SU819646A1 - Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд - Google Patents

Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд Download PDF

Info

Publication number
SU819646A1
SU819646A1 SU792784603A SU2784603A SU819646A1 SU 819646 A1 SU819646 A1 SU 819646A1 SU 792784603 A SU792784603 A SU 792784603A SU 2784603 A SU2784603 A SU 2784603A SU 819646 A1 SU819646 A1 SU 819646A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
scattering
washer
fiber
angle
Prior art date
Application number
SU792784603A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Борисович Шелемин
Ариф Несрулла Оглы Несруллаев
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8584
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8584 filed Critical Предприятие П/Я В-8584
Priority to SU792784603A priority Critical patent/SU819646A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU819646A1 publication Critical patent/SU819646A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК РАССЕИВАЮЩИХ СРЕД
1
Изобретение относитс  к области оптического приборостроени , измерительной тех инке и может найти применение в приборах отображени  информации и в исследовании и определении качества рассеивающих сред.
Известно устройство дл  исследовани  оптических характеристик жидких кристаллов . Устройство содержит источник излучени  (Не-е лазер), исследуемых жидкокристаллический образец и регистратор (ФЭУ) 1.
Недостатком устройства  вл етс  достаточно больша  длительность процесса определени  параметров рассеивающих сред, так как дл  построени  индикатрисе рассе ни  необходимо получение множества экспериментальных точек, кажда  из которых определ етс  при отдельном измерении. Кроме того, точность определени  индикатрисе рассе ни  ограничиваетс  точностью угла, на который устанавливаетс  регистратор. Не больщие неточности в задании этого угла могут вносить больщие погрещности при определении узконаправленных индикатрисе рассе ни . Точность определени  параметров ограничиваетс  также в ИК-диапазоне чувствительностью регистратора (ФЭУ).
Наиболее близким техническим решением к данному изобретению  вл етс  устройство дл  определени  оптических характерис тик рассеивающих сред, содержащее источник излучени , регистратор двумерного распределени  плотности мощности излучени  2.
Недостаток устройства - недостаточное быстродействие определени  характеристик рассеивающих сред и мала  точность измерени .
Целью изобретени   вл етс  повыщение быстродействи  определени  характеристик рассеивающих сред при увеличении точности измерений, обеспечение возможности измерени  в ИК-диапазоне.
Дл  достижени  поставленной цели в уст

Claims (2)

  1. ройство, содержащее источник излучени , регистратор двумерного распределени  плотности мощности излучени , введен диффузный рассеиватель, установленный между исследуемой средой и регистратором и выполненный в виде волоконной шайбы, причем ось щайбы образует с осью просвечивающего излучени  угол /, выбираемый из соотношени I d fi-arcig. где j3 - половина угла расходимости излучени ; h - толщина шайбы; d-диаметр волокон; Кроме того, дл  обесиечени  возможности измерений в ИК-Диапазоне волоконна  шайба выполнена в виде плоской пластины, снабженной системой отверстий, внутренние поверхности которых выполнены отражающими . На чертеже представлена оптическа  схема предлагаемого устройства. Устройство содержит источник излучени  1, который может быть выполнен как в виде лампы накаливани , так и в виде лазера , ограничительную диафрагму 2, исследуемую рассеивающую среду 3, рассеиватель 4, выполненный в виде волоконной шайбы, фотоаппарат 5, установленные последовательно по ходу излучени . Волоконна  шайба устанавливаетс  под углом d к оси просвечивающего излучени , а угол d выбираетс  из услови  Л -arctgd/H, где f - половина угла расходимости излучени ; h - толщина шайбы; d - диаметр волокон. При использовании устройства в ИКдиапазоне волоконна  шайба выполн етс  в виде плоской пластины, снабженной системой отверстий, внутренние поверхности которых  вл ютс  отражающими. Волоконна  шайба изготавливаетс  из стекла и прозрачна в видимом диапазоне. Дл  измерени  в ИК-диапазоне необходимо изготовить волоконную шайбу в виде плоской пластины из материала, прозрачного дл  ИК-диапазоне (например, AgCl, SiO и т.д.) Пластина снабжаетс  системой отверстий, внутренние поверхности отверстий покрыты отражающим покрытием. Свет от источника излучени  1, пройд  через ограничительную диафрагму 2, попадает на исследуемый объект 3. Рассе нный от объекта 3 свет попадает на наклонно расположенную волоконную шайбу 4 и после прохождени  через нее с помощью фотоаппарата 5 фотографируют на фотопленку плотность распределени  интенсивности рассе нного света. После про влени  пленку микрофотометрируют, например, на приборе ИФО-451. По полученным кривым распределени  плотности определ ют точки дл  построени  индикатрисе рассе ни . При этом количество определ емых точек ограничиваетс  лишь точностью микрофотометрировани . Обычно погрещность микрофотометрировани  составл ет 1%. В этом случае количество точек, которые можно определить при диаметре п тна рассеивающей области на фотопленке в 5 мм составл ет 2 тыс. Использование в предлагаемом устройстве волоконной шайбы, установленной наклонно к направлению излучени , позвол ет получать всю совокупность экспериментальных точек. Использование волоконной шайбы приводит к увеличению светосилы рассе нного от исследуемой среды излучени , увеличение светосилы приводит к повышению чувствительности , что в конечном счете повышает точнсть определени  параметров рассеивающих сред. Использование фотоаппарата обеспечивает параллельность съема информации и быстродействие получени  этой информации, так как практически дл  получени  индикатриссы рассе ни  одной рассеивающей среды требуетс  один кадр фотографируемой пленки . Наклонность установлени  волоконной шайбы необходима дл  того, чтобы в каждом из волокон шайбы происходило минимум одно отражение, вследствие чего диаграмма рассе ни  излучени , выход щего из каждого из волокон была одинаковой. Именно при наклоне щайбы относительно оси просвечивающего излучени  на угол а обеспечивает многократность отражени  излучени , при попадании в волокно шайбы. При этом диаметр волокон должен быть возможно малым и минимальное значение d оцениваетс  величиной y,, где jl - длина волны излучени , при котором производитс  определение характеристик рассеивающих сред (дл  белого света d«,j,H Устройство дает возможность измер ть оптические параметры рассеивающих сред: индикатриссы рассе ни , интенсивности рассе нного света по различным направлени м, угловые зависимости амплитуд рассе нного света, а также определение величины пропускани  рассеивающих и прозрачных сред. Устройство дает возможность определ ть термооптические параметры указанных сред, т.е. изменение этих параметров при изменении температуры. Оно обеспечивает возможность определени  оптических и термооптических характеристик любых рассеивающих сред (эмульсии , взвеси, любые матированные поверхности , рассеивающие текстуры жидких кристаллов ) . При использовании в качестве источника излучени  лампы накаливани  в устройство дополнительно вводились фокусирующа  оптическа  система и пол роид. Формула изобретени  1. Устройство дл  определени  оптических характеристик рассеивающих сред, содержащее источник излучени , регистратор двумерного распределени  плотности мощности .излучени , отличающеес  тем, что, с целью повышени  быстродействи  определени  характеристик рассеивающих сред при увеличении точности измерений , в устройство введен диффузный рассеиватель , установленный между рассеивающей средой и регистратором и выполненный в виде волоконной шайбы, причем ось шайбы образует с осью просвечивающего излучени  угол d, выбираемый из соотношени 
    о( -arctgd/h.,
    где ft - половина угла расходимости излучени ;
    h - толщина щайбы;
    d - диаметр волокон.
  2. 2. Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что, с целью обеспечени  возможности измерений в ИК-диапазоне, волоконна  шайба выполнена в виде плоской пластины, снаб
    Г
    женнои системой отверстии, внутренние поверхности которых выполнены отражающими .
    Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе
    1.К. С. Chu, W. L. McMillon «Static and dynamic behavior near a second order smectic A-nematig phasetransition by light scattering , - Physcal Review A, 1975, vol 11, № 3, pp. 1059-1067.
    2.Masao Kawachiet al «Light Scattering Properties of a nematic - Cholesteric Mixuture with Positive Dielectric LJnisotropy «Japan T. Appl. Phys. 1977, vol 16, № 7, pp. 1263-1264 (прототип).
    S
    34
SU792784603A 1979-06-25 1979-06-25 Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд SU819646A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792784603A SU819646A1 (ru) 1979-06-25 1979-06-25 Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792784603A SU819646A1 (ru) 1979-06-25 1979-06-25 Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU819646A1 true SU819646A1 (ru) 1981-04-07

