Claims (9)
ข้อถือสิทธฺ์ (ทั้งหมด) ซึ่งจะไม่ปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา :แก้ไข 08/03/2560 1. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลสำหรับลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลและสำหรับยึดอุปกรณ์เก็บข้อมูล ไว้ภายในช่องเสียบทดสอบ ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย โครงที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อให้รับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ กลไกหนีบที่ถูกจัดให้สัมพันธ์กับโครงนั้นและสามารถทำงานเพื่อใช้แรงหนีบกับอุปกรณ์ เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ และ วงจรพิมพ์ที่ประกอบรวมด้วยชั้นนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิถูกรวมไว้ในชั้นนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น และ ที่ซึ่งกลไกหนีบสามารถทำงานเพื่อเคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บ ข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้นเพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล 2. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิประกอบรวมด้วยคู่ควบ ความร้อน (thermocouple) 3. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งวงจรพิมพ์ประกอบรวมด้วยแผ่นพิมพ์การ เดินสาย (printed wiring board) หนึ่งแผ่น 4. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ซึ่งวงจรพิมพ์ประกอบรวมด้วยวงจรพิมพ์ชนิด ยืดหยุ่น 5. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลสำหรับลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลและสำหรับยึดอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ ภายในช่องเสียบทดสอบ ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย โครงที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อให้รับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ กลไกหนีบที่ถูกจัดให้สัมพันธ์กับโครงนั้นและสามารถทำงานเพื่อใช้แรงหนีบกับอุปกรณ์ เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ และ ส่วนทำความร้อนไฟฟ้าที่ถูกจัดไว้เพื่อให้ความร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดย โครงนั้น ที่ซึ่งกลไกหนีบสามารถทำงานเพื่อเคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บ ข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้นเพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล 6. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 5 ที่ซึ่งส่วนทำความร้อนไฟฟ้าคือตัวทำความร้อน ชนิดต้านทาน (resistive heater) 7. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 5 ที่ซึ่งกลไกหนีบสามารถทำงานเพื่อเคลื่อน เซนเซอร์วัดอุณหภูมิและส่วนทำความร้อนไฟฟ้าเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดย โครงนั้น 8. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 5 ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิประกอบรวมด้วยคู่ควบ ความร้อน 9. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย ก.) ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย i.) โครงที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อรับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล ii.) เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ iii.) กลไกหนีบที่ถูกจัดให้สัมพันธ์กับโครงนั้น กลไกหนีบซึ่งสามารถทำงานเพื่อใช้ แรงหนีบกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น และถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นให้ เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น เพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ iv.) วงจรพิมพ์ที่ประกอบรวมด้วยขั้วสัมผัสที่มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้ากับเซนเซอร์วัด อุณหภูมิ และ ข.) ช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย i.) ช่องทดสอบเพื่อรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล ii.) วงจรต่อประสานการเชื่อมต่อ และ iii.) หน้าสัมผัสนำไฟฟ้าที่มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้ากับวงจรต่อประสานการเชื่อมต่อและ ถูกจัดไว้เพื่อให้จับยึดกับขั้วสัมผัสของวงจรพิมพ์เมื่อตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลอยู่ใน ช่องทดสอบ 1 0. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 ที่ซึ่งวงจรพิมพ์ประกอบรวมด้วยชั้นนำไฟฟ้า หนึ่งหรือหลายชั้น และที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมินั้นถูกรวมไว้ในชั้นนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น 1 1. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 10 ที่ซึ่งวงจรพิมพ์ยังประกอบรวมด้วยส่วนทำความ ร้อนไฟฟ้าซึ่งถูกรวมไว้ในชั้นนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น 1 2. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิคือคู่ควบความร้อน 1 3. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 ที่ซึ่งกลไกหนีบนั้นสามารถทำงานเพื่อหนีบตัว ลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ภายในช่องทดสอบ 1 4. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย ก.) ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย i.) โครงที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อรับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล ii.) เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ iii.) กลไกหนีบที่ถูกจัดให้สัมพันธ์กับโครงนั้น กลไกหนีบซึ่งสามารถทำงานเพื่อใช้ แรงหนีบกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น และถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นให้ เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น เพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ iv.) วงจรพิมพ์ที่ประกอบรวมด้วยชั้นนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิ นั้นถูกรวมไว้ในชั้นนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น และ ข.) ช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย i.) ช่องทดสอบเพื่อรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล 1 5. