TW200826827A - Cold plate and mating manifold plate for IC device cooling system enabling the shipment of cooling system pre-charged with liquid coolant - Google Patents

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TW200826827A
TW200826827A TW096136029A TW96136029A TW200826827A TW 200826827 A TW200826827 A TW 200826827A TW 096136029 A TW096136029 A TW 096136029A TW 96136029 A TW96136029 A TW 96136029A TW 200826827 A TW200826827 A TW 200826827A
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Description

200826827 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本文所揭示的具體實施例大致上係有關一種積體電路 (1C)裝置的冷卻系統,尤指一種可將預塡充有液體冷卻 劑的冷卻系統加以裝運的冷卻板及匹配的歧管板。 【先前技術】 微處理器及其他處理裝置的功率散逸大致上因爲各設 計的產生,隨著該等裝置的操作頻率的增加而遞增。同時 ,因爲結構尺寸的遞減,故每一單位面積的主動電路元件 (例如電晶體)的數量增加,而會導致功率密度的增加。 此功率密度的增加伴隨著較高的操作頻率會導致在一 1C 晶粒作業時較大量的熱產生,而爲了使晶粒具適當的功效 及可靠性,此熱需加以散逸。此外,由於上述因素及其他 設計與作業條件,一或更多的「熱點」(hotspots) ( 例如,在晶粒上其溫度顯著的比晶粒的周遭區域爲高的一 位置)可能會存在於一作業中的1C晶粒上,而如果無法 充分的由此等熱點將熱抽出,將導致晶粒的損壞及/或晶 粒效率的降低。因此,目前及未來世代的IC裝置的晶粒 冷卻系統之熱效率將變得更爲重要。 能夠符合上述需求的一技術是液體冷卻。液體冷卻方 案可用於冷卻各種各類的1C裝置,包括處理裝置,例如 微處理器、現場可程式規劃閘陣列(FPGA )、應用特定 (比)積體電路(A S IC s )及任何其他種類的I c裝置。此 200826827 外’該等液體冷卻系統適用於各種類的計算系統, 如伺服器、桌上型電腦、筆記型電腦、與攜帶型及 動計算裝置等。1C裝置製造商及電腦系統製造商所 挑戰是液體冷卻劑的處理。潛在的課題/難題包括 輸送(裝運)1C裝置及/或配具有液體冷卻劑的冷 ’與組裝具有液體冷卻系統的電腦。此等課題/難 沒有資源(財力)可採購及/或操作其等本身的液 劑塡充系統的小設備製造商而言益爲嚴峻。 【發明內容】 本發明大致上係有關一種積體電路(1C)裝置 系統,尤指一種可將預塡充有液體冷卻劑的冷卻系 裝運的冷卻板及匹配的歧管板。冷卻板可與一積體 粒相連接,而冷卻板也可具有一流動路徑以接納一 卻劑。經流動路徑移動通過的冷卻劑可移除由晶粒 的熱。冷卻板可具有一或更多與流動路徑相連接的 件。 【實施方式】 參見圖 1A至1C,其等顯示一冷卻板1〇〇( plate )的具體實施例’冷卻板1〇〇可形成一積體 (1C)裝置的部分冷卻系統。在一具體實施例中,例 一 1C晶粒係與冷卻板1 〇〇熱聯結,且一液體冷卻 通在冷卻板上的一或更多的槽道,以移除由晶粒所產 括例 他行 臨的 存及 系統 對於 冷卻 冷卻 加以 路晶 體冷 產生 孔元 cold 電路 如, 劑流 生的 -6 - 200826827 熱。圖1 A顯示冷卻板1 0 0的平面圖。圖1 B顯示冷卻板 1 00的前視圖,而圖1 C顯示冷卻板的側視圖。 冷卻板100包含一本體11〇,具有一上表面112及一 相對的下表面1 1 4。一流動路徑1 5 0設置於本體i 1 〇內’ 而此流動路徑可包含可供一液體冷卻劑通過的槽道、充氣 部、埠、及其他流量控制裝置或元件(例如管路、導管、 閥、閘口等)的任何組合。一 1C晶粒可熱聯結至本體1 1 〇 的下表面1 1 4 (見圖2,詳下文),而一循環通過流動路 徑1 5 0的液體冷卻劑可移除由晶粒所產生的熱(及藉,例 如傳導來傳遞至冷卻板1 00 )。 依據一具體實施例,如圖所示者,流動路徑1 50包含 一入口充氣部(inlet plenum) 151及一出口充氣部153 ( outlet plenum )。入口充氣部151係與一入口埠152成流 體連通,且出口充氣部153也以同樣方式與一出口埠154 相連接。一或更多的槽道155在入口及出口充氣部151、 1 5 3之間延伸,而相毗鄰的槽道1 5 5由一壁1 5 6加以分隔 (在圖 1A中,爲了簡易揭示起見,流動路徑1 5 0係以 實線顯示,而非穩藏線)。一液體冷卻劑可在入口埠1 52 處被導入流動路徑1 5 〇內,且進入入口埠的液體冷卻劑流 入入口充氣部1 5 1內。在入口充氣部1 5 1內的液體冷卻劑 可進入槽道1 5 5而流向出口充氣部1 5 3。當液體冷卻劑橫 越槽道1 5 5時,存在於本體1 10內的熱(例如,自一 1C 晶粒傳導入本體內的熱)被傳遞至液體冷卻劑。之後’存 在於出口充氣部153內的受熱液體冷卻劑將在出口埠154 200826827 處自流動路徑1 5 0出來。在一具體實施例中,此受熱的冷 卻劑經一熱交換器(或其他熱裝置)循環以冷卻液體冷卻 劑,且此被冷卻的液體可再次在入口埠1 52處被導入流動 路徑1 5 0內。 流動路徑1 5 0可爲任何適當的結構,而且圖1 A -1 C所 示的具體實施例僅代表可設置於冷卻板1 00上的流動路徑 的一範例。一般上,流動路徑1 5 0可爲任何能藉一液體冷 卻劑以自冷卻板移除熱的適當形態。此外,需一提者, 圖1A-1C所顯示的槽道155態樣只是一能與所揭示的具體 實施例相配合的槽道設計範例,因此’任何適當數量及態 樣的槽道可適用於流動路徑1 5 0內。此外’槽道1 5 5可具 有任何適當的尺寸,而在一具體實施例中’各槽道的寬度 (w)是介於50 μηι及200 μπι之間’而局度 (h)是介於100 μ m及2,0 0 0 μ m之間(此種尺寸的槽道有時簡稱爲「微槽 道」)。 與流動路徑1 5 0的入口埠1 5 2相連接的是第一穿孔元 件1 60,而同樣的,與出口璋1 54相連接的是第二穿孔元 件170。如將於下文詳盡說明者,冷卻板1〇〇可與一容裝 有一液體冷卻劑的歧管板(或其他熱構件或構件集成) 相連接,且此歧管板可容裝一或更多的易碎(可被破壞的 )密封件,以在組裝(例如,運送、處理、儲存等)前將 冷卻劑容裝於歧管板內。