SU879677A1 - Омегатронный масс-спектрометр - Google Patents
Омегатронный масс-спектрометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU879677A1 SU879677A1 SU792849717A SU2849717A SU879677A1 SU 879677 A1 SU879677 A1 SU 879677A1 SU 792849717 A SU792849717 A SU 792849717A SU 2849717 A SU2849717 A SU 2849717A SU 879677 A1 SU879677 A1 SU 879677A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- frequency
- ion
- ions
- chamber
- low
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к области научного приборостроени , к технике измерени масс ионов. Прецизионные измерени масс ионов позвол ют полу чить информацию об эн.,ргии поко стабильных и нестабильных возбужден ных долгоживущих дер. Второе применение - измерение мо лекул рного веса однородных по А (А - масса дра), пучков ионов т желых биологических молекул: А . Дл прецизионного измерени масс резонансным методом ионов измер ют циклотронную частоту иона в магнитном поле Но. 6 и 51- I-HO, где ZQ - зар д иона; Ду - его масса; g - зар д электрона; УУ1 р - атомна единица массы. Измерению подлежит величина А атомный вес исследуемого дра. Данн измерени производ тс в масс-спект рометрах типа омегатрон 1. Электронный пучок с энергией око ло 70 эВ, ведомый магнитным полем, ионизирует газ. На образующиес положительные ионы действуе-г поперечное высокочастотное электрическое поле. Если частота генератора равна. частоте циклотронного резонанса исследуемого иона 51д, то проис}4одит резонансное нарастание скорости ионов и радиуса орбиты, ионы попадают на коллектор. Индикаци резонанса ведетс по максимуму тока коллектора. Наиболее близким по решению данной технической задачи вл етс омегатронный масс-спектрометр, включающий магнитную систему, внутри которой расположена цилиндрическа камера с двум электродами, подключенными к радиочастотным генераторам, входы которых соединены с синтезатором частоты, источник ионов и.детектор ионов, соединенный с системой индикации 2 . Устройство обладает большой погрешностью измерений, св занной со следующими причинами: наличием временного дрейфа магнитного пол - измерени различных ионов (с разными А) производ тс не одновременно, магнитное поле может изменитьс от измерени к измерению, пространственной неоднородностью магнитного пол , рел тивистскими изменени ми массы двикущихс ионов, наличием пол объемного зар да, сдвигающего резонансную частоту, наличием паразитных магнитных полей в рабочем объеме и искажекием полей различными элементами. В частности, источником конструкции, таких полей вл лась нить накала катода.
Кроме указанных недостатков, описанных в литературе, следует указать на недостаточную точность индикации резонанса, наличие газа в камере. Ионизируют не только электроны, но и ионы, в результате чего место по влени иона - неизвестно.
Целью изобретени вл етс повышение точности относительных измерений А дл двух ионов до .
Отличительной особенностью предлагаемого устройства вл етс то, что в омегатронный масс-спектрометр, включающий магнитную систему, внутри которой расположена цилиндрическа камера с двум электродами, подключенными к радиочастотным генераторам входы которых соединены с синтезатором частоты, источник ионов и детектор ионов, соединенный с системой индикации, введена система модул ции времени полета ионов в камере, содержаща двухчастотную систему генерации низкой частоты, а система индикадии имеет два фазовых детектора, входы которых соединены с детектором ионов и синтезатором частоты, а такж два синхронных детектора, каждый выход которых содержит индикатор резонанса , а входы соединены с фазовыми детекторами и выходами двухчастотной системы генерации низкой частоты
Выходы двухчастотной системы генерации низкой 11астоты соединены с электродами монохроматического источника ионов двух изотопов..
В устройство введены электрически yпpaвл e 1ыe аттенюаторы, включенные между синтезатором частоты и генераторами радиочастоты, соединенные с выходами двухчастотной системы генерации низкой частоты.
С целью устранени вли ни объемного зар да нерегистрируемых ионов в камеру введена система сброса нерегистрируемых ионов, выполненна g виде полого стержн , расположенного по оси цилиндрической камеры.
На фиг. 1 и 2 показана схема устройства; на фиг. 3 показано распределение ионов по скорост м; на фиг. 4 - векторна диаграмма.
