SU787964A1 - Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum - Google Patents

Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum Download PDF

Info

Publication number
SU787964A1
SU787964A1 SU782700793A SU2700793A SU787964A1 SU 787964 A1 SU787964 A1 SU 787964A1 SU 782700793 A SU782700793 A SU 782700793A SU 2700793 A SU2700793 A SU 2700793A SU 787964 A1 SU787964 A1 SU 787964A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnitude
epr
parameters
measurement
value
Prior art date
Application number
SU782700793A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Викторович Богачев
Валерий Залманович Драпкин
Валерий Васильевич Заяц
Юрий Александрович Макаров
Анатолий Степанович Сердюк
Виктор Александрович Янчуров
Original Assignee
Ленинградский Ордена Ленина Электротехнический Институт Им.В.И.Ульянова (Ленина)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Ленина Электротехнический Институт Им.В.И.Ульянова (Ленина) filed Critical Ленинградский Ордена Ленина Электротехнический Институт Им.В.И.Ульянова (Ленина)
Priority to SU782700793A priority Critical patent/SU787964A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU787964A1 publication Critical patent/SU787964A1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к использованию ЭПР и ЯМР дл  исследовани  и анализа материалов, преимущественно дл  разработки и контрол  технологических процессов в различных отрасл х народного хоз йства.The invention relates to the use of EPR and NMR for research and analysis of materials, mainly for the development and control of technological processes in various parts of the national economy.

При современны:: исследовани х и анализе материалов методами ЭПР и ЯМР провод т исследовани  изменени  физико-хиг ических свойств материала при каком-либо кинетическом воздействии на материал (облучении, изменении температуры, давлении и т.п.) и вы вление коррел ционной зависимости между величиной воздействи  и изменением параметров спектральных линий; измерени  величины воздействи  на материал по известной коррел ционной зависимости путем измерени  величины изменени  параметров спектрс- льных линий .In modern: studies and analysis of materials using the EPR and NMR methods, studies of changes in the physicochemical properties of a material under any kinetic effect on the material (irradiation, temperature changes, pressure, etc.) and the correlation dependence are carried out. between the magnitude of the effect and the change in the parameters of the spectral lines; measuring the magnitude of the effect on the material from a known correlation dependence by measuring the magnitude of the change in the parameters of the spectral lines.

Измен емьи.чи параметрами спектральных линий ЭПР или ЯМР при этом чаще всего  вл ютс  интенсивность и ширина линий 1.The variations in the parameters of the EPR or NMR spectral lines are most often the intensity and width of lines 1.

Известные способы измерени  изменени  этих параметров спектров осуществл ютс  путем последовательной записи спектральнь1Х кривых на графопостроителе и последующего сравнени  этихThe known methods of measuring changes in these spectral parameters are carried out by sequentially recording spectral curves on a plotter and then comparing these

кривых методом наложени , что затрудн ет автоматизацию процесса измерени  изменени  параметров спектральных линий.curves by the overlap method, which makes it difficult to automate the process of measuring changes in the parameters of spectral lines.

5 Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ измерени  изменени  параметров спектров ЭПР или ЯМР путем последовательного измерени  измен кадихс  параметров спектров : )Р I;J;H5 The closest to the present invention is a method of measuring changes in the parameters of the EPR or NMR spectra by sequential measurement of changes in the Cadix parameters of the spectra:) P I; J; H

Ю ЯМР до и после измен юцехос  воздействи  на исследуемое вецество и их сравнени .Yu NMR before and after the betrayal of the impact on the study of the study and their comparison.

