電路，其中該電路進一步經組態以將該積分器之一積分電容器耦合在一運算放大器之一負端子與一輸出端子之間。
  12. 如請求項8之電路，其中該電路進一步經組態以藉由繞過該積分器之一積分電容器而自該積分器移除電荷。
  13. 如請求項8之電路，其中該電路進一步經組態以：將該輸出電壓傳遞至一類比轉數位轉換器；及將該輸出電壓轉換成一數位表示。
  14. 一種設備，其包括：一觸控感測器；及一或多個電腦可讀非暫時儲存媒體，其耦合至該觸控 感測器，體現在執行時可操作以進行以下操作之邏輯：將一第一電壓傳遞至該觸控感測器之一驅動線；將該觸控感測器之感測線設定至一預定電壓；將一第二電壓傳遞至該驅動線，該驅動線處自該第一電壓至該第二電壓之一所得轉變致使將累積在該感測線上之一電荷量傳遞至一積分器；在該積分器處，對自該感測線傳遞之該電荷量進行積分以將該電荷量轉換成一輸出電壓；及將該感測線還原至該預定電壓。
  15. 如請求項14之設備，其中該邏輯進一步經組態以透過該積分器將電流傳遞至該感測線。
  16. 如請求項14之設備，其中該邏輯進一步經組態以自複數個感測線選擇該感測線。
  17. 如請求項14之設備，其中該邏輯進一步經組態以將該積分器之一積分電容器耦合在一運算放大器之一負端子與一輸出端子之間。
  18. 如請求項14之設備，其中該邏輯進一步經組態以藉由繞過該積分器之一積分電容器而自該積分器移除電荷。
  19. 如請求項14之設備，其中該邏輯進一步經組態以：將該輸出電壓傳遞至一類比轉數位轉換器；及將該輸出電壓轉換成一數位表示。
  20. 如請求項14之設備，其中該預定電壓係一參考電壓之一半。
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