SU819759A1 - Logic probe - Google Patents

Logic probe Download PDF

Info

Publication number
SU819759A1
SU819759A1 SU792772327A SU2772327A SU819759A1 SU 819759 A1 SU819759 A1 SU 819759A1 SU 792772327 A SU792772327 A SU 792772327A SU 2772327 A SU2772327 A SU 2772327A SU 819759 A1 SU819759 A1 SU 819759A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
trigger
elements
node
output
Prior art date
Application number
SU792772327A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Рубен Смбатович Алумян
Армен Амазаспович Арутюнов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6509
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6509 filed Critical Предприятие П/Я Р-6509
Priority to SU792772327A priority Critical patent/SU819759A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU819759A1 publication Critical patent/SU819759A1/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Союз СоветскихUnion of Soviet

СоциалистическихSocialist

РеспубликRepublics

ОПИСАНИЕDESCRIPTION

ИЗОБРЕТЕНИЯInventions

«ч 819759"H 819759

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву - (22) Заявлено 31.05.79 (21) 2772327/18-21 с присоединением заявки N° — (23) Приоритет -TO AUTHOR'S CERTIFICATE (61) Additional to author. certificate-wu - (22) Declared 05/31/79 (21) 2772327 / 18-21 with the addition of application N ° - (23) Priority -

Опубликовано о 7.04.81.Бюллетень № 13Posted on 7.04.81. Bulletin No. 13

Дата опубликования описания 07.0481 (51 )М. Кл.3 Date of publication of the description 07.0481 (51) M. Cl. 3

G 01 R 31/28 (53) УДК 681.142.G 01 R 31/28 (53) UDC 681.142.

.019(088.8).019 (088.8)

(54) ЛОГИЧЕСКИЙ ПРОБНИК(54) LOGIC TEST

Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано в процессе наладки и ремонта устройств, в частности для поиска неисправных мик-. росхем непосредственно на схемной пла-° те.The invention relates to radio engineering and can be used in the process of setting up and repairing devices, in particular for finding faulty mic. directly on the circuit board.

Известен логический пробник, содержащий логический узел, входы кото рого соединены с разъемом для подключения исследуемого логического узла, остальные контакты которого соединены. с первыми входами элементов сравнения, вторые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, выходы элементов сравнения сое- 15 динены с входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом элемента формирования сигнала ошибки, второй вход и выход которого соединены соответственно с источником сигна7 20 ла опроса и узлом индикации ошибки£1] ·'' Известен также логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питания, эталонный логический узел, элементы 25 сравнения, элемент ИЛИ, триггер, индикатор , кнопку, контакты кнопки соединены с первым зондом питания и единичным входом триггера,выход которого через индикатор соединен с вторым ' 30 зондом питания, нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с выходами элементов сравнения, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, а вторые входы элементов сравнения соединены с информационными контактными зондами, которые соединены с входами эталонного логического узла [2J.A logical probe is known that contains a logical node, the inputs of which are connected to the connector for connecting the investigated logical node, the remaining contacts of which are connected. with the first inputs of the comparison elements, the second inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, the outputs of the comparison elements are connected to the inputs of the OR element, the output of which is connected to the first input of the error signal generating element, the second input and output of which are connected respectively to the signal source 7 20 la polling and an error indication unit £ 1] · '' A logical probe is also known that contains information contact probes, the first and second power probes, a reference logic node, 25 comparison elements, an OR element, t trigger, indicator, button, button contacts are connected to the first power probe and a single trigger input, the output of which through the indicator is connected to the second '30 power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which connected to the outputs of the reference logical node, and the second inputs of the comparison elements are connected to information contact probes, which are connected to the inputs of the reference logical node [2J.

Недостатком этих логических Ъробников является относительно низкая достоверность контроля. Действительно, в процессе испытания из-за ненадежности контактирования один из контактов проверяемого узла микросхемы может кратковременно отключиться от зонда, что может привести к ложным результатам испытаний, в результате чего снизится достоверность контроля.The disadvantage of these logical probes is the relatively low reliability of control. Indeed, during the test, due to the unreliability of contacting, one of the contacts of the tested node of the microcircuit may be disconnected from the probe for a short time, which can lead to false test results, as a result of which the reliability of the control will decrease.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля.The aim of the invention is to increase the reliability of control.

