TH2001006141A - Optical interface for testing hybrids using automated testing tools. - Google Patents

Optical interface for testing hybrids using automated testing tools.

Info

Publication number
TH2001006141A
TH2001006141A TH2001006141A TH2001006141A TH2001006141A TH 2001006141 A TH2001006141 A TH 2001006141A TH 2001006141 A TH2001006141 A TH 2001006141A TH 2001006141 A TH2001006141 A TH 2001006141A TH 2001006141 A TH2001006141 A TH 2001006141A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
optical
electrical
interface
dut
panel
Prior art date
Application number
TH2001006141A
Other languages
Thai (th)
Inventor
สตีเวน วิลเลียมมาปาเกย์ คริสปิน ครูซสเตนโฮล์ม มาร์ค เค็ก
Original Assignee
ออร์เรียน อิงค์
Filing date
Publication date
Application filed by ออร์เรียน อิงค์ filed Critical ออร์เรียน อิงค์
Publication of TH2001006141A publication Critical patent/TH2001006141A/en

Links

Abstract

ระบบชุดเครื่องมือทดสอบอัตโนมัติ (ATE) ทางแสง-ไฟฟ้าแบบลูกผสมจะสามารถติดตั้งใช้งาน ชุดประกอบกดอัดงานซึ่งสามารถต่อประสานกับอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (DUT) และแผงโหลดซึ่ง ยึด DUT ไว้ในระหว่างการทดสอบ, การวิเคราะห์ และการปรับเทียบ มือทดสอบจะสามารถขับเร้าให้ตั้ง ตำแหน่ง DUT บนเบ้าเสียบและเรียงแนวส่วนที่ใช้เรียงแนวหนึ่งส่วนหรือมากกว่านั้นได้ ชุดประกอบกด อัดงานจะสามารถมีส่วนที่เป็นส่วนต่อประสานทางแสงสองส่วนซึ่งถูกควบต่อโดยใช้แสงโดยที่ว่าแสง จะสามารถถูกจัดให้มีขึ้นให้กับด้านข้างของ DUT ซึ่งหันออกจากแผงโหลด อันเป็นการเปิดทางให้ระบบ ATE ดำเนินการทดสอบ DUT ทางแสงและทางไฟฟ้าที่เกิดขึ้นพร้อมกัน A hybrid optical-electrical automatic test kit (ATE) system can be deployed. A press-fit assembly that can interface with the device under test (DUT) and the load panel that holds the DUT in place during testing, analysis and calibration. The tester will be able to drive the DUT position on the socket and align one or more alignment sections. use the light that the light It can be provided to the side of the DUT facing away from the loading panel. This allows the ATE system to perform concurrent optical and electrical DUT tests.

Claims (20)

1. 1. วิธีการสำหรับทดสอบอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (DUT) ทางแสง-ไฟฟ้าโดยใช้ระบบ ชุดเครื่องมือทดสอบอัตโนมัติ (ATE) โดยที่วิธีการจะประกอบรวมด้วย: การเรียงแนวส่วนต่อประสานทางแสงของแผงโหลดระหว่างแผงโหลดของระบบ ATE กับ ชุดประกอบวางติดตั้งของระบบ ATE โดยที่ด้านบนของแผงโหลดจะรองรับ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าโดย ที่ว่าด้านส่วนต่อประสานทางไฟฟ้าของ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าจะต่อประสานกับทางเดินไฟฟ้าบนด้านบน ของแผงโหลดเพื่อสื่อสารสัญญาณไฟฟ้าหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นจาก DUT ทางแสง-ไฟฟ้า, ส่วนต่อ ประสานทางแสงของแผงโหลดจะถูกเรียงแนวโดยการเรียงแนวพอร์ตแสงของแผงโหลดในแผงโหลด กับพอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่หนึ่งในชุดประกอบวางติดตั้ง; การเรียงแนวส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสงระหว่างชุดประกอบวางติดตั้งกับ DUT ทางแสง- ไฟฟ้าเพื่อสื่อสารสัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นที่ให้กำเนิดโดย DUT ทางแสง-ไฟฟ้า โดยที่ส่วนต่อ ประสานอุปกรณ์ทางแสงจะถูกเรียงแนวโดยการเรียงแนวพอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่สองใน ชุดประกอบวางติดตั้งกับพอร์ตแสงของ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าซึ่งอยู่บนด้านส่วนต่อประสานทางแสง ของ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าซึ่งอยู่ตรงกันข้ามกับด้านส่วนต่อประสานทางไฟฟ้าซึ่งหันหน้าเข้าหาแผงโหลด; และ การวิเคราะห์สัญญาณไฟฟ้าหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นขณะที่วิเคราะห์สัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือ มากกว่านั้นจาก DUT ทางแสง-ไฟฟ้าโดยใช้ระบบ ATE โดยที่สัญญาณไฟฟ้าหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้น จะถูกวิเคราะห์โดยอุปกรณ์ทดสอบทางไฟฟ้าของระบบ ATE ซึ่งรับสัญญาณไฟฟ้าหนึ่งตัวหรือมากกว่า นั้นมาจากทางเดินไฟฟ้าของแผงโหลด, สัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นจะถูกวิเคราะห์โดยอุปกรณ์ ทดสอบทางแสงของระบบ ATE ซึ่งรับสัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นโดยอาศัยการถอดแบบ เพิ่มจำนวนโดยผ่านส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสงและส่วนต่อประสานทางแสงของแผงโหลด1. 1. Methods for testing equipment under test (DUT) optically using a system An automated test kit (ATE) where the method will include: Alignment of the optical interface of the loading panel between the ATE system's loading panel and the ATE system's mounting assembly, with the top of the loading panel Support for optical-electrical DUT by that the electrical interface side of the optical-electrical DUT interfaces with the electrical pathway on the top To communicate one or more electrical signals from an optical-electrical DUT, the load panel's optical interface is aligned by aligning the load panel's optical ports in the load panel. with the optical port of the mounting bracket on one of the mounting brackets; The optical interface alignment between the mounting assembly and the optical DUT communicates one or more optical signals generated by the optical DUT, where the interface Solder optical devices are aligned by aligning the optical ports of the second mounting assembly in The assembly is mounted to the optical port of the optical-electrical DUT which is on the optical interface side of the optical-electrical DUT opposite the electrical interface side facing the load panel; and analyzing one or more electrical signals while analyzing one or more optical signals. and more from an optical-electrical DUT using an ATE system where one or more electrical signals It is analyzed by an ATE system electrical test device that receives one or more electrical signals. Coming from the electrical pathway of the load panel, one or more optical signals are analyzed by the device. Optical testing of ATE systems receiving one or more photosensitive signals based on replication. Increase the number through the optical device interface and the loading panel optical interface. 2. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่พอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่หนึ่งจะถูกควบต่อโดยใช้ แสงกับพอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่สองโดยส่วนควบต่อแสงโดยที่ว่าแสงจาก DUT ทางแสง- ไฟฟ้าจะแพร่กระจายจากส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสงโดยผ่านส่วนควบต่อแสงไปยังส่วนต่อ ประสานทางแสงของแผงโหลด2. Method of claim 1, whereby the optical port of one mounting assembly is coupled using The light to the optical port of the mounting assembly is seconded by the optical interface where light from the optical DUT propagates from the optical interface through the optical interface to the interface. Optical synchronization of the load panel 3. วิธีการของข้อถือสิทธิ 2 โดยที่ส่วนควบต่อจะประกอบรวมด้วยสายเคเบิลใยแสงหนึ่งเส้น หรือมากกว่านั้น3. Method of claim 2, whereby the connector shall consist of one optical fiber cable. or more 4. วิธีการของข้อถือสิทธิ 3 โดยที่สายเคเบิลใยแสงเพิ่มเติมหนึ่งเส้นหรือมากกว่านั้นจะควบต่อ ส่วนต่อประสานทางแสงของแผงโหลดกับอุปกรณ์ทดสอบทางแสงของระบบ ATE โดยใช้แสง4. Method of claim 3 whereby one or more additional fiber cables are coupled. The optical interface of the loading panel to the optical testing equipment of the ATE system using light 5. วิธีการของข้อถือสิทธิ 4 โดยที่แผงโหลดจะประกอบรวมด้วยช่องเปิดซึ่งมีสายเคเบิลใยแสง เพิ่มเติมหนึ่งเส้นหรือมากกว่านั้นทะลุผ่านส่วนนั้นเพื่อเชื่อมต่อกับส่วนต่อประสานทางแสงของแผงโหลด5. Method of claim 4, whereby the loading panel consists of an opening containing fiber optic cables. One or more additional wires pass through that section to connect to the optical interface of the load panel. 