各穿孔元件 160、170包含有任 何可將在歧管板上的一易碎密封件加以刺穿或開孔的裝置 。雖然在所示的具體實施例中是顯示有兩穿孔元件 160、 -8 - 200826827 1 7 0,但冷卻板1 0 0也可具有任何適當數量的穿 例如一個、或兩個以上等)。 依據一具體實施例,如圖所示者,穿孔元件 一由入口埠152延伸出的管或其他導管,且此管 末端1 6 5係切割成或形成一角度。同樣的,穿孔 可包含一自出口埠154延伸出的管或其他導管, 的一相對的末端1 75經切割成或形成一角度。此 穿孔元件160、170的相對末端165、175處的有 可便利刺穿一設置於歧管板上的薄膜或其他易碎 詳下文)。在此需強調,穿孔元件160、170只 明的範例,而非限制於此,且穿孔元件可爲任何 狀及結構,且穿孔元件可包含其他適當的裝置。 在另一具體實施例中,冷卻板100另具有 件1 8 0。固定元件1 8 0可包含任何適於嚙合一插 固持機構(例如,設置於主機板上的插座及/或 )的特徵或結構。在一具體實施例中,如圖所示 元件1 8 0包含有一唇,沿本體1 1 0的周圍延伸出 有表面187、188,在一些具體實施例中,表面 可嚙合一插座及/或固持機構。 冷卻板1 0 〇可藉任何適當的方法或組合方法 可用以製造冷卻板的製造程序,不論是單獨的或 ,包括浸蝕、削剖、機製(例如,銑、雷射加 模塑、及/或模鍛、及其他等等。在一具體實施 體1 10包含一上部190a及一下部190b。流動路 孔元件( 1 60包含 的一相對 元件170 其中此管 分別位在 角輪廓, 密封件( 是舉例說 適當的形 一固定兀 座或其他 固持機構 者,固定 。該唇具 187、 188 來製造。 相組合的 工等)、 例中,本 徑150可 200826827 (例如藉浸飩、削剖、模塑、模鍛等)形成於上部190a 內,而後下部190b -可包含一大致扁平的板-係(例 如藉硬焊、軟焊、環氧等)來附接至上部,以包封流體充 氣部1 5 1、1 5 3及槽道1 5 5。在另一具體實施例中,流動路 徑150可形成於下部190b內,且在再一具體實施例中, 部分的流動路徑可形成於上部1 90a,而其他部分的流動路 徑則形成於下部1 90b內。本體1 1 0的下部1 90b其尺寸可 以比上部1 9 0 a的爲大,使得下部的一外周延伸超越上部 的周圍,且充當固定元件180。此外,穿孔元件160、170 可與本體110 —體形成,或是,穿孔元件可包含形成後再 (例如藉硬焊、軟焊、環氧等)附接至本體1 1 〇上的獨立 構件。 冷卻板1 0 0可包含任何適當的材料或材料的組合。依 據一具體實施例,冷卻板具有一導熱性材料,例如一金屬 (例如,銅、鋁、鋼及此等金屬及/或其他金屬的合金) 、聚合物或一複合材料,及此等材料及/或其他材料的組 合。芽孔兀件1 6 0、1 7 0也可包含任何適當的材料或材料 的組合’包括金屬(例如,銅、鋁、黃銅、鋼等)、聚合 物及複合材料。在一具體實施例中,穿孔元件係由與冷卻 板的本體1 1 0相同的材料(例如銅)所製成。 在此需指出’ 「冷卻板」乙詞的使用不應受到限制。 其他熱構件,不論是否呈現相同的功能,應可與所揭示的 具體貫施例配合實施。此外,精於本技藝的人士可了解, 也可使用能提供與冷卻板丨〇〇相同機能的熱構件。舉例言 -10 - 200826827 之,可與所揭示的具體實施例相配合使用的熱構件包括熱 散佈器(有時稱爲積體熱散佈器,integrated heat spreader,IHS)及散熱器,且此等熱構件可具有與冷卻板 1 〇〇相同的機能,或與冷卻板1 〇〇不同的機能(至少一部 份)。 參見圖2,其揭示一總成200的具體實施例。總成 200具有一冷卻板,且在一具體實施例中,冷卻板包含圖 1A-1C的冷卻板1〇〇。與冷卻板100相連接的是一 1C晶 粒50,且一熱介面材料(TIM )層70可設置於晶粒 50 及冷卻板1 00之間,以熱性及機械性的連接冷卻板及晶粒 。1C晶粒5 0可包含任何種類的積體電路裝置,例如微處 理器、現場可程式規劃閘陣列(FPGA )、應用特定(比 )積體電路 (ASIC)、圖形處理器或其他處理裝置。複數 互連5 5 (例如,導電隆起或柱、搭接線等)可自處理裝置 50延伸出。TIM層70可包含任何適當的導熱性材料。舉 例言之,TIM層70可包含一軟焊材料或一導熱性聚合物 。在另一具體實施例中,冷卻板1 〇 〇可與一熱散佈器相連 接(或許以一 TIM層設置於該兩構件之間),而其中熱散 佈器再與一 1C晶粒相連接。 在再一具體實施例中,一套蓋290可設置於冷卻板 100上,以保護穿孔元件160、170。套蓋290可設置於冷 卻板1 0 0上(不論是其本身或成爲總成2 0 0的一部份)以 在運送、處理及/或儲存時保護冷卻板。套蓋2 9 0也可防 止污染物(例如顆粒)進入冷卻板1 〇 〇的流動路徑1 5 0。 11 - 200826827 依據一具體實施例,套蓋包含一本體292,具有建構及定 ill成可分別接納穿孔元件1 6 〇、i 7 〇的空腔2 9 6、2 9 7,以 保護該等結構° _蓋290也可具有一適於由製造及處理設 備(例如拾取及定位頭)拾取的上表面295。套蓋290可 藉使用任何適當的製造技術(例如,模塑、機製等), 由任何適當的材料(例如塑膠、複合材料或金屬)加以建 構。 Η 3A至3C揭不一歧管板300的具體實施例,可形成 一 IC裝置的冷卻系統。在一具體實施例中,例如,一工c 晶粒係與一冷卻板(例如,上述的冷卻板i 00或其他熱構 件)熱聯結’且歧管板係附接至冷卻板,使得流體通路建 立在冷卻板及歧管板之間。一液體冷卻劑容積可設於歧管 板3 0 0 (或是歧管板與液體冷卻系統的其他構件的組合) 內,且當流體通路經與冷卻板建立後,冷卻劑可流入冷卻 板的一流動路徑內。圖3A顯示歧管板3 00的平面圖,圖 3B顯示歧管板3 00的前視圖,而圖3C顯示歧管板300的 側視圖。 參見圖3A-3C,歧管板300包含一本體 310,具有一 上表面312及一相對的下表面314。在本體310內設有第 一流體槽道320及第二流體槽道340。第一流體槽道320 具有一入口 322及一出口 324,而第二流體槽道340具有 一入口 342及一出口 344。第一流體槽道320的各入口 322,及第二流體槽道340的各出口 344可延伸超越本體 3 1 〇 (例如,各可具有一自本體延伸出的管’以允許與其 -12- 200826827 他流體管線相連接至歧管板3 00 ) °在第一流體槽道320 的出口 324處設有第一易碎密封件330。同樣的,在第二 流體槽道340的入口 342處設有第二易碎密封件350。雖 然在所揭示的具體實施例中顯不有兩易碎密封件3 3 0、3 5 0 ,但需指出者,歧管板3 00可具有任何適當數量的易碎密 封件(例如,一或兩個以上)。 