SU894611A1 - Device for producing test voltage - Google Patents

Device for producing test voltage Download PDF

Info

Publication number
SU894611A1
SU894611A1 SU802870856A SU2870856A SU894611A1 SU 894611 A1 SU894611 A1 SU 894611A1 SU 802870856 A SU802870856 A SU 802870856A SU 2870856 A SU2870856 A SU 2870856A SU 894611 A1 SU894611 A1 SU 894611A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
voltage
transistors
test voltage
test
output
Prior art date
Application number
SU802870856A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Евгений Александрович Юдин
Евгений Александрович Трубленков
Петр Иванович Чутчиков
Original Assignee
Московский научно-исследовательский и проектный институт жилищного хозяйства
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский научно-исследовательский и проектный институт жилищного хозяйства filed Critical Московский научно-исследовательский и проектный институт жилищного хозяйства
Priority to SU802870856A priority Critical patent/SU894611A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU894611A1 publication Critical patent/SU894611A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ИСПЫТАТЕЛЬНОГО НАПРЯЖЕНИЯ(54) DEVICE FOR OBTAINING TEST STRESS

Claims (2)

Изобретение относитс  к эпектроизмерительной технике и может быть использовано в приборах дл  контрол  электрической прочности изол ции электрических машин и аппаратов. Известно устройство, в котором nna& ное изменение напр жени  в нагрузке осушествл етс  за счет перераспределени  напр жени  между последовательно гашюченными дросселем насыщени  и на грузкой tl Недостатки известного устройства со то т в его сложности и громоздкости. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  уст ройство, содержащее коммутирующий ключ, выходной трансформатор, первый и второй транзисторы, блок формировани  испытательного напр жени . Устройство обеспечивает плавное увеличение и уменьшение испытательного напр жени  соответственно в начальный и конечный периоды испытательного цикла 2 Недостатками указанного устройства  вл ютс  невозможность изменени  диаграммы испытательного напр жени , а также регулировани  его по амшпггуде и частоте. Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  получени  испытательного напр жени , содержащее ключ, выходной трансформатор, перылй и второй транзисторы, блок формировани  испытательного напр жени , первый вход которого соединен с одним из выводов ключа, а выход - с эмиттерами первого и второго транзисторов, кфкдый из коллекторов которых соединен с одним из концов первичной обмотки выходного трансформатора, введеньт генератор синусоидального напр жени  измен емой частоты и программное реле времени, причем базы первого и второго транзисторов соединены с соответствующим выходом генератора синусоидального напр  жени  измен емой частоты, вход которого соединен с клеммами источника питани  посто нного тока, которые соединены также со входом программного репе времени, выход которого соединен с управп ющим входом ключа, другой вывод которого соединен со средней точкой первичной обмотки выходного трансформа тора и минусовой клеммой источника питани  посто нного тока, плюсова  клемма которого соединена со вторым входом блока формировани  испытательного напр  жени , а блок формировани  испытательного напр жени  выполнен в виде интегра тора. На чертеже представлена принципиаль на  электрическа  схема предлагаемого устройства. Устройство содержит ключ 1, выходной трансформатор 2, первый и второй транзисторы 3 и 4, блок 5 формировани  испытательного напр жени , генератор 6 синусоидального напр жени  измен емой частоты, программное реле 7 времени, источник 8 питани  посто нного тока. Вторична  обмотка выходного трансформ тора 2  вл етс  источником испытательного напр жени . Блок 5 формировани  испытательного напр жени  включает транзисторы 9 и 1О, регулируемые рези торы 11 и 12, конденсатор 13 и резистор 14. Устройство работает следующим обра зом. При подаче напр жени  от источника 8питани  посто нного тока включаетс  ; генератор 6 синусоидального напр жени  измен емой частоты, программное репе времени и через замкнутый ключ 1 блок 5 формировани  испытательного напр жени , транзисторы 9 и Ю которого при этом начинают плавно открыватьс . Длительность открывани  транзисторов 9и 10 определ етс  параметрами регулируемого резистора 11 и конденсатора 13. При открывании транзистора 10 плавно возрастающее напр жение посто нного тока положительной пол рности поступает на эмиттеры транзисторов 3 . и 4, собранных по схеме усилител  мощ ности. По окончании зар да конденсатора 13 амплитуда напр жени , питающего транзисторы 3 и 4 усилител  мощности, достигает заданного значени , определ емого параметрами регулируемого резистора 12. Продолжительность интервала питающего напр жени  блоком 5 формировани  испытательного напр жени  определ етс  программным реле 7 времени, которое по истечении заданной выдержки времени выдает команду на отключение ключом 1 отрицательного полюса напр жени  источника 8 питани  посто нного тока, питающего блок 5 формировани  испытательного напр жени . С этого момента транзисторы 9 и 10 начинают плавно закрыватьс  со скоростью, определ емой параметрами элементов блока 5 формировани  испытательного напр жени , а амплитуда напр жени , питающего транзисторы 3 и 4, начинает плавно уменьщатьс  до нул . Одновременно с подачей напр жени  от источника 8 питани  посто нного тока генератор 6 синусоидального напр жени  измен емой частоты начинает вырабатывать синусоидальное напр жение заданной частоты, поступающее с выходов генератора на базы транзисторов 3 и 4. Частота, амплитудй и временна  диаграмма токов в первичной обмотке выходного трансформатора 2, а следовательно , и испытательного напр жени  на его вторичной обмотке определ ютс , соответственно , частотой генератора б синусоидального напр жени  измен емой частоты изначени ми регулируемых резисторов 11 и 12 и конденсатора 13 блока 5 формировани  испытательного напр жени . Предлагаемое устройство обеспечивает повыщение качества и удобства диагностировани  электрических мащин и аппаратов за счет оперативного изменени  диаграммы испытательного напр жени  и регулировани  его по амплитуде и частоте . Формула изобретени  1. Устройство дл  получени  испытательного напр жени , содержащее ключ, выходной трансформатор, первый и второй транзисторы, блок формировани  испытательного напр жени , первый вход которого соединен с одним из выводов ключа, а выход - с эмиттерами первого и второго транзисторов, каждый из коллекторов которых соединен с одним из концов первичной обмотки выходного трансформатора, отличающеес   тем, что, с целью расщирени  функциональных возможностей, в него введены генератор синусоидального напр же ни  измен емой частоты и программное реле времени, причем базы первого и второго транзисторов соединены с соответствующим выходом генератора синусоидального напр жени  измен емой частоты , вход которого соединен с клеммами источника питани  посто нного тока , которые соединены также со входом программного реле времени, выход которого соединен сб средней точкой первичной обмотки выходного трансформатора и минусовой клеммой источника питани  посто нного тока, плюсова  клемма которого соединена со вггорым входом блоха формировани  испытательного напр жени .The invention relates to an electrical measuring technique and can be used in devices for monitoring the electrical strength of the insulation of electrical machines and apparatus. A device is known in which nna & Voltage variation in the load is realized by redistributing the voltage between the successively quenched saturation throttle and the load tl The disadvantages of the known device are inherently complex and cumbersome. The closest in technical essence to the present invention is a device containing a switching key, an output transformer, first and second transistors, a test voltage generating unit. The device provides a smooth increase and decrease in the test voltage, respectively, in the initial and final periods of the test cycle. 