TW200529587A - Optical return loss detecting device - Google Patents

Description

200529587 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明關於-種用於檢測光器件光回損值的光回損計，尤其是關於一 種能夠精確檢測光器件的光回損值、結構緊凑的光回損計。 【先前技術】 一回知（optical return l〇ss，〇rl)是光器件的一個重要指標，它 是指光路中反射回到入射路徑的光能量與入射總光能量的比值 ，單位為 dB光回知用公式可表不為〇RL=1〇ni〇g(pi/），其中

Pi為入射光的 光能，Pr為反射光的光能。光回損會減弱激光器的性能，而且光在光路中 的夕人折反射曰相互干涉，還會影響到光信號的質量，使噪音⑽從)增 加决碼率增大。光讀的回損一般來源於端面反射反射）和材 料背向散射（Rayleigh背向散射）。 降低回躺方法通常是_鱗纽的界面，但這财法只能降低界 面k成的喃對其他因素如光栅反射造成的喊無效。第讀15935〇.7 號中國么月專利申明公開了—種低回損钱刻衍射光柵波分復用器，包括輸 入波導、輸出波導、侧光柵和自由傳觀域。將其顧於波分復用系統 中’可提南其回損性能。 有些光器件是光回損值越低越好，但在有些情況下卻需要高回損值， 如美國專利祕，221’839中所揭示的光接收器，其旨在避免擾動主動光器 件，如分散反饋式激光光源(disMbuted知！贿⑹。當將 光接收_於測量糊帶寬的光波元件測量魏巾時，高的細損值還可 用於減少測量失配的不確定性。 200529587 在高密度光傳輸系統中，通常需要提供專門的裝置用於檢測光回損， 以監測系統的傳輸狀況。由於光傳輸系統係在單一的介質（例如光纖）上 沿多個波長的光通道傳輸信號；所傳輸的信號各具有不同的波長，亦可能 會通過不同的光路和設備。而且，即使基於各光路，每個信號的反射量也 會各不相同。針對特定波長來隔離其光回損，可提高該光傳齡統的谓誤 能力，從而得以報告基於某一波長的信號傳輸的過度的光回損量。光回損 可在光放大器，如摻铒光纖放大器（ErbiumD〇pedFiberAmplifien edf〇 輸出端的增量級上來檢測。 · 目前，光通訊巾測量光回損駐要方法（其原理如第—騎示），簡單 地說’就是光源（light source)加上能量測量儀(power _er)共同與一個 待測裝置(device-under-test，DUT)連接，再分剩得光源出射光的功率 和經過待測裝置後由光電二极體所接㈣反射光的功率，相除取對數即得 相應的回損值。 對從某ϋ件反射的光的能量_量通f可制_個鱗域反射儀 (optical time domain reflectometer，_)來實現，光時域反射儀向 光纖發出光脈衝，並測量沿該制光纖返_信號。伽树域反射儀來 測量反射光能是-鮮確的方法，但其健轉，而且其為—雜大的測 試設備’因而並不是適合所有的場合，如對自光纖端面的反觀能的測量。 另外，還有光頻域反射儀（。曲al freq_y taain时丨咖齢机 0FDR)來檢測光路中可能出現的錯誤。_光頻域反射儀來測量反射光能 時，其光頻較變化的’並制光-致性檢測法，或者枝過制一種頻 200529587 率掃瞄式的定幅基調來調制一光源。 吴國專利USP5, 822, 094揭示了—種測量光回損的技術，其係基於多個 波長的平均值來檢測相應的回損值，但該專利技術不能用於檢測基於單一 波長的光回損量。而美國專利usp 6,58〇,498 (下稱‘视號專利）則公開 了-種用於光傳輸系統的光回損檢測裝置及所採用的檢測方法及其裝置。 該‘498號美國專利的檢測裝置係用於檢測設於光傳輸系統中的光電路包 輸出端的光回損量，其乃基於單—波長來檢繼光電路包輸出端的光回 損，其中該光電路包採用了光開關。 