一液體冷卻劑容積(圖中未顯示)可設置於第一及第 二流體槽道320、340內且分別藉易碎密封件330、350來 固持之。在一具體實施例中,第一流體槽道320的入口 3 22及第二流體槽道340的出口 344係與液體冷卻系統的 其他構件(例如,一閉迴路系統)相連接,且此液體冷卻 系統可具有一額外容積的冷卻劑。此外,套蓋或密封件也 可設於第一流體槽道3 20的入口 342,及第二流體槽道 3 40的出口 344上,以協助將冷卻劑固定於第一及第二 流體槽道3 20、3 40內。因此,歧管板3 00可容裝一液體 冷卻劑,供一 1C裝置冷卻系統使用,且歧管板(不論是 單獨的或是與冷卻系統的其他構件相組合的)可與此液體 冷卻劑一起被儲存,處理及/或運送。此外,歧管板300 可與一冷卻板(例如上述的冷卻板1 00 )或一晶粒及冷卻 板的總成(例如上述的總成200 )相連接,且儲存在歧管 板(或其他系統構件)內的液體冷卻劑可充當1C晶粒之 液體冷卻系統內的工作流體(詳下文)。在下文所述的具 體實施例中,係假設歧管板3 00係與圖1A-1C的冷卻板 1 00相連接,但在此需指出的是,所揭示的歧管板可與其 -13- 200826827 他種類的冷卻板或熱構件配合使用。 當歧管板3 00與冷卻板100 (或冷卻板與晶粒總成 2 00 )相連接時,穿孔元件160、170將分別將在歧管板 3 00上的易碎密封件3 3 0、3 5 0加以刺穿或開孔,藉此在冷 卻板及歧管板之間建立流體通路。因此,一般上,易碎密 封件3 3 0、3 5 0可各包含可維持流體密封(及保持流體於 歧管板內),及可被冷卻板1 〇 〇的穿孔元件1 6 0、1 7 0所 打開的的任何裝置或結構。 在一具體實施例中,各易碎密封件包含一可被其中一 穿孔元件1 60、1 70所刺穿的薄膜。薄膜可包含任何適當 的材料,包括聚合物或金屬。適當的聚合物包括氟化乙烯 丙烯(fluorinated ethylene propylene ; FEP )、聚氯三氟 乙烯(polychlorotriflouroethylene; PCTFE )、及適合罩 板(氣泡)包裝技術的聚合物,而適當的金屬可包括鋁、 銅及此等的合金及/或其他金屬的合金。依據一具體實施 例,此薄膜是被其中一穿孔元件所刺破,但穿孔元件並沒 有將薄膜的破裂部分自薄膜本體的其餘部分完全切斷掉, 而可避免薄膜的殘片分離開而進入冷卻板或歧管板(或流 體冷卻系統的其他構件)的流體路徑內。舉例言之,當歧 管板3 0 0嚙合冷卻板1 〇 〇時,在易碎密封件3 3 〇、3 5 〇內 的開口會遵循穿孔元件1 6 0、1 7 0的圓形輪廓,其等的末 端係可切割成一角度,如上文所述及者。當穿孔元件1 6〇 、1 7 0持續插入易碎密封件3 3 0、3 5 0內時,穿孔元件會將 易碎密封件剝離開,但不會使該被切割部分自密封件的其 -14- 200826827 餘部分分離(例如,一圓形殘片與各易碎密封件保持繫接 ,且此殘片可向上彎曲及偏離流動區域)。在各穿孔元件 160、170末端處的有角的輪廓(可類似皮下注射針)可協 助易碎密封件3 3 0、3 5 0的切割及剝離作用。 在一具體實施例中,如圖3A-3C所示者,第一易碎密 封件3 3 0係設於形成於第一流體槽道3 20出口 3 24處的凹 部3 70內,而第二易碎密封件3 5 0係設於形成於第二流體 槽道340入口 342處的凹部380內。因此,在圖3A-3C所 示的具體實施例中,易碎密封件3 3 0、3 5 0係大致上與本 體310的下表面314齊平。易碎密封件330、350可藉任 何適當的程序(例如,黏著劑結合、干涉嵌合等)分別固 定於凹部370、3 8 0內。 依據另一具體實施例,如圖3 D所顯示者,易碎密封 件3 3 0、3 5 0 (例如薄膜)係設於本體3 1 0的下表面3 1 4上 。在圖3 D所示的具體實施例中,易碎密封件3 3 0、3 5 0可 藉任何適當的程序(例如黏著劑結合等)來固接至歧管板 的表面3 14。 在另一具體實施例中,如圖3 E所示者,易碎密封件 330、350 提供 一「破裂前製造」(make-before-break)的 機能。在圖3E所示的具體實施例中,各易碎密封件330 、3 5 0分別設置於凹部 3 70、3 8 0內。此外,一預密封元 件3 7 5係設置於與薄膜3 3 0 (或其他易碎密封件)相毗鄰 的凹部 3 70內,且同樣的,一預密封元件3 8 5係設置於 與薄膜3 5 0相毗鄰的凹部3 8 0內。當冷卻板1 0 0的穿孔元 -15- 200826827 件160、170分別插入凹部3 70、3 8 0內時,即在薄膜330 、3 5 0開口前,在穿孔元件及預密封元件3 7 5、3 8 5之間形 成一密封。此密封(可以是暫時性的)在歧管及冷卻板 之間的完全嚙合完成前,當薄膜3 3 0、3 5 0破裂(例如向 後剝離時)時,可防止液體冷卻劑的洩漏。預密封元件 375、385可各包含能與穿孔元件160、170在冷卻板上形 成一密封的任何裝置或結構,且該等預密封元件可由任何 適當材料製成。在一具體實施例中,各預密封元件3 75、 3 8 5包含一由聚合物材料(例如軟橡膠)或其他適當材料 或組合材料所製成的〇形環或索環。此外,在一具體實施 例中,圖3 E中的凹部3 7 0、3 8 0深度是足夠的深,以在穿 孔元件與易碎密封件3 3 0、3 5 0相嚙合之前,提供預密封 元件3 7 0、3 8 0分別與穿孔元件1 6 0、1 7 0周邊之間的完全 嚙合。各易碎密封件3 3 0、3 5 0及預密封元件3 75、3 8 5可 藉任何適當的程序(例如黏著劑結合、干涉嵌合等)而分別 固定在凹部370、380內。 歧管板3 00可藉任何適當的程序或組合程序來製造。 例如模塑、模鍛及/或機製(例如,銑、雷射機製等)可 用以製造歧管板。此外,歧管板3 0 0可包含任何適當的材 料或組合材料。適合製造歧管板的材料包括,例如金屬( 例如銅、鋁、鋼、黃銅等)、聚合物及複合材料或其等的 組合。在一具體實施例中,歧管板3 〇 〇有至少一部分是利 用與建構冷卻板i 00的本體i i 〇相同的材料(例如銅)所 形成。然而,在其他具體實施例中,歧管板3 〇 〇及冷卻板 -16- 200826827 100包含不同的材料。 參見圖4,在另一具體實施例中,一套蓋490可設置 於歧管板3 0 0上以保護易碎密封件3 3 0、3 5 0。套蓋4 9 0可 設置於歧管板3 00上(以其本身或充當一較大總成的一部 分),以在運送、處理及/或儲存時保護歧管板。套蓋490 也可防止污染物接觸及/或嵌入易碎密封件。在一具體實 施例中,套蓋490包含一本體492 ,其具有設計及定位 成可分別接納易碎密封件3 3 0、3 5 0的空腔4 9 6、4 9 7,以 保護該等結構。在易碎密封件3 3 0、3 5 0設置於凹部(例 如圖3B或3E的凹部370、380)的所在,套蓋490可建 構成抵靠易碎密封,以保護該等裝置不經意的被刺穿或 其他破壞。