Последовательность выполн емы : по этому способу операций следуюца :The sequence is performed: by this method of operations the following:

15 после настройки спектрометра на регистрацию спектра осуществл етс  регистраци  спектра с записью спектральной кривой исследуемого материала на графопостроителе до изменени  величины воздействи  на материал; после возвращени  спектрометра в исходное состо ние осуществл етс  изменение величины воздействи  на материал; осуществл етс  запись спектральной кри25 БОЙ материала на графопостроителе после изменени  величины воздействи  на материал; производитс  визуальный анализ характера изменени  параметров полученных спектров; при наличии изменени  парадштров спектра осукествл етс  измерение величины изменени  с помощью измерительных инструментов (линейка, циркуль н т.п.); полученное значение величины изменени  параметро спектра (как правило, в мм) с помощью соответствугацизс масштабных коэффициеитов- по оси X переводитс  в реальное значение ширины спектральной линии ЭПР или ЯМР, выраженное в единицах из мерени  магнитного пол  или частоты соответственно, а по оси i-f - в реальное значение И {тенсивности спектральной линии, выраженное в единицах {Электрического напр кени  2 . Однако указанна  последовательност операций не позвол ет получать значени  изменени  параметров спектргшьны кривые: непосредственно в процессе ре гистрации спектра, так как после осу ществлени  записи спектра на графопостроителе требуетс  проведение опе раций измерени  величины изменени  п раметров спектра с помощью измерительного инструмента и пересчета в реальные значени  параметров спектральных линий ЭПР или ЯМР через соответствующие . масштабные коэфЛициенты .Таким образом, известный способ не позвол ет осуществл ть автоматиза цию процессор измерени  изменени  па раметров спектральных линий, что делает его малопригодным при проведеНИИ серийных измерений. Цель изобретени  - сокращение вре мени измерени  параметров спектров ЭПР или ЯМР и обеспечение возможност автоматизации процесса измерени  изм нени  параметров спектральных линий ЭПР или ЯМР исследуемых материалов. Поставленна  цель достигаетс  тем что последовательно, до и после изме н ющего воздействи  на вещество, измер ют временные интервалы между, двум  моментами совпадени  величины эталонного напр жени  (котора  меньше амплитудного значени  напр ) пер вой производной меньшего из сравнива емых сигналов ЭПР или ЯМР) с величиной напр жени  этюс сигналов до и после прохождени  их через нулевое значение первой производноп. Затем осуществл ют сравнение полученных эна значений временны:: интервалов. На фиг. 1 изображена функциональна  схема устройства; на фиг. -2 временна  диаграмг-ia формировани  измер емых и сравниваемых временных интервалов. Функциональна  схема этого устройства содерхчит систему 1 регистрации спектрометра ЭПР или ЯМР, устройство 2 сравнени , командное устройство 3, схему 4 запуска, источник 5 эталонного напр жени , систему 6. управлени  величиной воздействи , измеритель 7 временных интервалов, блок 8 пам ти и устройство 9 обработки данных. Процесс измерени  изменени  параметров спектров ЭПР или ЯМР по предлагаемому способу осуществл етс  следующим образом. После настройки спектрометра осуществл етс  регистраци  первой производной сигнала ЭПР или ЯМР. Сигнал первой производной с выхода системы 1 регистрации спектрометра подаетс  на устройство 2 сравнени . После прохождени  первого амплитудного значени  сигнала первой производной с командного устройства 3 при помощи схемы 4 осуществл етс  запуск источника 5 эталонного напр хсени . Эталонное напр жение, величина которого меньше амплитудного значени  напр жени  сигнала первой производной, поступает на устройство 2. В момент совпадени  величин напр жени  сигнала первой про изводной и эталонного напр жени  происходит запуск измерител  7 временных интервалов. При прохождении напр жени  сигнала первой производной через нулевое значение знак эталонного напр жени  при помощи устройств 3, 4 и 5 мен етс  на противоположный, и при новом совпадении величин напр жени  сигнала первой производной и эталонного напр жени  происходит в.1ключение измерител  7. Величина длительности измеренного временного интервала, пропорциональна  интенсивности и ширине спектральной линии ЭПР или ЯМР, запоминаетс  с помощью блока 8 пам ти. После возвращени  спе1строметра в исходное состо ние осуществл етс  воздействие или изменение величины воздействи  на иccлeдye 1Oe BeiuecTBO. После прекращени  воздействи  или изменени  величины воздействи  на вещество осуществл етс  измерение величины длительности временного интервала , пропорциональнсй интенсивности и ширине спектральной линии. При помоо.