件美國專利USP 6,111,676亦揭露了-種基於單一波長來檢測光 回知的波置其波長特定光反射測量儀（A騰他呢也印⑺出c 〇如^ reflection meter)係設於一個特定波分復用系統(si_tu^_ength division multiplexed systems)。但該波長特定光反射測量儀要求在每一 皮長上有個待測光放大器已知的唯一㈤卿）強度的抖動，此即使得 對於未知波長縣說，其上述唯—強度抖_信息縣未知的或者报難來 獲知。 另外’中國實用新型專利ZL02229282· 9則是通過-種光通信用的線上 監視I置來檢測相應的光回損。該線上監視裝置係由現有的光傳輸設備改 、而成純铋在於·在光傳輸設備的光輸入端連接一個耗合單元，在該 單凡中。又置個（1χ2型）光義合器，其（1χ2型）光纖叙合器的輸 出路連接光傳輸設備，另一路連接設置在光傳輸設備中的光傳輸測試裝 置U插板、核組）上。該裝置可在線上測試光傳輸設備中的光回損、光 200529587 功率、光波長和靡，並將測試值送到光傳輸谢纟鳴統的工作站， 再利用網管的監視系統顯示光學測試内容。 但在實__財，由於人觀和反射光的_目差比較大，反 射光可咖_綱_咖，咖日撕爾和反射光的 功率’還需要巧妙地設計相應的測量光路。 【發明内容】 本餐明的弟-目的在於提供—種能夠精確測量光器件光回損值的光回 損計。 · 本t明的弟一目的在於提供一種光回損計，其所採用的電路結構緊 湊，可減少光雜訊干擾。 μ …本Μ的弟二目的在於提供—種光回損計，其設有直接與統連接的 先^離益’可防止反射回來的光線再進人光源，從而避免了光源輸出光對 光源穩定性的不利影響。 計 本U的第四目的在於提供—種具有光插人損耗量測功能之光回損 本^月的紅目的在於提供_種光時域反射儀，用以量測光傳輸系統 中距離光源—特定距離處之某依特定光界面或元件的光反射值，以測定該 光界面或仏件以處於正常的工作雜。 人 =、述目的本魯明光回損計，包括光源、連接至該光源的光隔 、接至该光隔離器的第-光輕合器、與該第-光_合器相連的第二 _合器和-個檢測運算功能模組，第二_合器連接至—待測光器件。 200529587 a亥光源為* 雷射光源。 該光隔離器連接至第-光齡器的第一端、第-光_合器的第三端連 接至該檢測運算功能模組，第—光耦合器的第四端連接至第二光麵合器的 第-端’第二光_合_第二端連接至該檢測運算功能模組，第二光搞合 器的第三端連接至該待測光器件。 其中，第一光耦合器第三端和第四端的分光比為1:99，第二光耦合器 第二端和第四端的分光比則無比例限制，可為8G:2G或50:50。 该檢測運算功能模組包括依:欠相互連接的光测裝置、運算放大裝 置、繼電控制裝置和微控制單元。該微控制單元具冑2偷AD採集功能。 该微控制以還分別連接至—舰晶齡裝置和—健減_(個人電 腦）· 4微控制單元係通過一個RS—232接口連接至數值處理器。 顧電控制裝置包括第_、第二和第三繼電器，第—繼電器的輸入端 與運异放大裝置的輸出端相連，第二和第三繼電器的輸人端分別與第一繼 電的的第和第二輸出端相連。第一、第二和第三繼電器係分別通過對應 的I/O 口來對其施加相應的電壓。 忒、’fe電控制裝置還包括一個電容器，其一端與第一繼電器的輸入端相 ，罘―、弟二、第三和第四電阻器，這四個電阻器的一端共同連接至 則述電4态遠離第一繼電器的另一端；其中，第一和第二電阻器遠離電容 ^的另一端分別連接至第二繼電器的第一和第二輸出端，第三和第四電阻 的遠離電各态的另—端分別連接至第三繼電器的第一和第二輸出端。 5亥電容器的一端分別與第一繼電器的輸入端和運算放大裝置的輸出端 200529587 相連’另-端分難運算放大裝置的第―輸人端和絲職置的輪出端相 連。 該光探測H的輸出端連接至運算社裝置的第—輸人端，運算放大 裝置的第二輸入端接地;該光探測裝置的輸入端與運算放大裝置的第二輸 入端的電勢差可設為-5V。 該檢測運算功能模_光探測裝置包㈣—和第二光探測器，運算放 大裝置包括第-和第二運算放Α||。