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 14 ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิคือคู่ควบความร้อน 1 6. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 14 ที่ซึ่งกลไกหนีบนั้นสามารถทำงานเพื่อหนีบตัว ลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ภายในช่องทดสอบ 1 7. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย ก.) ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย i.) โครงที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อรับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล ii.) เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ iii.) กลไกหนีบที่ถูกจัดให้สัมพันธ์กับโครงนั้น กลไกหนีบซึ่งสามารถทำงานเพื่อใช้ แรงหนีบกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น และถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นให้ เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น เพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ iv.) ส่วนทำความร้อนไฟฟ้าซึ่งถูกจัดไว้เพื่อให้ความร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้ โดยโครงนั้น และ ข.) ช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย i.) ช่องทดสอบเพื่อรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล 1 8. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือลิทธิข้อ 17 ที่ซึ่งกลไกหนีบสามารถทำงานเพื่อเคลื่อน เซนเซอร์วัดอุณหภูมิและส่วนทำความร้อนไฟฟ้าเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดย โครงนั้น 1 9. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 17 ที่ซึ่งเซนเซอร์วัดอุณหภูมิคือคู่ควบความร้อน 2 0. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 17 ที่ซึ่งกลไกหนีบนั้นสามารถทำงานเพื่อหนีบตัว ลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ภายในช่องทดสอบ 2 1. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย ก.) ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย i.) โครงที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อให้รับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล ii.) เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ iii.) กลไกหนีบที่ถูกจัดให้สัมพันธ์กับโครงนั้น กลไกหนีบที่สามารถทำงานเพื่อใช้แรง หนีบกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้น และถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นให้เคลื่อน เซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยโครงนั้นเพื่อวัด อุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ iv.) ส่วนทำความร้อนไฟฟ้าซึ่งถูกจัดไว้เพื่อให้ความร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้ โดยโครงนั้น และ ข.) ช่องเสียบทดสอบที่ประกอบรวมด้วย i.) ช่องทดสอบสำหรับรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล ii.) แผงต่อประสานการเชื่อมต่อ และ ค.) อิเล็กทรอนิกส์ทดสอบที่ถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อให้เชื่อมติดต่อรูทีนทดสอบหนึ่งหรือ หลายรูทีนกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบ ที่ซึ่งแผงต่อประสานการเชื่อมต่อถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อทำให้เกิดการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้าระหว่าง เซนเซอร์วัดอุณหภูมิและอิเล็กทรอนิกส์ทดสอบเมื่อตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลถูกจัดไว้ภายใน ช่องทดสอบ 2 2. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 21 ที่ซึ่งอิเล็กทรอนิกส์ทดสอบถูกก่อ รูปลักษณ์ขึ้นเพื่อเฝ้าตรวจอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบโดยอาศัย สัญญาณที่ได้รับจากเซนเซอร์วัดอุณหภูมิ 2 3. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 21 ที่ซึ่งแผงต่อประสานการเชื่อมต่อนั้นถูกก่อ รูปลักษณ์ขึ้นเพื่อให้มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้าระหว่างเซนเซอร์วัดอุณหภูมิและอิเล็กทรอนิกส์ ทดสอบเมื่อตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลนั้นถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบ และ ที่ซึ่งอิเล็กทรอนิกส์ทดสอบถูกก่อรูปลักษณ์ขึ้นเพื่อควบคุมการไหลของกระแสไฟฟ้าไปยังส่วน ทำความร้อนไฟฟ้าโดย อย่างน้อยบางส่วน อาศัยสัญญาณที่ได้รับจากเซนเซอร์วัดอุณหภูมิ --------------------- 1. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลสำหรับลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลและยึดอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ภายในช่อง เสียบทดสอบตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ประกอบรวมด้วย : กรอบที่ถูกก่อรุปลักษณ์ไว้เพื่อให้รับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล: และ กลไกการหนีบ ที่มีความเกี่ยวข้องกับกรอบนั้นและสามารถทำงานเพื่อใช้แรงหนีบกับ อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยกรอบนั้น; และ เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ, โดยที่กลไกการหนีบสามารถทำงานเพื่อเคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์ เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยกรอบนั้น เพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล 2. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 1 โดยที่เซนเซอร์วัดอุณหภูมิประกอบรวม ด้วยคู่ความร้อน (thermocouple) 3. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ยังประกอบรวมด้วย วงจรพิมพ์ (printed circuitry) โดยที่วงจรพิมพ์นั้นประกอบรวมด้วยชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือ หลายชั้น และ โดยที่เซนเซอร์วัดอุณหภูมิถูกผนวกรวมไว้ในชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้นในลักษณะ เบ็ดเสร็จ 4. