TH1901006383A - Probecard for electronic equipment testing - Google Patents
Probecard for electronic equipment testingInfo
- Publication number
- TH1901006383A TH1901006383A TH1901006383A TH1901006383A TH1901006383A TH 1901006383 A TH1901006383 A TH 1901006383A TH 1901006383 A TH1901006383 A TH 1901006383A TH 1901006383 A TH1901006383 A TH 1901006383A TH 1901006383 A TH1901006383 A TH 1901006383A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- adjusted
- probecard
- contact
- spacetransformer
- main support
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract 3
Abstract
บทสรุปการประดิษฐ์ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณาReadFile:DEPCT63มันจะอธิบายโพรบการ์ด(probecard)สำหรับเครื่องมือทดสอบอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่ประกอบด้วยอย่างน้อยหนึ่งหัวโพรบ(21)ที่ให้ที่อยู่จำนวนมากของโพรบสัมผัส(22),แต่ละโพรบสัมผัส(22)ที่มีอย่างน้อยหนึ่งปลายสัมผัสถูกปรับเพื่อชิดไปบนแผ่นสัมผัสของอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ(23),ตลอดจนสิ่งพยุงหลัก(27)และสิ่งพยุงระหว่างกลาง(24)ถูกเชื่อมต่อไปยังสิ่งพยุงหลัก(27)และถูกปรับเพื่อทำให้บรรลุผลการเปลี่ยนแปลงเชิงพื้นที่ของระยะทางระหว่างแผ่นสัมผัสบนหน้าตรงข้ามของมันเป็นสเปซทรานส์ฟอร์เมอร์(spacetransformer)(24)อย่างเหมาะสม,โพรบการ์ด(probecard)(20)ประกอบด้วยอย่างน้อยหนึ่งส่วนประกอบการเชื่อมต่อ(30)ถูกปรับให้เชื่อมสเปซทรานส์ฟอร์เมอร์(spacetransformer)(24)และสิ่งพยุงหลัก(27),ส่วนประกอบการเชื่อมต่อนี้(30)ที่มีลำตัวค่อนข้างคล้ายแท่ง(30C)และจัดให้มีด้วยส่วนปลายแรก(30A)ที่ประกอบด้วยอย่างน้อยหนึ่งส่วนปลาย(30A1)ถูกปรับเพื่อจะถูกเชื่อมต่อในตัวเรือนที่สอดคล้องกันทำให้บรรลุผลในสเปซทรานส์ฟอร์เมอร์(spacetransformer),(24)และด้วยส่วนปลายที่สอง(30B)ถูกปรับเพื่อชิดไปบนส่วนประกอบของสิ่งรองรับ(abutmentelement)(28)เชื่อมต่อไปยังสิ่งพยุงหลัก(27)(รูปที่2A)----------------------------------------------------------- The invention summary, which appears on the advert page ReadFile:DEPCT63, describes a probecard for electronic device testing tools consisting of at least one probe(21) that provides multiple addresses for contact probes ( 22), each contact probe (22) with at least one contact tip was adjusted to align on the contact pads of the device under test (23), as well as the main support (27) and the intermediate support (24). It is connected to the main support (27) and is adjusted to achieve the spatial change in the distance between the contact pads on its opposite faces as a spacetransformer. )(24) appropriately, the probecard(20)containing at least one connection component(30)adapted to connect the spacetransformer(24)and The main support (27), this connecting element (30) having a somewhat rod-like body (30C) and supplied with an initial tip (30A) comprising at least one distal end (30A1) was adjusted to are connected in the corresponding housing, accomplished in the spacetransformer, (24) and with the second end (30B) adjusted to align on the B component. The abutmentelement (28) is connected to the main abutment (27) (Figure 2A). ---------------------------------
Claims (1)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH1901006383A true TH1901006383A (en) | 2022-05-02 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PH12019502351A1 (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| JP7231977B2 (en) | Test probes and test probe tips | |
| PH12017501807A1 (en) | Vertical contact probe and corresponding testing head with vertical contact probes, particularly for high frequency applications | |
| PH12019501351A1 (en) | Testing head having improved frequency properties | |
| MY135083A (en) | Inspection unit | |
| WO2016087369A3 (en) | Testing head comprising vertical probes | |
| MY195983A (en) | Probe Card For High-Frequency Applications | |
| PH12016501753A1 (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices, particularly for extreme temperature applications | |
| WO2005091000A8 (en) | Contact probe for a testing head | |
| WO2017124108A3 (en) | Devices and methods for tension measurements and applications of same | |
| JP2019514001A5 (en) | ||
| JP2014232105A5 (en) | ||
| TH1901006383A (en) | Probecard for electronic equipment testing | |
| WO2009004722A1 (en) | Probe and probe card | |
| GB2574155A (en) | Contacting device, head unit for the same, and methods for manufacturing a contacting device and a head unit | |
| TWI582434B (en) | Probe device | |
| TWD194906S (en) | Probe pin for continuity test | |
| TWD198372S (en) | Portion of electric characteristic measuring probe | |
| SG10201901455XA (en) | Contactor socket and ic test apparatus | |
| TH1901005010A (en) | Probecard for use at high frequencies. | |
| ATE553361T1 (en) | HIGH TEMPERATURE SENSOR AND METHOD FOR CHECKING SAME | |
| TH1901005011A (en) | Improved probe card for use at high frequencies. | |
| CN102809693A (en) | Resistance testing device | |
| WO2014009980A8 (en) | Interface board of a testing head for a test equipment of electronic devices and corresponding testing head | |
| KR101878828B1 (en) | Tracked Tapeline |