套蓋490也可具有一適於被製造及處理設備( 例如拾取及定位頭)所拾起的下表面495。套蓋 490可藉 使用任何適當的製造技術(例如模塑、機製等)而由任何 適當的材料(例如塑膠、複合物或金屬)製成。 在此需指出,「歧管板」乙詞的使用不應受到限制。 其他流體系統構件,不論是否呈現與歧管板 3 00相同的 機能,應可與所揭示的具體實施例配合實施。此外,精於 本技藝的人士可了解,也可使用能提供與歧管板 3 00相 同機能的流體系統構件。舉例言之,可與所揭示的具體實 施例相配合使用的構件,包括管集箱或管集箱板、流體聯 結器等,且此等構件可具有與歧管板3 00相同的機能,或 與歧管板3 00不同的機能(至少一部份)。 圖5揭示一總成500的具體實施例。總成5 00可具有 -17- 200826827 上述的冷卻板1 0 0及歧管板3 0 0,及其他構件,以形成一 積體電路(IC )晶粒5 0的流體冷卻系統。總成5 0 0可形 成任何種類的電腦系統(例如伺服器、桌上型電腦、或筆 記型電腦、及攜帶型或其他行動計算裝置)的一部份。 總成500如上文述及者具有冷卻板100,且一 IC晶粒 50與冷卻板相連接。一 TIM (熱介面材料)層170可設置 於冷卻板及晶粒之間,以熱性及機械性的連接冷卻板及晶 粒,且此TIM層可包含任何適當的導熱性材料(例如金 屬,例如軟焊或導熱性聚合物等)。複數互連5 5 (例如, 導電隆起或柱、搭接線等)可自晶粒 5 0延伸出,且該等 互連可與在基質5 05上的相對應平台(lands )或其他引線 (未示)相電連接。爲了將晶粒5 0機械性的固定至基質 5 05上,一層下方塡塞材料或晶粒附接材料(未示)可設 置於晶粒及基質之間。基質5 0 5可爲任何適當的結構,且 在一具體實施例中,基質505包含一多層基質,具有數金 屬化處理的層,以對電氣信號佈線。此外,在一具體實施 例中,複數互連(未示)可設於與晶粒側相對的基質5 0 5 的下表面上,且該等互連(例如導電隆起或柱、銷等)可 用以將總成5 0 0連接至次級構件(例如主機板等)。然而 ,在一具體實施例中,基質505可包含一主機板。 總成5 0 0如上文述及者另具有歧管板3 0 0,且歧管板 係固定至冷卻板100 ’使得流體通路建立於該兩構件之間 。爲建立流體通路,冷卻板100的穿孔元件160、170係 分別插入歧管板300的易碎密封件3 3 0、3 5 0內,且穿孔 18- 200826827 元件如上文所述及般刺穿易碎密封件。圖 5顯示歧管板 300是完全的嚙合冷卻板100,其中歧管板的下表面314 係抵靠(或至少是緊鄰)冷卻板100的上表面1 12,且穿 孔元件160、170經刺穿易碎密封件3 3 0、3 5 0及分別完全 插入歧管板上的流體槽道320、340內。 總成500可另具有一熱交換器510及一泵520。第一 流體管線531可將熱交換器510的一出口連接至泵520的 一入口,而第二流體管線5 3 2可將泵5 2 0的一出口連接至 歧管板 3 00上的入口 3 22。第三流體管線5 3 3可將在歧管 板300上的出口 344連接至熱交換器510的一入口。熱交 換器5 1 0可包含任何適當種類的熱交換器,且可具有一被 動裝置(例如多片散熱片的散熱器)及/或一主動冷卻裝 置(例如風扇)。泵520可包含任何可循環一流體的適當 種類的泵,例如離心泵、齒輪泵、膜片泵、輪機等。流體 管線5 3 1、5 3 2、5 3 3可包含任何可容裝一流體的適當種類 的導管(例如,輸送管、撓性管路等)。依據一具體實施 例,熱交換器510可與歧管板300相連接。在另一具體實 施例中,熱交換器510及泵520(或是任何一或更多的 流體管線5 3 1、5 3 2、5 3 3 )可設置於基質5 0 5或次級構件 (例如主機板)上,或與其等相連接。 冷卻板1〇〇、歧管板300、熱交換器510、泵520及流 體管線53 1、53 2、5 3 3爲1C晶粒50提供一流體冷卻系統 。此流體冷卻系統可爲單相或雙相,且可採用任何適當種 類的工作流體,例如水、丙二醇(Propylene glycol )、乙 -19- 200826827 二醇(ethylene glycol)、甲酸鉀(potassium formate) 或一碳氫化合物基流體,及此等物質及/或其他物質(例 如,水及丙二醇的混合物)的混合物。此外,在冷卻板 100上的流動路徑150、歧管板 3 00的第一及第二流體槽 道320、340、熱交換器510、泵520、及第一、第二及第 三流體管線5 3 1、5 3 2、5 3 3共同界定一流體迴路(例如一 閉迴路):一液體冷卻劑可在該流體迴路中循環以冷卻積 體電路晶粒50。此流體迴路在冷卻板100及歧管板 300 之間嚙合前可具有一液體冷卻劑容積,且液體冷卻劑可 藉易碎密封件3 3 0、3 5 0而固持在冷卻系統內。因此,冷 卻系統(不含冷卻板100)可在預塡充有一適當容積的液 體冷卻劑,以供冷卻系統作業的情形下被運送(及/或儲 存、處理等)。在冷卻板100內的流動路徑150的體積 與流體迴路的其餘部分的體積相較起來相對較小,因此, 冷卻板(不論是本身或與1C晶粒5 0相組合)可被乾躁 的輸送,而後與歧管板3 00 —起組合,而不需顧慮到少量 的氣體會導入流體迴路內。在此需指出,上述流體冷卻系 統除了圖5所顯示的之外,可具有其他構件(例如過濾器 、感測器、閥等),且此一冷卻系統不一定需要包含圖5 所掲不的所有構件。 參見圖6,其揭示一組裝1C晶粒的液體冷卻系統的方 法600的具體實施例。參見此圖的方塊圖610,在一冷卻 板(或其他熱構件)上的至少一穿孔元件被插入一在歧管 板(或一流體系統的其他構件)上的相對應易碎密封件內 -20- 200826827 ,以如上文所述及般在冷卻板及歧管板之間建立流體通路 。一 IC晶粒可與冷卻板熱聯結。如方塊圖6 2 0所示者, 歧管板被固定至冷卻板。在一具體實施例中,穿孔元件及 易碎密封件之間的嚙合將冷卻板及歧管板固定一起。然而 ,在其他具體實施例中,可採用其他技術(例如黏著劑結 合,機械性扣件等)以將此兩構件相互固定一起。在另一 具體實施例中,如方塊圖63 0所示者,可包含一 1C晶粒 (或許流體冷卻系統的其他構件)的冷卻板及歧管板總成 ,附接至一基質。例如複數由晶粒延伸出的互連可電連接 至在基質上的相對應平台或引線,此外,一下方塡塞或 晶粒附接材料可設置於晶粒及基質之間。在另一具體實施 例中,在一晶粒連接至冷卻板之前,晶粒可先固定至一基 質(在此情形下,不需要元件6 3 0 )。依據一具體實施例 ,(1C晶粒)流體冷卻系統的其他構件可在與冷卻板相組 合前先與歧管板相連接。然而,參見方塊圖640,在另一 具體實施例中,冷卻系統的一或更多額外構件(例如泵、 熱交換器、流體管線等)其後與歧管板相連接。 