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 3 โดยที่วงจรพิมพ์นั้นประกอบรวมด้วยแผ่น พิมพ์การเดินสาย (printed wiring board) หนึ่งแผ่น 5. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 3 โดยที่วงจรพิมพ์นั้นประกอบรวมด้วยวงจร พิมพ์ชนิดยืดหยุ่น 6. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 1 ที่ยังประกอบรวมด้วยส่วนทำความร้อน ไฟฟ้า (electric heating element) ที่ถูกจัดไว้เพื่อให้ความร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดย กรอบนั้น 7. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิที่ 6 โดยที่ชิ้นส่วนทำความร้อนไฟฟ้าคือตัวทำ ความร้อนชนิดต้านทาน (resistive heater) 8. ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 6 โดยที่กลไกการหนีบสามารถทำงานเพื่อ เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิและส่วนทำความร้อนไฟฟ้าให้เข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับ ไว้โดยกรอบนั้น 9. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบ ที่ประกอบด้วย : ก.) ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล ที่ประกอบด้วย : i.) กรอบที่ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อรับและรองอุปกรณ์เก็บข้อมูล, ii.) เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ, และ iii.) กลไกการหนีบ ที่มีความเกี่ยวข้องกับกรอบนั้น, กลไกการหนีบ ซึ่งสามารถทำงาน เพื่อใช้แรงหนีบกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลกรอบนั้น และถูกกำหนดโครงแบบไว้ให้เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิ เข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยกรอบนั้น เพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล; และ ข.) ช่องเสียทดสอบ ที่ประกอบรวมด้วย : i.) ช่องทดสอบเพื่อรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล 1 0. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 โดยที่ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล ประกอบรวมด้วย : วงจรพิมพ์ ที่รวมถึงขั้วสัมผัสที่มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้ากับเซนเซอร์วัดอุณหภูมิ, และ โดยที่ช่องเสียบทดสอบนั้นประกอบรวมด้วย : วงจรต่อประสานการเชื่อมต่อ และ หน้าสัมผัสที่เป็นตัวนำไฟฟ้าที่มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้ากับวงจรต่อประสานการ เชื่อมต่อ และถูกจัดเรียงไว้เพื่อให้จับยึดกับขั้วสัมผัสของวงจรพิมพ์ เมื่อตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลถูก จัดวางไว้ภายในช่องทดสอบ 1 1. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 10 โดยที่วงจรพิมพ์ประกอบรวมด้วยชั้น ตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น, และ โดยที่เซนเซอร์วัดอุณหภูมินั้นถูกผนวกรวมเข้าไปในชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้นในใน ลักษณะเบ็ดเสร็จ 1 2. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 11 โดยที่วงจรพิมพ์ยังประกอบรวมด้วยส่วน ทำความร้อนไฟฟ้า ซึ่งถูกผนวกรวมเข้าไปในชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้นในลักษณะเบ็ดเสร็จ 1 3. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 โดยที่ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล ประกอบรวมด้วยวงจรพิมพ์ โดยที่วงจรพิมพ์ประกอบรวมด้วยชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้น, และโดย ที่เซนเซอร์วัดอุณหภูมิถูกผนวกรวมเข้าไปในชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้นในลักษณะเบ็ดเสร็จ 1 4. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 โดยที่ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลยัง ประกอบรวมด้วยส่วนทำความร้อนไฟฟ้า ซึ่งถูกจัดไว้เพื่อให้ความร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกกรองรับไว้ โดยกรอบนั้น 1 5. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 14 โดยที่กลไกการหนีบสามารถทำงานเพื่อ เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิและส่วนทำความร้อนไฟฟ้าให้เข้าไปสัมผัสกหับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับ ไว้โดยกรอบนั้น 1 6. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิข้อ 9 โดยที่กลไกการหนีบสามารถทำงานเพื่อ หนีบตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ภายในช่องทดสอบ 1 7. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูล ที่ประกอบรวมด้วย : ก.) ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล ที่ประกอบรวมด้วย : i.) กรอบที่ได้กำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้รับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล และ ii.) เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ, และ iii.) กลไกการหนีบที่มีความเกี่ยวข้องกับกรอบนั้น, กลไกการหนีบ ที่สามารถทำงาน เพื่อใช้แรงหนีบกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยกรอบนั้น และถูกกำหนดโครงแบบไว้ให้ เคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิเข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้โดยกรอบนั้น เพื่อวัด อุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูล; และ ข.) ช่องเสียบทดสอบ ที่ประกอบรวมด้วย : i.) ช่องทดสอบสำหรับรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล; ii.) แผงต่อประานการเชื่อมต่อ และ ค.) อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบที่ได้กำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้สามารถเชื่อมติดต่อรูทีนการ ทดสอบหนึ่งหรือหลายรูทีนกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบ โดยที่แผงต่อประสานการเชื่อมต่อถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อทำให้เกิดการเชื่อมติดต่อทาง ไฟฟ้าระหว่างเซนเซอร์วัดอุณหภูมิกับอิเล็กทรอนิกส์การทดสอบ เมื่อตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลถูกจัด ไว้ภายในช่องทดสอบ 1 8. