SU991342A2 - Measuring device statistical error determination method - Google Patents

Measuring device statistical error determination method Download PDF

Info

Publication number
SU991342A2
SU991342A2 SU813249762A SU3249762A SU991342A2 SU 991342 A2 SU991342 A2 SU 991342A2 SU 813249762 A SU813249762 A SU 813249762A SU 3249762 A SU3249762 A SU 3249762A SU 991342 A2 SU991342 A2 SU 991342A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
signal
time
measuring device
statistical error
determination method
Prior art date
Application number
SU813249762A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Иванович Заико
Original Assignee
Уфимский авиационный институт им.Орджоникидзе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Уфимский авиационный институт им.Орджоникидзе filed Critical Уфимский авиационный институт им.Орджоникидзе
Priority to SU813249762A priority Critical patent/SU991342A2/en
Application granted granted Critical
Publication of SU991342A2 publication Critical patent/SU991342A2/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

(Stt} СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТАТИСТИЧЕСКОЙ ПОГРЕШНОСТИ ИЗНЕРИТЕЛЬНЫХ УСТРОЙСТВ(Stt} METHOD FOR DETERMINING THE STATISTICAL ERROR OF AN EXTERNAL DEVICES

Изобретение относитс  к измерител ной технике и может-быть использован ;дл  автоматической поверхности измер тельных устройств а переходных режимах . По основному авт. св. IP 890287 известен способ определени  статистической погрешности измерительных устройств, заключающийс  в том что на повер емый объект подают испытательный сигнал, фавютвают сигнал с выхода повер емого объекта с опорным сигналом, соответствующим измер емой отметке шкалы, измер ют мгновенные значени  испытательного сигнала в мо менты равенства сравниваемых сигналов , вычитают из полученных мгновенных значений опорный сигнал, преобразованный в сигнал, соответствую1ЦИЙ испытательному сигналу, и по их разности определ ют моменты статисти ческой погрешности J, Недостатком такого способа  вл етс  невозможность определени  статистической погрешности измерительных устройств в переходных режимах j возникающих сразу же после подачи на пoвep e tt lй объект исг тательного сигнала, обусловленна  тем, что статистическа  погрешность в переходных режимах  вл етс  функцией времени с момента подачи испытательного сигнала. Цепь -.изобретени  - определение статистической погрешности в перёходных режимах.ж Поставленна  цепь достигаетс  тем, что согласно способу определени  статистической погрешности измерительных устройств, основанному на-подаче на повер емый объект испытательного сигнала, ср нений сигнала с выхода повер емого объекта., с опорным сигналом, соответствующим повер емой отметке шкалы, измерений мгновенных значений испытательного сигнала в моменты равенства сравниваемых сигналов, вычитани  из полученных мгновенных значении опорного сигнала , преобразованного в сигнал, соответствующий испытательному сигналу с последующим определением по их разности моментов статистической погрешности , определ ют врем  с момента подачи испытательного сигнала, сравнивают его с временем датировани  погрешности и определ ют значение статистической погрешности при равенстве времени с. момента подачи сигнала времени датировани  погрешности.The invention relates to a measuring technique and can be used for automatic surface measurement devices in transient conditions. According to the main author. St. IP 890287 discloses a method for determining the statistical error of measuring devices, which means that a test signal is sent to a test object, a signal from the output of a test object with a reference signal corresponding to the measured scale mark is received, the instantaneous values of the test signal are measured at equal moments signals, subtract from the obtained instantaneous values of the reference signal, converted into a signal corresponding to the test signal, and by their difference determine the moments of statistics and the error J, the disadvantage of this method is that it is impossible to determine the statistical error of measuring devices in transient modes j arising immediately after applying an emitting signal to the transistor due to the fact that the statistical error in transient modes is a function of time since filing a test signal. Chain -invention — Determining the statistical error in transition modes. The delivered chain is achieved in that, according to the method of determining the statistical error of measuring devices, based on the test signal received from the object to be detected, the signal from the output of the object to be tested. the signal corresponding to the calibrated mark of the scale, measurements of the instantaneous values of the test signal at the moments of equality of the compared signals, subtraction of the instantaneous values of the reference signal from The signal converted into the signal corresponding to the test signal with the subsequent determination of the statistical error by their difference of time determines the time from the moment the test signal was given, compare it with the error dating time and determine the value of the statistical error when the time is equal. the time of the signal time dating error.

