แก้ไขบทสรุปการประดิษฐ์ 14/9/2558 ขนาดของเครื่องได้รับการลดลง, และแนวอ่านแบบเชิงเส้นสำหรับการอ่านพื้นที่ตรวจ พิเคราะห์ได้รับการก่อขึ้นรูปเพื่อปรับปรุงความแม่นยำในการคัดเลือกให้ดีขึ้น เครื่องสร้างภาพ 12 สำหรับการตรวจพิเคราะห์ผลิตภัณฑ์บกพร่องหรือการปนเปื้อนของ สารแปลกปลอมในขณะที่วัสดุได้รับการขนส่ง, เครื่องสร้างภาพ 12 ซึ่งรวมถึงระบบเชิงแสงเพื่อการ สร้างภาพ 32, โดยที่ตัวสะท้อนแสง 28, 29, 30 และ 31 จำนวนหนึ่งสะท้อนแสงกลับจากพื้นที่ตรวจ พิเคราะห์ K, และอุปกรณ์สร้างภาพ 33 และ 34, ซึ่งบนแต่ละอุปกรณ์นี้ก่อเกิดภาพเชิงแสงของ วัสดุที่นำทางผ่านระบบเชิงแสงเพื่อการสร้างภาพ 32 , และท่ามกลางตัวสะท้อนแสง 28, 29, 30 และ 31 จำนวนหนึ่ง ในระบบเชิงแสงเพื่อการสร้างภาพ 32, อย่างน้อยคู่หนึ่งของตัวสะท้อนแสง 28 และ 30 แต่ละตัวรูปทรงพื้นผิวแบบโค้งเว้า ------------------------------------------------------------------------------------------ คำขอใหม่ปรับปรุงวันที่ 12/04/2559 ขนาดของอุปกรณ์ได้รับการทำให้ลดลง และแนวมองเห็นตามระยะยาวสำหรับการมองเห็น พื้นที่การตรวจสอบได้รับการก่อรูปขึ้นเพื่อการแก้ไขความถูกต้องในการเลือก อุปกรณ์การสร้างภาพ 12 สำหรับการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ไม่ปกติหรือการปนเปื้อนของวัตถุ จากที่อื่นในขณะที่วัสดุได้รับการขนส่ง อุปกรณ์การสร้างภาพ 12 ซึ่งรวมถึงระบบการสร้างภาพเชิง แสง 32 ที่ซึ่งแผ่นสะท้อนแสงจำนวนหนึ่ง 28,29,30, และ 31 สะท้อนแสงกลับจากพื้นที่การ ตรวจสอบ K และอุปกรณ์สร้างภาพ 33 และ 34 ภาพเชิงแสงของวัสดุที่ถูกนำผ่านระบบสร้างภาพ เชิงแสง 32 ได้รับการก่อรูปขึ้นบนแต่ละอุปกรณ์สร้างภาพ และในระหว่างแผ่นสะท้อนแสงจำนวน หนึ่ง 28,29,30,และ 31 ในระบบสร้างภาพเชิงแสง 32 อย่างน้อยคู่ของแผ่นสะท้อนแสง 28 และ 30 ที่ มีพื้นที่ผิวเป็นสัญฐานเว้าInvention Summary Amendment 14/9/2015 The size of the apparatus has been reduced, and a linear reading line for reading the inspection area has been formed to improve the selection accuracy. The imager 12 for detecting defective products or foreign material contamination while the material is in transit, the imager 12 including an imaging optical system 32, wherein plurality of reflectors 28, 29, 30, and 31 reflect light back from the inspection area K, and imaging devices 33 and 34, each of which forms an optical image of the material guided through the imaging optical system 32, and among the plurality of reflectors 28, 29, 30, and 31 in the imaging optical system 32, at least one pair of reflectors 28 and 30 each have a concave surface shape. ------------------------------------------------------------------------------------------ New application updated 12/04/2016 The size of the apparatus has been reduced, and the longitudinal line of sight for viewing An inspection area is formed to correct the selection of imaging devices 12 for inspection of abnormal products or contamination of objects from elsewhere while the material is being transported. The imaging device 12 includes an optical imaging system 32 wherein plurality of reflectors 28,29,30, and 31 reflect light back from the inspection area K and imaging devices 33 and 34. An optical image of the material being transported through the optical imaging system 32 is formed on each imaging device, and between the plurality of reflectors 28,29,30, and 31 in the optical imaging system 32 at least a pair of reflectors 28 and 30 having concave surface areas.