TW200841028A - Inspection method for display panels - Google Patents

Description

200841028 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 檢測2聽有關於—種檢财法，更詳細地說，係關於—種顯示面板之 【先前技術】 技’現今科技蓬勃發展，資訊商品麵推陳出新，滿足了眾多使用 的而求早I、員示器夕半為陰極射線管（Cath〇de吻脑e，CRT )顯示器， _ ^於其體積獻與耗電量A，*且所產生的輻射線，對於長時間使用顯示 ㈣使用者而言有危害身體健康的疑慮，因此，現今市面上的顯示器漸漸 (Liquid Crystal Display ^LCD) CRT 1 〇 、液晶顯示器具有輕薄短小、低輻射與耗電量低等優點，也@减為目前市 場主流。 -般顯示«廢時，都必須經過測試，以控管顯示器之品f，避免顯 不益於自動化生產時，因各種因素而使顯示器出現各種的問題，像是顯示 器之晝面的亮度不均勻或是色彩不均勻等。 現今的顯示面板的製程中，係包含分別對兩片較大面積之上、下基板 _ 加工，之後將雜大面積之上、下基板組立形成-較大面積之顯示基板， 再將該較大面積之顯示基板切割並加工製作成複數個顯示面板，最後分別 測試該些顯示面板以確認顯示面板之品質。 請參閱第一圖，其為習知技術之顯示面板的檢測示意圖。如圖所示， 傳統的顯示面板20’的檢測方式需先將整片顯示基板1〇，切割成複數片顯 示面板20，，並於顯示面板20，進行偏光片的貼附後再進行檢測，若在檢 測過程中發現顯示面板20’為瑕疫品時，必須將瑕疲之顯示面板2Q，報 廢，如此，無法在貼偏光片前預先檢知製程異常及不良，便會造成偏光片 的浪費。且習知技術的檢測方式，因為採單片顯示面板(panel)的檢查方 式，需要較多的檢查設備及檢測人員導致成本增加。 200841028 因此，針對上述問題提出一種新的顯示面板檢測方法，不僅可避免偏 光片的浪費之缺點，又可同時檢測複數個顯示面板以加快製程的速度。 【發明内容】 本發明之目的之一，在於提供一種顯示面板之檢測方法，其在貼附偏 光板之前檢測顯示面板，以避免偏光板之浪費。 本發明之目的之一，在於提供一種顯示面板之檢測方法，其設置複數 個測試點於一顯示基板，以同時檢測複數個顯示面板。 本發明之目的之一，在於提供一種顯示面板之檢測方法，其藉由一光 學元件配合一偏極化光源以自動化檢測複數個顯示面板。 本餐明之顯示面板之檢測方法，係包含先設置複數個測試點於一顯示 基板，顯示基板包括複數個顯示面板，該些測試點係與該些顯示面板電性 連接，接著輸入一測試訊號於該些測試點，再檢測該些顯示面板。 再者，在檢測該些顯示面板之步驟中，係在顯示基板之一侧設置一偏 極化光源，並於顯示基板之另一側使用一光學元件檢測該些顯示面板，其 中光學元件可設置一偏光片並以自動化方式檢測該些顯示面板。 【實施方式】 茲為使本發明之結構特徵及所達成之功效有更容易瞭解與認識，謹佐 以較佳之貫施例及配合詳細之說明，說明如後： 喷一併參閱第二圖、第三圖與第四圖，係分別為本發明之一較佳實施 例之流程®、切麵示基板之立麵麵示基板_後之俯視圖。如圖所 界’本發明讀㈣歡測財法，魏，執行轉設置複數個測試 點18於-顯示基板10之一下基板14，顯示基板1〇 &括複數個顯示面板 20二該些測試點18係與該些顯示面板2〇電性連接(如第五Α圖至第五c圖 所办接著執行步驟S12，輸入-測試訊號於該些測試點18，以傳送測試 訊就至該些顯不面板2G而顯示畫面，接下來執行步驟S14，檢測該些顯示 200841028 面板20之畫面品質，此步驟可初步藉由肉眼觀看該些顯示面板2〇在輸入 訊號後，是否有顯示晝面，即可得知顯示面板2〇是否正常，進而可再利用 檢測儀器檢測該些顯示面板2〇所顯示之晝面品質，確保顯示面板之品質符 合客戶要求。如此’可藉由輸入一測試訊號於設置於一顯示基板1〇之複數 個測試點18，以同時檢測複數個顯示面板2〇。 承上所述’在步驟S12中，由於該些測試點設置於顯示基板1〇之下基 板14中，因此，在輸入測試訊號於該些測試點18之前必須例如是切割顯 不基板10之上基板12之多餘基板16以露出測試點18，如第三圖與第四圖 所示。其中，該些測試點18例如是設置於顯示基板10之下基板14的邊緣， 以方便切割顯示基板1〇之上基板12以露出測試點18。此外，由於現今部 份製作顯示基板10的製程中，即會設置複數個焊墊(Pad)於顯示基板1〇， 所以本發明於此種製程中，即可利用該些焊墊作為該些測試點18以進行測 試，而不需額外設置該些測試點18。 接著，請一併參閱第五A圖至第五C圖，其為測試點與顯示面板連接 示意圖。如圖所示，該些測試點18與該些顯示面板2〇之電性連接的方式 可為多種不同的類型，例如是一對一連接、網狀連接以及匯流排連接之方 式。