其中第—光探測器的輸人端連接至第 -光搞合器的第三端，輪出端連接至第—運算放大器的輸人端；第二光探測 裔的輸入端連接至第二光轉合器的第二端，輸出端連接至第二運算放大器 的輸入端。 該檢測運算魏模_包括分別設於運算放大裝置和該微控制單元之 間的類比數位轉換U，電容器與第—繼電器的輸人端和運算放大裝置的 輸出知相連的-端還與該類比紐雛裝置相連。 摘比數位轉換裝置包括第—和第二類比數位轉換器，其輸入端分別 與第-和第二運算放大器的輪出端相連，用於將類比信號轉換為數位信號 輸入顧&制單凡’而輸人端皆連接至該微控制單元。 本U光則胃4在測$微弱的反射光時，採㈣態繼電器來代替類比 開關使開關的導通電阻接近為零，使得光信號轉換為電信號時線性性能 更好，從而得以提高測量的精度。 —本發明弟-_合器的分光比選擇設定為L，第二光耗合器第三端 寺第四光比則無_定比例限制，可為或如:印，使回損值的高 200529587 測量精度得以保證。 本發明在其雷射辆與第—光_之間加設-絲_，可防止 自光路上反射回來的光線進人該雷射光源，從而保證了絲、輸出光的穩定 !·生本么月通過遠用内冑24blt AD採集功能的微控制單元，可以使整個 光回損計的結構更加緊凑，並可減少其内各器件間的相互干擾。 本發明若將第二光網移去，並將第，合賴四端作為待測

裝置的輸人端’而將待測裝置的細端連接至第二光探測器，還可以使得 本發明具有測量光插入損耗功能。 再加上相應的與時間相關的設置，則可將 如果將發射光改爲光脈衝 本發明光回損計改進成光時域 · A 汉射儀（optical time domain reflectometer，OTDR)，用以量測井值於备妓士叱灿τ 里〗尤得輸糸統中距離光源一特定距離遠處， 某-特定光界面或元件的歧雜，以_絲界面或光元件是否處於正 常的工作狀態。 【實施方式】 現結合測書_ ’對本刺光簡計1及其具體顧實猶進一步 詳細說明。 請參閱第1 ’所福本發明細損計丨的原理示意圖。本發明光回 損計1包括統20、連接至該光源2G的光隔離器（isGiatQr)2卜連接至該 光隔離器21的第-綠合器（叫ler)22、與該第—光耗合器⑽目連的第 二光耗合器24和-個檢測運算功能模組1〇，第二光耗合器24連接至一待 測光器件(d_e-under-test，_2。該光源2Q為—雷射光源（1_ 11 200529587 diode, LD) 〇 该光隔離為21連接至第-光輕合器&的第一端1〇1，第一光躺合 器22的第三端1〇3連接至該檢測運算功能模組1〇，第一光柄合器，22的 第叫104連接至第二光麵合器24的第一端201，第二光耦合器24的第 一立而202連接至該檢測運算功能模組1〇，第二光麵合器％的第三端2〇3 連接至该待測光器件32 ;而第二光|馬合器24的第二端可直接通過繞接方 式使其損耗掉。 第一光耦合器22的第三端1〇3和第四端1〇4的分光比為ι··99,第二光春 耦合為24第二端203和第四端204的分光比無一定比例限制，可為8〇:2〇 或 50:50 〇 睛同時苓閱第三圖，該檢測運算功能模組1〇包括依次相互連接的光 探測裝置(PhotoDiode，PD) 12、運算放大裝置.（Operati〇nal Amplifie；f， OP)) 26、類比數位轉換裝置（Analog-digital Conversion，AD) 15、繼 電控制裝置(Relay) 27和微控制單元(Micro-control-unit，MCU) 28。节 微控制單元28具有内設的24bit AD採集功能。該微控制單元28還分鲁 別連接至一液晶顯示裝置(Liquid Crystal Device，LCD) 29和一個人電腦 (Personal Computer，PC) 30 ;該微控制單元28係通過一個rS—232接 口連接至個人電腦30。 該繼電控制裝置27包括第一、第二和第三繼電器271、272、打3 第一繼電器271的輸入端與運算放大裝置26的輸出端相連，第二和第一 繼電器272、273的輸入端分別與第一繼電器271的第一和第二輪出#相 12 200529587 連。