6. วิธีการของข้อถือสิทธิ 5 โดยที่ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าจะเป็นอุปกรณ์แบบหลายช่องสำหรับ ส่งผ่านลำแสงบนช่องสัญญาณที่แตกต่างกัน; และโดยที่สายเคเบิลใยแสงเพิ่มเติมหนึ่งเส้นหรือมากกว่านั้น จะประกอบรวมด้วยสายเคเบิลเส้นใยที่ใช้ส่งผ่านหลายเส้นสำหรับจัดให้มีแสงให้กับ DUT ทางแสง-ไฟฟ้า สำหรับช่องสัญญาณที่แตกต่างกันแต่ละช่อง6. Method of Claim 5 whereby the optical-electrical DUT shall be a multichannel device for transmit beams on different channels; and where one or more additional optical fiber cables It will consist of multiple transmission fiber cables for providing optical-electrical DUTs for each differential channel. 7. วิธีการของข้อถือสิทธิ 6 โดยที่สายเคเบิลใยแสงเพิ่มเติมหนึ่งเส้นหรือมากกว่านั้นจะประกอบ รวมด้วยสายเคเบิลเส้นใยสำหรับรับหลายเส้นเพื่อรับแสงจาก DUT ทางแสง-ไฟฟ้าสำหรับช่องสัญญาณ ที่แตกต่างกันแต่ละช่อง7. Method of claim 6 whereby one or more additional optical fiber cables are assembled. Combined with multiple receiving fiber cables to receive light from an optical-electrical DUT for the channel. different for each channel 8. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่ชุดประกอบวางติดตั้งจะเป็นชุดประกอบตัวจัดคุมซึ่งถูกเชื่อมต่อ กับส่วนวางติดตั้งเรียงแนวเองของระบบ ATE ซึ่งตั้งตำแหน่งระบบ ATE เพื่อเรียงแนวส่วนต่อประสาน ทางแสงของแผงโหลดและส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสง8. Method of claim 1, whereby the mounting assembly will be the control assembly, which is connected. with the ATE system's self-aligning bracket, which positions the ATE system to align the interface. Load panel optical way and optical device interface 9. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่แผงโหลดจะประกอบรวมด้วยแผ่นเทียบใส่ซึ่งมีส่วนที่ใช้ติดตั้ง ทางกายภาพซึ่งเรียงแนวส่วนที่ใช้ติดตั้งทางกายภาพที่สอดคล้องกันบนชุดประกอบวางติดตั้ง9. Method of claim 1 whereby the loading panel is assembled with a mounting plate containing mounting parts. physical which aligns the corresponding physical mounting parts on the mounting assembly. 10. วิธีการของข้อถือสิทธิ 9 โดยที่การเรียงแนวเบื้องต้นจะถูกดำเนินการโดยการเรียงแนวส่วน ที่ใช้ติดตั้งทางกายภาพของแผ่นเทียบใส่กับส่วนที่ใช้ติดตั้งทางกายภาพที่สอดคล้องกันของชุดประกอบ วางติดตั้ง10. Method of claim 9, whereby the preliminary alignment is performed by section alignment. The physical mounting part of the plate is compared to the corresponding physical mounting part of the mounting assembly. 11. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่อุปกรณ์ทดสอบทางแสงจะเป็นเครื่องวิเคราะห์สเปกตรัมแสง11. Method of claim 1 whereby the optical test apparatus will be an optical spectrum analyzer. 12. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่อุปกรณ์ทดสอบทางแสงจะเป็นมาตรจัดกำลังทางแสง12. Method of claim 1 whereby the optical test apparatus shall be an optical power meter. 13. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่อุปกรณ์ทดสอบทางไฟฟ้าจะเป็นโมดูลอัตราผิดพลาดของบิต13. Method of claim 1 whereby the electrical test equipment will be a bit error rate module. 14. วิธีการของข้อถือสิทธิ 1 โดยที่อุปกรณ์ทดสอบทางไฟฟ้าจะประกอบรวมด้วยแหล่งจ่ายกำลัง แก่อุปกรณ์และหน่วยตรวจจัดแบบพาราเมตริก14. Method of claim 1, where electrical test equipment is to be incorporated with a power supply. to equipment and parametric detection units 15. ระบบชุดเครื่องมือทดสอบอัตโนมัติ (ATE) สำหรับทดสอบอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (DUT) ทางแสง-ทางไฟฟ้า โดยที่ระบบ ATE จะประกอบรวมด้วย: แผงโหลดซึ่งมีด้านบนสำหรับรองรับ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าโดยที่ว่าด้านส่วนต่อประสานทาง ไฟฟ้าของ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าจะต่อประสานกับทางเดินไฟฟ้าของด้านบนของแผงโหลด; ชุดประกอบวางติดตั้งสำหรับตั้งตำแหน่ง DUT ทางแสง-ไฟฟ้าบนแผงโหลด โดยที่ชุดประกอบ วางติดตั้งจะต่อประสานโดยใช้แสงกับแผงโหลดโดยส่วนต่อประสานทางแสงของแผงโหลดและต่อ ประสานโดยใช้แสงกับ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าโดยส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสง, แผงโหลดจะถูก ควบต่อโดยใช้แสงด้วยการเรียงแนวพอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่หนึ่งในชุดประกอบวางติดตั้ง กับพอร์ตแสงของแผงโหลดในแผงโหลดแบบแพสซีฟ, ส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสงจะถูกควบต่อ โดยใช้แสงด้วยการเรียงแนวพอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่สองในชุดประกอบวางติดตั้งกับพอร์ต