Изобретение относитс к измерени м в оптике и может быть использо вано при исследовании качества крис таллов, примен емых в нелинейной оптике. Известны устройства дл измерени двулучепреломлени и его неодно род ноет ей в кристаллах или деформируемых телах, содержащие источник монохроматического света, пол ризатор , компенсатор, анализатор и реги ратор Т . Однако в этих устройствах перед измерени ми осуществл етс сложна настройка, чтобы плоскость пропуска ни пол ризатора не совпадала с направлени ми главных осей кристалла . Наиболее близким техническим реше нием к изобретению вл етс устройст во дл измерени неоднородностей двулучепреломлени , содержащее оптически св занные источник монохромати ческого света, пол ризатор, кристаллический клин, анализатор и регистратор . Клин выполнен из кварца, вл ющегос оптически активным одноocHHJIi кристаллом, а оптическа ось клина параллельна одной из его рабочих граней Гз Недостатком устройства вл етс низка точность измерени , обусловленна фиксированной ориентацией интерференционных полос относительно исследуемого образца. Это затрудн ет обнаружение и оценку величины неоднородностей двулучепреломлени . .Цель изобретени - повышение точности измерени . Поставленна цель достигаетс тем, что в устройстве, содержащем опти- чески св занные источник монохроматического света, пол ризатор, кристсШлический клин, анализатор и регистратор , кристаллический .клин выполнен из оптически неактивного одноосного кристалла с оптической осью, ориентированной к грани под углом, превьциакхцим угол между гран ми клина, и снабжен механизмом дл осуществлени вращени вокруг его оптической оси. На черетеже изображена оптическа схема предлагаемого устройства. Устройство содержит оптически св занные источник 1 монохроматического света, пол ризатор 2, кристаллический клин 3, анализатор 4, экран 5 в качестве регистратора. Плоскости пол ризации пол ризатора 2 и анализатора 4 взаимно перпендикул рThe invention relates to measurements in optics and can be used to study the quality of crystals used in nonlinear optics. Devices for measuring birefringence are known, and it is inhomogeneous in crystals or deformable bodies, containing a source of monochromatic light, a polarizer, a compensator, an analyzer and a T detector. However, in these devices, before the measurements, a complicated adjustment is made so that the skip plane or polarizer does not coincide with the directions of the principal axes of the crystal. The closest technical solution to the invention is a device for measuring birefringence inhomogeneities, containing optically coupled monochromatic light source, a polarizer, a crystal wedge, an analyzer and a recorder. The wedge is made of quartz, which is an optically active single-coHHIIi crystal, and the optical axis of the wedge is parallel to one of its working faces Hz. The drawback of the device is the low measurement accuracy due to the fixed orientation of the interference fringes relative to the sample under study. This makes it difficult to detect and estimate the magnitude of the birefringence irregularities. The purpose of the invention is to improve measurement accuracy. This goal is achieved by the fact that in a device containing optically coupled source of monochromatic light, a polarizer, a crystal wedge, an analyzer and a recorder, the crystalline wedge is made of an optically inactive uniaxial crystal with an optical axis oriented to the face at an angle that exceeds the angle between the edges of the wedge, and is equipped with a mechanism for rotation around its optical axis. The drawing shows the optical scheme of the device. The device contains optically coupled monochromatic light source 1, polarizer 2, crystal wedge 3, analyzer 4, screen 5 as a recorder. The polarization planes of polarizer 2 and analyzer 4 are mutually perpendicular to