ш устройств 3, 8 и 9 осуществл етс  сравнение полученных величин длительностей временных интервалов и вычисл етс  величина изменени  параметров спектров ЭПР или ЯНР в результате воздействи  или изменени  величины воздействи  на исследуемое вещество. Таким образом, в предлагаемом способе измерени  изменени  параметров спектров исключаютс  операции по записи спектральных кривых на графопостроитель , по визуальному анализу характера изменени  параметров спектра , по измерению величины изменени  параметров спектра с помощью измерительного инструмента и пересчету полученной вел;;чины из 1eнeни  параметров в реальные значени  спектральных линий ЭПР или через соответствующие масштабные коэффициенты. Кроме того, предлагаемый способ позвол ет осуществить автоматизацию процесса измерени  за счет применени  програм ИНОГО командного устройства, управл емого от системы регистрации и блока пам ти. Командное устройство осуществл ет запуск самого процесса измерени  и дает команду в блок пам ти на запоминание и передачу измеренных ве личин в устройство обработки данных. ,Если устройство обработки данных св зать с системой б управлени  величиной воздействи , то возможно при менение предлагаемого способа измере ни  автоматических ЭПР - или ЯМР анализаторах дл  управлени  технолог ческими процессами. Функциональна  зависимость между величинами измер емых длительностей временных интервалов и napaMeTpa w спектральных линий ЭПР или ( фиг. 2), а также погрешность измерени  по предлагаегюму изобретению мог быть показаны на следующем конкретно примере. Пусть лини  поглощени  ЭПР или ЯНР исследуемого вещества имеет гауссову форму, то уравнение первой производной дл  норг1ированной гауссо вой линии поглощени  имеет вид .Ne-pH -. где максимальное (амплитудное) значение первой производно линии погло1: ени , 1 -/I а Н Н - текущее значение напр женности магнитного пол ; HQ - резонансное значение напр  женности магнитного пол ; ширина линии поглощерти . в результате какого-либо воздейст ви  или изменени  величины воздействи  не исследуемое вещество происходит изменение интенсивности сигнала поглощени  при неизменных остальных параметрах спектра, что часто имеет место в практике кинетических ЭПР ил ЯМР исследований. Полученный при этом сигнал первой производной линии поглощени  можно записать как , . где максимальное амплитудное значение первой производной линии п лощени  после измен ющего воздейств на исследуемое вещество, И - Ио а -//2ЛИ15, after adjusting the spectrometer to record the spectrum, a spectrum is recorded with recording the spectral curve of the material under study on the plotter before the magnitude of the effect on the material is changed; after returning the spectrometer to the initial state, a change is made in the magnitude of the effect on the material; recording a spectral curve of the material at the plotter after changing the magnitude of the effect on the material; a visual analysis is made of the nature of changes in the parameters of the spectra obtained; in the presence of a change in the spectrum parameters, the measurement of the magnitude of the change using measuring instruments (ruler, compass, etc.); the obtained value of the change in the parameter of the spectrum (usually in mm) by means of the correspondence of the scale coefficients; the X axis translates into the real value of the width of the EPR or NMR spectral line expressed in units of the magnetic field or frequency, respectively, and along the if axis into the real value of AND {intensity of the spectral line, expressed in units of {Electrical tendency 2. However, this sequence of operations does not allow to obtain the values of the variation of the parameters of the spectral curves: directly during the spectrum recording, since after performing the recording of the spectrum on the plotter, it is necessary to perform operations of measuring the magnitude of the variation of the spectral parameters using a measuring tool and recalculate into real values EPR or NMR spectral lines through the corresponding. scale coefficients. Thus, the known method does not allow the processor to automate the measurement of changes in the parameters of spectral lines, which makes it unsuitable when conducting serial measurements. The purpose of the invention is to reduce the time taken to measure the parameters of the EPR or NMR spectra and to provide the possibility of automating the process of measuring the measurement of the parameters of the spectral lines of the EPR or NMR of the materials under study. The goal is achieved by sequentially, before and after a changing effect on a substance, time intervals are measured between the two moments of coincidence of the magnitude of the reference voltage (which is less than the amplitude value of the voltage) of the first derivative of the