SU826856A1 - Устройство д идентификации т желых ионов - Google Patents
Устройство д идентификации т желых ионов Download PDFInfo
- Publication number
- SU826856A1 SU826856A1 SU792770360A SU2770360A SU826856A1 SU 826856 A1 SU826856 A1 SU 826856A1 SU 792770360 A SU792770360 A SU 792770360A SU 2770360 A SU2770360 A SU 2770360A SU 826856 A1 SU826856 A1 SU 826856A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- detector
- electronic
- unit
- input
- stop
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к области дерной спектрометрии и может быть использовано дл идентификации т желых ионов, например осколков делени т желых дер
(U235, U238, Pu239 и Др.) .
Известно устройство 1, содержащее масс-сепаратор, детектор полного поглощени энергии иона, пролетный детектор измерени удельных ионизационных потерь, стандартные электронные амплитудные спектрометрические блоки. Недостатками устройства вл ютс высока сложность и громоздкость, что существенно ограничивает область его применени .
Известно устройство 2 дл идентификации т желых ионов, содержащее последовательно соединенные детектор удельных ионизационных потерь и электронный амплитудный спектрометрический блок. Кроме того, оно содержит два полупроводниковых детектора: детектор полного поглощени энергии иона Е (-детектор) и пролетный детектор измерени удельных ионизационных потерь Д (Д -детектор). Величина зар да noiiaZ св зана с измеренными величинами Е и Д зависимостью Z . Основным недостатком данного устройства вл етс низка разрешающа способность по зар ду, т. е. невозможность идентификации ионов с зар дом Z более 17. Это св зано , во-первых, с низкой точностью измерени величины , причем основной вклад в дисперсию измеренного значени вносит неоднородность толщины АЕдетектора , что св зано с трудностью изготовлени тонких (1-5 мкм) однородных пластин из кремни . Во-вторых, заметный вклад в дисперсию измеренного значени зар да Z вносит и -детектор, разрешение которого дл т желых ионов составл ет величину 4%.
Целью изобретени вл етс увеличение разрешающей способности устройства по зар ду.
Claims (2)
- Поставленна цель достигаетс тем, что устройство дл идентификации т желых ионов, содержащее последовательно соединенные детектор удельных ионизационных потерь и электронный амплитудный спектрометрический блок, дополнительно содержит стартовый пролетный детектор, расположенный перед детектором удельных ионизационных потерь со стороны источника т желых ионов, электронный вычислительный блок, один вход которого соединен с выходом электронного амплитудного спектрометрического блока, и электронный блок измерени времени пролета ионов, стартовый вход которого соединен со стартовым пролетным детектором, стоповый вход соединен с детектором удельных ионизационных потерь, выход соединен с вторым входом электронного вычислительного блока. Кроме того, детектор удельных ионизационных потерь выполнен в виде полупроводникового поверхностно-барьерного детектора с толщиной чувствительной области , составл ющей 40-60% полного пробега ионов в веществе детектора. Блок-схема описываемого устройства представлепа па чертеже. Устройство содержит стартовый, пролетный детектор 1, стоповый непролетпый детектор удельных ионизационных потерь 2, электронный амплитудный спектрометрический блок 3, электронный блок намерени времени пролета 4, электронный вычислительный блок 5. Стартовый пролетпый детектор 1 соединен со стартовым входом Вх. А электронного блока измерени времени пролета 4, стоповый непролетный детектор удельных ионизационных потерь 2 соедипен с входом амплитудного спектрометрического блока 3 и со стоповым входом Вх. В электронного блока измерени времени пролета 4. Выход амплитудного спектрометрического блока 3 соедипен с первым входом Вх. С электронного вычислительного блока 5, а выход электронного блока измерени времени пролета 4 соединен со вторым входом Вх. D электронного вычислительного блока 5. Устройство работает следующим образом . Ион, пснущенный источником U, проходит через пролетный стартовый детектор 1 п попадает в детектор удельпых ионизационных потерь 2, вл ющийс непролетным стоповым д етектором. Сигнал со стартового детектора 1 поступает па стартовый вход Вх. Л электроппого блока измерени времени пролета 4, а сигнал со стопового непролетного детектора удельпых иопизационных нотерь 2 цоступает па вход электронного спектрометрического блока 3 и па стоповый вход Вх. В электроппого блока измерени времени иролета 4. С выхода электронного амплитудпого спектрометрического блока 3 сигнал, пропорциональный удельным иопизационным потер м эпергнп пона Af, поступает на вход Вх.С электроппого вычислительного блока 5, а с выхода электронного блока измерени времени иролета 4 сигнал, пропорциональный измеренному времени пролета иона t от пролетпого стартового детектора 1 до пепролетного стопового детектора 2, поступает на вход Вх. D электронного вычислительного блока 5. По измеренным величинам времени пролета t и удельным иопизациопным потер м Д однозначно определ етс зар д иона Z по формуле котора следует из известпого выражени E-E-a.mZ где ос - посто нна ; т - масса иона, путем замены , где V - скорость иона, и . Улучшение разрешающей способности устройства по зар ду Z в устройстве достигаетс , во-первых, за счет того, что детектор удельпых ионизациоппых потерь выполнен в виде непролетного стопового детектора, так как он может быть изготовлен с большой степенью однородности. Так, например, при использовании в качестве пепролетного детектора удельпых ионизационных потерь поверхностно-барьерного детектора с толщиной рабочей области 40-60% полного пробега ионов в веществе детектора (онтимальна толщина Л -детектора ), неоднородность толщины рабочей области определ етс только неоднородностью материала детектора и может составл ть величину менее 1 %, в то врем как изготовление нролетных Д -детекторов с такой однородностью не представл етс возможным. Поэтому ошибка в измерении удельпых ионизационных потерь непролетным стоповым детектором определ етс , в основном, физическими процессами регистрации ионов в детекторе и составл ет величину 4%. Во-вторых, улучшение разрешающей способности по зар ду достигаетс за счет измерени времени пролета ионов вместо измерени их энергии, а врем пролета ионов измер етс с существенно большей точностью (так, например, при рассго нпи между стартовым и стоповым детекторами н 1 м погрешпость в измереипи времени совремеппои электроппои аппаратурой составл ет величину менее 0,2%). Погрешпость определени зар да Z т желых ионов при помощи описываемого устройства составл ет, таким образом, величину V/()H(f) т. е. устройство может оыть использовано дл идентификации т желых иопов, имеющнх зар д . Таким образом, введепие стартового детектора , электронного блока измерени времени пролета и выполпение детектора удельных ионизационных потерь в виде пепролетпого стопового детектора, а также осуществлепие вышеописанпых св зей между блоками позволило повысить разрешающую способность по Z до 2%, что дало возможность идентифицировать т желые ионы по зар ду до величипы Z 50. Формула изобретени 1. Устройство дл идентификации т желых иопов, содергкащее последовательно соединенные детектор удельных ионизационных потерь и электронный амплитудный спектрометрический блок, о т л и ч а ю щ ее с тем, что, с целью увеличени разрешающей способности по зар ду, оно дополнительно содержит стартовый пролетпый детектор, расположенный перед детектором удельных ионизационных потерь со стороны источника т желых ионов, электронный вычислительный блок, один вход которого соединен с выходом электронного амплитудного спектрометрического блока, и электронный блок измерени времени пролета ионов, стартовый вход которого соединен со стартовым пролетным детектором , стоповый вход соединен с детектором удельных ионизационных потерь, выход соединен с вторым входом электронного вычислительного блока. 2. Устройство по п. 2, отличающс тем, что детектор удельных ионизационньГх потерь выполнен в виде полупроводникового поверхностно-барьерного детектора с толщиной чувствительной области, составл ющей полного пробега ионов в веществе детектора. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. G. Siegert и др. „Direct determination of the nuclear charge distribution of mass separted fission products from U (щь, f) „Physics letters, 1974, V53B №1, p. 45-47.
- 2. Moretto и др. „Intermediate mass fragments emitted in the reaction AT 100, 160 and 250 mev bombarding energy „Nuclear Physics, 1975, v. A 255, p. 491- 508 (прототип).W
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792770360A SU826856A1 (ru) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Устройство д идентификации т желых ионов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792770360A SU826856A1 (ru) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Устройство д идентификации т желых ионов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU826856A1 true SU826856A1 (ru) | 1982-10-30 |
Family
ID=20829484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792770360A SU826856A1 (ru) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Устройство д идентификации т желых ионов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU826856A1 (ru) |
-
1979
- 1979-05-24 SU SU792770360A patent/SU826856A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2469206A (en) | X-ray absorption photometer | |
US2977478A (en) | Method of and apparatus for measuring the thickness of materials | |
Wick | Detection of gamma-ray polarization by pair production | |
CN102592937B (zh) | 一种基于狭义相对论的质量分析方法与质谱仪器 | |
Denbigh et al. | Scanning electron diffraction with energy analysis | |
SU826856A1 (ru) | Устройство д идентификации т желых ионов | |
US2954474A (en) | Measuring | |
Laubenstein et al. | The Elastic Scattering and Capture of Protons by Oxygen | |
US2659821A (en) | Spectrometric analysis of solids | |
US2503062A (en) | X-ray absorption photometer | |
Kuehner et al. | NEW 5− AND 6+ STATES IN Ne20 | |
US4645928A (en) | Sweeping method for superimposed-field mass spectrometer | |
GB1154883A (en) | Measuring method and apparatus | |
Cooper Jr et al. | Cross section and asymmetry in the deuteron pickup reaction C12 (p, d) C11 at 145 MeV | |
Jain et al. | Optical-model interpretation of average total neutron cross sections in the keV region | |
SE8002697L (sv) | Forfarande och anordning for identifiering av mynt och liknande foremal | |
Kozyczkowski et al. | Amplitude and rise time compensated timing optimized for large semiconductor detectors | |
Goulding et al. | An improved particle identifier for studies of low-yield nuclear reactions | |
Champion et al. | The Scattering of Fast β-particles through Large Angles by Nitrogen Nuclei | |
US3522429A (en) | Device for the measurement of the ion current reaching the photographic plate of a particle spectroscope using mass separation by a magnetic field | |
US3242333A (en) | Multi-channel charged particle spectrometer with delay means to sequentially record detector signals | |
SU141559A1 (ru) | Способ изотопного и химического масс-спектрального анализа | |
Bhattacherjee et al. | Energy Determination of Cs 137 K Conversion Electrons | |
JPS5693339A (en) | Function test device of integrated circuit | |
Toomim | Switching action of the Eccles‐Jordan trigger circuit |