2 The disadvantages of this device are the impossibility of changing the test voltage pattern, as well as adjusting it in terms of frequency and frequency. The purpose of the invention is to expand the functionality. The goal is achieved in that a test voltage device comprising a key, an output transformer, first and second transistors, a test voltage generating unit, the first input of which is connected to one of the key pins and the output to the emitters of the first and second transistors , the cf of which collectors are connected to one of the ends of the primary winding of the output transformer, introduces a variable frequency sinusoidal voltage generator and a software time relay, with the base of the first and volts transistors are connected to the corresponding output of a sinusoidal variable frequency voltage generator, the input of which is connected to the terminals of a DC power supply, which are also connected to the input of a software time switch, the output of which is connected to a control input of a switch, the other output of which is connected to a midpoint the primary winding of the output transformer and the negative terminal of the DC power supply, the positive terminal of which is connected to the second input of the test formation generator voltage, and the test voltage generating unit is designed as an integrator. The drawing shows a circuit diagram of the proposed device. The device comprises a switch 1, an output transformer 2, first and second transistors 3 and 4, a test voltage generation unit 5, a variable frequency sinusoidal voltage generator 6, a programmable time relay 7, a DC power supply 8. The secondary winding of the output transformer 2 is the source of the test voltage. The test voltage shaping unit 5 includes transistors 9 and 1O, adjustable resistors 11 and 12, capacitor 13 and resistor 14. The device works as follows. When a voltage is applied from the power source 8, the direct current is turned on; a sinusoidal voltage of variable frequency generator 6, software turn-off time and through a closed key 1 test voltage generating unit 5, the transistors 9 and S which at the same time begin to open smoothly. The opening time of the transistors 9 and 10 is determined by the parameters of the adjustable resistor 11 and the capacitor 13. When the transistor 10 is opened, the smoothly increasing DC voltage of positive polarity goes to the emitters of the transistors 3. and 4 assembled according to the power amplifier circuit. Upon completion of the charge of the capacitor 13, the amplitude of the voltage supplying the transistors 3 and 4 of the power amplifier reaches a predetermined value determined by the parameters of the adjustable resistor 12. The duration of the supply voltage interval by the test voltage generation unit 5 is determined by the program time relay 7, which after the specified time delay issues a command to switch off the negative pole of the source of the DC power supply 8 with the key 1, supplying the test voltage generating unit 5 and. From this point on, transistors 9 and 10 begin to close smoothly at a rate determined by the parameters of the elements of the test voltage generation unit 5, and the amplitude of the voltage feeding the transistors 3 and 4 smoothly decreases to zero. Simultaneously with the supply of voltage from a DC power source 8, a sinusoidal variable frequency voltage generator 6 begins to generate a sinusoidal voltage of a given frequency, coming from the generator outputs to the bases of transistors 3 and 4. Frequency, amplitude and time diagram of currents in the primary output winding transformer 2 and, consequently, the test voltage on its secondary winding are determined, respectively, by the frequency of the generator b of a sinusoidal voltage of variable frequency by means of adjustable resistors 11 and 12 and the capacitor 13 of the test voltage generating unit 5. The proposed device provides an increase in the quality and convenience of diagnosing electrical machines and devices by quickly changing the test voltage pattern and adjusting it in amplitude and frequency. Claim 1. A device for obtaining a test voltage comprising a key, an output transformer, first and second transistors, a test voltage generating unit, the first input of which is connected to one of the switches of the key, and the output to emitters of the first and second transistors, each collectors of which are connected to one of the ends of the primary winding of the output transformer, characterized in that, in order to extend the functionality, a sinusoidal voltage generator is inserted into it frequency and software time relay, the bases of the first and second transistors are connected to the corresponding generator output of a sinusoidal variable frequency voltage, the input of which is connected to the terminals of a DC power source, which are also connected to the input of a software time relay, whose output is connected to a midpoint the primary winding of the output transformer and the minus terminal of the DC power supply, the positive terminal of which is connected to the second flea input of the formation test go voltage 2. Устройство по. п. 1, отличающеес  тем, что блок формировани  испытательного напр жени  выполнен в виде интегратора.2. Device by. Claim 1, characterized in that the test voltage generating unit is designed as an integrator. Источники информации,Information sources, прин тые во внимание при экспертизеtaken into account in the examination 1.Авторское свидетельство СССР № 428311, кл. SO1« 31/14, 1971.1. USSR author's certificate number 428311, cl. SO1 "31/14, 1971. 2.Авторское свидетельство СССР N 469938, кл. GOlft 31/14, 1972 (прототип).2. Authors certificate of the USSR N 469938, cl. GOlft 31/14, 1972 (prototype).
SU802870856A 1980-01-14 1980-01-14 Device for producing test voltage SU894611A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802870856A SU894611A1 (en) 1980-01-14 1980-01-14 Device for producing test voltage