smaller of the compared EPR or NMR signals) the magnitude of the voltage of the signals etuce before and after passing them through the zero value of the first derivative. Then, the obtained time values of the :: time intervals are compared. FIG. 1 shows a functional diagram of the device; in fig. -2 time diagrams-ia formation of measured and compared time intervals. The functional diagram of this device includes the EPR or NMR spectrometer registration system 1, the comparison device 2, the command device 3, the start circuit 4, the reference voltage source 5, the exposure magnitude system 6., the time interval meter 7, the memory block 8 and the device 9 data processing. The process of measuring changes in the parameters of the EPR or NMR spectra according to the proposed method is carried out as follows. After tuning the spectrometer, the first derivative of the EPR or NMR signal is recorded. The signal of the first derivative from the output of the spectrometer registration system 1 is fed to the comparator 2. After passing the first amplitude value of the signal of the first derivative from the command device 3 by means of the circuit 4, the source 5 of the reference voltage is started up. The reference voltage, the value of which is less than the amplitude value of the voltage signal of the first derivative, arrives at device 2. At the moment of coincidence of the voltage values of the signal of the first derivative and reference voltage, the meter starts up 7 time intervals. When the voltage of the first derivative passes through the zero value, the sign of the reference voltage using devices 3, 4 and 5 is reversed, and with a new coincidence of the values of the voltage of the signal of the first derivative and the reference voltage, the meter 7 turns on. the measured time interval, which is proportional to the intensity and width of the EPR or NMR spectral line, is memorized using memory block 8. After returning the spectrometer to the initial state, the effect or the change in the magnitude of the effect on the 1Oe BeiuecTBO inheritance is made. After the cessation of exposure or the change in the magnitude of the effect on the substance, the duration of the time interval, proportional to the intensity and width of the spectral line, is measured. With the help of devices 3, 8, and 9, the obtained values of the durations of the time intervals are compared and the magnitude of the change in the parameters of the EPR spectra or CNR as a result of the action or change in the magnitude of the effect on the test substance is calculated. Thus, in the proposed method of measuring changes in the parameters of spectra, operations to record spectral curves on a plotter, to visually analyze the nature of changes in the parameters of the spectrum, to measure the magnitude of changes in the parameters of the spectrum using a measuring instrument and to recalculate the resultant data are eliminated; EPR spectral lines or through appropriate scale factors. In addition, the proposed method allows the automation of the measurement process through the use of a program of a different command device controlled from the recording system and the memory block. The command device starts the measurement process itself and gives a command to the memory unit to store and transfer the measured values to the processing unit. If the data processing device is associated with an influence quantity control system b, then the proposed method of measuring automatic EPR or NMR analyzers can be applied to control technological processes. The functional relationship between the values of the measured durations of time intervals and the napaMeTpa w of the EPR spectral lines or (Fig. 2), as well as the measurement error of the present invention, could be shown in the following specific example. Let the EPR or NPR absorption line of the test substance be Gaussian, then the equation of the first derivative for the normed Gaussian absorption line has the form .Ne-pH -. where the maximum (amplitude) value of the first derivative of the absorber line is: 1, 1 - / I and H H - the current value of the magnetic field strength; HQ is the resonance value of the magnetic field strength; line width absorbed. As a result of any effect or change in the magnitude of the effect, the test substance does not change in the intensity of the absorption signal with the remaining spectrum parameters unchanged, which is often the case in the practice of kinetic EPR or NMR studies. The resulting signal of the first derivative of the absorption line can be written as,. where the maximum amplitude value of the first derivative of the decompression line after the changing effect on the test substance, I - Io a - // 2LI