第一、第二和第三繼電器271、272、273係分別通過對應的1/〇 口 來對其施加相應的電壓。 該繼電控制裝置27還包括一個電容器（以卿恤，c)饥，其一端 與第-繼電器271的輸入端相連；及第一、第二、第三和第四電阻器 (Resistor ’ R)275、276、277 和 278。這四個電阻器 275、276、277 和 278 的-端共同連接至刖述電容器274遠離第-繼電器271的另-端；其中 第-和第二電阻器275、276遠離電容器274的另一端分別連接至第二繼 包為272的第一和第二輸出端，第三和第四電阻器π、π8遠離電容器魯 274的另-端分別連接至第三繼電器⑽的第一和第二輸出端。 该運算放大裝置26的輪出端除與電容器m相連之外，另分接一路 作為該繼電控織置27的輪出，送至類比數轉敏置15。電容器274 遂離第-繼電器271的-端除與四個電阻器275、276、277和278相連 外’退接至運算放大裝置26的第一輸入端和光探測裝置12的輸出端，作 為反饋4 4運异放大裳置26的第二輸人端接地，且該光探測器的輪 入端與運算放大裝置26的第二輸入端之間的電勢差可為—Μ。 · 第四圖所示為本發明光回損計1的檢測運算功能模組10的-個具 體貫施方案。該方案中，該檢測運算功能模組10㈣光探測裝置12包括第 一和第二光探測器23、25;運算放大裝置26包括第一和第二運算放大器 2 中弟光探測裔23的輸入端連接至第一光輕合器22的第 三端103 ’輸出端連接至第-運算放大器260的輸入端；第二光探測器25 的輪入端連接至第二光輕合器24的第二端2〇2，輸出端連接至第二運算放 13 200529587 大器262的輪入端。 /運蝴触1G軸她吨放繼26和卿 制单元28之間的類比數位轉換裝置&該類比數位轉換裝置15包括第工 -和弟-類比數位轉換裝置⑽、152，其輸入端分別與第_和第二運曾放 大器·、262的輸出端相連’用於將類比信號類比信號轉換為數位信號 輸入该微控制單元％。楚一$结―* 弟一和弟二類比數位轉換裝置15〇、152的輸出端 皆連接至該微控制單开98。#士 剌早π 28。其中，_電控繼置27的輪出端與第二類 比數位轉換器152相連。 、 據此，本發明光回損計的工作原理可以簡述如下··光源2〇發出的出射 光先經過絲離器2卜形成光路①。再通過第—細合器以分為兩部分 “自’、第—彳帛四^⑽、1Q4輸出形成光路②、③；其中光路②直接接 到第-光探測ϋ 23上，再經過運算放大裝置26送到微控制單元犯中； 另口I5刀光則攸光路③通過第二光耦合器24分為兩部分光，並分別從第 二光搞合器24的第三和第四端2〇3、綱輸出，形成光路④和⑤。其中 光路④接到待測裝置32上，光路⑤經繞圈讓它損耗掉。 由於待測裝置32反射的結果，反射光從光路④被第二光耦合器24反射 至光隔離器21，即被隔離掉不會再反射到光源2〇;另一部分則經反射後形 成光路⑥，並被輸入到第二光探測器25上，將光信號轉換為電流信號， 並經過運算放大裝置26的第二運算放大裝置262將電流信號轉換為電壓 信號’再經過繼電控制裝置27換到合適的檔後，送入微控制單元28。同 時’自光路②輸出到第一光探測器23上的光，被轉換為電流信號後，亦 200529587 再被送到該運算放大裝置26的第-運算放大裝置26〇將電流信號轉換為 電壓信號後，送入微控制單元28。 同時參閱第三圖，通過控綱電控制裝置27的第二和第三繼電器 272、273，根據需要選擇與對應的第―、第二、第三或第四電阻275、跳、 277、278分別接通’可實現其向第—類比數位轉換器152_)選擇四楷 不同的電流值的輸出。 其中，第一、第二、第三和第四電阻器的電阻值可以分別為棚歐姆、 腦歐姆、1M歐姆和5⑽歐姆，成5〇倍遞增的關係，以實現對第二類 比數位轉換器152的控制。而第一類比數位轉換器15〇的值主要用於監 控光源功率是否變化，然後起到修正檢測值的作用。 