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 17 โดยที่อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบถูก กำหนดโครงแบบไว้เพื่อตรวจสอบอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบ โดยอาศัย สัญญาณที่ได้รับจากเซนเซอร์วัดอุณหภูมิ 1 9. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 17 โดยที่ตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลยัง ประกอบรวมด้วยส่วนทำความร้อนไฟฟ้าที่ถูกจัดไว้เพื่อให้ความร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกรองรับไว้ โดยกรอบนั้น 2 0. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 19 โดยที่แผงต่อประสานการเชื่อมต่อนั้น ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้าระหว่างเซนเซอร์วัดอุณหภูมิกับอิเล็กทรอนิกส์ การทดสอบเมื่อตัวลำเลียงอุปกรณ์เก้บข้อมุลนั้นถูกจัดวางไว้ภายในช่องทดสอบ และ โดยที่อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้ควบคุมการไหลของ กระแสไฟฟ้าไปยังส่วนทำความร้อนไฟฟ้าซึ่ง อย่างน้อยที่สุดในบางส่วน จะอาศัยสัญญาณที่ได้รับจาก เซนเซอร์วัดอุณหภูมิ 2 1. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบ ที่ประกอบรวมด้วย : เรือนหุ้มที่ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อรับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูล, ชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิท่เกี่ยวข้องกับเรือนหุ้มและถูกจัดไว้เพื่อวัดอุณหภูมิของ อุปกรณ์เก็บข้อมูลโดยวิธีการสัมผัสทางกายภาพ, และ กลไกการหนีบ ที่มีการทำงานที่เกี่ยวข้องกับเรือนหุ้ม และสามารถทำงานเพื่อเคลื่อนชุด ประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิให้เข้าไปสัมผัสอุปกรณ์เก็บข้อมูล 2 2. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 21 โดยที่ชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิ ประกอบรวมด้วยวงจรพิมพ์และคู่ควบความร้อน โดยที่วงจรพิมพ์ประกอบรวมด้วยชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่ง หรือหลายชั้น, และโดยที่คู่ควบความร้อนถูกผนวกรวมเข้าไปในชั้นตัวนำไฟฟ้าหนึ่งหรือหลายชั้นใน ลักษณะเบ็ดเสร็จ 2 3. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 23 โดยที่วงจรพิมพ์นั้นประกอบรวมด้วย แผ่นพิมพ์การเดินสายหนึ่งแผ่น 2 4. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 23 โดยที่วงจรพิมพ์นั้นประกอบรวมด้วย วงจรพิมพ์ชนิดยืดหยุ่น 2 5. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 21 โดยที่ชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิ ประกอบรวมด้วยเซนเซอร์วัดอุณหภูมิอย่างน้ยอหนึ่งตัว ซึ่งคัดเลือกจากกลุ่มที่ประกอบด้วยเซนเซอร์วัด อุณหภูมิชนิดต้านทาน, เซนเซอร์ชิดไดโอดแบบสารกึ่งตัวนำ, คู่ควบความร้อน, เทอร์มอมิเตอร์แบบ อินฟราเรด และเซนเซอร์วัดอุณหภูมิแบบช่องว่างแถบพลังงานซิลิกอน 2 6. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 21 โดยที่ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบยัง ประกอบรวมด้วยส่วนทำความร้อนเชิงความนำ (conductive heating element) ซึ่งถูกจัดไว้เพื่อให้ความ ร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูล 2 7. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 26 โดยที่กลไกการหนีบสามารถทำงานเพื่อ เคลื่อส่วนทำความร้อนเชิงความนำให้เข้าไปสัมผัสกับอุปกรณ์เก็บข้อมูล 2 8. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 26 โดยที่ส่วนทำความร้อนเชิงความนำ ประกอบรวมด้วยตัวทำความร้อนชนิดต้านทาน (resistive heater) 2 9. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 21 ที่ยังประกอบรวมด้วยตำลำเลียงอุปกรณ์ เก้บข้อมูลที่รองรับอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ 3 0. ชุดประกอบช่องเสียบทดสอบของข้อถือสิทธิ 29 โดยที่เรือนหุ้มนั้นถูกกำหนดโครงแบบไว้ เพื่อรับและรองรับตัวลำเลียงอุปกรณ์เก้บข้อมูลนั้น 3Disclaimer (all) which will not appear on the advertisement page: Edit 08/03/2017 1. Storage carrier for transporting storage devices and for holding storage devices Inside the test socket The storage device carrier is included. A frame that has been formed to accept and support a storage device and a clamping mechanism that is aligned with that frame and can work to apply clamping force to the device. Keep data that is supported by that framework. Temperature sensors and printed circuits made up of one or more conductive layers. Where temperature sensors are integrated into one or more electrical layers and where a clamping mechanism can be used to move the temperature sensor into contact with the storage device. The data supported by that frame to measure the temperature of the storage device. 2. The storage device carrier of claim 1, where the temperature sensor is equipped with a thermocouple. Clause 1, where the printed circuit consists of one printed wiring board 4. The storage carrier of claim 1, where the printed circuit consists of a flexible printed circuit 5. Storage conveyor for conveying the storage device and for holding the storage device Inside the test socket The storage device carrier is included. A frame that has been formed to accept and support a storage device and a clamping mechanism that is aligned with that frame and can work to apply clamping force to the device. Keep data that is supported by that framework. A temperature sensor and an electric heating element are arranged to heat a storage device supported by that frame where a clamping mechanism can be used to move the temperature sensor into contact with the storage device. Data supported by that frame to measure the temperature of the storage device. 