(54) РЕФРАКТОМЕТР
Изобретение относитс к области рефракто (етрии, более кс скретио - к дифференциальны рефрактометрам. Область применени изобретени - нефтеперерабатывающа , химическа , пищева и др. отрасли промьщ1ленности, где используютс дифференциальные рефрактометры. Известен рефрактометр, содержащий последо вательно установленные источник излучени , оптическую систему, дифференциальную, .кювету дифференциальный фотопреобразователь и регистратор 1 . Наиболее близким к изобретению вл етс рефрактометр, содержащий последовательно установленные источник излучени , оптическую систему, дифференциальную кювету, два диффе ренциально включенных последсжательио с ре. зисторами фототранзистора, установленных OIMметргшо на рассто нии ширины луча, фотоприелшое устройство, измерительное устройство 2J. Недостатком известного устройства вл етс пониженна точность из-за нестабильности источника излучени . Цель изобретени - повышение точности. Дл достижени указанной цели в известное устройство дополнительно введены две пары фототранзнсторов и резистор, включенный между змиттерами двух основных фототранзисторов и коллекторами двух дополнительных фототранзистс ов , б. за одного из которых св зана с коллектором третьего дотолнительного фототранзистора , установленного между двум основными фототранзисторами, а база другого св зана с базой и коллектором четвертого дополнительного фототранзистора. На фиг. 1 псосазано расположение фототранэисторов , в предлагаемом рефрактометре; на . 2 - блок-схема рефрактометра; на фиг. 3 принципиальна схема фотоприемника. Устройство содержит измерительные фотоприемники 1 и 2 с фоточувствительными поверхност ми 3 и 4, которые частично освещены , фотоприёмник 5, полностью освещенный световой полоской 6. Фоточувствительна поверхность 7 фотоприемника 3 освещена полностью (tpK любом положении световой полоски 4, позгому выходной а1гнал приемника 3 пропорционален освещенности и позвол ет корректи378 роИть измерение показател преломлени с учетом реальной освещенности фотоприемников 1 и 2. Прибор содержит источник излучени 8, оптическую систему 9, дафференциальную кадвету 10, состо щую из сравнительной полоски 11, измерительной полоски 12, фотоприeivfHoro устройства 13, усилител 14, измерительного устройства 15. Схема фотоприемного устройства содержит .измерительные фототранзисторы 16 и 17, фототранзисторы 18 и 19, компенсационный по световому потоку фототрйнзистор 20, компенсационный по температуре фототранзистор 21, подстроенные резисторы 22 и 23, резистор 24, выходные клеммы 25, клеммы питани 26 и 27. Устройство работает следующим образом. Световой поток, создаваемый источником 8, нфравл етс оптической системой 9 на диффере|нциальиую кювету 10, сравнительна полость И которой заполнена сравнительной жидкостью с показателем преломлени Пд. Измерительна полость 12 заполн етс измер емой жидкостью При световой поток проходит кювету 10 без преломлени . Световой поток в виде световой полоски падает на фотоприемное устройство 13. При световой поток отклон етс и на выходе фотоприемного устройства 13 возникает злектрический сигнал рассогласовани который усиливаетс усилителем 14 и измер етс устройством 15. При фоточувствительные поверхности фртотранзисторов 16 и 17 освещены одинаково позтому на клеммах 25 отсутствует сигнал. При Пд площади фоточувствительных поверхностей 16 и 17, освещенные световым потоком, различны из-за смещени световой полоски относительно начального положени . В зтом случае на клеммах 25 имеетс сигнатг, который поступает на вход усилител 14. Питание фотоприемного устройства осуществл етс через клемму 26 и клемму 27. Выходной сигна фототранзистора зависит от освещенности, позтому при изменении светового потока источника излучени или изменении освещенности из-за загр знени стекол кюветы или поглощени света измер емой жидкостью (изменение оптической плотности относительно начального значени ) будет возникать оишбка измерени .. Дл ее исключени используетс генератор тока собранный на фототранзисторах 18 и 20. Фототранзистор 18 находитс в темновом режиме, а фототранзистор 20 освещен световой полоской посто нно. Включение фототранзистора 20 в базу пассивного фототранзистора 18 позвол ет скомпенсировать изменение сигнала на клеммах 25 при измене1ши освещенности изме, рйтельных фототранзисторов. Настройка генератора тока на фототранзисорах 18 и 20 осуществл етс следующим образом . При начальной освещенности (при ) на выходных клеммах 25 наблюдаетс сигнал (зквивалентно наблюдению результата на табло измерительного устройства). Затем в световой поток перед фотоприемным устройством помещаетс нейтральный фильтр, что вызывает изменение сигнала на клеммах 25. Регулировкой посто нного резистора 22 добиваютс достижени сигналом своего первоначального значени . В этом случае вли ние изменени освещенности автоматически, компенсируетс . Учитьша , что коэффициент преобразовани фототранзисторов зависит от температуры окружающей среды, вводитс второй генератор тока, собранный на фототранзисторах 19 и 21, которые наход тс в темновом режиме. Настройка генератора происходит при повыщении температуры относительно начальной при помощи подстроечного резистора. Оба генератора подключены к резистору 24, который способствует выравниванию базовых потенциалов при Д , упрощает настройку и расшир ет диапазон сигналов. Данное изобретение позвол ет значительно снизить вли ние температуры и нестабильности источника излучени на точность измерений. Форму л а изобретени Рефрактометр, содержащий последовательно установленные источник излучени , оптическую систему, дифференциальную кювету, два дифференщ1ально включенных последовательно с резисторами фототранзистора, установленных симметрично на рассто нии ширины луча, фотоприемное устройство, измерительное устройство, отличающийс тем, что, с целью повышени точности, в него дополнительно введены две пары фототранзисторов и резистор, включенный между змиттерами двух основных фототранзисторов и коллекторами двух дополнительных фототранзисторов, база одного из которых св зана, с коллектором третьего дополнительного фототранзистора, установленного между двум основными фототранзисторами, а база другого св зана с базой и колектором четвертого дополнительного фототранзистора. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Иоффе Б. В. Рефрактометрические методы химии. М., Хими , 1974, с. 54. 2.Гринштейн М.М. и Кучик н Л.М.Фото-электрические концентратомеры дл автоматического контрол и регулировани . М., Машиностроение , 1966, с. 142 (прототип).