SU890177A1 - Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов - Google Patents

Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов Download PDF

Info

Publication number
SU890177A1
SU890177A1 SU802891091A SU2891091A SU890177A1 SU 890177 A1 SU890177 A1 SU 890177A1 SU 802891091 A SU802891091 A SU 802891091A SU 2891091 A SU2891091 A SU 2891091A SU 890177 A1 SU890177 A1 SU 890177A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
alloy
lines
analysis
phases
sample
Prior art date
Application number
SU802891091A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Никитович Анциферов
Тамара Герасимовна Шабская
Валентина Ивановна Овчинникова
Алла Петровна Тимохова
Original Assignee
Пермский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пермский политехнический институт filed Critical Пермский политехнический институт
Priority to SU802891091A priority Critical patent/SU890177A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU890177A1 publication Critical patent/SU890177A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к физико-химическим методам анализа сплавов.
Точность методов определени  содержани  фаз внедрени  (например карбидов , нитридов) при рентгеновском структурном анализе обычно невысока вследствие того, что их дифракционные пинии имеют весьма малую интенсивность по сравнению с интенсивностью линий основы сплава.
Известен способ коли1ественного анализа состава фаз с применением эталона , согласно которому полоску фольги накладывают на образец, затем рентгенографирутот и сравнивают интенсивность линии эталона с интенсивностью линий образца il .
Недостатком данного метода внешнего эталона  вл етс  необходимость учитывать геометрические размеры и форму образца, что резко снижает точность метода, а в р де случаев делает количественный анализ невозможным.
Йаиболее близким к предлагаемому техническим решением  вл етс  способ количественного анализа карбидных фаз, который включает рентгенографирование образца и сравнение интенсивности линий исследуемых фаз с лини ми основы сплава 2 ,
Однако известный способ не обеспечивает необходимой точности, так как слабые линии исследуемых фаз сравни10 вают с сильными лини ми основы сплава .;
Целью изобретени  $тл етс  повьпие- ние точности количественного анализа фаз внедрени  в сплавах.
15
Указанна  цель достигаетс  тем, что согласно способу рентгеностргуктурно- го анализа сплавов, включающему облучение образца рентгеновским излучением , получение днфра кционной кар20 тины отражений or образца и сравнение интенсивностей дифракционных линий исследуемых фаз с лин ми основы сплава , съемку образца провод т наизлуче-
НИИ анода, атомный номер материала которого на единицу больше атомного номера основы сплава, а сравнение «а- тенсивностей линий исследуемых фаз производ т с |5 -лини ми основы сплава.
Так, в частности, при ренттенографировании сплавов на основе железа на кобальтовом излучении, никел  и-сплавсда на еГо основе - на медном, титановых сплавов на излучении ванади  - имеет место ресикое ослабление интенсивности дифракционных ft -линий. При . таких услови х съемки отношение интенсивностей дифракционных U -пиний основы сплава к лини м исследуемых фаз близка к единице (при известном спсх:обе оно может достигать 10 - 1О ), что позвол ет существенно повысить точность метода. Абсолютна  погрешность в определении количества фаз внедрени  и химических соединений сильно
зависит от вида исследуемых фаз, но во вс ком случае, находитс  в пределах 0,5-1%.
Пример. Предлагаемый метод примен ют дл  определени  количества цементита в спече ных стал х, подвегм гаамых графитизкругощим отжигам. В процессе графитизации происходит вы- деление свободного углерода по реакшш + Сграфц.
Изменение количества цементита в процессе отжига может служить мерой интенсивности графиткзаиии. Определить количество цементита по известному способу не представл етс  возможнвым, тшс как эта фаза дает весьма слабые и размытые дифракционные линии, в дес тки тью ч раз менее интенсивные, чем линии основы сплава.
В табл. 1 приведен химический состав исследуемых сталей.
Таблица 1
По предлагаемому способу производ т рентгенографирование образца до и после процесса графитизапии на кобальтовом излучении (,Ре 26, Zoo - 27). Сравнение линии (О21) (112)Pei,0 производ т с линией (Ь - (НО) Fe i Съемку осуществл ют на дифрактометре Дрон-О,5 сканированием углового интервала 29 . а 43 - so через 5 с. Интенсивность линий определ ют площад ми по соотУменьшение количества цементита в процессе отжига говорит о протекании графитизации. Количество выделивветствующим кривым. Рентгенографированием стандартных образцов с заранее известным содер анием цементита
получают градуировочйую кривую. По отношению интенсивностей нементита и железа, пользу сь градуировочной кривой, наход т количество цементита в образце до и после графитианрующих
отлшгов.
Данные представлены в табл. 2.
Таблица 2
шегос  графита определ ют расчетным путем. Дл  получени  сравнитедьньк данных количество свободного углерода Б о0разцах после графитизации определ ют путем химического анализа (аб- сорбционно-газообменньгй метод). Вид- ,но, что результаты химического анализа подтверждают данные, полученные jtt предлагаемому способу. Погрешность метода оценивают, использу  градуировочную кривую 4fH: о,02 (по услови м съемки), , Средний uf 0,02-37 о,7. Таким образом, абсолютна  погрешно при съемке цементита по предлагаемому способу составл ет примерно О,7%. Сравнение с известным спсх;обом ака 1шза показывает, что дл  достижени  то Яве погрешности 0,5-0,7% необходимо проводить съемку с существенно ботаив точностью умены11ать Д что пока недостижимо дл  серийной отечественной аппаратуры. Таким образом, применение предлага мого способа позвол ет с достаточной точностью оценить количество выделивш гос  свободного углерода, а следовател но, выбрать .оптимальные составы графи тиэируемых материалов и режимы графитизируюших отжигов. Предложенный способ анализа повышает точность определени  состава фаз 7 внедрени  при исследовании сплавов и сталей. рмула изобретени  Способ рентгеноструктурного фазового анализасплавов, включак аий облучение образов рентгеновским налучёнйёМ ,Л1Элученне ди факшонной ка1 тины отражений от образш   сраане . ние интенсивное тей дифракшсонтдх исследуемых фаз с лини ми основы сплава , отличающ йса тем, что, с повышени  точности количественного анализа фаз, съемку обрвзаа 1ФОВОДЯТ на излучении анода, атомный номер материала которого на едиганог больше атомного номера основы сплава , а сравнение интенсивноетей дифраквдонных линий исследуемых фаз производ т с Ь -лини ми основы сшшва. Источники информации, прин тые во внимание при эксиерриэе 1.Ланда В. А., Байкоа А. М. Подготовка поверхности образца дл  пбнуколичественного рентгеноструктурного анализа карбидов в быстрорежущей стали. Заводска  лаборатори , 197О, т, 36, № б, с.701-702. 2.Спицын В. И. и др. Количественный рентгено-дифрактометрический анализ фаз системы тантал-углерод. Сб. Карбиды и сплавы на их сенсже. Киев, Наукова думка, J. 976, с. 143-147 (прототип).