Предлагаемое устройство состоит из двух ионных источников 1, одновременно подающих в цилиндрическую металлическую рабочую камеру 2 ионы с .атомным весом А и AI, отношение масс которых надо измерить. Ионный пучок входит в камеру через центральное отверстие в ее торцовой стенке. . В камере помещены два электрода 3,
соединен «ле с двум радиочастотными генераторами 4, которые соединены с синтезатором частоты 5. Эле троды формируют переменное электрическое поле, вектор напр женности которого перпендикул рен оси камеры. В торце камеры помещен также детектор ионов с системой усилительных динодов и анодным электродом 6.Камера помещена в посто нное магнитное поле, создаваемое магнитной системой 7. Направление вектора магнитного пол совпадает с осью камеры. Магнитна систем изображена в виде сверхпровод щего соленоида. В схеме имеетс также двухчастотна система генерации низкой частоты 8, выходы которой соединены с управл ющими электродами ионных источников.
Двухчастотна система генерации, низкой частоты содержит два генератора несоизмеримых частот (во избежание перекрестных помех), питаемых от общего задаю1цего генератора. Анодный электрод детектора ионов соединен с усилителем, к выходу которого подсоединены фазовые детекторы 9 , к выходу которых подключены синхронные детекторы 10. Синхронные детекторы подключены также к выходам двухчастотной системы генерации низкой частоты 8. К выходам синхронных детекторов подключен стрелочный прибор 11, вл ющийс регистратором резонанса.
Устройство работает следующим образом.
Ионы с атомным весом А и А 2, значени которых нужно также измерить , подаютс из ионных источников в рабочий объем через отверстие на оси цилиндра. Под действием электрического пол двух частот О. и SiL. возбуждаемых электродами, соединенными с генераторами радиочастот, ионы двигаютс по ларморавским орбитам увеличивающегос радиуса. В пространстве орбиты образуют коническую поверхность. Далее резонансные ионы попадают на детектор ионов, который состоит из катодного электрода , пада на который, ионы выбивают вторичные электроны. Далее электроны усиливаютс динодной системой за счет вторичной эмиссии, как в фотоэлектронном умножителе, и усиленный ток попадает на анодный электрод Как показано ниже, при точном резонансе фаза ионного тока на детекторе не зависит от времени пролета ионов, а при уходе от резонанса знак фазы зависит от знака растройки . При подаче переменного напр жени на ионный источник модулируетс скорость иона и, следовательно, врем пролета, причем, как это видно из схемы, частота модулирующего напр жени - сво дл каждого из двух источников. Модул ци времени пролета вызывает фазовую модул цию радиочастотных компонент тока детек тора ионов, котора и по вл етс на выходе фазовых детекторов 9 изатем она вьщел етс синхронным детектором 10. Напр жение на выходе синхронного детектора по абсолютной величине и по знаку дает полную информацию о расстройке. Возможен вариант схемы , при котором напр жение фазового детектора, управл синтезатором, сводит расстройку к нулю. При резонансе Я.йд, измер отно шени частот, наход т отношение масс Ад . Л, Дл легких дер в это соотношение нужно ввести множитель, учитывающий рел тивистские поправки. Поскольку объемный зар д отсутствует и все частицы двигаютс по одинаковому кор пусу траекторий, эти поправки могут быть вычислены точно. Эти вычислени и результат не вли ют на конструкцию устройства и поэтому не будут приводитьс . Изложим кратко теорию прибора и приведем обоснование ожидаемой погрешности . Направим ось Z вдоль магнитного пол и обозначим - X + Hv тогда нерел тивистские уравнени движени иона будут: V-|;r где ЕО составл юща поперечного высокочастотного пол круговой пол ризации , остальные компоненты не резонанс .ные и могут опущены. При этом необходимо отметить, что объемных зар дов практически нет и посто нных электрических полей в рабочем объеме прибора тоже нет. Так как, как уже отмечалось, посто н ных полей вдоль оси Z нет, то Z - z. const. В формуле 51 - циклотронна частота, 51 - частота генератора . Из формулы (1) получаем точное соотношение: JE(.t)e- And, 1 оJ -начальна поперечна ско рость; -пролетное врем , координат частицы имеем: .