6. Storage carrier of claim 5, where the electric heating element is a resistive heater. 7. The storage carrier. Information on claim 5, where the clamping mechanism can operate to move The temperature sensor and the electric heating element come into contact with the storage device that is supported by the frame. 8. Storage carrier of Clause 5, where the temperature sensor is assembled with a thermal coupler. 9. Assembly. Integrated test socket: a) Integrated storage carrier i.) Form-formed frame to receive and support the storage device; ii.) Temperature sensor iii.) Organized clamp mechanism. In relation to that structure Clamping mechanism which can work to use The clamping force on the storage device that is supported by that frame. And was formed in appearance Move the temperature sensor into contact with the storage device supported by the frame. To measure the temperature of the storage device; and iv.) A printed circuit consisting of a contact that has electrical contact connection to the temperature sensor; and b.) A test socket that is included; i.) A test port for receiving and supporting. The collector carrier; ii.) The connection interlock circuit; and iii.) The conductive contact where the electrical contact is connected to the interlocking circuit; and It is provided so that it is clamped to the contacts of the printed circuit when the collector carrier is in the test port 1 0. Clause 9 Test Slot Assembly where the printed circuit is assembled with a conductive layer. One or more layers And where the temperature sensor is integrated into one or more conductive layers 1 1. The test socket assembly of Clause 10, where the printed circuit also includes a heating element. Clause 9, where the temperature sensor is the thermal conductor 1 3. Clause 9 of the test socket assembly. Article 9 where the clamping mechanism can work to clamp the body Transport the data storage device inside the test compartment 1 4. Test socket assembly including a) the included storage carrier i.) A formed frame to receive and support the storage device ii. .) Temperature sensor iii.) Clamp mechanism that is aligned with the frame Clamping mechanism which can work to use The clamping force on the storage device that is supported by that frame. And was formed in appearance Move the temperature sensor into contact with the storage device supported by the frame. To measure the temperature of the storage device; and iv.) A printed circuit consisting of one or more conductive layers. Where the temperature sensor Is included in one or more conductors, and b) a test socket incorporating i.) A test port to receive and support the storage carrier 1 5. A test socket assembly of the right clause. 14 where the temperature sensor is a thermal coupling 1 6. The test socket assembly of Clause 14 where the clamping mechanism can operate to clamp the body. Transport the storage device inside the test compartment 1 7. The test slot assembly, including: a) the included storage carrier i.) A formed frame to receive and support the storage device; ii. .) Temperature sensor iii.) Clamp mechanism that is aligned with the frame Clamping mechanism which can work to use The clamping force on the storage device that is supported by that frame. And was formed in appearance Move the temperature sensor into contact with the storage device supported by the frame. To measure the temperature of the storage device; and iv.) An electric heating element that is provided to heat the storage device supported by that frame; and b) a test socket that is included; i.) A test compartment. To receive and support the storage carrier. 1 8. Assembly of the test slot of the wrist holder, Article 17 where the clamping mechanism can work to move. The temperature sensor and electric heating element come into contact with the storage device supported by the frame. 1 9. Assembly of the test socket of Clause 17, where the temperature sensor is a thermal coupling 2 0. Assembly Clause 17 claim test socket, where the clamping mechanism can operate to pinch Transporting the storage device inside the test compartment 2 1. The integrated storage test device: a) the integrated storage device carrier i.) A form-formed frame to receive and support the storage device. ii.) Temperature sensor iii.) Clamp mechanism in relation to the frame A clamping mechanism that can work to apply force. Clamps to a storage device that is supported by that bracket. And was formed to move The temperature sensor comes into contact with a data acquisition device supported by that frame to measure. The temperature of the storage device; and iv.) The electric heating element that is provided to heat the storage device supported by that frame; and b) the test socket that is included; i.) The test port for receiving Ii.) Interface Board; and c) Form-formed test electronics to connect one or more test routines. Several routines with storage devices are organized within the test compartment. Where the interface panel is formed to make the