SU926584A1 - Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов - Google Patents

Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов Download PDF

Info

Publication number
SU926584A1
SU926584A1 SU802982690A SU2982690A SU926584A1 SU 926584 A1 SU926584 A1 SU 926584A1 SU 802982690 A SU802982690 A SU 802982690A SU 2982690 A SU2982690 A SU 2982690A SU 926584 A1 SU926584 A1 SU 926584A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
simulator
sleeves
base
defect
cracks
Prior art date
Application number
SU802982690A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Григорьевич Вяхорев
Виктор Сергеевич Никульшин
Петр Петрович Олейников
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1857
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1857 filed Critical Предприятие П/Я А-1857
Priority to SU802982690A priority Critical patent/SU926584A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU926584A1 publication Critical patent/SU926584A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

(5k} ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ

Claims (2)

  1. Изобретение относитс  к контрольн измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии мате Iриалов и изделий методом вихревых токов . Известен имитатор дл  настройки дефектоскопов, состо щий из электропроводного основани  и искусственного дефекта в виде твердого тела из электропроводного материала, прикреп ленного к поверхности основани  11. Функциональные возможности имитатора ограничены, поскольку он практически не позвол ет имитировать под поверхностные трещины с переменной глубиной и шириной раскрыти . Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  имитатор дл  настройки электромагнитных дефектоскопов,. состо щий из основани  в виде многослойного электропроводного цилиндра и кус ста ей но го дефекта, выполненного по коайней мере в одном из слоев в виде сквоз- v ной, прорези Г2. Недостатком имитатора  вл етс  то, что при изготовлении трещин переменной глубины необходимо изготавливать искусственную трещину в нескольких сло х и жестко фиксировать слои одни относительно других, образу  одну трещину. Цель изобретени . - снижение трудо-f емкости изготовлени  искусственных дефектов типа трещин переменной глубины и ширины раскрыти . Поставленна  цель достигаетс  за счет того, что в имитаторе дл  настройки электромагнитных дефектоскопов , состо щем из основани  в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по крайней мере в одном из слоев, слой с искусственным дефектом выполнен в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок. Дл  получени  трещин переменной глубины втулки выполн ютс  эксцентричными , а искусственный дефект выполн етс  в виде шайбы из непровод щего материала, размещенной между торцами втулок. При этом дл  получени  трещин с посто нным углом раскрыти , один из торцов втулки может быть выполне в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси втулки, или в виде внутренн1его конуса с вершиной, лёжа щей на оси наружного цилиндра втулки Дл  получени  трещин с переменно шириной раскрыти  вт.улки выполнены цилиндрическими и соприкасающимис  в одной точке, а плоскость торца одной из втулок, обращенного к друг втулке, образует с осью втулки равный 88-89,8. Основание и втулки в имитаторе могут быть выполнены из материалов с различной электропроводностью. . Имитатор может быть выполнен со шкалой исследуемого параметра имитируемого дефекта. На фиг. 1 показан имитатор, в ко тором основание выполнено в виде электропроводного стержн , размещен ного внутри эксцентричных втулок; на фиг. 2 сечение А-А на фиг. 1; на фиг 3 имитатор, в котором основание выполнено в виде трубы) кото|: а  охватывает эксцентричные вт ки- на фиг. и 5 - то же, основани  выполнены в. виде двух слоев, между которыми.размещены эксцентрич ные втулкиV на фиг, 6 и 7 то же, торцы эксцентричных втулок выполнен в виде внешних конусов с вершинами, лежащими на ос х отверстий втулок; на фиг. 8 и 9 то же, торцы эксцен ричных втулок выполнены в виде внут ренних конусов с вершинами, лежащими на ос х наружных поверхностей втулок на фиг. 10 - то же, основание выполнено в виде стержн  из непровод щего материала и размещено внутри цилиндрических втулок-; на фиг. 11 - то же, .основание выполнено в виде стержн  из электропроводного материала и размещено внутри цилиндрических втулою, на фиг. 12то же, основание выполнено в виде трубы из электропроводного материала и размещено внутри цилиндрических втулок ,- на фиг. 13 - то же, осн вание выполнено в виде трубы из про вод щего материала, охватывающей цилиндрические втулки; на фиг. It то же, основание выполнено в виде трубы Из непровод щего материала, охватывающей цилиндрические втулки. Имитатор содержит электропроводные втулки 1 и 2 основание 3.искусственный дефект Ц, шкалу 5 параметра дефекта (глубина или ширина трещины ) ,элементы 6 креплени  втулок и бинты 7. В вариантах имитатора, представленных на фиг. и 5, основание 3 имитатора выполнено из двух слоев. Имитатор дефектов типа трещин переменной глубины изготавливают следующим образом. Измерительным прибором, например микроскопом, измер ют толщину стенок втулок 1 и 2 в различных точках по окружности и градуируют шк%лу 5- После этого между втулками 1 и 2 устанавливают искусственный дефект-шайбу , и собирают имитатор, дл  чего втулки с помощью элементов 6 и винтов 7 креп т к основанию 3 при этом втулки поджимают одну к другой. Имитатор дефектоб типа трещин с переменной шириной раскрыти  изготавливают следующим образом. Втулки 1 и 2 поджимают одну к другой с помощью элементов 6 и винтов 7. Затем измерительным прибором, например микроскопом, измер ют ширину трещины в различных точках и градуируют шкалу 5. С имитатором работают следующим образом. Электромагнитный преобразователь 8 дефектоскопа устанавливают над трещиной . Снимают показани  дефектоскопа и сравнивают их с его градуировкой. Затем осуществл ют настройку дефектоскопа , добива сь показани  его индикатора , соответствующего делению. шкалы 5 параметра дефекта имитатора. Аналогичным образом проводитс  поверка дефектоскопа по всем величинам исследуемого параметра дефекта. Предлагаемый имитатор прост визготовлении , обладает хорошей воспроизводимостью , позвол ет имитировать трещины с переменной глубиной и шириной раскрыти  различного типа (поверхностные , подповерхностные, внутренние ) . Целесообразно;использовать имитатор дл  настройки электромагнитных дефектоскопов, предназначенных дл  контрол  труб, прутков, листов и др. Формула изобретени  1.Имитатор дл  настройки электр : магнитных дефектоскопов, состо щий из основани  в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по крайней мере в одном из слоев, о тличающийс  тем, что, с целью снижени  трудоемкости изготов лени  искусственных дефектов типа трещин, слой с искусственным дефектом выполнен в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок. 2.Имитатор поп,1, отлича ющийс  тем, что, с целью получени  трещины переменной глубины, втулки выполнены эксцентричными, а искусственный дефект выполнен в вид шайбы из непровод щего материала, ра мещенной между торцами втулок. 3.Имитатор по пп. 1 и 2, о тличающийс  тем, что, с целью получени  трещин с посто нным углом раскрыти , один из тОрцов втулки выполнен в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси отверсти  втулки. it. Имитатор по пп. 1 и 2, отличающийс  тем, что один из торцбв втулки выполнен в виде внутреннего конуса с вершиной, лежащей на оси наружного цилиндра втулки. 5.Имитатор по П.1, отличающийс  тем, что, с целью получени  трещин с переменной шириной раскрыти , втулки выполнены цилиндрическими и соприкасающимис  в одной точке, а плоскость торца одной из втулок, обращенного к другой втулке, образует с осью втулки угол, равный 88-891в ., 6.Имитатор по пп.1-5 от л ичающийс  тем, что основание и втулки выполнены из материалов с различной электропроводностью. 7- Имитатор по пп. 1-6, о т л ичающийс  тем, что он выполнен со шкалой исследуемого параметра имитируемого дефекта. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство № 526652, кл. G 01 N 27/86, 197.
  2. 2.Авторское свидетельство СССР № 739391, кл. G 01 N 27/86, 1978 (прототип).
    tf.J
    .
    Фиг.5
    Фиг. 7
    92658
    ,/
    f
    в
    //7/Z/A
    Фиг.9
    s г
    3
    Й
    vOC
    Фиг. to
    -V
    Фиг. //
    ui
SU802982690A 1980-09-15 1980-09-15 Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов SU926584A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802982690A SU926584A1 (ru) 1980-09-15 1980-09-15 Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802982690A SU926584A1 (ru) 1980-09-15 1980-09-15 Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU926584A1 true SU926584A1 (ru) 1982-05-07