Достигается это тем, что в логичес· кий пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питания, эталонный логический узел, элементы сравнения, элемент ИЛИ, триггер, индикатор, кнопку, контакты кнопки соединены с первым зон3This is achieved by the fact that in a logical probe containing information contact probes, first and second power probes, a reference logical node, comparison elements, an OR element, a trigger, an indicator, a button, the button contacts are connected to the first zone3

4' дом питания и единичным входом триггера, выход которого через индикатор соединен с вторым зондом питания, нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с .выходами элементов сравч нения, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, а вторые входы элементов сравнения соединены с информационными контактными зондами, которые соединены с входами эталонного логического узла, введены токочувствительные элементы, многовходовой элемент ИЛИ, вспомогательный триггер и вспомогательный индикатор,первые входы токочувствительных элементов соединены с информационными контактными зондами и первым зондом питания, а вторые входы токочувствительных элементов соединены с разъемом для подключения исследуемого логического узла, выходы токочувствительных элементов соединены с входами многовходового элемента ИЛИ, выход которого соединен с единичным входом вспомогательного триггера, нулевой вход которого соединен с единичным входом триггера, а выход вспомогательного триг' гера соединен через вспомогательный индикатор с вторым зондом питания.4 'power house and a single trigger input, the output of which is connected via an indicator to the second power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, and the second the inputs of the comparison elements are connected to information contact probes, which are connected to the inputs of the reference logic node, current-sensitive elements, a multi-input OR element, an auxiliary trigger and an auxiliary are introduced th indicator, the first inputs of the current-sensitive elements are connected to the information contact probes and the first power probe, and the second inputs of the current-sensitive elements are connected to the connector for the studied logical node, the outputs of the current-sensitive elements are connected to the inputs of the multi-input OR element, the output of which is connected to a single input of the auxiliary trigger, the zero input of which is connected to a single input of the trigger, and the output of the auxiliary trigger is connected via an auxiliary indicator with a second power probe.

На чертеже показана структурная схема логического.пробника.The drawing shows a structural diagram of a logical probe.

Логический пробник содержит информационные контактные зонды 1, первый 2 и второй 3 зонды питания, эталонный логический узел 4, элементы сравнения 5, элемент ИЛИ 6, триггер 7, индикатор 8, кнопку 9, токочувствительные элементы 10, многовходовой элемент ИЛИ 11, вспомогательный триггер 12 и вспомогательный индикатор 13, контакты кнопки 9 соединены с первым зондом питания 2 -и единичным входом триггера 7, выход которого через индикатор 8 соединен со вторым зондом питания 3, нулевой вход триггера 7 соединен с выходом элемента ИЛИ б, входы которого соединены с выходами элементов сравнения 5, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла 4, а вторые входы элементов сравнения 5 соединены с информационными контактными зондами 1, которые соединены с входами эталонного логического узла 4, первые входы токочувствительных элементов 10 соединены с информационными контактными зондами 1 и первым зондом питания 2, а вторые входы токочувствительных элементов 10 соединены с разъемом 14 для подключения исследуемого логического узла 15, выхода токочувствительных элементов 10 соединены с входами многовходового элемента ИЛИ 11, выход которого соединен с единичным входом вспомо гательного триггера 12, нулевой вход которого соединен с единичным входом триггера 7, а выход вспомогательного триггера 12 соединен через вспомогательный индикатор 13 с вторым зондом питания 3.The logic probe contains information contact probes 1, the first 2 and second 3 power probes, a reference logic node 4, comparison elements 5, an OR element 6, a trigger 7, an indicator 8, a button 9, current-sensing elements 10, a multi-input element OR 11, an auxiliary trigger 12 and an auxiliary indicator 13, the contacts of the button 9 are connected to the first power probe 2 and a single input of the trigger 7, the output of which through the indicator 8 is connected to the second power probe 3, the zero input of the trigger 7 is connected to the output of the element OR b, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements 5, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node 4, and the second inputs of the comparison elements 5 are connected to the information contact probes 1, which are connected to the inputs of the reference logic node 4, the first inputs of the current-sensitive elements 10 are connected to information contact probes 1 and the first power probe 2, and the second inputs of the current-sensitive elements 10 are connected to the connector 14 for connecting the investigated logical node 15, the output of the current-sensitive elements 10 are connected to by the strokes of the multi-input element OR 11, the output of which is connected to the unit input of the auxiliary trigger 12, the zero input of which is connected to the unit input of the trigger 7, and the output of the auxiliary trigger 12 is connected via an auxiliary indicator 13 to the second power probe 3.

