TH68690B -
X-ray diffraction tester And how to measure the x-ray diffraction value
- Google Patents
X-ray diffraction tester And how to measure the x-ray diffraction value
Info
- Publication number
- TH68690B
TH68690B
TH1601004437A
TH1601004437A
TH68690B
TH 68690 B
TH68690 B
TH 68690B
TH 1601004437 A
TH1601004437 A
TH 1601004437A
TH 1601004437 A
TH1601004437 A
TH 1601004437A
TH 68690 B
TH68690 B
TH 68690B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- ray diffraction
- measure
- tester
- value
- diffraction value
- Prior art date
Application number
TH1601004437A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH166357A
(en
Inventor
เอโอยามะ
โตโมฮิโระ
โนโระ
คัตสึมิ
ยามาดะ
ฮิซาโตะ
Original Assignee
นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นาย จักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นาย จักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์ นายบุญมา เตชะวณิช
นายบุญมา เตชะวณิช
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นาย จักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นาย จักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์ นายบุญมา เตชะวณิช, นายบุญมา เตชะวณิช
filed
Critical
นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
Publication of TH166357A
publication
Critical
patent/TH166357A/en
Publication of TH68690B
publication
Critical
patent/TH68690B/en
Links
-
238000002441
X-ray diffraction
Methods
0.000
title
2
Claims (1)
1. ข้อถือสิทธฺ์ (ทั้งหมด) ซึ่งจะไม่ปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา :1. Claims (all) which will not appear on the advertisement page :
TH1601004437A
2015-01-30
X-ray diffraction tester And how to measure the x-ray diffraction value
TH68690B
(en)
Publications (2)