由運算放大裝置26轉換後的電壓信號，先通過類比數位轉換裝置 15 ’將舰錄無為數健驗，槪到健鮮元28巾。微控制單 過計算第-和第二類比數位轉換器· 152兩路難集的電壓 到制裝置32 #前的光喃值，驗讀㈣液晶顯示裝 置29進仃顯示’並通過 接口將相關信息送到數值處理器3〇中。 另外，通過簡單地改變本菸 口口 搞人哭'回損計1的相關光路，例如將第二光 耦口 σσ 24移去，並將第一光 卜 # — ° °° 22的細端作為待測裝置32的輸入 知，而將待測裝置32的輸出端連接 明具有測量光插人損耗雜。 ’啊錢得本發 而且’如w咖爲蝴，再應 『 則可將本發明光回損 、。文進成光時域反射儀—㈣tlme domain 200529587 refiectometer ’ _)，用以量測光傳輸系統中距離光源一特定距離遠處、 某-特定光界面或元件的光反射值，以測定該光界面或光元件是否處於正 常的工作狀態。 本發明光回損計1在測量微弱的反射光時，採用固態繼電裝置^來代 替傳統的航關，個_導通雜接近鱗，使得光錢職騎信. 號時的線性性能更好，從而得以提高測量_度。本發明第―和第二雜 合器22、24的分光比分別選擇設定為99:1和8〇:2〇，使回損值的高測量精 度得以保證。 本毛月在其雷射光源2G與第-光麵合器22之間加設_個光隔離器 21，可防止從其光路上反射回來的光線再進入該雷射光源2〇，從而保證了 光源20輸出光的穩定性。另外，本發明通過選用内帶腿七aD採集功 能的微控鮮元28，可以使整個細損計1的結構更加緊凑，並可減少其 内各Is件間的相互干擾。

【圖式簡單說明】 I 第圖揭不一種測置光回損的現有技術的原理示意圖； 第二圖是本發明的原理示意圖； 第一圖疋本發明中繼電裝置控制放大倍數的工作原理示意圖； 第四圖疋第一圖中板組10的具體實施方案原理示意圖。 16

Claims (1)

1. 200529587 拾、申請專利範圍： 卜-種光簡計，包括光源、連紅該 隔離器的第-雜合器、與該第—”、㈤離。。、連接至该光 測運算功能模組，該第二光搞合器連接二相連:第二光輕合器和一個檢 待測1置。 2·如申請專利範圍第丨項所述 -光翻八哭叫貝計，其中該光隔離器連接至第 先耦合為的弟一端，第一光耦合 矛 植，第一朵隸人抑认— 、弟二鳊連接至該檢測運算功能模 、、、弟«馬⑼的弟四端連接至第 元耦合斋的弟一端，第二氺刼人哭 的第二端連接至該檢晴算魏模纟I 口1711 測光器件。 雜合⑽第三料接至該待 •如申請專利範圍第2項所述的光 回損計，其中第-光_合器第三端 和第四端的分光比為1 : 99。 4·如申請專利範圍第3項所述的光 和第四端的分光比為8〇 : 20。 5 .如申請專利難第3項所述的光回損計， 和第四端的分光比為5〇 : 50。 6·如申請專利範圍第2項所述的 九口知汁，其中該檢測運算功能模組 包括依次相互連接的光探測裝置、運算放大裝置、 ‘回損計，其中第二光耦合器第三 端 其中第二光耦合器第三端 〇〇 一 早兀 繼電控制裝置和微控制 / :辦利範_項所述的光回損計，其中該繼電控制裝置包括 弟、弟一和弟二繼電器，第一繼電器的輸入端與運算放大裝置的輸出端 相連帛第—繼電$、的輸人端分別與第—繼電器的第—和第二輸出端 相連。 17 200529587 8 士申叫專利範圍第7項所述的光回損計，其中該繼電控制裝置還包 括-個電容$ ’其—端分別與第_繼電器的輸人端和運算放大裝置的輸出 端相連，另-端分顺運算放缝置的第—輸人端和光探測裝置的輸出端 相連。 、9.如申請專利範圍第8項所述的光回損計，其中該光探測裝置的輸出 端連接至運算放大裝置的第_輸人端，運算放大裝㈣第二輸人端接地。 10.如中請專利翻第9項所述的細損計，其中該光探測裝置的輸 入端與運算放大裝置的第二輸人端的電勢差可設為—5ν。 