Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им. А.А. Жданова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им. А.А. ЖдановаfiledCriticalНаучно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им. А.А. Жданова
Priority to SU2963796/25ApriorityCriticalpatent/SU884417A1/ru
Application grantedgrantedCritical
Publication of SU884417A1publicationCriticalpatent/SU884417A1/ru
Способ отбора алмазов для датчиков импульсного рентгеновского излучения, включающий облучение алмаза рентгеновским излучением и регистрацию тока рентгенопроводимости при подаче на кристалл внешнего напряжения, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа и повышения выхода отобранных алмазов, измеряют шумовой ток Iш., облучают алмаз последовательностью рентгеновских импульсов, фиксируя амплитуду первого импульса тока рентгенопроводимости I, выдерживают алмаз до установления стационарного тока рентгенопроводимости Iуст. и производят отбор на основе следующего соотношения:10 Iш.≤0,1 I< Iуст.,причем мощность дозы в амплитуде рентгеновского импульса Р и полную дозу Д выбирают из соотношений:10 р/с<Р<1000 р/с и0,1 р<Д<0,5 р,а стационарное значение амплитуды импульсов тока рентгенопроводимости достигают за М импульсов, где М≥2.
SU2963796/25A1980-07-281980-07-28Способ отбора алмазов для датчиков импульсного рентгеновского излучения
SU884417A1
(ru)
Verbessertes kernresonanz-rekonstruktions- und -abtastverfahren mit verwendung von bekannten informationen, zwangsbedingungen und symmetrischen beziehungen.