參見圖7,其顯示電腦系統7 0 0的一具體實施例。電 腦系統700具有一連接有各種構件的匯流排70 5。匯流排 705旨在表示將系統 700的構件互連的一或更多的匯流排 (例如系統匯流排、周邊構件介面(PCI )匯流排、小電 腦系統介面(SCSI )匯流排等)的集成。爲了易於說明起 見,本文係以單一匯流排7 0 5來表示該等匯流排,因此, 系統700不應受限於此。精於本技藝的人士可認知電腦系 -21 - 200826827 統700可具有任何適當的匯流排架構且可具有任何數量及 組合的匯流排。 匯流排705與一或更多的處理裝置7丨〇相連接。處理 裝置710可包含任何適當的處理裝置或系統,包括微處理 器(例如單核心或多核心處理器)、網路處理器、,、應 用 f寸疋(比)積體電路(application specific integrated circuit ; ASIC )、或現場可程式規劃閘陣列(field pfogirammable gate array; FPGA)或相類似的裝置。雖然 顯示單一處理裝置710,電腦系統700可具有兩或更多 的處理裝置。 電腦系統700也具有一與匯流排705相連接的系統記 憶器7 2 0,該系統記憶器包含,例如任何適當種類及數 量的記憶器,例如靜態隨機接達記憶器(SRAM )、動態 隨機接達記憶器(DRAM )、同步DRAM ( SDRAM )或倍 資料率(double data rate ) DRAM ( DDRDRAM)。在電腦 系統7 0 0作業的過程中,一作業系統及其他應用可駐留在 系統記憶器7 2 0內。 電腦系統700可另具有一與匯流排70 5相連接的唯讀 記憶器(ROM ) 73 0。ROM 730可儲存用以處理裝置71〇 的指令。系統7 0 0也可具有一與匯流排7 0 5相連接的儲存 裝置7 4 0。儲存裝置7 4 0包含任何適當的常性記憶器, 例如硬碟驅動器。作業系統及其他程式可儲存於儲存裝置 7 4 0內。此外,一用以存取移動式儲存媒介(例如軟碟驅 動器或CD ROM驅動器)的裝置750可與匯流排7〇 5相 -22- 200826827 連接。 電腦系統700也可具有一或更多與匯流排705 的I/O (輸出/輸入)裝置760。一般輸入裝置包 、指向裝置,例如滑鼠、及其他資料輸入裝置,而 出裝置包括視頻顯示器、列印裝置、及聲頻輸出裝 此需強調’上述僅是一些可與電腦系統7 〇 〇相連接的 裝置種類的範例。 電腦系統7 0 0可另包含一與匯流排7 〇 5相連接的 介面770。網路介面770包含可將系統700與一網路 結的任何適當的硬體、軟體、或軟硬體的組合(例如 介面卡)。網路介面7 7 0可藉任何適當的媒介(例如 、銅線、光纖或其等的組合)而與網路建立一連線, 何適當的協定(protocol ),例如TCP/IP (傳輸控制 連網協定)、HTTP ( Hyper-Text傳輸協定)及其他 支持資訊的交換。 在此需指出,圖7所示的電腦系統700僅代表此 具體實施例的一範例,且此系統可具有許多額外的構 爲了方便此處的說明及簡易顯示起見,該等構件經被 。舉例言之,系統700可具有一 DMA (直接記憶存 控制器、一與處理裝置7 1 0相接的晶片組、額外的記 (例如快取記憶器)、及額外的信號線及匯流排。此 需指出的是,電腦系統700可不需包含圖7所顯示的 構件。電腦系統700可包含任何種類的計算裝置’例 上型電腦、筆記型電腦、伺服器、攜帶型計算裝置( 連接 鍵盤 般輸 。在 I/O 網路 相聯 網路 無線 藉任 協定/ 等來 系統 件, 省略 取) 憶器 外, 所有 如桌 例如 -23- 200826827 個人數位助理或P D A )、無線通訊裝置、娛樂系統等。 在一具體實施例中,電腦系統700具有一依據上述任 一具體實施例而建構的構件。例如,電腦系統7 0 0可具有 冷卻板1 〇〇及歧管板3 00。在一具體實施例中,電腦系統 700具有上述的總成5 00 (其中1C晶粒50可包含處理裝 置 710 )。 上述細節說明及圖式旨在揭示而非限制。其等主要是 爲所揭示的具體實施例提供清晰及容易瞭解的說明,故任 何不必要的限制不應包含在內。精於本藝的人士可認知能 在不脫離所揭示的具體實施例及請求項的精神及範疇下, 對該等具體實施例加以各種添加、刪除、修飾或變更,及 變更配置。 【圖式簡單說明】 圖 1 A是一槪意圖式,顯示一液體冷卻系統的冷卻板 具體實施例的平面圖。 圖 1B是一槪意圖式,顯示圖 1A的冷卻板的前視 圖。 圖1 C是一槪意圖式,顯示圖1 A的冷卻板的側視圖 〇 圖2是顯示圖1 A -1 C的冷卻板與一 Ϊ C晶粒相組合 ,及該冷卻板的一套蓋的具體實施例的正視圖。 圖3 A是一槪意圖式,顯示液體冷卻系統的歧管板一 具體實施例的平面圖。 -24- 200826827 圖3 B是一槪意圖式,顯示圖3 a歧管板的前視圖( 以部分剖面顯示)。 圖3 C是一槪意圖式,顯示圖3 A歧管板的側視圖。 圖3D是一槪意圖式,顯示圖3A-3C歧管板的易碎密 封件的具體實施例。 圖3E是一槪意圖式,顯示圖3A-3C歧管板的易碎密 封件的另一具體實施例(以部分剖面顯示)。 圖4是一槪意圖式,顯示圖3a-3C歧管板的套蓋的 一具體實施例(其中套蓋係以剖面顯示)。 Η 5疋一槪思Η式’顯不具有圖1A-1C的冷卻板及 圖3 A-3C的歧管板的總成的具體實施例。 圖6是一方塊圖,顯示用以組裝一 1C裝置的液體冷 卻系統的方法的具體實施例。 圖7是一槪意圖式,顯示一計算系統的具體實施例 ’該計算系統可具有任何所揭示的液體冷卻系統具體實施 例。 /一 μ 【主要元件符號說明】 5G : 1C晶粒/處理裝置 55 :互連 70 :熱介面材料(TIM)層 1()〇 :冷卻板 110 :本體 1 1 2 :本體的上表面 -25- 200826827 1 1 4 :本體的下表面 150 :流動路徑 1 5 1 :入口充氣部 1 5 2 :入口埠 1 5 3 :出口充氣部 1 5 4 :出口埠 1 5 5 :槽道 156 :壁 160 :第一穿孔元件 165 :管的相對末端 170 :第二穿孔元件 175 :管的相對末端 1 8 0 :固定元件 1 8 7 :唇的表面 1 8 8 :唇的表面 1 9 0 a :本體的上部 190b :本體的下部 2 0 0 :總成 290 :套蓋 292 :本體 295 :上表面 296 :空腔 297 :空腔 3 00 :歧管板 -26 200826827 3 1 0 :本體 3 1 2 :本體的上表面 314 :本體的下表面 3 20 :第一流體槽道 322 :入口 324 :出口 3 3 0 :第一易碎密封件 3 40 :第二流體槽道 3 42 :第二流體槽道的入口 3 44 :第二流體槽道的出口 3 5 0 :第二易碎密封件 3 7 0 :凹部 3 7 5 :預密封元件 3 8 0 :凹部 3 8 5 :預密封元件 4 9 0 :套蓋 492 :本體 495:套蓋的下表面 4 9 6 :易碎密封件的空腔 497 :易碎密封件的空腔 500 :總成 505 :基質 5 1 〇 :熱交換器 5 20 ·_ 泵 200826827 5 3 1 :第一流體管線 5 3 2 :第二流體管線 5 3 3 :第三流體管線 700 :電腦系統 7 0 5 :匯流排 7 1 〇 :處理裝置 7 2 0 :系統記憶器 73 0 :唯讀記憶器(ROM) 740 :儲存裝置 7 5 0 :移動式儲存媒介 760:1/0 (輸出/輸入)裝置 7 7 〇 :網路介面 -28-

