SU828028A1

SU828028A1 - Method of flaw parameter determination

Info

Publication number: SU828028A1
Application number: SU792765022A
Authority: SU
Inventors: Анатолий Иванович Потапов; Владимир Михайлович Гржехник-Жуковский; Геннадий Леонтьевич Баранов; Владимир Анатольевич Беляев; Андрей Юрьевич Смирнов; Радиэль Алексеевич Волков
Original assignee: Ленинградский Ордена Трудового Крас-Ного Знамени Технологический Институтим. Ленсовета
Priority date: 1979-05-03
Filing date: 1979-05-03
Publication date: 1981-05-07

Description

Изобретение относится к физическим методам контроля качества материалов и может быть использовано для определения глубины залегания дефектов проникающими в материал излучениями, например электромагнитными.The invention relates to physical methods for controlling the quality of materials and can be used to determine the depth of defects penetrating radiation material, for example electromagnetic.

Известен способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект сканируют проникающим излучением с изменяющейся по заданной функции частотой и по значению последней при «пороговом отклике» на дефект в объекте судят о размерах этого дефекта [1].There is a method of determining the parameters of defects, which consists in the fact that the controlled object is scanned by penetrating radiation with a frequency that varies according to a given function and the value of the latter with a “threshold response” to a defect in the object judges the size of this defect [1].

Однако достоверность контроля этим способом недостаточная, так как «пороговый отклик» близок к уровню шумов в преобразователе проникающего излучения в электрический сигнал.However, the reliability of control by this method is insufficient, since the “threshold response” is close to the noise level in the transducer of penetrating radiation into an electrical signal.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ определения параметров дефектов, заключающийся в том, что контролируемый объект облучают равномерным потоком электромагнитного излучения, принимают отраженное от объекта излучение, преобразовывают его электронно-оптическим преобразователем в электрические сигналы и по значению последних судят о результатах контроля [2].Closest to the invention in technical essence is a method for determining the parameters of defects, which consists in the fact that the monitored object is irradiated with a uniform flow of electromagnetic radiation, receive the radiation reflected from the object, convert it by an electron-optical converter into electrical signals and judging by the value of the latter [ 2].

Однако производительность контроля из вестным способом недостаточная, так как для определения глубины залегания дефекта необходимо облучать объект по различным направлениям, чтобы получить допол5 нительную информацию о координатах дефекта.However, the control performance of the known method is insufficient, since to determine the depth of the defect it is necessary to irradiate the object in different directions in order to obtain additional information about the coordinates of the defect.

Целью изобретения является повышение производительности определения глубины залегания дефекта в объектах прямоуголь10 ного сечения.The aim of the invention is to increase the productivity of determining the depth of a defect in objects of a rectangular cross section.

Эта цель достигается тем, что формируют изображение дефекта и его тени на мишени передающей телевизионной трубки, выделяют передние фронты видеосигналов 15 от дефекта и его тени, фиксируют временной интервал между этими фронтами, а глубину d залегания дефекта определяют по формулеThis goal is achieved by forming an image of the defect and its shadow on the target of the transmitting television tube, isolating the leading edges of the video signals 15 from the defect and its shadow, fixing the time interval between these fronts, and the depth d of the defect occurrence is determined by the formula

2» ,2 ",

П₂1 где τ — временной интервал;P ₂ 1 where τ is the time interval;

i — угол падения излучения;i is the angle of incidence of radiation;

п₂] — относительный показатель преломления;n ₂ ] is the relative refractive index;

k — нормирующий множитель.k is the normalizing factor.

На чертеже представлено устройство, с помощью которого реализуется описанный 30 способ.The drawing shows a device with which the described method 30 is implemented.

Устройство содержит оптический квантовый генератор 1 (ОКГ), пластину λ/4 2, коллиматор 3, диафрагму 4, микрообъектив 5, в поле излучения которого расположен контролируемый материал 6, микрообъек- 5 тив 7, диафрагму 8, окуляр 9, передающую телевизионную трубку 10, отклоняющую систему 11, генератор 12 развертки и блок 13 обработки видеосигналов.The device comprises an optical quantum generator 1 (OCG), a λ / 4 plate 2, a collimator 3, an aperture 4, a micro lens 5, in the radiation field of which is located the controlled material 6, a micro lens 5, aperture 7, an aperture 8, an eyepiece 9 transmitting a television tube 10 the deflecting system 11, the sweep generator 12 and the video processing unit 13.

Работает устройство следующим обра- Ю зом.The device operates as follows.

Облученный ОКГ 1 дефект 14 создает тень 15 на нижней поверхности контролируемого материала 6, изображения дефекта и его тени фоксируются (формируются) 15 на мишени передающей телевизионной трубки 10. Появившиеся в процессе развертки указанных изображений видеосигналы направляются в блок 13 их обработки, где фиксируется временной интервал меж- 20 ду фронтами этих сигналов, и определяют глубину d залегания дефекта по формуле τ Уηί, — sin²/ d=K-^.----, ₂₅ «21 где τ — временной интервал;Irradiated OKG 1 defect 14 creates a shadow 15 on the lower surface of the controlled material 6, images of the defect and its shadows are foxed (formed) 15 on the target of the transmitting television tube 10. The video signals that appeared during the scanning of these images are sent to the processing unit 13, where the time interval is fixed between the fronts of these signals, and determine the defect depth d according to the formula τ поηί, - sin ² / d = K - ^ .----, ₂₅ 21 21 where τ is the time interval;

«21—относительный показатель преломления; 30 k — нормирующий множитель."21 — relative refractive index; 30 k is the normalizing factor.

При этом следует угол i падения излучения выбирать таким, чтобы на мишени передающей трубки 10 между изображениями дефекта 14 и его тени 15 был опреде- 35 ленный интервал, обеспечивающий такой временной интервал между фронтами видеоимпульсов, который может быть зафиксирован в блоке 13 с необходимой для практики точностью. 40In this case, the angle of incidence of radiation i should be chosen so that on the target of the transmitting tube 10 between the images of the defect 14 and its shadow 15 there is a certain interval providing such a time interval between the edges of the video pulses that can be fixed in block 13 with the necessary for practice accuracy. 40

Claims

Claim

The method for determining the parameters of defects, which consists in the fact that the controlled object is irradiated with a uniform flow of electromagnetic radiation, the radiation reflected from the object is received, converted by an electron-optical converter into electrical signals, and the value of the latter is used to judge the results of the control, characterized in that, in order to increase the performance of determining the depth of the defect in objects of rectangular cross-section, form an image of the defect and its shadow on the target transmitting television tubes, select the leading edges of the video signals from the defect and its shadow, fix the time interval between these fronts, and the depth d of the defect occurrence is determined by the formula

L ₂ 1 where τ is the time interval;

i — angle of incidence of radiation;

"21 — relative refractive index;

k is the normalizing factor.