Family

ID=20917970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802982690A SU926584A1 (ru) 1980-09-15 1980-09-15 Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU926584A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0145899A2 (en) * 1983-11-18 1985-06-26 Westinghouse Electric Corporation Calibration apparatus for inspecting metal tubes by eddy current techniques

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0145899A2 (en) * 1983-11-18 1985-06-26 Westinghouse Electric Corporation Calibration apparatus for inspecting metal tubes by eddy current techniques

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO911309D0 (no) Fremgangsmaate og anordning for overvaakning av sammensetningen av masse med flere komponenter.
US3815016A (en) Method of measuring thickness of nonmetallic paving material with compensation for properties of the material
CN103344694A (zh) 一种检测在役支柱瓷绝缘子裂纹缺陷的方法
CN104965063A (zh) 一种基于时域反射的早龄期混凝土养护质量检测方法
US2744233A (en) Apparatus for detecting flaws in metal stock
ATE280385T1 (de) Schatten-moire-oberflächentopologieprüfung mit eichproben
Janovec et al. Eddy current array inspection of riveted joints
CA1221738A (en) Simulation apparatus for eddy current inspection techniques
SU926584A1 (ru) Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов
US3346065A (en) Measurement apparatus for studying the physical properties of a medium
Al-Mattarneh Enhancement of parallel plate sensor for electromagnetic characterization of material
Bakhtiari et al. Modeling of eddy current probe response for steam generator tubes
US2505778A (en) Device for determining moisture content, density, and direction of grain of wood, and other semiconducting material
SU926585A1 (ru) Имитатор дл настройки дефектоскопов
US3723861A (en) An eddy current test probe using an oscillator mounted in a digitally manipulatable housing
SU1006996A2 (ru) Испытательный образец дл неразрушающего контрол цилиндрических изделий
SU739391A1 (ru) Имитатор дл настройки дефектоскопов
Al-Mattarneh Surface electromagnetic sensor for evaluation of construction material
SU789722A1 (ru) Способ магнитошумового контрол механических напр жений
SU926586A1 (ru) Имитатор дл настройки электромагнитных дефектоскопов
SU911309A1 (ru) Имитатор дефектов
SU1096563A1 (ru) Образец дл настройки дефектоскопов
SU930100A1 (ru) Настроечный образец дл дефектоскопов
SU1006992A1 (ru) Настроечный имитатор дл вихретоковых дефектоскопов (его варианты)
SU635437A1 (ru) Имитатор настроечный