Claims (1)

  1. 200826827 十、申請專利範圍 1.一種熱構件,包含: 一本體; 一流體路徑,設置於該本體內,該流體路徑具有一埠 ;及 一穿孔元件,與該埠相連接,該穿孔元件適於打開在 第二構件上的一易碎密封件。 2 .如申請專利範圍第1項的熱構件,其中該埠包含一 入口埠,該熱構件另包含: 一出口埠,設置於該流體路徑上;及 第二穿孔元件,與該出口埠相連接,該第二穿孔元件 適於打開在第二構件上的第二易碎密封件。 3 .如申請專利範圍第2項的熱構件,其中該流體路徑 另包含複數槽道。 4.如申請專利範圍第3項的熱構件,其中該流體路徑 另包含: 一入口充氣部,與各槽道的一末端相連接,且與該入 口埠成流體連通;及 一出口充氣部,與各槽道的一相對末端相連接,且與 該出口埠成流體連通。 5 .如申請專利範圍第1項的熱構件,其中該穿孔元件 包含一圓柱形管,該圓柱形管具有一與該埠相連接的末端 ,及一自該本體延伸出的相對末端,該相對末端具有一有 角的輪廓。 -29- 200826827 6 ·如申請專利範圍第1項的熱構件,另包含一固定元 件,設置於該本體上,該固定元件適於嚙合一插座或一固 持機構。 7·如申請專利範圍第1項的熱構件,其中該第二構件 具有一液體冷卻劑容積。 8 ·如申請專利範圍第1項的熱構件,其中該穿孔元件 係設置於該本體的一表面上’且一積體電路晶粒與該本體 的一相對表面熱聯結。 9·如申請專利範圍第1項的熱構件,其中該穿孔元件 係設置於該本體的一表面上,且一熱散佈器與該本體的一 相對表面熱聯結。 10. —種構件,包含: 一本體; 一流體槽道,設置於該本體內,且具有一埠;及 一易碎密封件,設置於該埠,該易碎密封件與第二構 件的一穿孔元件相嚙合時會被打開。 11. 如申請專利範圍第1 〇項的構件,其中該埠包含一 出口埠,該構件另包含: 一入口埠,設置於該流體槽道上,該流體槽道在該入 口埠及出口璋之間延伸; 第二流體槽道,設置於該本體內,該第二流體槽道在 第二入口埠及第二出口埠之間延伸;及 第二易碎密封件,設置於該第二入口埠上,該第二易 碎密封件在與第二構件的第二穿孔元件相嚙合時會被打開 -30 - 200826827 12.如申請專利範圍第10項的構件,其中該易碎密封 件包含一薄膜,設置於該埠上。 1 3 .如申請專利範圍第1 2項的構件,另包含一形成於 該本體內且設置於該埠的凹部,其中該薄膜係設置於該凹 部內。 14.如申請專利範圍第13項的構件,另包含一設置於 該凹部內的預密封元件,該預密封元件在該穿孔元件嚙合 該薄膜前,先嚙合該穿孔元件。 1 5 .如申請專利範圍第1 2項的構件,其中該薄膜包含 一材料,由包含氟化乙烯丙烯(FEP )、聚氯三氟乙烯( PCTFE )、鋁、鋁合金、銅及銅合金的群組中選出。 16.如申請專利範圍第1〇項的構件,另包含一流體冷 卻劑容積,設置於該流體槽道內。 1 7.如申請專利範圍第1 〇項的構件,其中一流體冷卻 系統係與該流體槽道成流體連通,該流體冷卻系統具有一 泵及一熱交換器。 1 8 . —種方法,包含: 提供具有一穿孔元件的熱構件,該熱構件與一積體電 路晶粒相連接; 提供具有一易碎密封件的流體系統構件,該流體系統 構件容裝有一流體冷卻劑容積;及 將該穿孔元件插入該易碎密封件內以打開該易碎密封 件,及在該熱構件及流體系統構件之間建立流體通路。 -31 - 200826827 1 9.如申請專利範圍第1 8項的方法 件固定至該流體系統構件。 20_如申請專利範圍第19項的方法 及該易碎密封件之間的嚙合將該熱構件 構件。 2 1 ·如申請專利範圍第1 8項的方法 有第二穿孔元件,而該流體系統構件 件,該方法另包含將該第二穿孔元件插 件內以打開第二易碎密封件的步驟。 22.如申請專利範圍第18項的方法 電路晶粒聯結至一基質的步驟。 2 3 .如申請專利範圍第1 8項的方法 有一鄰近該積體電路晶粒設置的流體路 流體路徑的流體冷卻劑將該晶粒所產生ί 24.如申請專利範圍第18項的方法 構件與具有一泵及一熱交換器的的流體 且其中該流體冷卻系統具有一額外的流彳 2 5 .如申請專利範圍第1 8項的方法 冷卻系統的至少另一構件與該流體系統 〇 2 6 . —種總成,包含: —冷卻板’該冷卻板包含具有 》llj 該流體路徑相連接的第一穿孔元件 '及 接的第二穿孔元件;及 ,另包含將該熱構 ,其中該穿孔元件 固定至該流體系統 ,其中該熱構件具 具有第二易碎密封 入該第二易碎密封 ,另包含將該積體 ,其中該熱構件具 徑,且其中流通該 的熱加以移除。 ,其中該流體系統 冷卻系統相連接, 體冷卻劑容積。 ,另包含將該流體 構件相連接的步驟 體路徑的本體、與 與該流體路徑相連 -32- 200826827 一固定至該冷卻板的歧管板,該歧管板具有一本體、 設置於該本體上的第一易碎密封件、及設置於該本體上的 第二易碎密封件; 其中該第一及第二穿孔元件經分別打開該第一及第二 易碎密封件,而在該歧管板及冷卻板之間建立流體通路。 2 7 .如申請專利範圍第2 6項的總成,其中該歧管板係 藉該第一穿孔元件與第一易碎密封件之間的嚙合、及該第 二穿孔元件與第二易碎密封件之間的嚙合而固定至該冷卻 板。 28. 如申請專利範圍第26項的總成,另包含一與該冷 卻板相連接的積體電路晶粒。 29. 如申請專利範圍第28項的總成,另包含一與該積 體電路晶粒相連接的基質。 3 0.如申請專利範圍第26項的總成,另包含: 一與在該歧管板上的第一流體槽道成流體連通的泵, 該第一易碎密封件係設置於該第一流體槽道的一出口處; 及 一與在該歧管板上的第二流體槽道成流體連通的熱交 換器,該第二易碎密封件係設置於該第二流體槽道的一入 口處。 3 1 .如申請專利範圍第26項的總成,其中該冷卻板另 包含: 複數設置於該流體路徑內的槽道; 一入口充氣部,與各槽道的一末端相連接,且與該流 -33- 200826827 體路徑的一入口埠成流體連通,該第一穿孔元件係設置於 該入口埠處;及 一出口充氣部,與各槽道的一相對末端相連接,且與 該流體路徑的一出口埠成流體連通,該第二穿孔元件係設 置於該出口埠處。 -34-