Ч,. где о - координата центра ларморовс кой окружности. ( 1) В простейшем случае, когда переменное поле однородно по рабочему объему, формула (2) дает: - ТЕ/|@е е- ое й 51-$1д J где в - пролетна фаза; 20 - ДТ . В общем случае, когда переменное поле неоднородно вдоль оси Z войдет эффективное пролетное врем Т - Тдфф Потребуем, чтобы дл ионов с заданным А выполн лось бы грубое условие резонанса: 0 , siki . Тогда: к TE. Второе слагаемое значительно меньше первого, мы его опустим и учтем только при анализе погрешности прибора. Дл радиуса орбиты получаем: .1 --СТ Sl При переходе к другим ионам мен етс А , причем различные ионы, как указывалось выше, желательно сравнивать одновременно в одном и том же магнитном поле Но При всех оценках ниже мы будем исходить из значени магнитного пол 70 Кое, что требует сверхпровод щего соленоида . При этом дл протонов 51 100 Мгц. Эксплоатачионно удобнее, чтобы и конструкци прибора, и магнитное поле не мен лись при переходе к другим ионам. (I) есть рассто ние детектора ионов от оси, поэтому необходимо, чтобы, const --и где Т- пролетное врем , определ емое .ускор ющим напр жением ионного пучкам ЕО амплитуда высокочастотного .пол . Желательны большие Т , и следовательно, малые ускор ющие напр жени . Примем, исход из технических ограничений, минимальное значение энергии ионов -0,1-1 эВ. При энергии протона 0,1 эВ и длине камеры 1 м врем пробега-2 , следовательно, npoTOit делает 2-10 оборотов. Если использовать, как будет указано , только медленные протоны, то число оборотов возрастает примерно-на пор док. Больша длина камеры уменьшает плотность объемного зар да и вызванную им погрешность . При заданной энергии ионов: T-YA Если пучок не вл етс монохроматическим по U-3r, то будет некое распределение по скорост м и, следовательно , по рс1диусу, показанное на фиг.З, Конечные размеры детектора ионов, как это видно из фиг. 3, привод т к тому, что регистрируетс только часть пучка, более монохроматическа , чем весь пучок.
Дл кинетической энергии, приобретаемой ионом в высокочастотном поле, легко получить формулу:
Е,-Ь-(еЕсТ ,
(8)
toэнерги поко иона.
где
Заметим, что в силу (7) пространственные , траектории различных ионов совпадают и тем вли ние пространственной неоднородности магнитного пол в значительной степени исключаетс .
Число оборотов N резонансного иона равно:
J
.
N С9) тГГ
Высокочастотное поле группирует ионы в сгустки, причем сдвиг фаз между скоростью иона и полем равен, согласно формуле (4):
.„ -
-XVJ ц, -
и поэтому в качестве услови реЭонанса -О можно вз ть
ЭМ
(Ю)
-О ЭТ
Условие (10) устанавливаетс методами микрофазометрии: подаетс на электроды ионного источника небольшое переменное напр жение низкой частоты, тем самым модулируетс скорость ионов и тем самым врем пролета:
T-TQ И -f-cA COSD-b),
где cL - коэффициент модул ции
Л - частота модул ции. Дл переменной компоненты фазы имеем:
--
При синхронном детектировании переманной компоненты фазы с низкочастотным напр жением, подаваемым на ионный источник, можно определить величину и знак расстройки и точно настроитьс в резонанс, что и реализуетс схемой, показанной на .
Микрофазомётрические измерени полностью исключают временные нестабильности и позвол ют одновременно работать с несколькими сортами ионов на электроды можно одновременно подавать несколько высокочастотных напр жений, допускаетс также Параллельна работа нескольких детекторов . При этом измерение массы свелось к измерению частоты, эталон частоты в насто щее врем один из наиболее точных. При одновременных измерени х двух типов ионов нестабильность магнитного пол не важна, важно только качество - ширина линии используемого синтезатора частоты.
Если минимально измерима аппаратурна фаза есть О Ч, то дл погрешности имеем
cS( ,
ИЗ)
что дл относительной погрешности измерений массы дает:
-
л
(14)
А тем
Порог чувствительности микрофазометрических методов измерени определ етс флуктуаци ми. Эти пороги практически достигнуты в целом р де устройств, расхождение между теоретическим и экспериментальным значением не превышает 10.
Рассмотрим теперь величину (f(f . Принципиально возможное разрешение по фазе определ етс двум факторами разбросом фаз ионов в сгустке, св занным с начальными скорост ми, и о временным разрешением системы индикации .
Рассмотрим оба фактора.
