SU819759A1 - Logic probe - Google Patents
Logic probe Download PDFInfo
- Publication number
- SU819759A1 SU819759A1 SU792772327A SU2772327A SU819759A1 SU 819759 A1 SU819759 A1 SU 819759A1 SU 792772327 A SU792772327 A SU 792772327A SU 2772327 A SU2772327 A SU 2772327A SU 819759 A1 SU819759 A1 SU 819759A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- trigger
- elements
- node
- output
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Союз СоветскихUnion of Soviet
СоциалистическихSocialist
РеспубликRepublics
ОПИСАНИЕDESCRIPTION
ИЗОБРЕТЕНИЯInventions
«ч 819759"H 819759
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву - (22) Заявлено 31.05.79 (21) 2772327/18-21 с присоединением заявки N° — (23) Приоритет -TO AUTHOR'S CERTIFICATE (61) Additional to author. certificate-wu - (22) Declared 05/31/79 (21) 2772327 / 18-21 with the addition of application N ° - (23) Priority -
Опубликовано о 7.04.81.Бюллетень № 13Posted on 7.04.81. Bulletin No. 13
Дата опубликования описания 07.0481 (51 )М. Кл.3 Date of publication of the description 07.0481 (51) M. Cl. 3
G 01 R 31/28 (53) УДК 681.142.G 01 R 31/28 (53) UDC 681.142.
.019(088.8).019 (088.8)
(54) ЛОГИЧЕСКИЙ ПРОБНИК(54) LOGIC TEST
Изобретение относится к радиотехнике и может быть использовано в процессе наладки и ремонта устройств, в частности для поиска неисправных мик-. росхем непосредственно на схемной пла-° те.The invention relates to radio engineering and can be used in the process of setting up and repairing devices, in particular for finding faulty mic. directly on the circuit board.
Известен логический пробник, содержащий логический узел, входы кото рого соединены с разъемом для подключения исследуемого логического узла, остальные контакты которого соединены. с первыми входами элементов сравнения, вторые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, выходы элементов сравнения сое- 15 динены с входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с первым входом элемента формирования сигнала ошибки, второй вход и выход которого соединены соответственно с источником сигна7 20 ла опроса и узлом индикации ошибки£1] ·'' Известен также логический пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питания, эталонный логический узел, элементы 25 сравнения, элемент ИЛИ, триггер, индикатор , кнопку, контакты кнопки соединены с первым зондом питания и единичным входом триггера,выход которого через индикатор соединен с вторым ' 30 зондом питания, нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с выходами элементов сравнения, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, а вторые входы элементов сравнения соединены с информационными контактными зондами, которые соединены с входами эталонного логического узла [2J.A logical probe is known that contains a logical node, the inputs of which are connected to the connector for connecting the investigated logical node, the remaining contacts of which are connected. with the first inputs of the comparison elements, the second inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, the outputs of the comparison elements are connected to the inputs of the OR element, the output of which is connected to the first input of the error signal generating element, the second input and output of which are connected respectively to the signal source 7 20 la polling and an error indication unit £ 1] · '' A logical probe is also known that contains information contact probes, the first and second power probes, a reference logic node, 25 comparison elements, an OR element, t trigger, indicator, button, button contacts are connected to the first power probe and a single trigger input, the output of which through the indicator is connected to the second '30 power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which connected to the outputs of the reference logical node, and the second inputs of the comparison elements are connected to information contact probes, which are connected to the inputs of the reference logical node [2J.
Недостатком этих логических Ъробников является относительно низкая достоверность контроля. Действительно, в процессе испытания из-за ненадежности контактирования один из контактов проверяемого узла микросхемы может кратковременно отключиться от зонда, что может привести к ложным результатам испытаний, в результате чего снизится достоверность контроля.The disadvantage of these logical probes is the relatively low reliability of control. Indeed, during the test, due to the unreliability of contacting, one of the contacts of the tested node of the microcircuit may be disconnected from the probe for a short time, which can lead to false test results, as a result of which the reliability of the control will decrease.
Целью изобретения является повышение достоверности контроля.The aim of the invention is to increase the reliability of control.
