Изобретение относитс к оптическому приборостроению и может быть ис пользовано дл определени распредел ни температуры по поверхности объек ( микрообъекта). Известен инфракрасный микроскоп, держащий оптическую систему и приемник излучени , в качестве которого и пользуетс электронно-оптический пре образователь, установленные по ходу излучени от объекта, а также источник подсветки объекта и устройство обработки электрического сигнала, подключенное к выходу приемника излучени 1 . Недостатком такого устройства вл етс низкое пространственное разре шение , определ емое диапазоном спект ральной чувствительности приемника излучени и разрешалмцей способностью оптической системы на рабочей длине волны. Наиболее близким к предлагаемому по своей технической сущности вл ет с инфракрасный микроскоп, содержащий источник подсветки объекта, пред метный стол, оптическую систему и приемник излучени , расположенные послелопательно по ходу излучени , а также систему сканировани и устройство обработки электрического сигнала t 2. Недостаток этого микроскопа заключаетс в его низкой разрешающей способности. Цель изобретени - повышение разрешающей способности микроскопа при измерении распределени температуры по поверхности объекта. Поставленна цель достигаетс тем, что в инфракрасный микроскоп, содержащий источник подсветки объекта , предметный стол, оптическую систему и приемник излучени , {расположенные последовательно по ходу излучени , а также систему сканировани и устройство обработки электрического сигнала, введены кювета, установленна на предметном столе и заполненна жидкой или газообразной средой , контактирующей с исследуемой поверхностью объекта и содержащей взвесь инертных по отношению к среде и объекту частиц, оптические свойства которых О1;личны от оптических свойств среды, а также блок измерени уширени спектра сигнала, вход которого соединен с выходом приемника излучени , а выход - со входс устройства обработки электрического сигнала, причем угол между осью излучени источника подсветки объекта и осью оптическор скотегфз OTJiH iefi от О , но не; превышает 90°, На чертеже представлена структурма схема предлагаемого устройства. Инфракрасный микроскоп содержит оптическую систему 1, приемник 2 излучени , источник 3 подсветки объекта , устройство 4 обработки электрического сигнала, объект 5, жидкую или газообразную среду со взвесью частиц б, гделевую диафрагму 7, блок 8 измерени уширени спектра сигнала, блок 9 иеремеадени объекта, перемещаквдийс предметный стол 10, к вету 11. В инфракрасном микроскопе по ходу излучени от объекта 5, установленно го на перемещающемс столе 10, расположены жидка или газообразна сре да со взвесъю частиц б, оптическа система 1, щелева диафрагма 7 и при емник 2 излучени . Указапнк;е частицы инертны по отношению к среде и объек ту, а их оптические свойства отличаютс от оптических свойств среды. Выход приемника 2 излучени через блок 8 измерени уширени спектра си нала соединен с устройством 4 обработки электрического сигнала на второй вход которого подаютс сигналы о перемещении объекта 5 блоком 9 пер мещени объекта. Блок 9 перемещени объекта позвол ет производить измене ние положени объекта в двух взаимно пepпeндикyл p ыx направлени х. При этом блок 9 перемещени объекта, св занный с перемещающимс столом 10 и с устройством 4 обработки электричес кого сигнала, а также щелева диафрагма 7 представл ют собой системы сканировани . Дл увеличени помехоустойчивости результатов измерени между оптической системой 1 и приемником 2 излучени может быть введен узкополосный фильтр с шириной полосы пропускани , немногим большей, чем ширина спектрального диапазона, излучтни источника 3 подсветки. В качестве источника 3 подсветки может быть использован монохроматический источник, например, лазер УФ, либо видимого диапазона спектра излучени Жидка или газообразна среда должна быть прозрачной дл излучени источника 3 подсветки и иметь приемлемую в зкость в рабочем диапазоне температур. Размер частиц, наход щихс во взвеси в жидкой или га зообразной среде, может быть как больше длины волны излучени источника 3 подсветки, так и меньше ее. Перенос плоскости изображени на чувствительный слой приемника 2 излучени может быть осуществлен также с помощью волоконно-оптических элементов. Жидка или газообразна среда со взвесью частиц 6 и объектом 5 помещены в кювету 11, выполненную из материала, прозрачного дл излучени источника 3 подсветки. Применение кюветы 11 в некоторых случа х не об зательно, поскольку среда со взвесью частиц 6 может быть нанесена на микрообъект 5 в виде капли, т. е-, с использованием свободного растекани по объекту 5. Угол между осью излучени источника 3 подсветки и осью оптической системы 1.выбираетс в зависимости от решаемой задачи. При этом он отличен от 0°, но не превышает 90° на чертеже указанный угол равен 90° Микроскоп работает следующим образом . Объект 5 помещают в кювету 11, заполненную жидкой или газообразной средой со взвесью частиц 6, причем размер частиц во взвеси равен -оО,1мкм Излучение источника 3 подсветки фокусируетс его оптической частью на приповерхностном слое жидкой или газообразной среды со взвесью частиц б. Это .излучение, рассеива сь на частицах из взвеси, попадает через оптическую систему 1 и щелевую диафрагму 7 на чувствительный слой приемника 2 излучени . Введение жидкой или газообразной среды со взвесью частиц б дает возможность проводить измерение распределени температуры на поверхности объекта 5 косвенным методом, обеспечивающим высокую разрешающую способ ,ность, так как при таком методе из мер етс n3MeiieHne скорости броуновского движени частиц,пропорциональное распределению абсолютной температуры на поверхности объекта 5. Измерение изменени скорости броуновского движени частиц осуществл етс в блоке 8измерени уширени спектра сигнала , получаемого от приемника 2 излучени , поскольку указанное изменение скорости вызывает соответствукхдее уширение спектра источника подсветки 3. При этом в приемнике 2 излучени реализуетс либо гетеродинный , либо гомодинньй режим работы, а частота сигнала пропорциональна средней скорости броуновского движени , частиц. Установка в плоскости изображени оптической системы 1 щелевой диаграгмы 7 совместно с использованием блока перемещени объекта 9позвол ет получать значени температуры по площади о.бъекта 5 с высокой точностью, так как щелева дифграгма 7 экранирует чувст итр льный слой приемника от иэлутнрипч соседних участков , л б.гюк 9 перг мещени . оч г Ivi