SU879497A1 - Method of measuring dynamic time parameters - Google Patents

Method of measuring dynamic time parameters Download PDF

Info

Publication number
SU879497A1
SU879497A1 SU802851114A SU2851114A SU879497A1 SU 879497 A1 SU879497 A1 SU 879497A1 SU 802851114 A SU802851114 A SU 802851114A SU 2851114 A SU2851114 A SU 2851114A SU 879497 A1 SU879497 A1 SU 879497A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
time
pulses
measuring
pulse
Prior art date
Application number
SU802851114A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Абдул-Мабул-Абдул-Манаф Абдулаев
Эльдар Мамед Али Алескеров
Давуд Муталиб Алимарданов
Ахмед Джафар Нуриев
Борис Николаевич Смоленков
Original Assignee
Азербайджанский Политехнический Институт Им. Ч.Ильдрыма
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Азербайджанский Политехнический Институт Им. Ч.Ильдрыма filed Critical Азербайджанский Политехнический Институт Им. Ч.Ильдрыма
Priority to SU802851114A priority Critical patent/SU879497A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU879497A1 publication Critical patent/SU879497A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к измерению временных динамических параметро интегральных микросхем, и может быть использовано дл  измерени  времени выборки и апертурного времени схемы выборки и хранени  (СВХ) аналоговог запоминакщего устройства. Известен неосциллогра ический спо 0соб измерени  динамических параметро интегральных схем, заключающийс  в дискретном преобразовании длительности измер емого импульса в коротки комбинированные импульсы с малым фиксированным периодом следовани  путем заполнени  интервала короткими импульсами и подсчета числа калибровки tl. Недостатком этого способа  вл етс  больша  величина погрешности изза неточной фиксации начала и конца импульса на выходе микросхемы, передНИИ и задний фронты которого сильно ВРЕМЕННЫХ ПАРАМЕТРОВ искажены и имеют малую крутизну нарастани  и спада. Наиболее близким техническим решением  вл етс  способ измерени  длительности переходного процесса, основанный на сравнении исследуемой частоты с опорной, выделении момента равенства фаз, формировании импульсов , совпадак цих с моментами равенства фаз, опорных сигналов и импульсов совпадений с нулевой фазой опорного и исследуемого сигналов с последук чими измерени ми Г2. Недостатком известного способа, прин того За прототип,  вл етс  ограниченное его использование. Указанные недостатки обусловлены тем, что невозможно использовать способ дл  измерени  динамических временных параметров интегральных микросхем различного функционального назначени  и контролировать процесс измере ни  с помощью осциллографа. 3 Целью изобретени   вл етс  расширение функциональных возможностей способа. Указанна  цель в способе, основанном на принципе сравнени , включающем выделение момента равенства электрической величины, формирование импульсов, совпадающих с моментами равенства, и измерение времени от момента начала переднего фронта, достигаетс  тем, что сравнивают врем  выборки с плавно измен нщимс  временем задержки сигнала между передним и задним фронтом импульсов, измер ют врем  от момента начала переднего до. окончани  зацнего, фронта импульса и от момента окончани  заднего фронта импульса до по влени  переднего фронта импульса. На фиг.1 изображена схема измерени  по предлагаемому способу; на фиг.2 - временна  диаграмма. Схема измерени  состоит из микросхемь: СВХ 1, входы которой соединены с основным генератором 2 пр моугольных однопол рных импульсов, и синхрогенератором 3, а выход с эквивалентом нагрузки 4 и выпр мителем 5выходного сигнала, который соедин с блоком 6 сравнени  напр жени  и блоком 7 индикации напр жени . Выход синхрогенератора 3 соединен с цифровым импульсным вольтметром 8 с цифровым частотомером-хронометром 9 и с выпр мителем 10 аналогового сигнала, выход которого соединен со сравнивакидим блоком 6. Выходы блока 6сравнени  и блока 7 индикации подключены к переключателю 11, выход которого соединен с цифровым частот мером, входы которого соединены с вы ходом генератора 2 однопол рных импульсов и входом блока 12 задержки, а выход соединен с генератором 13 пилообразного напр жени , вькод которого соединен с блоком 12 задержки &31ХОД блока 12 задержки соединен со входом синхрогенератора 3. Способ измерени  заключаетс  в следующем. При измерении времени выборки СВХ 1 переключатель 11 подключает блок сравнени  к частотомеру. На вы ходе формируют управл н ций сигнал Uv 1ФИГ.2 а) СВХ. Одновременно этот сигнал через блок задержки поступае на синхронизатор 3, на выходе которого формируют сигнал Ug (фиг.2 б) подаваемый на аналоговый вход СВХ 1 7 Амплитуду входных импульсов контролирует вольтметр 8. Фазовый сдвиг входных импульсов относительно импульсов управлени  измен ют в зависимости от мгновенного значени  пилообразного напр жени  l/n (фиг.26 на выходе генератора 13. Пока передний фронт входных импульсов Од отстоит от заднего фронта импульсов (Jy на величину времени, большую времени выключени  ключа СВХ (апертурного времени , выходное напр жение Ug (фиг,2 в) на выходе эквивалента нагрузки 4 отсутствует. По мере перемещени  входных импульсов на выходе СВХ 1 по вл етс  напр жение , его выпр мл ют выпр мителем 5 и подают на блок 6, на другой вход которого подают выпр мленное выпр мителем 10 напр жение со входа СВХ 1 (4ИГ.2 г . В момент времениj когда разность во времени между передним фронтом входного импульса 1/о( и задним фронтом импульса Uy равна времени выборки, амплитуда выходного напр жени  Ug достигает амплитуды U(3 и на выходе блока 7 по вл етс  запускающий импульс U (фиг.2д), который запускает частотомером-хронометром 9, работающим в режиме измерени  длительности промежутков времени между передним фронтом Уц и задним фронтом U . По окончании счета с выхода частотомера-хронометра 9 на вход генератора 13 поступает синхроимпульс и цикл измерени  повтор етс  (фиг.2 е). Дл  измерени  апертурного времени посредством пере,|д1.