X 01, l 0,5X 01, l 0.5

1 0,01648 0,08233 Д- ,00375 0,12368 Из приведенных результатов вычислений видно, что чем больше величина V тем больше погрешность аппроксимацГч- (дн  X - 0,2 она достигает г.оч- 651 0,01648 0.08233 D-, 00375 0.12368 From the above results of calculations it can be seen that the greater the value of V, the greater the error of the approximation GH- (day X - 0.2, it reaches g.- 65

0,20.2

0,150.15

0,10.1

Claims (2)

0,16404 0,24454 0,32321 0,49750 1,11746 1,97890 Пусть 3„. J, в N раз, или N. находим N в соответствии с предлааемым изобретением. В момент прохождени  сигналов 3, и jчерез значение эталонного напр жеи  их величины 3(дИЗ-)р. равны между ой и точно соответствуют величине талонного напр жени , т.е. -iK- 4v- iK-)X ехр тогда 2ог («:-), Д 01 i де- представл ет искомую величину Нод, г j , г I : 1 а 1 iJ Погрешность изерений предлагаемого способа. ценим эту погрешность. Разложим эксоненту в степенной р д вида - е rz Получаем . (4l--x l5 .( .-Х)   - 1 . аксимально возможна  погрешность при разложении в р д получаетс  при Х 0. Примем это допущение, тогда р д запишем 1-1«- - 5 ч .-. , ixn г )ЗГГ Так .как данный р д  вл етс  сход щимс , то дл  грубой оценки достаточно ограничитьс  первыми двум  членами р да, т.е. (-) ч-ix - i Таким образом, максимальна  возможна  погрешность измерений в предлагаемом изобретении определ етс  величиной длительности временного интервала дл  наименьшей величины сигнала первой производной (т.е. -П). Дл  численной оценки величины Х (т.е. максимальной возможной погрешности измерени ) аппроксимируем кривую 3 пр мой линией в точке перемены знака первой производной. Найдем погреш 1Ость прин той аппроксимации л ) при различных значени х Х. Результаты вычислений приведены ниже (значени  нормированы относительно (Do 1) ти 2%) и, следовательно больше и величина погрешности измерени . Отсюдг можно сформулировать требовани  к в. &ОРУ величины эталонного напр жени . котора  должна быть меньше амплитудно го значени  напр жени  первой производной меньшего из сравниваемых сигн лов и котора  определ ет величину Х Найдем величину максимальной погрешности измерени  в предлагаемом изобретении при величине эталонного напр жени , наход щейс  в диапазон ( 0,1 - 0,032)::); . Дл  величины эталонного напр жени , равной 0,32 П , 0,2) полу чаем (),1Л,1со,2)о,98 Так как в идеальном случае (безналичи  погрешности измерени ) exPf-xCx - 1, то относительна  максимал на  погрешность измерени  равна ,.) Таким образом, величина максимальной возможной погрешности измерени  по предлагаемому способу (при величине эталонного напр жени , равной 0,32 от амплитудного значени  первой производной меньшего из сравниваемых сиг налов) не превышает 2% и тем меньше, чем меньше величина эталонного напр жени  . Аналогичный подход может быть применен и в таких случа х, когда в результате воздействи  или изменени  величины воздействи  на исследуемое вещество происходит либо только изменение ширины линии поглощени , либо изменение ширины и интенсивности спектральной линии одновременно при неизменных остальных параметрах спект ра. Изменение формы спектральной пинии быть учтено по методике, изложенной в 1 и 2 . Предлагаемый способ измерени  может быть использован не только дл  определени  величины изменени  параметров спектров ЭПР или ЯМР, но и дл  определени  характера и величины воздействи  на вещество, когда известна коррел ционна  св зь между параметрами спектра вещества и изменени ми фиэико-химическюс свойств вещества, происход щими в результате воздействи  или изменени  величины воздействи  . Использование предлагаемого способа измерени  изменени  параметров спектра ЭПР или ЯМР имеетпо сравнению с известными способами следующие преимущества: измерение величины изменени  параметров спектров ЗПР или ЯМР непосредственно в процессе регистрации спектров, что сокращает врем  получени  информации о происход щих изменени х в веществе и тем самым повышает эффективность научных исследований с применением метода ЭПР или ЯМР; возможна автоматизаци  процесса измерени ; возможно применение предлагаемого .способа измерени  в автоматических ЭПР - или ЯМР - анализаторах , предназначенных дл  контрол  технологических процессов. Формула изобретени  Способ измерени  изменени  параметров спектров ЭПР или ЯМР путем . последовательного измерени  измен ющихс  параметров этих спектров до и после измен ющегос  воздействи  на исследуемое вещество и сравнени , отличающийс   тем, что, с целью сокращени  времени измерени  параметров спектров ЭПР иг и ЯМР и обеспечени  возможности автоматизации процесса измерени , до и после измен ющегос  воздействи  на вещество измер ют време нные интервалы между двум  моментами совпадени  величины эталонного напр жени  с величиной напр жени  этик сигналов до и после прохождени  через нулевое значение первой производной. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Пул Ч. Техника ЭПР - спектроскопии . М., Мир, 1970, с. 9 - 29. 