electrical contact between the Temperature sensors and electronics are tested when the collector carrier is placed inside the test chamber 2 2. Data acquisition testing system of Clause 21, where the test electronics are established. The appearance is designed to monitor the temperature of the data acquisition device housed within the test chamber, using The signal received from the temperature sensor 2 3. Clause 21 of the Clause 21 data acquisition device testing system where the connection interface panel is established. The appearance is made to provide an electrical contact between the temperature sensor and the electronics. Tested when the collector carrier is located within the test chamber and where the test electronics are formed to control the flow of current to the section. Electric heating by At least some Based on the signal received from the temperature sensor. --------------------- 1. Storage carrier for conveying the storage device and securing the storage device inside the compartment. The storage device carrier test plug includes: a frame formed to accept and support the storage device: and the clamping mechanism associated with that frame and can work to apply clamping force to the Storage devices that are supported by that framework; And temperature sensors, where the clamping mechanism can work to move the temperature sensor into contact with the device Keep the data supported by that framework. To measure the temperature of the storage device 2. The storage device carrier of Clause 1, where the temperature sensor is included. With a thermal partner (thermocouple) 3. The storage device carrier of claim 1, which also consists of printed circuitry, where the printed circuit is made up of one or more conductive layers and where the temperature sensor is attached. It is included in one or more conductive layers in an integral manner. 4. The storage carrier of claim 3, where the printed circuit is composed of a sheet. Type one of the printed wiring board. 5. The storage carrier of claim 3, where the printed circuit consists of a circuit. Flexible type 6. Storage carrier of claim 1 that also includes an electric heating element that is provided to heat the storage device supported by that framework 7. The storage carrier of claim 6, where the electric heating element is the conductor. Resistive heater (resistive heater) 8. The carrier, the storage device of claim No. 6, where the clamping mechanism can work to Move the temperature sensor and electric heating element into contact with a supported storage device. Provided by that frame 9. Test socket assembly Consisting of: a) the transport device Consisting of: i.) A frame that is configured to receive and support a data acquisition device, ii.) A temperature sensor, and iii.) A clamping mechanism associated with that frame, a clamping mechanism that can operate To apply clamping force to that frame storage device And was configured to move the temperature sensor Get into contact with a storage device that is supported by that framework. To measure the temperature of the storage device; And b.) Broken test compartment Including: i.) Test Chamber for Receiving and Supporting the Storage Carrier 1 0. Test Slot Assembly of Clause 9 where the storage carrier It includes: a printed circuit that includes a contact that has an electrical contact connection to the temperature sensor, and where the test socket is composed of: a connection circuit, a connection and a conductive contact with The electrical contacts are welded to the connection interlock circuit and are arranged so that they clamp on the contacts of the printed circuit. When the storage carrier is Placed inside test chamber 1 1. Test socket assembly of claim 10, where the printed circuit is assembled with a layer. One or more conductors, and where the temperature sensor is integrated into one or more conductive layers in Comprehensive Characteristics 1 2. The test socket assembly of claim 11, where the printed circuit also includes the Electric heating It is integrated into one or more conductive layers in an integral manner. 1 3. Test-socket assembly of claim 9 where the storage device carrier Assembled with a printed circuit Where a printed circuit consists of one or more conductive layers, and where the temperature sensor is integrated into one or more conductive layers in a integral manner 1 4. Test socket assembly of claim 9. While the storage carrier is still Assembled with an electric heating element It is provided to heat the storage device that is supported by that frame. 