ючател  1 подключают к частотомеру блок индикации . При этом блок 7 срабатывает в момент по влени , напр жени  Ug. на выходе СВХ 1 (фиг.2 г, пунктир). На частотомере-хронометре 9 замер ют интервал времени между задним фронтом Uv и передним фронтом Ua (фиг.2 е, пунктир). Остальные операции аналогичны вышеописанным. Использование предлагаемого способа позвол ет автоматизировать и полностью механизировать процесс измерени  и отбраковки схем по принципу: -Ь MdKc - 4 t Mclw.c - норма, , допустима  длительность выборки или апертуры. Применение цикличности измерени  позвол ет конечный результат-выводить(54) METHOD OF MEASURING DYNAMIC The invention relates to a measurement technique, namely to measuring the time dynamic parameters of integrated circuits, and can be used to measure the sampling time and aperture time of a sampling and storage circuit (SVC) analogue of a memory device. The non-oscillographic method for measuring dynamic parametric integrated circuits is known, consisting in a discrete conversion of the duration of the measured pulse to short combined pulses with a small fixed follow-up period by filling the interval with short pulses and counting the calibration number tl. The disadvantage of this method is the large amount of error due to inaccurate fixation of the beginning and end of the pulse at the output of the microcircuit, the front and rear edges of which are strongly TEMPORARY PARAMETERS distorted and have a small slope of rise and fall. The closest technical solution is a method for measuring the duration of a transient process, based on comparing the frequency under study with a reference one, highlighting the moment of equality of phases, the formation of pulses that coincide with the moments of equality of phases, reference signals and coincidence pulses with the zero phase of the reference and test signals. G2 measurements. The disadvantage of the known method adopted for the prototype is its limited use. These drawbacks are due to the fact that it is impossible to use the method for measuring the dynamic time parameters of integrated circuits of various functional purposes and to control the measurement process using an oscilloscope. 3 The aim of the invention is to expand the functionality of the method. This goal in the method based on the principle of comparison, including the selection of the moment of equality of the electrical quantity, the formation of pulses that coincide with the moments of equality, and the measurement of the time from the beginning of the leading edge, is achieved by comparing the sample time with the continuously varying delay time of the signal and the trailing edge of the pulses, measure the time from the beginning of the front to. the end of the fall, the front of the pulse and from the moment of the end of the rear edge of the pulse to the appearance of the leading edge of the pulse. Fig. 1 shows the measurement circuit of the proposed method; figure 2 - timing diagram. The measurement circuit consists of a microcircuit: SVH 1, whose inputs are connected to the main generator 2 rectangular unipolar pulses and the synchronous generator 3, and the output is equivalent to a load 4 and rectifier 5 output signal, which is connected to the voltage comparison unit 6 and the display unit 7 tension The output of the synchronous generator 3 is connected to a digital pulse voltmeter 8 with a digital frequency meter-chronometer 9 and with a rectifier 10 analog signal, the output of which is connected to compare with block 6. The outputs of block 6 of comparison and block 7 of display are connected to switch 11, the output of which is connected to digital frequency The inputs of which are connected to the output of the generator 2 unipolar pulses and the input of the delay block 12, and the output is connected to the generator 13 of the sawtooth voltage, the code of which is connected to the block 12 of the delay & 31KIT of the block 12 buckle connected to the input clock 3. A method of measuring is as follows. When measuring the sampling time of the TSO 1, the switch 11 connects the comparison unit to the frequency meter. The control signal Uv 1FIG.2 a) CBX is formed on the course of control. At the same time, this signal through the delay unit enters the synchronizer 3, the output of which generates a signal Ug (FIG. 2 b) applied to the analog input of the SVX 1 7 The amplitude of the input pulses is controlled by a voltmeter 8. The phase shift of the input pulses relative to the control pulses changes depending on the instantaneous values of the sawtooth voltage l / n (Fig. 26 at the output of the generator 13. While the leading edge of the input pulses Od is separated from the falling edge of the pulses (Jy for an amount of time longer than the switch-on time of the SVX key (aperture time and, the output voltage Ug (FIG. 2c) at the output is equivalent to the load 4. There is no voltage as the input pulses move at the output of the TSO 1, it is rectified by the rectifier 5 and fed to block 6, to the other input which is supplied by the voltage rectified by the rectifier 10 from the input of SVH 1 (4IG.2 g. At the time j when the time difference between the leading edge of the input pulse 1 / o (and the falling edge of the pulse Uy is equal to the sampling time), the amplitude of the output voltage Ug reaches amplitude U (3 and at the output of block 7 a triggering pulse appears U (2E), which triggers a frequency-9 chronograph operating mode measuring the duration of time intervals between the leading edge and trailing edge Uz U. At the end of the counting, a sync pulse arrives from the output of the chronometer frequency meter 9 to the generator 13 input and the measurement cycle is repeated (Fig. 2e). In order to measure the aperture time, by means of trans, | d1. Figure 1, an indication unit is connected to the frequency meter. In this case, block 7 is activated at the moment of occurrence, the voltage Ug. output TSW 1 (figure 2 g, dashed line). At the chronometer frequency meter 9, the time interval between the falling edge Uv and the leading edge Ua is measured (Fig. 2 e, dotted line). The remaining operations are similar to the above. The use of the proposed method allows to automate and fully mechanize the process of measuring and rejecting circuits on the principle: -L MdKc - 4 t Mclw.c - the norm,, the duration of the sample or aperture is acceptable. Applying a cyclical measurement allows the final result-output