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802870856A SU894611A1 (en) 1980-01-14 1980-01-14 Device for producing test voltage

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU894611A1 true SU894611A1 (en) 1981-12-30

Family

ID=20872764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802870856A SU894611A1 (en) 1980-01-14 1980-01-14 Device for producing test voltage

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU894611A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE237878T1 (en) CORONA DISCHARGE DEVICE
JPS6170777U (en)
DE3922665C2 (en)
SU894611A1 (en) Device for producing test voltage
GB1507872A (en) Apparatus for generating alternating currents of accurately predetermined waveform
RU2297133C2 (en) Apparatus for magnetic-pulsed treatment of plants
FR2357996A1 (en) STATIC ADJUSTABLE TRANSFORMER
US3467857A (en) Circuit arrangement for synthetic testing of electrical apparatus employing a steady a.c. recovery voltage supply applied after the transient recovery voltage
JPS6040036B2 (en) automatic performance device
JPS6033641Y2 (en) Signal superposition device
JPS5844412Y2 (en) power on device
SU1359892A1 (en) Generator of triangular shape oscillations
SU817621A1 (en) Device for testing controllable rectifiers
SU892432A1 (en) Dc voltage supply source
SU1688190A1 (en) Electrical conduction standard
JPH0435815Y2 (en)
SU838976A1 (en) Voltage inverter
SU527815A1 (en) Controlled Multivibrator
SU1108326A2 (en) Self-generating differential-transforming displacement converter
JPS54108670A (en) Frequency-current converting circuit
SU1195306A1 (en) Apparatus for testing threshold switches with s-shape volt-ampere characteristic
SU132349A1 (en) Electronic Time Controller
SU943767A1 (en) Device for simulating aperiodic intercept current in transformers
SU949778A1 (en) Current converter in periods between pulses
SU926763A2 (en) Thyristorized one-shot multivibrator