0.16404 0.24454 0.32321 0.49750 1.11746 1.97890 Let 3 ". J, N times, or N. we find N in accordance with the proposed invention. At the time of passage of the signals 3, and j through the value of the reference voltage, their values 3 (DIZ-) p. equal between oh and exactly correspond to the value of the coupon voltage, i.e. -iK- 4v- iK-) X exp then 2g (":-), D 01 i de represents the desired value Hod, g j, g I: 1 a 1 iJ The measurement error of the proposed method. appreciate this error. We decompose to the exponent in a power series of the form - e rz. (4l - x l5. (.-X) - 1. The maximum possible error when decomposing in a row is obtained when X0. We accept this assumption, then we write 1-1 "- - 5 h., Ixn g ZGG. Since this series is convergent, for a rough estimate it suffices to restrict the first two members of the series, i.e. (-) h-ix - i Thus, the maximum possible measurement error in the present invention is determined by the duration of the time interval for the smallest signal value of the first derivative (i.e. -P). To numerically estimate the magnitude of X (i.e., the maximum possible measurement error), we approximate curve 3 with a straight line at the point where the sign of the first derivative changes. Let us find the error 1, the received approximation l for different values of x. The results of the calculations are given below (the values are normalized to (Do 1) ti 2%) and, therefore, the magnitude of the measurement error is also greater. From here we can formulate the requirements for c. & ODU magnitude reference voltage. which must be less than the amplitude value of the voltage of the first derivative of the smallest of the compared signals and which determines the value of X. We find the value of the maximum measurement error in the present invention when the value of the reference voltage is in the range (0.1 - 0.032): :) ; . For a reference voltage equal to 0.32 P, 0.2) we get (), 1Л, 1со, 2) o, 98 Since in the ideal case (measurement inaccuracy) exPf-xCx - 1, then the relative maximum The measurement error is equal to.) Thus, the maximum possible measurement error of the proposed method (with a reference voltage equal to 0.32 of the amplitude value of the first derivative of the smaller of the compared signals) does not exceed 2% and the smaller the smaller reference voltage. A similar approach can be applied in such cases when, as a result of exposure or change in the magnitude of the effect on the test substance, either only a change in the width of the absorption line or a change in the width and intensity of the spectral line occurs simultaneously with the remaining spectral parameters. The change in the shape of the spectral line should be taken into account according to the method described in 1 and 2. The proposed measurement method can be used not only to determine the magnitude of the change in the parameters of the EPR or NMR spectra, but also to determine the nature and magnitude of the effect on the substance when the correlation between the parameters of the spectrum of the substance and the changes in the physical and chemical properties of the substance occurring is known. as a result of exposure or change in exposure magnitude. The use of the proposed method of measuring changes in the EPR or NMR spectrum parameters has the following advantages in comparison with the known methods: measuring the magnitude of changes in the parameters of the PZR or NMR spectra directly in the process of recording spectra, which reduces the time for obtaining information about changes in a substance and thereby increases the efficiency of scientific research using the method of EPR or NMR; automation of the measurement process is possible; It is possible to use the proposed method of measurement in automatic EPR or NMR analyzers designed to control technological processes. The invention The method of measuring changes in the parameters of the EPR or NMR spectra. sequential measurement of the changing parameters of these spectra before and after the changing effect on the test substance and comparison, characterized in that, in order to reduce the measurement time of the parameters of the EPR spectra of the gamma and NMR and to enable the automation of the measurement process, before and after the changing impact on the substance measure the time intervals between two moments of coincidence of the magnitude of the reference voltage with the magnitude of the voltage of these signals before and after passing through the zero value of the first Noah. Sources of information taken into account in the examination 1.Pul Ch. Technique of EPR - spectroscopy. M., Mir, 1970, p. 9 - 29. 2.Вертц Д.,Болтон Д. Теори  и практические приложени  метода ЭПР. Мир , 1975, с. 44 - 47, 501 - 505 (прототип)-.2. Wertz D., Bolton D. Theory and practical applications of the EPR method. World, 1975, p. 44 - 47, 501 - 505 (prototype) -. // UirUir
SU782700793A 1978-12-25 1978-12-25 Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum SU787964A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782700793A SU787964A1 (en) 1978-12-25 1978-12-25 Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782700793A SU787964A1 (en) 1978-12-25 1978-12-25 Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU787964A1 true SU787964A1 (en) 1980-12-15