Достигается это тем, что в логичес· кий пробник, содержащий информационные контактные зонды, первый и второй зонды питания, эталонный логический узел, элементы сравнения, элемент ИЛИ, триггер, индикатор, кнопку, контакты кнопки соединены с первым зон3This is achieved by the fact that in a logical probe containing information contact probes, first and second power probes, a reference logical node, comparison elements, an OR element, a trigger, an indicator, a button, the button contacts are connected to the first zone3
4' дом питания и единичным входом триггера, выход которого через индикатор соединен с вторым зондом питания, нулевой вход триггера соединен с выходом элемента ИЛИ, входы которого соединены с .выходами элементов сравч нения, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла, а вторые входы элементов сравнения соединены с информационными контактными зондами, которые соединены с входами эталонного логического узла, введены токочувствительные элементы, многовходовой элемент ИЛИ, вспомогательный триггер и вспомогательный индикатор,первые входы токочувствительных элементов соединены с информационными контактными зондами и первым зондом питания, а вторые входы токочувствительных элементов соединены с разъемом для подключения исследуемого логического узла, выходы токочувствительных элементов соединены с входами многовходового элемента ИЛИ, выход которого соединен с единичным входом вспомогательного триггера, нулевой вход которого соединен с единичным входом триггера, а выход вспомогательного триг' гера соединен через вспомогательный индикатор с вторым зондом питания.4 'power house and a single trigger input, the output of which is connected via an indicator to the second power probe, the zero input of the trigger is connected to the output of the OR element, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node, and the second the inputs of the comparison elements are connected to information contact probes, which are connected to the inputs of the reference logic node, current-sensitive elements, a multi-input OR element, an auxiliary trigger and an auxiliary are introduced th indicator, the first inputs of the current-sensitive elements are connected to the information contact probes and the first power probe, and the second inputs of the current-sensitive elements are connected to the connector for the studied logical node, the outputs of the current-sensitive elements are connected to the inputs of the multi-input OR element, the output of which is connected to a single input of the auxiliary trigger, the zero input of which is connected to a single input of the trigger, and the output of the auxiliary trigger is connected via an auxiliary indicator with a second power probe.
На чертеже показана структурная схема логического.пробника.The drawing shows a structural diagram of a logical probe.
Логический пробник содержит информационные контактные зонды 1, первый 2 и второй 3 зонды питания, эталонный логический узел 4, элементы сравнения 5, элемент ИЛИ 6, триггер 7, индикатор 8, кнопку 9, токочувствительные элементы 10, многовходовой элемент ИЛИ 11, вспомогательный триггер 12 и вспомогательный индикатор 13, контакты кнопки 9 соединены с первым зондом питания 2 -и единичным входом триггера 7, выход которого через индикатор 8 соединен со вторым зондом питания 3, нулевой вход триггера 7 соединен с выходом элемента ИЛИ б, входы которого соединены с выходами элементов сравнения 5, первые входы которых соединены с выходами эталонного логического узла 4, а вторые входы элементов сравнения 5 соединены с информационными контактными зондами 1, которые соединены с входами эталонного логического узла 4, первые входы токочувствительных элементов 10 соединены с информационными контактными зондами 1 и первым зондом питания 2, а вторые входы токочувствительных элементов 10 соединены с разъемом 14 для подключения исследуемого логического узла 15, выхода токочувствительных элементов 10 соединены с входами многовходового элемента ИЛИ 11, выход которого соединен с единичным входом вспомо гательного триггера 12, нулевой вход которого соединен с единичным входом триггера 7, а выход вспомогательного триггера 12 соединен через вспомогательный индикатор 13 с вторым зондом питания 3.The logic probe contains information contact probes 1, the first 2 and second 3 power probes, a reference logic node 4, comparison elements 5, an OR element 6, a trigger 7, an indicator 8, a button 9, current-sensing elements 10, a multi-input element OR 11, an auxiliary trigger 12 and an auxiliary indicator 13, the contacts of the button 9 are connected to the first power probe 2 and a single input of the trigger 7, the output of which through the indicator 8 is connected to the second power probe 3, the zero input of the trigger 7 is connected to the output of the element OR b, the inputs of which are connected to the outputs of the comparison elements 5, the first inputs of which are connected to the outputs of the reference logic node 4, and the second inputs of the comparison elements 5 are connected to the information contact probes 1, which are connected to the inputs of the reference logic node 4, the first inputs of the current-sensitive elements 10 are connected to information contact probes 1 and the first power probe 2, and the second inputs of the current-sensitive elements 10 are connected to the connector 14 for connecting the investigated logical node 15, the output of the current-sensitive elements 10 are connected to by the strokes of the multi-input element OR 11, the output of which is connected to the unit input of the auxiliary trigger 12, the zero input of which is connected to the unit input of the trigger 7, and the output of the auxiliary trigger 12 is connected via an auxiliary indicator 13 to the second power probe 3.
Устройство работает следующим образом.The device operates as follows.
