SU911176A1 - Spectrometer - Google Patents
Spectrometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU911176A1 SU911176A1 SU792842653A SU2842653A SU911176A1 SU 911176 A1 SU911176 A1 SU 911176A1 SU 792842653 A SU792842653 A SU 792842653A SU 2842653 A SU2842653 A SU 2842653A SU 911176 A1 SU911176 A1 SU 911176A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- analyzer
- spectrometer
- polarization
- diffraction gratings
- grid
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
(54) СПЕКТРОМЕТР(54) SPECTROMETER
II
Изобретение относитс к измерительной технике и прецназначено дл фотоэлектрической регистрации спектра.The invention relates to a measurement technique and is particularly suitable for photoelectric spectrum recording.
Известны оптические схемы спектрометров с интерференционной селективной амплитудной модул цией, построенные на базе двухлучевого интерферометра с двум отдельными каналами.Optical schemes of spectrometers with interference selective amplitude modulation, based on a two-beam interferometer with two separate channels, are known.
Однако эти устройства не обладают стабильностью интерференционной картины , что ведет к уменьшению амплитуды модул ции.However, these devices do not have the stability of the interference pattern, which leads to a decrease in the modulation amplitude.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс спектрометр с интерференционной селективной амплитудной модул цией с обратнокруговым ходом дучей, содержащий по ходу луча поп ризатор, светоделитель, две аифэакционные решетки, зеркало, моЛул тор , компенсатор и анализатор, в котором оба интерферируюшнх пучка проход т одни и те же элементы оптической схемы в противоположных направлени х, в результате чего интерференционна картина отличаетс повышенной стабильноотью и падение амплитуды мо.л цни иэза случайных разъюстировок элементов оптической схемы не происходитThe closest to the invention according to the technical essence is a spectrometer with an interference selective amplitude modulation with a reverse-circular course of a duchi, containing a polarizer, a beam splitter, two interference-phase gratings, a mirror, a mullor, a compensator and an analyzer in which both interfering beams pass through the same elements of the optical circuit in opposite directions, as a result of which the interference pattern is distinguished by an increased stability and a decrease in the amplitude of the random phase stirovok elements of the optical circuit does not occur
Недостатками известного спектро- метра вл ютс наличие искажений аппаратной функции, неполное использование разреш ающей силы дифракционных решеток , и вли ние посто нной составтшюшей регистрирующего излучени .The disadvantages of the known spectrometer are the presence of distortions of the apparatus function, the incomplete use of the resolving power of diffraction gratings, and the effect of the constant composition of the recording radiation.
toto
Цель изобретени - устранение искажений аппаратной фракции и пошлшение разрешающей силы спекгрометра.The purpose of the invention is to eliminate distortion of the hardware fraction and the resolution power of the spectrometer.
Поставленна йель достигаетс ,; тем, что в спектрометр, содержащий по ходу Delivered yel is reached; the fact that the spectrometer containing along
ts пуча пол ризатор, светоделитель, установленный на его входе, две дифракционные решетки, зеркало и модул тор, введены пол ризатор и анализатор, анализатор и светоделитель выполнены в виде ts beam polarizer, a beam splitter installed at its entrance, two diffraction gratings, a mirror and a modulator, a polarizer and an analyzer are introduced, the analyzer and the beam splitter are made in the form
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792842653A SU911176A1 (en) | 1979-08-13 | 1979-08-13 | Spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792842653A SU911176A1 (en) | 1979-08-13 | 1979-08-13 | Spectrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU911176A1 true SU911176A1 (en) | 1982-03-07 |
Family
ID=20860497
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792842653A SU911176A1 (en) | 1979-08-13 | 1979-08-13 | Spectrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU911176A1 (en) |
-
1979
- 1979-08-13 SU SU792842653A patent/SU911176A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0250070B1 (en) | Optical analysis method and apparatus having programmable rapid random wavelength access | |
DE4103914C2 (en) | Interferometer | |
US7301632B2 (en) | Polarization state conversion in optically active spectroscopy | |
US4556314A (en) | Dispersion determining method and apparatus | |
CA1194972A (en) | Acousto-optical channelized processor | |
US4531196A (en) | Real-time Fourier transformer using one acousto-optical cell | |
US5206710A (en) | Method and apparatus for thermowave analysis | |
US5105380A (en) | Electro-optic channelized modulator and receiver | |
US3961841A (en) | Optical pulse position modulator | |
SU911176A1 (en) | Spectrometer | |
US7265848B2 (en) | Time-resolved nonlinear complex sensitivity measuring apparatus | |
KR19980703176A (en) | Optical gas analyzer | |
GB1362340A (en) | Method of measuring small objects | |
Vishnyakov et al. | Measuring the angle of rotation of the plane of polarization by differential polarimetry with a rotating analyzer | |
GB1175855A (en) | Improvements in or relating to information processors | |
GB1292465A (en) | Improvements in and relating to spectrometric apparatus | |
EP1466147B1 (en) | Polarization state conversion in optically active spectroscopy | |
SU1249347A1 (en) | Device for grading phase plates | |
US4958124A (en) | Multi-channel voltage detector | |
SU679787A1 (en) | Method of measuring the difference between angles of rotation of two shafts | |
Till et al. | A double-pass Sisam spectrometer for the near infrared | |
JP2787345B2 (en) | Two-wavelength light source element | |
SU724942A1 (en) | Method of spectral investigating of radiation | |
SU1599786A1 (en) | Apparatus for measuring high voltage | |
JPH0795097B2 (en) | Distance measuring method and device |