На чертеже, изображена блок-схема устройства, реализующего предлага1вмый способ.The drawing shows a block diagram of a device implementing the proposed method.

Устройство содержит ключ 1, повер емое измерительное устройство 2, задатчик 3 отметки шкалы, блок k сранени  шкалы, блок 5 управлени , задатчик 6 времени датировани , преобразователь 7 измеритель 8 времени, блок 9 сравнени  времени, элемент И 10, статистический анализатор 11 и алгебраический сумматор 12,The device contains a key 1, a measurable measuring device 2, a scale setting unit 3, a scale calibration unit k, a control unit 5, a dating time setting unit 6, a time converter 8, a time measuring unit 8, a time comparing unit 9, an AND element 10, a statistical analyzer 11 and algebraic adder 12,

Способ осуществл етс  следующим образом.The method is carried out as follows.

Испытательный сигнал x(t) подают через ключ 1 на код повер емого измерительного устройства 2, которое находитс  под вли нием внешнего возмущающего воздействи  y(t ), и на вход статистического анализатора 11. Сигнал Z(t) с выхода измерительного устройства 2 подают на вход блока сравнени  шкалы, на второй вход которого от задатчика 3 отметки шкалы подают сигнал, соответствующий повер емой отметке шкалы Z. При равенстве этих сигналов с блока сравнени  подают сигнал на вход элемента И 10.The test signal x (t) is fed through the key 1 to the code of the measuring instrument to be turned 2, which is influenced by the external disturbing influence y (t), and to the input of the statistical analyzer 11. The signal Z (t) from the output of the measuring device 2 is fed to the input of the comparison unit, to the second input of which from the unit 3 of the scale mark, sends a signal corresponding to the scale Z being calibrated. When these signals are equal, the comparison unit sends a signal to the input of the element And 10.

Ключ 1 открывают сигналом с блока 5 управлени , который одновременно запускает измеритель 8 времени. Сигнал интервала времени с момента подачи испытательного сигнала на входизмерительного устройства 2 с выхода измерител  8 подают на блок 9 сра нени  времени, на второй вход которого подают сигнал времени датировани  t с задатчика 6. При равенстве времени с момента подачи испытательного сигнала и времени датировани  t импульса с блока 9 сравнени  времени подают на другой вход элемента И 10 на вход блока 5 управлени  дл  подготовки следующего цикла подачи испитательного сигнала на вход измерительного устройства 2„The key 1 is opened with a signal from the control unit 5, which simultaneously starts the time meter 8. The time interval signal from the moment the test signal was sent to the input measuring device 2 from the output of the meter 8 is fed to time 9 block, to the second input of which the date time signal t is sent from the setting unit 6. If the time signal from the time the test signal is applied and the pulse time t is given From the time comparison unit 9, they are fed to the other input of the element AND 10 to the input of the control unit 5 to prepare the next cycle of supplying the test signal to the input of the measuring device 2 "

При одновременном поступлении си1- налов на оба входа элемента И 10 ее выходным сигналом запускают статистический анализатор 11. Выходные сигналы статистического анализатора 11 представл ют собой математическое ожидание и дисперсию испытательного сигнала в момент датировани  t при равенстве выходного сигнала измерительного устройства 2 повер емой отметке шкалы Z.When signals are simultaneously received at both inputs of the And 10 element by its output signal, the statistical analyzer 11 is started. The output signals of the statistical analyzer 11 are the expectation and variance of the test signal at the time of dating t when the output signal of the measuring device 2 is equal to the check mark of the scale Z .