1. Как видно из векторной диаграммы фиг, 4, средний разброс фаз дл единичного иона равен 5
. 1
с - Awip f 1C о7
К
)
f
А
Пр
где 2 - средн начальна энерги поперечного движени иона с рабочей пол ризацией, на входе в прибор;
к - энерги поперечного движени ионов на входе, около детектора Дл работы детектора необходимо f
1 кэВ, поэтому дл протонов (с100 кэв. УИр
Примем 0,1 эВ. Тогда дл иона с А 1: „
Cff 0,001
В силу сказанного выше . При измерении на многих ионах погрешность благодар статистическому усрнению уменьшаетс в /й раз, где величина И равна:
(W
Claims (4)
- М« где D - регистрируемый ионный ток; С - врем усреднени . При оценках вбзьмем ток 1,6 нА, и врем усреднени пор дка 100 с. При N 10 и о(. 0,1 это дает -2.0-. и, следовательно, дл т желых дер имеем разрешение 2 , Дл т желых молекул при А 10 относительное разрешение тг-2 -10 и абсолютное разрешение /v 1, что доста точно дл любых биохимических приложений , 2. Временное разрешение системы индикации ( определ етс как дли тельно,сть раст нутого импульса на выходе системы, в который превращаетс идеально короткий импульс на ее входе. При ударе единичного иона cTtTo получаетс усреднением по многим ионам. Дл лучших динодных систем, использующих- вторичную электронную эмиссию, (f tT - 10 9 -10 Динодна система, используема дл индикации, должна работать в сильном магнитном поле. Сильное ма нитное поле может быть использовано дл улучшени временного разреш ни . Погрешность по фазе дл единичного иона равна: ( fif-ad o Дл большого количества ионов прои ходит статистическое усреднение: л. Дл тех же условий, что и ранее, -при А 1,51 ( . Так KaK5l iTO{ft;j,. Дл отно сительной погрешности измерени ма сы имеем: .4- (20 А Т/А Заметим, что фаза соответствует временному интервалу ,1,6. 10- с. Устройство, в-котором монохрома заци пучка производитс в процесс работы, показано на фиг. 2. Модул ци времени пролета осуще вл етс с помощью модул ции высоко частотного напр жени -Ео« Дл это между синтезатором частоты 5 и генераторами 4 включен управл емый Аттенюатор 12, соединенный с двухЧастотной системой генерации низкой . частоты 8, а на ионные источники никаких напр жений от двухчастотной системы генерации низкой частоты 8 не подаетс . При подаче напр жени , .низкой частоты на аттенюаторы 12 мен етс их затухание, в результате чего возникает амплитудна модул ци выходного напр жени генераторов радиочастот . В силу соотношени (6) при этом возникает модул ци времени пролета. Далее устройство работает также, как и- описано выше. Така возможность имеетс , как этовидно из формулы (6) и фиг. 2. Дл повышени. точности измерени нужно иметь большие N . Дл этого выдел ют методом, разобранным выше, медленные ионы из пучка. При этом медленных ионов в пучке значительно меньше, чем быстрых. Дл получени достаточного тока регистрируемых медленных ионов необходимо .иметь существенно больший ток пучка, что св зано с возникновением объемного .зар да и по влением соответствующей погрешности. Дл устране 1и объемного зар да коллектор быстрых ионов должен быть расположен вблизи отверсти ионного источника, тем самым в остальном объеме быстрые и нерезонансные ионы отсутствуют, а ток медленных ионов « 1-10 нА достаточно мал и, следовательно, объемный зар д тоже мал. Дл этого на оси камеры расположен стержень, выполн ющий роль коллектора ионов, укрепленный на- торце, противоположном отверстию источника ионов. При этом торец упом нутого стержн отстоит от отверсти в торцовой стенке камеры на рассто нии 1,, определ емом соотношением где N1. - продольна скорость регистрируемых протонов; . Т - радиус стержн ; С - скорость света; HO напр женность магнитного пол ; Е - напр жение электрического пол при измерени х протонов. Предложенное, техническое решение позвол ет повысить точность измерений масс ионов при Д менее 100-200 на 2-3 пор дка. Изобретение может быть использовано при проведении прецизионных измерений масс нуклидов и т желых молекул рных ионов в физических и биохимических исследовани х. Формула изобретени 1. Омегатронный масс-спектрометр, включающий магнитную систему, внутри,которой расположена цилиндрическа камера с двум электродами,подключенными к радиочастотным генераторам, входы которых соединены с синтезатором частоты,чсточник ионов и детекто частоты, источник ионов и детектор ионов, соединенный с системой индикации , отличающийс тем, НТО, с целью повьллени точности измерений , в устройство введены система модул ции времени пролета ионов в камере, содержаща двухчастотную систему генерации низкой частоты, а система индикации имеет два фазовых детектора, входы которых соединены с детектором ионов и синтезатором частоты, а также два синхронных детектора , каждый выход которого содержит регистратор резонанса, а входы соединены с фазовыми детекторами и выходами двухчастотной систег-лл генерации низкой частоты.
