SU788050A1 - Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier - Google Patents

Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier Download PDF

Info

Publication number
SU788050A1
SU788050A1 SU772511285A SU2511285A SU788050A1 SU 788050 A1 SU788050 A1 SU 788050A1 SU 772511285 A SU772511285 A SU 772511285A SU 2511285 A SU2511285 A SU 2511285A SU 788050 A1 SU788050 A1 SU 788050A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
power semiconductor
heat resistance
internal heat
semiconductor rectifier
testing internal
Prior art date
Application number
SU772511285A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Евсей Гдальевич Бобров
Юрий Васильевич Соболев
Original Assignee
Всесоюзный Ордена Трудового Красного Знамени Научно-Исследовательский Институт Железнодорожного Транспорта
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Ордена Трудового Красного Знамени Научно-Исследовательский Институт Железнодорожного Транспорта filed Critical Всесоюзный Ордена Трудового Красного Знамени Научно-Исследовательский Институт Железнодорожного Транспорта
Priority to SU772511285A priority Critical patent/SU788050A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU788050A1 publication Critical patent/SU788050A1/en

Links

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

Сущность предлагаемого способа контрол  внутреннего теплового сопротивлени  силового полупроводникового вентил  состоит в том, что при любых нагрузках в области допустимых в эксплуатации значений теплового сопротивлени  температура гибкого силового вывода ниже температуры корпуса, а начина  с некоторого критического значени  теплового сопротивлени  она становитс И остаетс  выше температуры корпуса. Измер   разность температур корпуса и гибког силового вывода в момент измеио;::1Я ее знака, фиксируют заданную допустимую величину теплового сопротивлени  Способ может быть реализован с помощью стационарных автоматических устройств или с применением переносных диагностических установок.The essence of the proposed method of controlling the internal thermal resistance of a power semiconductor valve is that at any load in the region of allowable values of thermal resistance in operation, the temperature of the flexible power output is lower than the case temperature, and starting from some critical value of thermal resistance, it becomes AND remains above the case temperature. Measuring the temperature difference between the housing and the flexible power output at the time of measurement; :: 1 I of its sign, fix the specified allowable value of thermal resistance. The method can be implemented using stationary automatic devices or using portable diagnostic equipment.

Использование предлагаемого способа дозвол ет организовать посто нный или периодический контроль теплового состо ни  вентилей эксплуатируемых преобразователей и обеспечить своевременную замену вентилей при ухудшении из внутреннего теплоотвода что способствует повышению надежности преобразователей и снижению трудозатрат на контроль состо ни  вентилей.Using the proposed method allows one to organize permanent or periodic monitoring of the thermal state of the valves of the operated converters and to ensure timely replacement of the valves when the internal heat sink deteriorates, which contributes to increasing the reliability of the converters and reducing the labor costs for monitoring the state of the valves.

Claims (2)

1.Бардин В.М. и др. Аппаратура1.Bardin V.M. and others. Equipment и методы контрол  параметров силовых полупроводниковых вентилей. М. Энерги  , 1971, с. 84-107.and methods for monitoring the parameters of power semiconductor valves. M. Energie, 1971, p. 84-107. 2.Авторское свидетельство СССР 274233, кл. G 01 R 31/26, 1962.2. Authors certificate of the USSR 274233, cl. G 01 R 31/26, 1962. 3-. jyMtiepoB-В .В. и др. Вли ние дефектов пайки на выходные электрические параметры силовых полупро-. водниковых приборов. - Электронна  промышленность . Сер. Преобразовательна  техника . 1976. вып. 9, с. 4-6 (прототип).3-. jyMtiepoB-B .B. and others. The effect of soldering defects on the output electrical parameters of power semi-pro. water equipment. - Electronic industry. Ser. Converting technique. 1976. issue. 9, p. 4-6 (prototype).
SU772511285A 1977-07-21 1977-07-21 Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier SU788050A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772511285A SU788050A1 (en) 1977-07-21 1977-07-21 Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772511285A SU788050A1 (en) 1977-07-21 1977-07-21 Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU788050A1 true SU788050A1 (en) 1980-12-15

Family

ID=20719496

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772511285A SU788050A1 (en) 1977-07-21 1977-07-21 Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU788050A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5547433A (en) Method of corrosion rate measurement and its device
Lyon Boiling heat transfer with liquid metals
GB1534862A (en) Temperature monitoring of semiconductors
SU788050A1 (en) Method of testing internal heat resistance of power semiconductor rectifier
CA2126649A1 (en) Method and circuit arrangement for measuring the depletion layer temperature of a gto (gate turn-off) thyristor
JPS56161649A (en) Measuring method of thermal resistance of semiconductor package
RU2121153C1 (en) Method for determining power diode residual service life
SE8202319L (en) SET AND DEVICE FOR ELECTRIC MACHINE CONTROL
SU649090A1 (en) Method of indication of induction electric apparatus temperature
SE8402927D0 (en) IMPROVED PIPE THAWING APPARATUS
SU800883A1 (en) Material layer thickness sensor speed excess over predetermined speed
SU1312350A1 (en) Thermal battery power unit
SU960670A1 (en) Device for evaluating quality of inseparable aluminium contact joints
SU634415A1 (en) Method of protecting thyristorized frequency converter with intermidiate dc link
SU1308950A1 (en) Device for determining insulation wear
SU748298A1 (en) Method of evaluating quality of non-detachable aluminium contact connections
JPS5414683A (en) Measuring circuit for turn-off time
SU557273A1 (en) Turbogenerator active power meter
SU920419A1 (en) Method of checking fluid-tightness of thermal siphons
JPS5766311A (en) Automatic testing device
ATE13612T1 (en) CIRCUIT ARRANGEMENT FOR LOAD CURRENT DETECTION IN A DIRECT CURRENT REVERSING CONVERTER.
SU949554A1 (en) Method of non-destructive determination of anode current build-up rate permissible for the thyristor
US3426277A (en) Method of determining the current handling capacity of a thyristor
SU641350A1 (en) Coaxial shunt
SU1476296A1 (en) Heating device