π ·如申請專利細第丨_述的細損計，其中該繼電控制裝置進 ―:包括第-、第二、第三和第四電阻器，這四個電阻器的—端共同連接 切述電容II遠離第-繼電㈣另—端；其中第―和第二電阻器遠離電容 =另—端分別連接至第二繼電⑽第—和第二輸出端，第三和第四電阻 ，離電容器的另-端分別連接至第三繼電器的第—和第二輸出端。 12 .如申請專利範圍第U項所述的光回損計，其中第一、第二第二 ^四電阻器的電阻值成倍遞增的關係，㈣现对數模轉換裝置_傭 制0 U ·如申請專利範圍第12項所述的光回損計， Ju/u 其中第一、 第二、第三 不口弟四電阻器的電阻值係成50倍遞增。 U ·如申請專利範圍第13項所述的光回搞計， 其中第一、 第二、第三 不口弟四電阻器的電阻值可以分别為400欧、2〇κ欧 、1Μ欧和50Μ欧。 15 ·如申請專利範圍第η項所述的光回損計， 其中第一、 第二和第三 18 200529587 繼電器係分別通過對應的ι/ο 口來對其施加相應的電塵。 16 .如申請專利範圍第8項所述的光回損計，其中該檢測運算功能模 組的光探測裝置包括第一和第二光探測益，運算放大裝置包括第一和第二 運算放大器。 17 ·如申請專利範圍第16項所述的光回損計，其中第一光探測器的輸 入端連接至第一光耦合器的第三端，輸出端連接至該運算放大器；第二光 楝測為的輸入端連接至第二光柄合器的弟一端，輸出端連接至該運算放大 器。 . _ 18 ·如申請專利範圍第17項所述的光回損計，其中第一光探測器的輸 出立而連接至弟一運异放大器的輸入立而，弟_光探測器的輪出端連接至第一 運算放大器的輸入端。 19 ·如申請專利範圍第18項所述的光回損計，其中該檢測運算功能模 組還包括分別設於運算放大裝置和該微控制單元之間的類比數位轉換裝 置。 20 ·如申請專利範圍第19項所述的光回損計，其中電容器與第一繼電籲 器的輸入端和運算放大裝置的輸出端相連的一端還與該類比數位轉換裝置 相連。 2；1 ·如申請專利範圍第20項所述的光回損計，其中該類比數位轉換襄 置包括第一和第二數模轉換器，其輸入端分別與第一和第二運算放大哭的 輸出端相連，用於將模擬信號轉換為數字信號輸入該微控制單元，輸入端 皆連接至該微控制單元。 19 200529587 22 ·如申請專利範圍第21項所述的光 回損計， 端和第四端的分光比為1 ·· 99。 其中第一光耦合器第， 23 ·如申請專利範圍第22項所述的光回損，， 端和第四端的分光比為80 ·· 20。 其中第二光耦合器第j 24·如申請專利範圍第22項所述的光丨 端和第四端的分光比為50 : 50。 25·如申請專利範圍第6項所述的光回損計， 24bit AD採集功能。 26·如申請專利範圍第項所述的光 一雷射光源。 4。十，其中第二光_合器第 其中該微控制單元具有 回損計，其中該光源為 27 ·如中請專利範圍第}或2或6項所述 單元還分別連接至-個液晶顯示裝置和—個數值處理=，其中該微控制 28 .如申請專利範圍第21項所述的光回損計，其^微控制單元通過 一個RS-232接口連接至計算機。 29 · -種量測光ϋ件的量曝器，包含有光源、連接至該光源的一光 耦合器、與絲胸糊箱置和—_啦權組，其中該 先源連接至光齡㈣第-端，光齡器的第三端連接至馳測運算功能 模組，而光齡器的第四端連接至該待測裝置的輸人端，而該檢測運算功 能模組再連接至該待難置的輸出端，如此即可以用來量麟待測裝置的 插入損失。 30 . -種量測光傳輸通路的光學性質的量測儀器，包含有可以發出光脈 20 200529587 _光源=連接至該光源的光隔離器、連接至該光隔離㈣第一光輕合 …第純合$相連的第二綠合器和—個檢測時間響應的檢測 運才力^^組n雜合器連接至前述的光傳輸通路；其中該光隔 離杰連接至第-光搞合H的第_端，第—光齡器的第三端連接至該檢 測運算功能模組，第-光輕合器的第四端連接至第二練合器的第一 端’第二光_合器的第二端連接至該檢測運算功能模組，第二光柄合器 的弟二jf而連接至該光傳輪通路。

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