Сигнал с первого выхода статистического анализатора 11 подают на один из входов алгебраического сумматора 12, на второй вход которого подают сигнал с выхбда преобразовател  7, реализующего функцию x(Z), обратную нормированной характеристике преобразовани  повер емого устройства 2. Причем сигнал с выхода алгебраического сумматора 12 представл ет собой первый момент mn(t, Z) статистической погрешности повер емого измерительного устройства, а с второго выхода статистического анализатора 11 - второй момент(Jg (t, Z) статистической погрешности.The signal from the first output of the statistical analyzer 11 is fed to one of the inputs of the algebraic adder 12, to the second input of which a signal is sent from the output of the converter 7 that implements the function x (Z), the inverse of the normalized characteristic of the transformation of the device being tested 2. And the signal from the output of the algebraic adder 12 represents the first moment mn (t, Z) of the statistical error of the measuring device under test, and from the second output of the statistical analyzer 11 - the second moment (Jg (t, Z) of the statistical error.

Введение операций измерени  времени с момента подачи испытательного сигнала и сравнени  его с временем датировани  позвол ет определ ть статистические погрешности в переходных режимах .Introducing time measurement operations from the time the test signal was applied and comparing it with the dating time allows the statistical errors in transient conditions to be determined.

Claims (1)

1. Авторское свидетельство СССР № 890287, кл. G 01 R 35/00, 1979.1. USSR author's certificate No. 890287, cl. G 01 R 35/00, 1979.
SU813249762A 1981-02-17 1981-02-17 Measuring device statistical error determination method SU991342A2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813249762A SU991342A2 (en) 1981-02-17 1981-02-17 Measuring device statistical error determination method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813249762A SU991342A2 (en) 1981-02-17 1981-02-17 Measuring device statistical error determination method

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU890287 Addition

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU991342A2 true SU991342A2 (en) 1983-01-23

Family

ID=20943679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813249762A SU991342A2 (en) 1981-02-17 1981-02-17 Measuring device statistical error determination method

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU991342A2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2476896C2 (en) * 2010-12-30 2013-02-27 ОАО "Муромский завод РИП" Calibration method of measuring systems

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2476896C2 (en) * 2010-12-30 2013-02-27 ОАО "Муромский завод РИП" Calibration method of measuring systems

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES471657A1 (en) Measuring method and device for detecting errors in printed sheets and bands.
US5309377A (en) Calibration apparatus and method for improving the accuracy of tire uniformity measurements and tire testing method using same
GB2054302A (en) Digital measurement of analogue quantities
US3589178A (en) Device for measuring torsion in a shaft
US4192321A (en) Tooth displacement measuring apparatus
EP0496147A1 (en) Method of precise measurement of small resistance values
SU991342A2 (en) Measuring device statistical error determination method
SU890287A1 (en) Measuring device statistical error determination method
SU960689A1 (en) Measuring device graduation characteristic determination method
SU1045159A1 (en) Phase meter error determination method
US3132509A (en) Method for determination of mechanical tangent loss and dynamic modulus in the direct reading manner
SU416640A1 (en) METHOD FOR CONTROLLING THE EXPOSURE OF ANALOGUE RECOGNITION DEVICES
SU1078367A2 (en) Device for measuring azimuth non-uniformity of sine magnetic fields
SU1071982A1 (en) Method of determination of measuring device graduation characteristics
JPS6430127A (en) Switching device operation time measuring system
SU1071983A2 (en) Method of determination of measuring device graduation characteristics
SU1049846A1 (en) Process for automatic calibration testing of electrical measuring instrument
SU871111A1 (en) Method of high-frequency voltmeter checking and graduation
US6686578B2 (en) Apparatus for sweep synchronization measurement of optical wavelength sensitivity characteristics and method of correcting optical wavelength sensitivity thereof
SU1688180A1 (en) Method of testing the electromechanical integrator-differentiator
SU1679186A1 (en) Method for measuring thickness by radioisotope gauge
SU877448A1 (en) Device for determination of stroboscopic transducer graduation characteristics
SU197001A1 (en) DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING OF ELECTRIC MEASUREMENT INSTRUMENTS
RU1793200C (en) Multichannel strain gage
SU815693A1 (en) Voltage divider testing method