Устройство работает следующим образом.The device operates as follows.

Исследуемый логический узел 15 вставляют в разъем 14. При замыкании кнопки 9 на единичный вход триггера 7 поступает потенциал, устанавливающий триггер 7 в состояние логической ’’1’’, вызывая загорание индикатора 8. Этот же сигнал устанавливает триггер 12 в нулевое логическое состояние, гася индикатор 13. После отпускания кнопки в процессе работы устройства на входы проверяемого узла 15 поступают информационные сигналы, которые, кроме того, через контактные зонды 1 и токочувствительные элементы 10 попадают на входы эталонной микросхемы 4. Сигналы с выходов проверяемого узла через зонды 1 и токочувствительные элементы 10 поступают на входы элементов 5, при помощи которых происходит сравнение сигналов на выходах проверяемой и эталонной микросхем. Если бы на одном выходе имеется несовпадение, то сигнал несовпадения через элемент 6 устанавливает триггер 7 в нулевое логическое состояние, гася индикатор 8. Вместе с тем,' за время проверки исследуемого узла происходит непрерывный контроль контактирования зондов, а если за время проверки микросхемы хоть один контакт отключается на выходе соответствующего токочувствительного элемента 10 появится низкий уровень, который через элемент ИЛИ 11 перебросит триггер 12 в единичное логическое состояние и индикатор 13 загорится, сигнализируя о том, что проверку логического узла нужно произвести повторно.The investigated logical node 15 is inserted into the socket 14. When the button 9 is closed, the trigger input 7 receives a potential that sets the trigger 7 to the logical state '' 1 '', causing the indicator 8 to light up. The same signal sets the trigger 12 to the zero logical state, extinguishing indicator 13. After releasing the button during operation of the device, information signals are received at the inputs of the tested node 15, which, in addition, through the contact probes 1 and current-sensing elements 10 get to the inputs of the reference microcircuit 4. The signal s from the outputs of the tested node through the probes 1 and current-sensing elements 10 are fed to the inputs of the elements 5, with which the signals at the outputs of the tested and reference microcircuits are compared. If there is a mismatch on one output, then the mismatch signal through element 6 sets the trigger 7 to the zero logic state, extinguishing indicator 8. At the same time, during the test of the node under investigation, the probes are continuously monitored, and if at least one chip is checked during the test the contact is disconnected at the output of the corresponding current-sensing element 10 a low level appears, which through the element OR 11 will transfer the trigger 12 to a single logical state and the indicator 13 will light up, signaling that then check the logical node must be repeated.

Таким образом, логический узел можно считать проверенным, если за время его проверки индикатор 13 не загорится.Thus, the logical node can be considered checked if the indicator 13 does not light up during its verification.

Claims (2)