在第五A圖中，該些測試點18與該些顯示面板2〇以一對一方式連接， 每一顯示面板20由不同的測試點18提供訊號。在第五B圖中，該些測試 點18與該些顯示面板20以網狀連接方式，該些測試點18與該些顯示面板 20電性連接，且在顯示基板10中之該些顯示面板2〇彼此電性連接，如此 可避免-對-連接方式時，該些測試點18與該些顯示面板2()因各種因素 產生接觸不良或更甚至斷線時訊號無法傳輸至顯示面板。在第五c圖中了 該些測斌點18與該些顯示面板20以匯流排之方式連接，如此僅需藉由一 組測試點18即可對該些顯示面板20進行測試，以減少測試時所需^成本 並可節省顯示基板10之空間。上述之該些測試點18與該些顯示面板2〇之 連接方式僅為本發明之實施方式，並不僅侷限於這三種連接方式。 承接上述，該些測試點18包括-電源端與—接地端以接收外部電路所輸入 200841028 之測試訊號而使該些顯示面板2〇顯示晝面，測試訊號包括一電源訊號與— 接地訊说。如此可藉由輸入簡單的訊號點党該些顯示面板20，初步檢测顯 示面板20是否正常。進而可再利用檢測儀器檢測該些顯示面板2〇所顯示 之畫面品質，確認顯示面板20品質符合客戶要求。 以下係以檢測儀器檢測該些顯示面板20進行說明。請一併參閱第六A 圖至第六E圖，其為本發明之一較佳實施例之顯示面板的測試示意圖。如 第六A圖所示，其檢測儀器包括測試台40、光源50以及光學元件60。顯 示基板10之兩側分別設置偏光板30，測試台40係藉由探針42提供測試訊 號至測試點18 ’光源50設置於顯示基板1〇之一侧，光學元件6〇設置於顯 示基板10相對於光源50之另一側，以檢測該些顯示面板2〇。其中，如第 六β圖所示，光源50可為一偏極化光源52，如此無須在顯示基板1〇之下 方設置偏光板30，以節省製作上的成本。其中，光學元件6〇係為一電荷耦 合元件（Charge-Coupled Device，CCD)、一互補式金氧半導體 (Complementary Metal-Oxide- Semiconductor，CMOS)攝影機、一單一 線型攝影機或一矩陣型攝影機之其中之一。 同理，請參閱第六C圖，可在光學元件6〇之鏡頭多設置一偏光片32， 可免除在顯示基板10之上方設置偏光板3〇，以節省製作上的成本。又，請 參閱第六D圖，除了光學元件60之鏡頭多設置一偏光片32,又在顯示基板 10之下方設置偏極化光源52，如此可同時節省在顯示基板1〇之兩側設置 偏光板30，再者，請參閱第六e圖，其設置偏極化光源52於顯示基板1〇 之一側，顯示基板10之另一側設置光學元件6〇，並相對應偏極化光源52 而使用光學元件60以檢測顯示面板2〇,在此時實施例中，因為光學元件與 光膝為對應改罝’因此可節省光源數量。在本實施例中更可在光學元件⑼ 之鏡頭多設置偏光# 32可綠麵示基板1()之上方設置偏输3()，以節 省製作上的成本。該檢賴II可制自動化機齡置自統檢測複數個顯 示面板2G，例如-軸可義切錄置或二軸可移動式滑執裝置。 檢測後之顯7F練IG將騎蝴製程，賴示基板1Q蝴為複數個 200841028 顯示面板20繼續後續製程。 綜上所述，本發明之顯示面板之檢測方法，其可藉由該些測試點與該 些顯示面板之電性連接，並輸人測試訊號於該些峨點，以檢測該些顯示 面板，如此可同時檢測複數個顯示面板，且該檢測方式係在貼附偏光板之 前進行，可避免偏光板之浪費。 惟以上所財，僅本發明之触實關’並非絲限林發明實施之範圍， 舉凡依本發明中請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變 化與修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 第一圖為習知技術之顯示面板的檢測示意圖； 、 第二圖為本發明之一較佳實施例之流程圖； 第三圖為本發明之一較佳實施例之切割顯示面板的立體示意圖； 苐四圖為本發明之一較佳實施例之切割後顯示面板的俯視圖； 第五A圖為本發明之一較佳實施例之測試點與顯示面板連接示意圖； 第五B圖為本發明之另一較佳實施例之測試點與顯示面板連接示意圖； 第五C圖為本發明之另一較佳實施例之測試點與顯示面板連接示意圖； # 第六A圖為本發明之一較佳實施例之顯示面板的測試示意圖； 第六B圖為本發明之另一較佳實施例之顯示面板的測試示意圖； 第六C圖為本發明之另一較佳實施例之顯示面板的測試示意圖； 第六D圖為本發明之另一較佳實施例之顯示面板的測試示意圖；以及 第六E圖為本發明之另一較佳實施例之顯示面板的測試示意圖。 【主要元件符號說明】 10顯示基板 顯示面板 顯示基板 9 200841028 12 上基板 14 下基板 16 多餘基板 18 測試點 20 顯示面板 30 偏光板 32 偏光片 40 測試台 42 探針 50 光源 52 偏極化光源