ари етическое из суммы arytic of the sum

как среднее что повышаполученных результатов,as an average of what results improved,

ет точность измерени .no measurement accuracy.

Claims (2)

1.Сапрынин B.C., Кузнецов Н.И., Докучаев И.И., Островцов Б.В. Измерение динамических параметров йнтеграпвных схем. М., Советское радио, 1979.1.Saprynin B.C., Kuznetsov N.I., Dokuchaev I.I., Ostrovtsov B.V. Measurement of dynamic parameters of variable circuits. M., Soviet Radio, 1979. 2.Авторское свидетельство СССР 586399, кл.С 01 R 25/00, 1977.2. USSR author's certificate 586399, class 01 R 25/00, 1977. fjfj LL Йи. /Yi / ,, Фгк.FGK.
SU802851114A 1980-01-28 1980-01-28 Method of measuring dynamic time parameters SU879497A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802851114A SU879497A1 (en) 1980-01-28 1980-01-28 Method of measuring dynamic time parameters

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802851114A SU879497A1 (en) 1980-01-28 1980-01-28 Method of measuring dynamic time parameters

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU879497A1 true SU879497A1 (en) 1981-11-07

Family

ID=20864225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802851114A SU879497A1 (en) 1980-01-28 1980-01-28 Method of measuring dynamic time parameters

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU879497A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5200933A (en) High resolution data acquisition
US4637733A (en) High-resolution electronic chronometry system
US4558303A (en) Methods of and apparatus for converting an analogue voltage to a digital representation
US2414107A (en) Electronic timing apparatus
SU879497A1 (en) Method of measuring dynamic time parameters
US3943341A (en) Computing apparatus
US3466553A (en) Control circuit for a sampling system
US4181949A (en) Method of and apparatus for phase-sensitive detection
US4571541A (en) Method for determining charged energy states of semiconductor or insulator materials by using deep level transient spectroscopy, and an apparatus for carrying out the method
SU1157520A1 (en) Recirculation time-interval counter
SU1030747A1 (en) Device for measuring mis-structure characteristics
SU879479A2 (en) Two-channel stroboscopic oscilloscope
SU1485147A1 (en) Device for measuring angle of phase shift
SU1725153A1 (en) Device for measuring frequency of sine signals
RU2043637C1 (en) Oscilloscope
SU627420A1 (en) Radio signal phase measuring arrangement
SU748288A1 (en) Meter of four-pole network transient characteristic
EP0101060A2 (en) Scaled analog to digital converter
SU864143A1 (en) Device for automatic time shift of gate pulses
SU464888A1 (en) Digital pulse duration meter
RU2071062C1 (en) Oscillograph
SU951148A1 (en) Stroboscopic oscilloscope
SU960673A1 (en) Device for manufacturing loss power in thyristor switching
SU900197A1 (en) Device for registering short periodic signal shape
US2882495A (en) Precision interval timer