SU799029A1 - Standard electric design capacitor - Google Patents
Standard electric design capacitor Download PDFInfo
- Publication number
- SU799029A1 SU799029A1 SU742007251A SU2007251A SU799029A1 SU 799029 A1 SU799029 A1 SU 799029A1 SU 742007251 A SU742007251 A SU 742007251A SU 2007251 A SU2007251 A SU 2007251A SU 799029 A1 SU799029 A1 SU 799029A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electrodes
- electrode
- divided
- capacitor
- gaps
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к метрологии и может быть использовано как эталон фарада.This invention relates to metrology and can be used as a farad standard.
Известен эталонный конденсатор, состо щий из четырех параллельных . электродов, емкость которого определ етс его длиной l.A reference capacitor is known, consisting of four parallel ones. electrodes, the capacity of which is determined by its length l.
Однако такой конденсатор в св зи с невозможностью контрол расположени электродов не обеспечивает нужную точность.However, such a capacitor, due to the inability to control the location of the electrodes, does not provide the required accuracy.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату вл етс плоский конденсатор с охранным электродом, емкость которого определ етс , в частности, площадью его электродовThe closest to the proposed technical essence and the achieved result is a flat capacitor with a guard electrode, the capacity of which is determined, in particular, by the area of its electrodes.
Однако площадь его не может быть измерена с нужной точностью, в св зи с чем такой конденсатор в качестве эталона не примен етс .However, its area cannot be measured with the required accuracy, and therefore such a capacitor is not used as a reference.
Цель изобретени - повышени точности в предлагаемом эталонном электрическом расчетном конденсаторе посто нной емкости.The purpose of the invention is to improve the accuracy in the proposed reference electrical capacitor of fixed capacitance.
Поставленна цель достигаетс тем что в конденсаторе,содержащим два плоских параллельных электрода,один; из которых окружен охранным электродом , электроды разделены на симметричные секции пр молинейными диэлектрическими зазорами, выполнены в виде квадратов и разделены на четыре симметричные секции двум взаимноперпендикул рными диэлектрическими зазорами, причем электрод, окруженный охранным электродом, разделен диэлектрическими зазорами по диагона0 ли, а другой электрод - зазорами, расположенными параллельно его сторонам .The goal is achieved by the fact that in a capacitor containing two flat parallel electrodes, one; of which is surrounded by a guard electrode, the electrodes are divided into symmetric sections by straight dielectric gaps, made in the form of squares and divided into four symmetric sections by two mutually perpendicular dielectric gaps, and the electrode surrounded by the guard electrode is divided by dielectric gaps along the diagonal, and the other electrode is gaps parallel to its sides.
Кроме того, электроды разделены на четыре симметричные секции двум In addition, the electrodes are divided into four symmetrical sections of two
5 взаимно перпендикул рными диэлектрическими зазорами, причем электрод, окруженный охранным электродом, выпол .нен в виде квадрата и разделен диэлектрическими зазорами, расположен0 ными параллельно его сторонам.5 mutually perpendicular dielectric gaps, the electrode surrounded by the guard electrode being square and divided by dielectric gaps located parallel to its sides.
На фиг. 1 показаны электроды предлагаемого конденсатора (без экрана и вводов кабелей); на фиг. 2 - то же, поперечное сечение.FIG. 1 shows the electrodes of the proposed capacitor (without shield and cable entries); in fig. 2 is the same cross section.
5five
Электродами конденсатора вл ютс кварцевые пластины с металлизированными внутренними поверхност ми - зеркалами интерферометра. Электроды 1-4 ограничены зазорами, вл ющимис The capacitor electrodes are quartz plates with metallized internal surfaces, interferometer mirrors. Electrodes 1-4 are limited by gaps, which are
0 сторонами и диагонал ми пр моугольнака , и окружены охранным электродом 5 Электроды 6-9 ограничены зазорами Н и М. Все электроды помещены в экран 10 с окнами 11 дл прохождени луча интерферометра и снабжены вводами 12 дл кабелей. Нижний электрод расположен на устройствах 13 дл его перемещени при юстировке. Конденсатор вакуумирован, его емкости измер ют путем поочередного включени электродов в аппаратуру, что представлено в табл.. Невключенные при данном измерении электроды, охранный электрод 5, экран 10 и экраны кабелей - заземлены.0 by the sides and diagonals of the rectangle, and surrounded by a guard electrode 5 Electrodes 6–9 are limited by gaps H and M. All electrodes are placed in a screen 10 with windows 11 for passing an interferometer beam and provided with cable entries 12. The lower electrode is located on devices 13 for its movement during alignment. The capacitor is evacuated, its capacitances are measured by alternately connecting the electrodes into the equipment, which is presented in the table. The electrodes not connected with this measurement, the guard electrode 5, the shield 10 and the cable shields are grounded.