แสงของ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าแบบแพสซีฟ โดยที่พอร์ตแสงของ DUT ทางแสง-ไฟฟ้าจะอยู่บนด้านตรง ข้ามกับด้านส่วนต่อประสานทางไฟฟ้าซึ่งหันหน้าเข้าหาแผงโหลด; อุปกรณ์ทดสอบทางไฟฟ้าสำหรับวิเคราะห์สัญญาณไฟฟ้าหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นจาก DUT ทางแสง-ไฟฟ้า โดยที่สัญญาณไฟฟ้าจะได้รับมาจากทางเดินไฟฟ้าหนึ่งทางหรือมากกว่านั้นของ แผงโหลด; และ อุปกรณ์ทดสอบทางแสงสำหรับวิเคราะห์สัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นจาก DUT ทาง แสง-ไฟฟ้า โดยที่สัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นจะได้รับมาโดยอุปกรณ์ทดสอบทางแสงจาก DUT ทางแสง-ไฟฟ้าโดยอาศัยการลอดแบบเพิ่มจำนวนโดยผ่านส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสงและส่วน ต่อประสานแผงโหลด โดยที่สัญญาณแสงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นจะถูกวิเคราะห์โดยอุปกรณ์ทดสอบ ทางแสงของระบบ ATE ขณะที่สัญญาณไฟฟ้าหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นถูกวิเคราะห์โดยอุปกรณ์ทดสอบ ทางไฟฟ้าของระบบ ATE15. Automated Test Toolkit (ATE) system for testing equipment under optical-electrical test (DUT). On the electrical interface side of the DUT, the optical-electric interface is connected to the electrical path of the top of the load panel; Mounting assembly for locating the optical-electrical DUT on the load panel. where the assembly The mount is optically interfaced with the load panel by the optical interface of the load panel and connected. Optically coupled to the optical-electrical DUT by an optical interface, the load panel is optically coupled by aligning the optical port of the mounting assembly on one of the mounting assembly. with the optical port of the load panel in the passive load panel, the optical device interface is coupled By aligning the optical port of the second mount assembly in the mount assembly to the optical port of the passive optical-electrical DUT. Where the optical port of the optical-electrical DUT is on the straight side. across with the electrical interface side facing the load panel; Electrical test equipment for analyzing one or more electrical signals from an optical-electrical DUT where the electrical signal is received from one or more paths of the load panel; and an optical test apparatus for analyzing one or more optical signals from an optical-electrical DUT where one or more optical signals are received by an optical test apparatus from an optical-electrical DUT by means of incremental penetration. number through the optical device interface and the segment interlock load panel where one or more optical signals are analyzed by a test device. The optical signal of the ATE system while one or more electrical signals is analyzed by the test equipment. Electrical ATE System 16. ระบบ ATE ของข้อถือสิทธิ 15 โดยที่พอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่หนึ่งจะถูกควบ ต่อโดยใช้แสงกับพอร์ตแสงของชุดประกอบวางติดตั้งที่สองโดยส่วนควบต่อแสงโดยที่ว่าแสงจาก DUT ทางแสง-ไฟฟ้าจะแพร่กระจายจากส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสงโดยผ่านส่วนควบต่อแสงไปยังส่วน ต่อประสานทางแสงของแผงโหลด16. The ATE system of claim 15, with the optical port of the mounting assembly mounted on one, is mounted. Optically connected to the optical port of the second mounting assembly by the optical interface so that the light from the optical-electrical DUT propagates from the optical interface through the optical interface to the optical interface. Optical interface of load panel 17. ระบบ ATE ของขอถือสิทธิ 16 โดยที่ส่วนควบต่อแสงจะประกอบรวมด้วยสายเคเบิลใยแสง หนึ่งเส้นหรือมากกว่านั้น17. The ATE system of Claim 16 in which the optical connector is composed of fiber optic cables. one or more lines 18. ระบบ ATE ของข้อถือสิทธิ 15 โดยที่ชุดประกอบวางติดตั้งจะเป็นชุดประกอบตัวจัดคุมซึ่ง ถูกเชื่อมต่อกับส่วนวางติดตั้งเรียงแนวเองของระบบ ATE ซึ่งตั้งตำแหน่งระบบ ATE เพื่อเรียงแนวส่วน ต่อประสานทางแสงของแผงโหลดและส่วนต่อประสานอุปกรณ์ทางแสง18. The ATE system of claim 15, where the mounting assembly is a control assembly, which It is connected to the ATE system's self-aligning bracket, which positions the ATE system to align the sections. Load panel optical interface and optical device interface 19. ระบบ ATE ของข้อถือสิทธิ 18 โดยที่ส่วนวางติดตั้งเรียงแนวเองจะปรับได้ในแบบสามมิติ19. The ATE system of claim 18, whereby the self-aligning mounting bracket is adjustable in three dimensions. 20. ระบบ ATE ของข้อถือสิทธิ 19 โดยที่ส่วนวางติดตั้งเรียงแนวเองจะประกอบรวมด้วยตัวปรับ ชนิดสปริงหนึ่งตัวหรือมากกว่านั้นซึ่งจัดให้มีแรงตึงให้กับอย่างน้อยหนึ่งในสามมิตินั้น20. The ATE system of claim 19 whereby the self-aligning mounting bracket is incorporated with an adjuster. One or more spring types that provide tension to at least one of those three dimensions.
TH2001006141A 2020-10-22 Optical interface for testing hybrids using automated testing tools. TH2001006141A (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH2001006141A true TH2001006141A (en) 2022-09-05