Изобретение относитс  к радиотехнике и может быть использовано в процессе наладки и ремонта устройств, в частности дл  поиска неисправных микросхем непосредственно на схемной пла те. Известен логический пробник, содержащий логический узел, входы которого соединены с разъемом дл  подключени  исследуемого логического узла, остальные контакты которого соединены , .с первыми входами элементов сравнени , вторые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, выходы элементов сравнени  соединены с входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом эле мента формировани  сигнала ошибки/ второй вход и выход которого соединены соответственно с источником сигнала опроса и узлом индикации ошибки fll. Известен также логический прооник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питани , эталонный логический узел, элементы сравнени , элемент ИЛИ , триггер, инди катор , кнопку, контакты кнопки соединены с первым зондом питани  и единичным входом триггера,выход которога через индикатор соединен с вторым зондом питани , нулевой вход триггёра соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с выходами элементов сравнени , первые входы которых соединены с выходг1ми эталонного логического узла, а вторые входы элементов сравнени  соединены с информационными контактными зондами, которые соединены с входами эталонного логического узла 23. Недостатком этих логических hpo6ников  вл етс  относительно низка  достоверность контрол . Действительно , в процессе испытани  из-за ненадежности контактировани  один из контактов провер емого узла микросхемы может кратковременно отключитьс  от зонда, что может привести к ложным результатам испытаний, в результате чего снизитс  достоверность контрол . Целью изобретени   вл етс  повышение достоверности контрол . Достигаетс  это тем, что в логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и втоой зонды питани , эталонный логический узел, элементы сравнени , элемент ЛИ, триггер, индикатор, кнопку, конакты кнопки соединены с первым зондом питани  и единичным входом триг гера, выход которого через индикато соединен с вторым зондом питани , нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с выходами элементов срав нени , первые входы которых соедине ны с выходами эталонного логического узла, а вторые вкоды элементов сравнени  сгоединены с информационны ми контактными эондами, которые сое динены с входами эталонного логичес кого узла, введены токочувствительны элементы, многовходовой элемент ИЛИ вспокюгательный триггер и в спомогательный индикатор,первые входы токо чувствительных. элементов соединены с информационными контактными зонда ми и первым зондом питани , а вторы входы токочувствительных элементов соединены с разъемом дл  подключени исследуемого логическогхэ узла, выходы токочувствительных элементов соединены с входами многовходового элемента ИЛИ, выход которого соединен с единичным входом вспоьюгатель Ho.ro триггера, нулевой вход которого соединен с единичным входом триг гера, а выход вспомогательного триг гера соединен через вспомогательный индикатор с вторым зондом питани . На чертеже показана структурна  схема логического.пробника. Логический пробник содержит информационные контактные зонды 1, первый 2 и второй 3 зонды питани , эталонный логический узел 4, элемен ты сравнени  5, элемент ИЛИ 6, триг гер 7, индикатор 8, кнопку 9, токочувствительные элементы 10, многовходовой элемент ИЛИ 11, вспомогательный триггер 12 и вспомогательны индикатор 13, контакты кнопки 9 соединены с первым зондом питани  2 и единичным входом триггера 7, выход которого через индикатор 8 соединен со вторым зондом питани  3, нулевой вход триггера 7 соединен с выходом элемента ИЛИ б, входы котор го соединены с выходами элементов сравнени  5, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла 4, а втордле входы элементов сравнени  5 соединены с информационными контактными зондами 1, которые соединены с входами эталонного логического узла 4, первые входы токочувствительных элементов 10соединены с информационными контактными . зондами 1 и первым зондом питани  2, а вторые входы токочувст вительных элементов 10 соединены с разъемом 14 дл  подключени  исследуемого логического узла 15, выходы токочувствительных элементов 10 соединены с входами многовходового элемента ИЛИ 11, выход которого сое динен с единичным входом вспомогательного триггера 12, нулевой вход которого соединен с единичным входом триггера 7, а выход вспомогательного триггера 12 соединен через вспомогательный индикатор 13 с вторым зондом питани  3. Устройство работает следующим образом . Исследуемый логический узел 15 вставл ют в 14. При замыкании кнопки 9 на единичный вход триггера 7 поступает потенциал, устанавливающий триггер 7 в состо ние логической 1 , вызыва  загорание индикатора 8. Этот же сигнал устанавливает триггер 12 в нулевое логическое состо ние , гас  индикатор 13. После отпускани  кнопки в процессе работы устройства на входы провер емого узла 15 поступают информационные сигналы, которые, кроме того, через контактные зонды 1 и токочувствительные элементы 10 попадают на входы эталонной микросхемы 4. Сигналы с выходов провер емого узла через зонды 1 и токочувствительные элементы 10 поступают на входы элементов 5, при помощи которых происходит сравнение сигналов на выходах провер емой и эталонной микросхем. Если бы на одном выходе имеетс  несовпадение, то сигнал несовпадени  через элемент 6 устанавливает триггер 7 в нулевое логическое состо ние, гас  индикатор 8. Вместе с тем/ за врем  проверки исследуемого узла происходит непрерывный контроль контактировани  зондов, а если за врем  проверки микросхемы хоть один контакт отключаетс  на выходе соответствуквдего токочувствительного элемента 10 по витс  низкий уровень, который через элемент ИЛИ 11 перебросит триггер 12 в единичное логическое состо ние и индикатор 13 загоритс , сигнализиру  о том, что проверку логического узла нужно произвести повторно. Таким образом, логический узел можно считать проверенным, если за врем  его проверки индикатор 13 не загоритс . Формула изобретени  Логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питани , эталонный логический узел, элементы сравнени , элемент ИЛИ, триггер, индикатор , кнопку, контакты кнопки соединены с первым-зондом питани  и единичным входом три-ггера, выход которого через индикатор соединен с вторым зондом.питани , нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с эыходами элементов сравнени , первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, а вторые входы элементов .сравнени  соедин®ны с информационными контактными зондами, которые соединены с входами эталонного логическох-О узла, от личающийс  тем, что, с целью повышени  достоверности контрол  в него введены токочувствительные эл менты, многовходовой элемент ИЛИ, вспомогательный триггер и вспомогательный индикатор, первые входы токочувствительных элементов соединены с информационными контактными зондами и первым зондом питани , а вторые входы токочуветвительных элементов соединены с разъемом дл  подключени  исследуемого логического узла, выхода токочувствительных элементов соединены с входами многовходового элемента ИЛИ, выход которого соединен с единичным входом вспомогательного триггера, .нулевой вход которого соедийен с единичным входом триггера, а выход вспомогательного триггера соединен через вспомогательный индикатор со вторым зондом питани . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Селлерс С. Методы обнаружени  ошибок в работе ЭЦВМ,-М., Мир. 1972, с. 224, рис 12.2-а.  