ТаблицаTable
Расчетное значение емкости конденсатора С определ етс выражениемThe calculated value of the capacitance C is determined by the expression
.,Ч(| Т--1-. ., H (| T - 1-.
С -- .-t, С--0,5(,-С.,) C -.-T, C - 0.5 (, - C.,)
-о 5-o 5
..
(l-vit f)(l-vit f)
Г - -1 11р .G - -1 11 p.
/ ; - л (-f.Tc-|-)e «3. ./; - l (-f.Tc- | -) e «3. .
С WITH
d - рассто ние между верхним иd is the distance between the upper and
нижним электродами, измер емое с высшей точностью интер .ференционным методом; р , размеры сторон пр моугольника, ограничибающего электроды 1, 2;3/4, измер емые как штриховые меры длины с точностью, меньшей на несколько пор дков, чем точность измерени d в зависимости от отношени P/d (или q/d), представлены в табл.2.lower electrodes, measured with a high accuracy by the interference method; p, the dimensions of the sides of the rectangle bounding the electrodes 1, 2; 3/4, measured as dashed length measures with an accuracy that is several orders of magnitude smaller than the measurement accuracy d depending on the P / d ratio (or q / d), presented in table 2.
Таблица 2table 2
Дл исключени .вли ни экрана СФИГ.2) необходимо обеспечить выполнение неравенства (2)To eliminate the SPHIG screen. 2) it is necessary to enforce the inequality (2)
.. . (5-6)d, (2) где 2 h -размер охранного электрода 5... (5-6) d, (2) where 2 h is the size of the guard electrode 5.
Совмещение электродов с зеркалами интерферометра позвол ет контролировать расположение электродов, а разделение их на секции пр молинейными зазорами - уменьшить требуемую точность измерени площади электродов .(1-4) на несколько пор дков.Combining the electrodes with the interferometer mirrors makes it possible to control the location of the electrodes, and dividing them into sections with straight gaps reduces the required accuracy of measuring the electrode area (1–4) by several orders of magnitude.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU742007251A SU799029A1 (en) | 1974-03-21 | 1974-03-21 | Standard electric design capacitor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU742007251A SU799029A1 (en) | 1974-03-21 | 1974-03-21 | Standard electric design capacitor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU799029A1 true SU799029A1 (en) | 1981-01-23 |
Family
ID=20579237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU742007251A SU799029A1 (en) | 1974-03-21 | 1974-03-21 | Standard electric design capacitor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU799029A1 (en) |
-
1974
- 1974-03-21 SU SU742007251A patent/SU799029A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Bruce | Calibration of uniform-field spark-gaps for high-voltage measurement at power frequencies | |
SU799029A1 (en) | Standard electric design capacitor | |
US3479588A (en) | Displacement measuring device including a spaced four-corner electrode array | |
Brady et al. | High‐Voltage Pulse Measurement with a Precision Capacitive Voltage Divider | |
Yamazaki et al. | Absolute measurement of voltage by an electrostatic energy-changing method | |
Igarashi et al. | Determination of an absolute capacitance by a horizontal cross capacitor | |
US3510859A (en) | Displacement measuring device | |
DE336562C (en) | Arrangement for measuring high voltages | |
SU974431A1 (en) | Three-electrode variable capacitor | |
RU1803718C (en) | Capacitive displacement transducer | |
SU519774A1 (en) | Reference capacitor fixed capacitor | |
SU523340A1 (en) | Capacitive sensor | |
SU450119A1 (en) | Overhead Capacitance Cell | |
JPH06341805A (en) | Capacitance type linear scale | |
SU1755034A1 (en) | Linear displacement capacitive sensor | |
SU1250836A1 (en) | Capacitance converter of linear movements | |
SU593258A1 (en) | Standard permanent capacitor | |
SU1578448A1 (en) | Method of measuring displacements | |
SU668020A1 (en) | Measuring capacitor | |
SU1428908A1 (en) | Variable-capacitance transducer for measuring displacements along three coordinate axes | |
SU922498A1 (en) | Capacitive pickup of the distance to conductive surface | |
Scott et al. | Residual losses in a guard-ring micrometer-electrode holder for solid-disk dielectric specimens | |
SU1504493A1 (en) | Capacitive differential displacement transducer | |
SU1247781A1 (en) | Device for measuring dielectric permittivity of semiconductor and dielectric layers | |
RU2006788C1 (en) | Capacitive device for measurement of diameter of fiber |