- 2. Устройство по п. 1, о т л ичающеес тем, что выходы двухчастотной системы генерации низкой частоты соединены с электродамимонохроматического источника ионов двух изотопов.
- 3. Устройство по п. 1, о т л ичающеес тем, что в устройство введены электрически управл еfvttje аттенюаторы, включенные между cинтeзaтopo : частоты и генератором радиочастоты, соединенные с выходам двухчастотной системы генерации низкой частоты.
- 4.Устройство по пп.1,3, о т л и чающеес тем, что, с целью уменьшени вли ни объемного зар да нерегистрируемых ионов, в камеру введена система сбора нерегистрируемых ионов, выполненна в виде полог стержн , расположенного по оси цилиндрической камеры.Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе1.Патент США f 2.868.986, кл. 250-41.9, опублик. 1954.2.Н. Sommer, Н.А. Thomas, I.A.Hр е The measurement of e/m by Cyc&otron Resonance. PhysicaC Review 1.82, 1951, p. 697 (прототип
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792849717A SU879677A1 (ru) | 1979-12-10 | 1979-12-10 | Омегатронный масс-спектрометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792849717A SU879677A1 (ru) | 1979-12-10 | 1979-12-10 | Омегатронный масс-спектрометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU879677A1 true SU879677A1 (ru) | 1981-11-07 |
Family
ID=20863623
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792849717A SU879677A1 (ru) | 1979-12-10 | 1979-12-10 | Омегатронный масс-спектрометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU879677A1 (ru) |
-
1979
- 1979-12-10 SU SU792849717A patent/SU879677A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Fite et al. | Charge transfer in collisions involving symmetric and asymmetric resonance | |
Hunter et al. | An elongated trapped-ion cell for ion cyclotron resonance mass spectrometry with a superconducting magnet | |
US3535512A (en) | Double resonance ion cyclotron mass spectrometer for studying ion-molecule reactions | |
US4931640A (en) | Mass spectrometer with reduced static electric field | |
US6452168B1 (en) | Apparatus and methods for continuous beam fourier transform mass spectrometry | |
EP0818054B1 (en) | Mass spectrometer | |
US2570158A (en) | Method and apparatus for separating charged particles of different mass-to-charge ratios | |
Novick et al. | Hyperfine Structure of the Metastable State of Singly Ionized Helium-3 | |
JPH02301952A (ja) | イオンサイクロトロン共鳴質量分析計の外部較正方法 | |
US4818864A (en) | Method for eliminating undesirable charged particles from the measuring cell of an ICR spectrometer | |
Boyd et al. | A radio-frequency probe for the mass-spectrometric analysis of ion concentrations | |
US2721271A (en) | Radio frequency mass spectrometer | |
US5047636A (en) | Linear prediction ion cyclotron resonance spectrometry apparatus and method | |
Turner et al. | Production of Millimicrosecond Pulses by Radio‐Frequency Sweeping of the Ion Beam in the Terminal of an Electrostatic Accelerator | |
US3075076A (en) | Gas-analyzing method and apparatus | |
SU879677A1 (ru) | Омегатронный масс-спектрометр | |
Schuessler et al. | Trapping of ions injected from an external source into a three-dimensional quadrupole trap | |
US3390265A (en) | Ion cyclotron resonance mass spectrometer having means for detecting the energy absorbed by resonant ions | |
Heck et al. | Dipolar and quadrupolar detection using an FT-ICR MS setup at the MPIK Heidelberg | |
Wilson | Theory of the Cyclotron | |
US2958774A (en) | Omegatron with orbit increment detection | |
Welch et al. | A 40 keV cyclotron for radioisotope dating | |
US2806955A (en) | Mass spectrometer | |
Mordvintsev et al. | Accounting for the Edge Effects of Electric and Magnetic Fields in the Spectroscopy of Ion Flows from Relativistic Laser Plasma | |
US4861991A (en) | Electron storage source for electron beam testers |