Исследуемый логический узел 15 вставляют в разъем 14. При замыкании кнопки 9 на единичный вход триггера 7 поступает потенциал, устанавливающий триггер 7 в состояние логической ’’1’’, вызывая загорание индикатора 8. Этот же сигнал устанавливает триггер 12 в нулевое логическое состояние, гася индикатор 13. После отпускания кнопки в процессе работы устройства на входы проверяемого узла 15 поступают информационные сигналы, которые, кроме того, через контактные зонды 1 и токочувствительные элементы 10 попадают на входы эталонной микросхемы 4. Сигналы с выходов проверяемого узла через зонды 1 и токочувствительные элементы 10 поступают на входы элементов 5, при помощи которых происходит сравнение сигналов на выходах проверяемой и эталонной микросхем. Если бы на одном выходе имеется несовпадение, то сигнал несовпадения через элемент 6 устанавливает триггер 7 в нулевое логическое состояние, гася индикатор 8. Вместе с тем,' за время проверки исследуемого узла происходит непрерывный контроль контактирования зондов, а если за время проверки микросхемы хоть один контакт отключается на выходе соответствующего токочувствительного элемента 10 появится низкий уровень, который через элемент ИЛИ 11 перебросит триггер 12 в единичное логическое состояние и индикатор 13 загорится, сигнализируя о том, что проверку логического узла нужно произвести повторно.The investigated logical node 15 is inserted into the socket 14. When the button 9 is closed, the trigger input 7 receives a potential that sets the trigger 7 to the logical state '' 1 '', causing the indicator 8 to light up. The same signal sets the trigger 12 to the zero logical state, extinguishing indicator 13. After releasing the button during operation of the device, information signals are received at the inputs of the tested node 15, which, in addition, through the contact probes 1 and current-sensing elements 10 get to the inputs of the reference microcircuit 4. The signal s from the outputs of the tested node through the probes 1 and current-sensing elements 10 are fed to the inputs of the elements 5, with which the signals at the outputs of the tested and reference microcircuits are compared. If there is a mismatch on one output, then the mismatch signal through element 6 sets the trigger 7 to the zero logic state, extinguishing indicator 8. At the same time, during the test of the node under investigation, the probes are continuously monitored, and if at least one chip is checked during the test the contact is disconnected at the output of the corresponding current-sensing element 10 a low level appears, which through the element OR 11 will transfer the trigger 12 to a single logical state and the indicator 13 will light up, signaling that then check the logical node must be repeated.
Таким образом, логический узел можно считать проверенным, если за время его проверки индикатор 13 не загорится.Thus, the logical node can be considered checked if the indicator 13 does not light up during its verification.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792772327A SU819759A1 (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Logic probe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792772327A SU819759A1 (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Logic probe |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU819759A1 true SU819759A1 (en) | 1981-04-07 |
Family
ID=20830340
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792772327A SU819759A1 (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | Logic probe |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU819759A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001081935A1 (en) * | 1996-01-18 | 2001-11-01 | Fong Luk | System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits |
-
1979
- 1979-05-31 SU SU792772327A patent/SU819759A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001081935A1 (en) * | 1996-01-18 | 2001-11-01 | Fong Luk | System configuration and methods for on-the-fly testing of integrated circuits |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI546545B (en) | Auxiliary test circuit and chip and circuit board using the same | |
CN108572310B (en) | Circuit testing method | |
JPH01112179A (en) | Circuit board inspection instrument | |
KR970018600A (en) | Semiconductor memory | |
US6717430B2 (en) | Integrated circuit testing with a visual indicator | |
JPH0645418A (en) | Semiconductor testing system, semiconductor testing method, method of forming wiring pattern of semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit | |
KR100487535B1 (en) | System for parallel testing different kinds of semiconductor devices | |
SU819759A1 (en) | Logic probe | |
US10156606B2 (en) | Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same | |
KR100369022B1 (en) | Integrated circuit with a self-test device | |
TWI362496B (en) | Apparatus for testing chip and circuit of probe card | |
DE3686989D1 (en) | REDUCING NOISE DURING CHECKING INTEGRATED CIRCUIT CHIPS. | |
US4714826A (en) | Apparatus and method for testing outputs of logic circuits by modulating optical sequals | |
US6765403B2 (en) | Test circuit and test method for protecting an IC against damage from activation of too many current drawing circuits at one time | |
JP2008298458A (en) | Semiconductor testing device | |
ES8202454A1 (en) | Fault detection in integrated circuit chips and in circuit cards and systems including such chips. | |
SU819758A1 (en) | Logic probe | |
KR100252658B1 (en) | device for removing noise in a PCB tester | |
JP3207849B2 (en) | Connector identification system | |
JPH04296956A (en) | Cable disconnection detector | |
SU941910A1 (en) | Device for locating short-circuit of two electric networks | |
KR200225512Y1 (en) | Device of Signal Line Error Detection for Circuit Board Assembly | |
SU783726A1 (en) | Device for testing integrated microcircuits with memory | |
JPH0465684A (en) | Test device for semiconductor integrated circuit | |
JP3168813B2 (en) | Semiconductor integrated circuit test equipment |