Claims (1)

1. 200841028 十、申請專利範圍： 1. 一種顯示面板之檢測方法，其步驟係包含： 設置複數侧類於-顯示基板，賴示基板包括複數個顯示面板， 該些測試點係與該些顯示面板電性連接； 輸入一測試訊號於該些測試點，以傳送該測試訊號至該些顯示面板而 顯示畫面；以及 檢測該些顯示面板之晝面品質。 2. 如申凊專利範圍第1項所述之檢測方法，其中於檢測該些顯示面板之晝 • 面品質之步驟中，更包含括： . 分別設置一偏光板於該顯示基板之兩側； 5又置'光源於该顯不基板之一側；以及 使用一光學元件於該顯示基板之另一側，以檢測該些顯示面板之晝面 品質。 3·如申請專利範圍第2項所述之檢測方法，其中該光學元件包含一電荷耦 合元件（Charge-Coupled Device，CCD)、一互補式金氧半導體 (Complementary Metal-Oxide- Semiconductor，CMOS)攝影機、一單 一線型攝影機或一矩陣型攝影機。 φ 4·如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中於檢測該些顯示面板之畫 面品質之步驟中，更包含： 設置一偏光板於該些顯示基板之一侧； 設置一偏極化光源於該顯示基板之另一側；以及 使用一光學元件位於該偏光板之一側而檢測該些顯示面板之畫面品 質。 5·如申請專利範圍第4項所述之檢測方法，其中該光學元件包含一電荷耦 合元件（Charge-Coupled Device，CCD)、一互補式金氧半導體 (Complementary Metal-Oxide- Semiconductor，CMOS)攝影機、一單 一線型攝影機或一矩陣型攝影機。 11 200841028 如申請專利第1項所述之檢測方法，其中於檢測該些顯示面板之畫面品 質之步驟中，更包含： 設置一偏光彳反於該顯示基板之一側； 設置一光源於該偏光板之一侧；以及 使用一光學元件位於該顯示基板之另一側，檢測該些顯示面板之畫面 品質，其中該光學元件具有一偏光片。 7. 8· 9· • 10. 11. 12· 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中於檢測該些顯示面板之晝 面品質之步驟中，更包含·· 設置一偏極化光源於該顯示基板之一側；以及 設置一光學元件於該顯示基板之另一側，並使用該光學元件配合相對 應該偏極化光源而檢測該顯示面板，其中該光學元件具有一偏光片。 如申請專利範圍第7項所述之檢測方法，其中該光學元件包括一電荷耦 合元件（Charge-Coupled Device，CCD)、一互補式金氧半導體 (Complementary Meta卜Oxide- Semiconductor，CMOS)攝影機、一單 一線型攝影機或一矩陣型攝影機。 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該些測試點與該些顯示面 板之電性連接方式係包含一對一連接、網狀連接或匯流排連接。 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該設置複數個測試點於一 顯示基板之步驟中係設置該些測試點於該些顯示基板周圍。 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該設置複數個測試點於一 顯示基板之步驟中，係設置複數個測試點於該顯示基板之一下基板上， 並對應於該些測試點而切割該顯示基板之一上基板以露出該些測試點。 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該檢測該些顯示面板之步 驟後更包含： 分割該些顯示面板。 如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該些測試點係包含至少一 電源端與一接地端。 12 13. 200841028 觚 14.如申請專利範圍第1項所述之檢測方法，其中該測試訊號至少包含一電 源訊號與一接地訊號。

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