The invention relates to radio engineering and can be used in the process of adjusting and repairing devices, in particular, to search for faulty microchips directly on the circuit board. A logical probe is known that contains a logical node whose inputs are connected to a connector for connecting the logical node being investigated, the remaining contacts of which are connected to the first inputs of the comparison elements, the second inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, the outputs of the comparison elements are connected to the inputs of the OR element, the output of which is connected to the first input of the error signal generation element / second input and the output of which is connected respectively to the source of the interrogation signal and the error indication node and fll. Also known is a logic scanner containing information contact probes, first and second power probes, reference logic node, comparison elements, OR element, trigger, indicator, button, button contacts connected to the first power probe and single trigger input, the output of which is connected via an indicator with the second power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, and the second inputs The elements of the comparison are connected to information contact probes, which are connected to the inputs of the reference logic node 23. The disadvantage of these logical hpo6ics is the relatively low reliability of the control. Indeed, in the course of testing, due to the unreliability of contact, one of the contacts of the tested node of the microcircuit can be briefly disconnected from the probe, which can lead to false test results, resulting in a decrease in the reliability of the control. The aim of the invention is to increase the reliability of the control. This is achieved by the fact that a logical probe containing information contact probes, the first and second power probes, the reference logic node, the comparison elements, the LIE element, the trigger, the indicator, the button, the button contacts, and the single input trigger, the output which through the indicator is connected to the second power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, and rye vkody elements comparing with information in E sgoedineny contact eondami that soy dineny to the inputs of logical one reference node, current sensing elements are incorporated, the OR multiinput vspokyugatelny trigger and spomogatelny indicator, the first inputs of Toko sensitive. elements are connected to information contact probes and the first power probe, and the second inputs of current-sensitive elements are connected to the connector for connecting the logical node under study, the outputs of current-sensitive elements are connected to the inputs of a multi-input element OR, the output of which is connected to a single input of a Ho.ro trigger, zero input which is connected to the single input of a trigger, and the output of the auxiliary trigger is connected via a secondary indicator to the second power probe. The drawing shows a logical diagram of the logical. Probe. The logic probe contains information contact probes 1, first 2 and second 3 power probes, reference logic node 4, comparison elements 5, element OR 6, trigger 7, indicator 8, button 9, current sensing elements 10, multi-input element OR 11, auxiliary trigger 12 and auxiliary indicator 13; contacts of button 9 are connected to the first power probe 2 and a single input of trigger 7, the output of which through indicator 8 is connected to the second power probe 3, the zero input of trigger 7 is connected to the output of the OR element, whose inputs are connected comparing the outputs of elements 5, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logical unit 4, and inputs vtordle comparing elements 5 are connected to information contact probes 1 which are connected to the reference logical unit 4 inputs, the first inputs of the current sense elements 10soedineny with contact information. probes 1 and the first power probe 2, and the second inputs of the sensing elements 10 are connected to connector 14 for connecting the logical node 15 to be investigated, the outputs of the current sensitive elements 10 are connected to the inputs of the multi-input element OR 11, the output of which is connected to the single input of auxiliary trigger 12, zero the input of which is connected to the single input of the trigger 7, and the output of the auxiliary trigger 12 is connected via the auxiliary indicator 13 to the second power supply probe 3. The device operates as follows. The logical node 15 under study is inserted into 14. When the button 9 is closed, a potential enters the single input of the trigger 7, which sets the trigger 7 to the logical 1 state, causing the indicator 8 to illuminate. The same signal sets the trigger 12 to the zero logical state, gus indicator 13 After the button is released during operation of the device, the inputs of the tested node 15 receive information signals, which, in addition, through the contact probes 1 and the current sensitive elements 10 enter the inputs of the reference chip 4. The signals from the output s checks emogo node through probes 1 and current sensing elements 10 are applied to the inputs of elements 5, with which there is a comparison of signals at the outputs emoy checked and the reference chips. If there is a mismatch at one output, then the mismatch signal through element 6 sets the trigger 7 to zero logic state, indicator 8 goes out. At the same time / during the checkout time of the node under study, the probes are continuously monitored, and if during the time the chip is checked, at least one the contact is turned off at the output of the corresponding current-sensing element 10 is turned on low level, which through the element OR 11 transfers the trigger 12 to a single logic state and the indicator 13 lights up, signaling om that logical node checks need to produce again. Thus, a logical node can be considered verified if during the time of its verification the indicator 13 does not come on. The invention is a logical probe containing informational contact probes, first and second power probes, reference logic node, comparison elements, the OR element, trigger, indicator, button, button contacts are connected to the first power probe and the single input of the three-timer, which output through the indicator is connected to the second power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, and the second The inputs of the elements. Comparison are connected with information contact probes, which are connected to the inputs of the reference logic-O node, differing from the fact that, in order to increase the reliability of the control, current-sensitive elements, a multi-input element OR, auxiliary trigger and auxiliary indicator are entered into it. , the first inputs of current-sensing elements are connected to informational contact probes and the first power probe, and the second inputs of current-sensing elements are connected to a connector for connecting the test The logic node, the output of the current-sensitive elements are connected to the inputs of the multi-input element OR, the output of which is connected to the single input of the auxiliary trigger, whose zero input is connected to the single input of the trigger, and the output of the auxiliary trigger is connected to the second power probe via the auxiliary indicator. Sources of information taken into account in the examination 1. Sellers S. Methods for detecting errors in the operation of the digital computer, -M., Mir. 1972, p. 224, rice 12.2-a. 2.Авторское свидетельство СССР № 483633, кл. G-01 R 31/28, 1975, (прототип).2. USSR author's certificate number 483633, cl. G-01 R 31/28, 1975, (prototype).
SU792772327A 1979-05-31 1979-05-31 Logic probe SU819759A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792772327A SU819759A1 (en) 1979-05-31 1979-05-31 Logic probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792772327A SU819759A1 (en) 1979-05-31 1979-05-31 Logic probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU819759A1 true SU819759A1 (en) 1981-04-07