Family

ID=

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11747396B2 (en) 2020-07-30 2023-09-05 Openlight Photonics, Inc. Optical interconnections for hybrid testing using automated testing equipment

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11747396B2 (en) 2020-07-30 2023-09-05 Openlight Photonics, Inc. Optical interconnections for hybrid testing using automated testing equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1960815B1 (en) Apparatus and methods for verifying an acceptable splice termination
CN102939554B (en) Optical fiber alignment measurement method and device
US7373069B2 (en) Fiber optic tester
CN103328994A (en) Calibration module for a tester and tester
JP2013522674A5 (en)
US6625558B1 (en) Method and apparatus for testing CMOS image sensors
JP2022027371A5 (en)
JP2022027373A5 (en)
TH2001006141A (en) Optical interface for testing hybrids using automated testing tools.
US5530546A (en) Method and apparatus for testing fiber optic jumpers
CN106788691A (en) A kind of measurement apparatus for monitoring multichannel optical fiber
KR102642405B1 (en) Optical interconnections for hybrid testing using automated testing equipment
CN113702004B (en) Automatic coupling test equipment and method for silicon optical chip
US7068358B2 (en) Visual fault detection for optical measurements
US6111635A (en) Apparatus for verifying wire gauges of multi-core optical fiber
US7295727B1 (en) Mounted MEMs optical diagnostic switch
KR20190091085A (en) Testing apparatus for optical fiber guide module
US6917750B2 (en) System and method for characterizing optical devices
EP4266023A1 (en) High speed bidirectional test of dual-fiber link
CN213714684U (en) Multifunctional tail fiber testing device
US20220091342A1 (en) Arrayed visual inspectors for fiber connectors and adapters
US6930767B2 (en) Measurement system for multiple optical components
CN214315272U (en) 10G optical module RX out signal testing arrangement
Rakhmonova et al. ABOUT MEASUREMENTS IN GPON NETWORKS
TH2001006143A (en) Multi-channel testing of optical-electrical devices using automated test tools.