Family

ID=20835660

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792784603A SU819646A1 (ru) 1979-06-25 1979-06-25 Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU819646A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4772124A (en) * 1987-04-24 1988-09-20 Fusion Systems Corporation Probe for a radiometer
CN110806608A (zh) * 2018-08-01 2020-02-18 肖特股份有限公司 高折射层的含量降低的光学层状复合材料及其在增强现实中的应用

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4772124A (en) * 1987-04-24 1988-09-20 Fusion Systems Corporation Probe for a radiometer
CN110806608A (zh) * 2018-08-01 2020-02-18 肖特股份有限公司 高折射层的含量降低的光学层状复合材料及其在增强现实中的应用
CN110806608B (zh) * 2018-08-01 2024-03-29 肖特股份有限公司 高折射层的含量降低的光学层状复合材料及其在增强现实中的应用

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7414724B2 (en) Light diffuser used in a testing apparatus
JP2625098B2 (ja) 電磁信号を用いた試料の検出方法及びその装置
EP0152834B1 (en) Apparatus for automatic measurement of stress in a transparent body by means of scattered light
US4402614A (en) Method and apparatus for measuring the motility of sperm cells
US2436262A (en) Apparatus for measuring turbidity photoelectrically
US4988630A (en) Multiple beam laser instrument for measuring agglutination reactions
US4529319A (en) Method and apparatus for the detection of thermo-optical signals
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US5309213A (en) Optical determination of amount of soot in oil sample
US4928153A (en) Optical measurement of particle concentration
KR950014849A (ko) 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기
US3349665A (en) Characterizing light reflecting properties of a surface
SU819646A1 (ru) Устройство дл определени опти-чЕСКиХ ХАРАКТЕРиСТиК РАССЕиВАющиХСРЕд
JPH07301565A (ja) 光学測定装置
Karrer The use of the Ulbricht sphere in measuring reflection and transmission factors
JPS61502418A (ja) 光学分析方法及び装置
Capstaff et al. A compact motion picture densitometer
CA2073344C (en) Fluorescence assay apparatus
US4764023A (en) Heat transfer rate measurement using the optical properties of a dissolving coating
RU2035037C1 (ru) Способ определения коэффициентов объемного рассеяния и поглощения в оптических материалах
RU2017084C1 (ru) Устройство для регистрации и визуального наблюдения электромагнитного излучения инфракрасного диапазона
Slater A recording goniophotometer
SU817548A1 (ru) Способ определени коэффициентапОглОщЕНи ВЕщЕСТВА, НАНЕСЕННОгОНА буМАгу
KR20220124931A (ko) 구조화된 광열 자극광을 이용한 표적물질 농도 측정 장치
SU913183A1 (en) Refraction index non-uniformity determination method