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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006156711A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Mitsubishi Electric Corp パワー半導体モジュールの冷却システム
US20060231237A1 (en) * 2005-03-21 2006-10-19 Carlos Dangelo Apparatus and method for cooling ICs using nano-rod based chip-level heat sinks
EP2065935B1 (en) * 2006-09-19 2017-11-29 NEC Corporation Cooling apparatus
US20100187682A1 (en) * 2006-09-21 2010-07-29 Damaruganath Pinjala Electronic package and method of assembling the same
US8064197B2 (en) 2009-05-22 2011-11-22 Advanced Micro Devices, Inc. Heat management using power management information
US10126356B2 (en) * 2009-11-30 2018-11-13 Essai, Inc. Systems and methods for conforming test tooling to integrated circuit device with whirlwind cold plate
US20110186267A1 (en) * 2010-02-01 2011-08-04 Suna Display Co. Heat transfer device with anisotropic thermal conducting micro structures
FR2978872B1 (fr) * 2011-08-01 2016-01-15 Valeo Sys Controle Moteur Sas Dispositif comportant un substrat portant au moins un composant electronique et une piece dans laquelle est menage un espace interieur apte a recevoir un fluide de refroidissement
US9507391B2 (en) * 2011-11-28 2016-11-29 Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. Heat sink with orientable fins
US9210831B2 (en) 2013-04-15 2015-12-08 International Business Machines Corporation Separable and integrated heat sinks facilitating cooling multi-compnent electronic assembly
TWM468013U (zh) * 2013-07-18 2013-12-11 Pram Technology Inc 電子業製程共用式可拆裝替換之打線熱板
WO2017127109A1 (en) * 2016-01-22 2017-07-27 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Routing a cooling member along a board
US20170229377A1 (en) * 2016-02-04 2017-08-10 International Business Machines Corporation Liquid manifold structure for direct cooling of lidded electronics modules
US9848515B1 (en) 2016-05-27 2017-12-19 Advanced Micro Devices, Inc. Multi-compartment computing device with shared cooling device
US10770372B2 (en) 2016-09-23 2020-09-08 Altera Corporation Fluid routing devices and methods for cooling integrated circuit packages
US10964624B2 (en) 2017-01-26 2021-03-30 Intel Corporation Techniques for fluid cooling of integrated circuits in packages
US10818894B2 (en) 2017-11-07 2020-10-27 Ford Global Technologies, Llc Battery component with a flow path
US10790488B2 (en) 2017-11-07 2020-09-29 Ford Global Technologies, Llc Battery enclosure with protective fin
US10939592B2 (en) * 2019-06-14 2021-03-02 Intel Corporation Liquid cooling system with sub atmospheric pressure coolant
CN110557931B (zh) * 2019-08-30 2020-12-08 华为技术有限公司 车载设备和车辆
US11729944B2 (en) * 2021-05-21 2023-08-15 Quanta Computer Inc. Cold plate with anti-clogging mechanism
US11622471B2 (en) * 2021-06-24 2023-04-04 Quanta Computer Inc. Cooling method for a cold plate module
KR102576178B1 (ko) * 2021-07-14 2023-09-07 주식회사 티에스이 테스트 소켓, 그 테스트 소켓을 포함하는 테스트 장치, 및 그 테스트 소켓 제조방법