1 5. The test socket assembly of Clause 14, whereby the clamping mechanism can be operated to Move the temperature sensor and electric heating element to touch a supported storage device. Provided by that frame 1 6. Assembly of the test socket of Clause 9, whereby the clamping mechanism can work to Clamp the storage device carrier inside the test compartment 1 7. Data acquisition device test system. That include: a) the storage carrier That includes: i.) A frame that is configured to accept and accommodate a data acquisition device; and ii.) A temperature sensor, and iii.) A clamping mechanism associated with that frame, a clamping mechanism that Can work To apply clamping force to a storage device supported by that frame And has been configured Touch the temperature sensor to the storage device supported by the frame to measure the temperature of the storage device; And b.) Test socket It includes: i.) Test port for receiving and supporting the storage carrier; ii.) Connection terminal board; and c) Configurable test electronics to enable connection to the connection routine. Test one or more routines with the storage device provided within the test compartment. Where the interface panel is configured to enable the connection Electricity between the temperature sensor and the electronic test When the storage carrier is organized Place inside the test chamber 1 8. The test system for the storage device of Clause 17 where the test electronics are A configuration was established to check the temperature of the storage device organized inside the test chamber based on the signal received from the temperature sensor 1 9. Storage Device Testing System of Clause 17 where the storage carrier to This includes an electric heating element that is provided to heat the storage devices supported by that framework. 2 0. The storage test system of Clause 19, where the connection interface panel. It is configured so that there is an electrical connection between the temperature sensor and the electronics. Tests When the data storage device carrier is placed inside the test chamber and where the test electronics are configured to control the flow of Electric current to the electric heating element, which At least in part Will rely on the signal received from Temperature sensors 2 1. Test socket assembly That includes: a housing that is configured to receive and support a storage device, a temperature sensing assembly associated with a housing and is provided to measure the temperature of The data acquisition device by physical contact method, and the clamping mechanism in connection with the housing. And can work to move the series To assemble the temperature measurement, touch the storage device 2 2. Test socket assembly of claim 21 where the temperature measurement assembly It consists of a printed circuit and a thermal coupler. Where the printed circuit consists of one conductive layer Or multiple layers, and where the thermal coupling is integrated into one or more conductive layers in Comprehensive Characteristics 2 3. Test socket assembly of claim 23, where the printed circuit is included. One wiring printout 2 4. Claim 23 test slot assembly, where the printed circuit is included. Flexible printed circuit 2 5. Test socket assembly of claim 21 where the temperature sensing assembly Includes at least one temperature sensor. Which were selected from a group consisting of measuring sensors Resistive temperature, semiconductor diode proximity sensor, thermal coupler, infrared thermometers and silicon power strip gap temperature sensor 2 6. Test socket assembly of the holder. 21 provided that the test socket assembly is still It consists of a conductive heating element which is arranged to provide 2 7. The test slot assembly of the right holder 26 where the clamping mechanism can be operated to The conductive heating element is in contact with the storage device. 2. 8. Test socket assembly of claim 26, where the thermal heating element Assembled with resistive heater 2 9. Test socket assembly of claim 21 that also includes the device conveyor. Data storage storage device supporting 3 0. Clause 29 test slot assembly, where the casing is configured. To receive and support the transport device that stores that information 3
1. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูล ที่ประกอบรวมด้วย : ก.) ช่องเสียบทดสอบ ที่ประกอบีวมด้วย : i.) ช่องทดสอบสำหรับรับและรองรับอุปกรณ์เก็บข้อมุล; ii.) ชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิ ที่มีความเกี่ยวข้องกับช่องทดสอบ และถูกจัดไว้ เพื่อวัดอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูลโดยวิธีการสัมผสัทางกายภาพ; iii.) กลไกการหนีบ ที่มีการทำงานที่เกี่ยวข้องกับเรือนหุ้ม และสามารถทำงานเพื่อ เคลื่อนชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิให้เข้าไปสัมผัสอุปกรณ์เก็บข้อมูล; และ ข.) อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบที่ได้กำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้สามารถเชื่อมติดต่อรูทีนการ ทดสอบหนึ่งหรือหลายรูทีนกับอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบนั้น 31. Data acquisition test system Included: a) Test socket Including: i.) Test port for receiving and supporting storage devices; ii.) Temperature sensing assembly That are associated with the test chamber and are arranged to measure the temperature of the data acquisition device by physical contact method; iii.) Clamping mechanism with the functions involved in the casing And can work for Move the temperature sensing assembly into contact with the storage device; And b) electronically configured tests to enable connection to the Test one or more routines with the storage device located within that test slot 3.
2. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมุลของข้อถือสิทธิข้อ 31 โดยที่ช่องเสียบทดสอบยังประกอบ รวมด้วยแผงต่อประสานการเชื่อมต่อ ที่ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้ากับ อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบ, และโดยที่อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบนั้นถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อตรวจสอบ อุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบ โดยอาศัยสัญญาณที่ได้รับจากชุด ประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิ 32. The testing system for the storage device of claim 31, where the test socket is still assembled. Included with the interface panel That is configured to have electrical contact with Electronic tests, and where electronic tests are configured to verify Temperature of the data acquisition device organized inside the test compartment. By relying on the signals received from the set Assemble the temperature measurement 3
3. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 31 โดยที่ช่องเสียบทดสอบยังประกอบ รวมด้วยแผงต่อประสานการเชื่อมต่อ ที่ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อตรวจสอบอุณหภูมิของอุปกรณ์เก็บ ข้อมูลที่ถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบ โดยอาศัยสัญญาณที่ได้รับจากชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิ 33. The storage test system of claim 31, where the test socket is also assembled. Included with the interface panel That is configured to monitor the temperature of the storage device. Information organized within the test chamber Based on the signal received from the temperature sensing assembly 3
4. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 31 โดยที่ช่องเสียบทดสอบยังประกอบ ชิ้นส่วนทำความร้อนเชิงความนำที่ถูกจัดไว้เพื่อใหคงวามร้อนแก่อุปกรณ์เก็บข้อมูล 34. Test system for the storage device of claim 31, where the test socket is still assembled. Conductive heating element arranged to maintain heat to the storage device 3.
5. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 34 โดยที่ช่องเสียบทดสอบยังประกอบ รวมด้วยแผงต่อประสานการเชื่อมต่อ ที่ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้าระหว่าง เซนเซอร์วัดอุณหภูมิกับอิเล็กทรอนิกส์การทดสอบ และถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้ควบคุมการไหลของ กระแสไฟฟ้าไปยังส่วนทำความร้อนเชิงความนำซึ่ง อย่างน้อยที่สุดในบางส่วน จะอาศัยสัญญาณที่ได้รับ จากชุดประกอบการตรวจวัดอุณหภูมิ 35. Test storage device of Clause 34, provided that the test socket is still assembled. Included with the interface panel That is configured to have electrical contact between Temperature sensor with electronic testing And is configured to control the flow of Electric current to the conductive heating element, which At least in part Will rely on the received signal From the temperature sensing assembly 3
6. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 34 โดยที่อิเล็กทรอนิกส์การทดสอบถูก กำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้วัดการใช้กำลังงานของอุปกรณ์เก็บข้อมูล และทำการชดเชยข้อผิดพลาดใด ๆ ระหว่างอุณหภูมิที่แท้จริงของอุปกรณ์เก้บข้อมูลกับอุณหภูมิที่วัดได้โดยชุดประกอบดารตรวจวัดอุณหภูมิ 36. The test system for the storage device of Clause 34, where the electronic test is Configured to measure the power consumption of the storage device. And compensate for any errors between the actual temperature of the data storage device and the temperature measured by the temperature sensor assembly 3.
7. ระบบทดสอบอุปกรณ์เก็บข้อมูลของข้อถือสิทธิข้อ 31 โดยที่ช่องเสียบทดสอบนั้นยังประกอบ รวมด้วยแผงต่อประสานการเชื่อมต่อ ที่ถูกกำหนดโครงแบบไว้เพื่อให้มีการเชื่อมติดต่อทางไฟฟ้ากับส่วน ทำความร้อนเชิงความนำเมื่ออุปกรณ์เก็บข้อมูลถูกจัดไว้ภายในช่องทดสอบนั้น 37. The storage test system of claim 31, provided that the test socket is also assembled. Included with the interface panel That is configured to have electrical contact with the part. Thermal conductivity when the storage device is located within that test compartment 3
8. วิธีการประกอบรวมด้วย : การสอดอุปกรณ์เก็บข้อมูลเข้าไปในช่องทดสอบของช่องเสียบทดสอบ; และ การทำให้กลไกการหนีบทำงาน ทั้งเพื่อหนีอุปกรณ์เก็บข้อมูลไว้ภายในช่องทดสอบของช่อง เสียบททดสอบ และเพื่อเคลื่อนเซนเซอร์วัดอุณหภูมิให้ไปสัมผัสทางกายภาพกับอุปกรณ์เก็บข้อมูล 38. The assembly method is also included: inserting the data acquisition device into the test port of the test socket; And making the clamping mechanism work Both to escape the storage device inside the test chamber of the test chamber and to move the temperature sensor into physical contact with the storage device 3.
9. วิธีการของข้อถือสิทธิข้อ 38 โดยที่อุปกรณ์เก็บข้อมูลถูกรับไว้ในตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูล, และตัวลำเลียงอุปกรณ์เก็บข้อมูลและอุปกรณ์เก็บข้อมูลที่รับไว้นั้นถูกสอดเข้าไปในช่องทดสอบของช่องเสียบ ทดสอบ9. Methods of claim 38, whereby the storage device is received in the transport, the storage device, and the receiving carrier and storage device is inserted into the test chamber of the test compartment.