Family

ID=20830340

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792772327A SU819759A1 (en) 1979-05-31 1979-05-31 Logic probe

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU819759A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001081935A1 (en) * 1996-01-18 2001-11-01 Fong Luk System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001081935A1 (en) * 1996-01-18 2001-11-01 Fong Luk System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI546545B (en) Auxiliary test circuit and chip and circuit board using the same
CN108572310B (en) Circuit testing method
JPH01112179A (en) Circuit board inspection instrument
KR970018600A (en) Semiconductor memory
US6717430B2 (en) Integrated circuit testing with a visual indicator
JPH0645418A (en) Semiconductor testing system, semiconductor testing method, method of forming wiring pattern of semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit
KR100487535B1 (en) System for parallel testing different kinds of semiconductor devices
SU819759A1 (en) Logic probe
US10156606B2 (en) Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same
KR100369022B1 (en) Integrated circuit with a self-test device
TWI362496B (en) Apparatus for testing chip and circuit of probe card
DE3686989D1 (en) REDUCING NOISE DURING CHECKING INTEGRATED CIRCUIT CHIPS.
US4714826A (en) Apparatus and method for testing outputs of logic circuits by modulating optical sequals
US6765403B2 (en) Test circuit and test method for protecting an IC against damage from activation of too many current drawing circuits at one time
JP2008298458A (en) Semiconductor testing device
ES8202454A1 (en) Fault detection in integrated circuit chips and in circuit cards and systems including such chips.
SU819758A1 (en) Logic probe
KR100252658B1 (en) device for removing noise in a PCB tester
JP3207849B2 (en) Connector identification system
JPH04296956A (en) Cable disconnection detector
SU941910A1 (en) Device for locating short-circuit of two electric networks
KR200225512Y1 (en) Device of Signal Line Error Detection for Circuit Board Assembly
SU783726A1 (en) Device for testing integrated microcircuits with memory
JPH0465684A (en) Test device for semiconductor integrated circuit
JP3168813B2 (en) Semiconductor integrated circuit test equipment