Claims (1)

  1. Формула изобретен и я
    Способ рентгеноструктурного фазового анализа < сплавов, включающий облучение образца рентгеновским излученьем,'получение дифракьмонной картины отражений от образца и сравнение интенсивностей дифракционных линрй исследуемых фаз с линиями основы сппа< ва, отличающийся тем, что, с целью повышения точности количественного анализа фаз, съемку образца проводят на излучении анода, атомный номер материала которого на единицу больше атомного номера основы сплава, а сравнение интенсивностей дифракционных линий исследуемых фаз производят с ft —пиниями основы сплава.
SU802891091A 1980-03-07 1980-03-07 Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов SU890177A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802891091A SU890177A1 (ru) 1980-03-07 1980-03-07 Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802891091A SU890177A1 (ru) 1980-03-07 1980-03-07 Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU890177A1 true SU890177A1 (ru) 1981-12-15

Family

ID=20881452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802891091A SU890177A1 (ru) 1980-03-07 1980-03-07 Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU890177A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Milošev et al. The composition of the surface passive film formed on CoCrMo alloy in simulated physiological solution
Lear et al. Improving acquisition times of elemental bio-imaging for quadrupole-based LA-ICP-MS
Kaulich et al. Low-energy X-ray fluorescence microscopy opening new opportunities for bio-related research
Reddy et al. Trace elemental analysis of adenoma and carcinoma thyroid by PIXE method
Zaichick et al. Prostatic tissue levels of 43 trace elements in patients with prostate adenocarcinoma
Sera et al. Standard-free method of quantitative analysis for bio-samples
Benninghoff et al. Analysis of human tissues by total reflection X-ray fluorescence. Application of chemometrics for diagnostic cancer recognition
Parascandola et al. Analysis of deuterium induced nuclear reactions giving criteria for the formation process of expanded austenite
Roessl et al. Image fusion algorithm for differential phase contrast imaging
SU890177A1 (ru) Способ рентгеноструктурного фазового анализа сплавов
Kwiatek et al. Preliminary study on the distribution of selected elements in cancerous and non-cancerous kidney tissues
Shaltout et al. EDXRF, FTIR, and XRD characterization of low calcium oxalate urinary stones collected from arid area
Woo et al. Quantitative analysis of HAADF–STEM images of MoVTeTaO M1 phase catalyst for propane ammoxidation to acrylonitrile
Vijayan et al. External particle-induced X-ray emission
Maeda et al. Multielemental analysis of human thyroid glands using particle induced X-ray emission (PIXE)
Strub et al. Determination of Cr (VI) in wood specimen: A XANES study at the Cr K edge
Kwiatek et al. XANES as a tool for iron oxidation state determination in tissues
Talanova et al. Rapid X-Ray Fluorescence Analysis of Intercalation Compounds for Molybdenum Content
Raju et al. Comparative trace elemental analysis of cancerous and non-cancerous tissues of rectal cancer patients using PIXE
Protz et al. Earthworm transport of heavy metals from sewage sludge: a micro-PIXE application in soil science
Okur et al. Qualitative and quantitative analysis of pathological and non-pathological human bone using radioisotope X-ray fluorescence technique
Hryniewicz et al. Auger/AES surface film measurements on AISI 316L biomaterial after magnetoelectropolishing
Degreve et al. Quantitative analysis of intermetallic phases in Al-Li alloys by electron, ion and nuclear microprobes
Tallandini et al. Naturally occurring levels of elements in fishes as determined by PIXE and XRF methods
Haas et al. AES and APS studies of the detection of Mn in low alloy steel