Family

ID=20800264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782700793A SU787964A1 (en) 1978-12-25 1978-12-25 Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU787964A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104535941B (en) The outer interference magnetic-field closed loop control method of transport by satellite examination under a kind of ground magnetic environment
WO1995016927A1 (en) Efficient processing of nmr echo trains
Hedberg et al. Resolution enhancement of ESR spectra from irradiated single crystals of glycine
RU2685062C1 (en) Digital measurer of acting signal value
King et al. Analytic continuation as a method of phase determination
SU787964A1 (en) Method of measuring variations of electron paramagnetic resonance and nuclear magnetic resonance spectrum
US5144565A (en) Measurement of metallurgical properties in ferromagnetic test parts
CN104155621A (en) Method used for accurately measuring static magnetic field B0 distribution
EP0148362A1 (en) Method of obtaining pseudofiltering effect in process of accumulation and nuclear magnetic resonance spectrometry utilizing same
US4139895A (en) Analog computer
SU1702271A1 (en) Nmr thomography method
KR950001735B1 (en) Method of correcting isotope burn-in effects in fission neutron dosimeters
US3787760A (en) Method and apparatus for recording spin resonance spectra using two sequences of rf exciting pulses
CN2291664Y (en) Ultrasonic emulsion on-line concentration meter
SU894648A1 (en) Measuring instrument for electric geogurvey
SU661323A1 (en) Pulsed proton-resonance moisture-content meter
SU1758613A1 (en) Device for measuring pulsed magnetic
SU873075A1 (en) Device for measuring magnetic resonance parameter changing
RU2123190C1 (en) Method determining metrological characteristics of measuring means of same type in one group
WO2024125811A1 (en) Method for measuring the lithium and boric acid concentration in an aqueous solution, and corresponding system
SU1670577A1 (en) Eddy current device to check the product's thickness and electromagnetic properties
da Silva et al. Automated measurement of ultrasound velocity and attenuation
SU1483347A1 (en) Method for monitoring physiomechanical properties of ferromagnetic articles
SU828130A1 (en) Method of alternating magnetic field parameter determination
US4103541A (en) Method of and a device for measuring a relaxation phenomenon