US20230075362A1 (en) * 2021-09-08 2023-03-09 Baidu Usa Llc Cooling plate with coaxial fluid port
US11910578B2 (en) * 2021-09-23 2024-02-20 Contitech Techno-Chemie Gmbh Vehicle electronics cooling systems and methods
US11785746B2 (en) * 2021-09-24 2023-10-10 Baidu Usa Llc Server design with high reliability cooling hardware
US20230189484A1 (en) * 2021-12-15 2023-06-15 Baidu Usa Llc Hybrid system for servers

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6052285A (en) * 1998-10-14 2000-04-18 Sun Microsystems, Inc. Electronic card with blind mate heat pipes
US6578626B1 (en) * 2000-11-21 2003-06-17 Thermal Corp. Liquid cooled heat exchanger with enhanced flow
US7739883B2 (en) * 2001-07-13 2010-06-22 Coolit Systems Inc. Computer cooling apparatus
US7032392B2 (en) 2001-12-19 2006-04-25 Intel Corporation Method and apparatus for cooling an integrated circuit package using a cooling fluid
US20050039880A1 (en) * 2001-12-26 2005-02-24 Scott Alexander Robin Walter Computer cooling apparatus
US6549407B1 (en) 2001-12-27 2003-04-15 Intel Corporation Heat exchanger retention mechanism
US6749012B2 (en) 2002-04-30 2004-06-15 Intel Corporation Liquid cooling system for processors
DE10246990A1 (de) * 2002-10-02 2004-04-22 Atotech Deutschland Gmbh Mikrostrukturkühler und dessen Verwendung
US6953227B2 (en) * 2002-12-05 2005-10-11 Sun Microsystems, Inc. High-power multi-device liquid cooling
US6809928B2 (en) 2002-12-27 2004-10-26 Intel Corporation Sealed and pressurized liquid cooling system for microprocessor
US7126822B2 (en) 2003-03-31 2006-10-24 Intel Corporation Electronic packages, assemblies, and systems with fluid cooling
US7316263B2 (en) 2003-11-19 2008-01-08 Intel Corporation Cold plate
US6992382B2 (en) * 2003-12-29 2006-01-31 Intel Corporation Integrated micro channels and manifold/plenum using separate silicon or low-cost polycrystalline silicon
US6919231B1 (en) * 2004-03-24 2005-07-19 Intel Corporation Methods of forming channels on an integrated circuit die and die cooling systems including such channels
US7071552B2 (en) * 2004-03-29 2006-07-04 Intel Corporation IC die with directly bonded liquid cooling device
US20050225938A1 (en) 2004-04-08 2005-10-13 Richard Montgomery Cold plate
US20060171117A1 (en) * 2004-10-13 2006-08-03 Qnx Cooling Systems, Inc. Cooling system
US7230334B2 (en) * 2004-11-12 2007-06-12 International Business Machines Corporation Semiconductor integrated circuit chip packages having integrated microchannel cooling modules
US7204298B2 (en) * 2004-11-24 2007-04-17 Lucent Technologies Inc. Techniques for microchannel cooling
US7259965B2 (en) 2005-04-07 2007-08-21 Intel Corporation Integrated circuit coolant microchannel assembly with targeted channel configuration
US7317615B2 (en) 2005-05-23 2008-01-08 Intel Corporation Integrated circuit coolant microchannel assembly with manifold member that facilitates coolant line attachment

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