SU763756A1 - Method for determining melting point of film materials - Google Patents

Method for determining melting point of film materials Download PDF

Info

Publication number
SU763756A1
SU763756A1 SU782696690A SU2696690A SU763756A1 SU 763756 A1 SU763756 A1 SU 763756A1 SU 782696690 A SU782696690 A SU 782696690A SU 2696690 A SU2696690 A SU 2696690A SU 763756 A1 SU763756 A1 SU 763756A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
temperature
melting
melting point
determining
determined
Prior art date
Application number
SU782696690A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Алексей Иванович Егоренков
Николай Иванович Егоренков
Original Assignee
Гомельский Филиал Белорусского Ордена Трудового Красного Знамени Политехнического Института
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Гомельский Филиал Белорусского Ордена Трудового Красного Знамени Политехнического Института filed Critical Гомельский Филиал Белорусского Ордена Трудового Красного Знамени Политехнического Института
Priority to SU782696690A priority Critical patent/SU763756A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU763756A1 publication Critical patent/SU763756A1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

Изобретение относится к технической физике.The invention relates to technical physics.

Известен способ определения температуры плавления веществ с помощью дифференциально-термического анализа [1].A known method for determining the melting point of substances using differential thermal analysis [1].

Однако определение температуры плавления s этим методом связано с' длительностью процесса и необходимостью использования сложного и дорогостоящего оборудования. Кроме того, нагрев необходимо вести с минимальной скоростью, так как регистрируемая температура плавления зависит от скорости нагрева образца.However, the determination of the melting temperature s by this method is associated with the duration of the process and the need to use complex and expensive equipment. In addition, heating must be carried out at a minimum speed, since the recorded melting temperature depends on the heating rate of the sample.

Наиболее близким техническим решением является способ определения температуры, согласно которому образец помещают на прозрачную подложку, нагревают его и за температуру плавления принимают температуру, при которой образец становится прозрачным В этом случае резкое увеличение прозрачности образца регистрируют при помощи ИК-спектрометра, используя частоту, соответствующую кристаллической фазе вещества. Образцы готовят в виде тонких пленок или срезов [2).The closest technical solution is the method of determining the temperature, according to which the sample is placed on a transparent substrate, it is heated and the temperature at which the sample becomes transparent is taken as the melting point. In this case, a sharp increase in the transparency of the sample is recorded using an IR spectrometer using a frequency corresponding to the crystal phase of the substance. Samples are prepared in the form of thin films or slices [2).

Однако при этом способе используется дорогостоящее оборудование, кроме того, нагрев ведется очень медленно, что значительно увеличивает время, необходимое для определения температуры плавления.However, this method uses expensive equipment, in addition, heating is very slow, which significantly increases the time required to determine the melting temperature.

Цель изобретения — сокращение времени определения температуры плавления.The purpose of the invention is to reduce the time for determining the melting temperature.

Для этого пленку исследуемого материала помещают на подложку, имеющую поверхностный градиент температуры, а температуру плавления материала определяют по температуре участка, отделяющего прозрачную и непрозрачную области образца.For this, the film of the material under study is placed on a substrate having a surface temperature gradient, and the melting temperature of the material is determined by the temperature of the section separating the transparent and opaque regions of the sample.

Пример. Исследуют температуры плавления полиэтилена низкого давления, полипропилена, пентаПласта, поликапроамида и полиэтилентерефталап. Образцы в виде пленок 100x10x0,4 мм помещают на стеклянную пластину, имеющую градиент температуры 10 град./см. Градиент температуры создают, нагревая один конец пластины омическим нагревателем и охлаждая водой (14е С) второй конец пластины. Визуально определяют границу зоны прозрачного и непрозрачного полимера. А температуру, соответствующую этому участку, принимают за температуру плавления.Example. The melting points of low-pressure polyethylene, polypropylene, Pentaplast, polycaproamide and polyethylene terephthalap are studied. Samples in the form of films of 100x10x0.4 mm are placed on a glass plate having a temperature gradient of 10 degrees / cm. The temperature gradient is created by heating one end of an ohmic heater plate and cooling water (14 e C) a second end plate. Visually determine the boundary of the zone of transparent and opaque polymer. And the temperature corresponding to this section is taken as the melting point.

Предлагаемый способ позволяет с достаток ной степенью точности определять температуры плавления.The proposed method allows one to determine the melting temperature with a sufficient degree of accuracy.

При определении температуры плавления методом ИК-снектроскопии, например пентапласта, необходимо 2-3 ч, а при определении температуры плавления предлагаемым методом — 0-15 мин.When determining the melting temperature by IR spectroscopy, for example, pentaplast, it takes 2-3 hours, and when determining the melting temperature by the proposed method, it takes 0-15 minutes.

Используя термоградиентный метод, температуру плавления можно определить, регистрируя момент резкого изменения исследуемых свойств, вызванных плавлением материала, при анализе их вдоль градиента температуры, например геологических свойств.Using the thermogradient method, the melting temperature can be determined by recording the moment of a sharp change in the studied properties caused by the melting of the material, when they are analyzed along a temperature gradient, for example, geological properties.

Claims (2)

полимера. А температуру, соответствующую этому участку, принимают за температуру плавлени . Предлагаемый способ позвол ет с достаточ ной степенью точности определ ть температуры плавлени . При определении температуры плавлени  методом ИК-снектроскопии, например пентапласта , необходимо 2-3 ч, а при определении температуры .плавлени  предлагаемым методом - 0-15 мин. Использу  термоградиентный метод, температуру плавлени  можно определить, регистри ру  момент резкого изменени  исследуемых свойств, вызванных плавлением материала, при анализе их вдоль градиента температуры, геологических свойств. Формула из обретени  Способ определени  температуры плавлени  пленочных материалов, включающий помеще4 ние образца на прозрачную подложку, нагрев его и фиксирование температуры плавлени  по температуре, при которой по вл етс  прозрачность системы пленка-подложка, о т личающийс  тем, что, с целью сокращени  времени определени , пленку помещают на подложку, имеющую поверхностный градиент температуры, а температуру плавлени  материала определ ют по температуре участка, отдел ющего прозрачную и непрозрачную области. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Берг Л. Г. Введещ е в термографию. Изд. АН СССР, М., 1961, с. 105. polymer And the temperature corresponding to this region is taken as the melting point. The proposed method allows melting temperatures to be determined with a reasonable degree of accuracy. When determining the melting point by IR spectroscopy, for example, pentaplast, it takes 2-3 hours, and when determining the melting temperature by the proposed method, it takes 0-15 minutes. Using the thermogradient method, the melting point can be determined by recording the instant of a sharp change in the properties studied, caused by the material melting, by analyzing them along the temperature gradient and geological properties. Gaining Formula A method for determining the melting temperature of film materials, including placing a sample on a transparent substrate, heating it and fixing the melting temperature according to the temperature at which the film-substrate system appears transparent, in order to reduce the time The film is placed on a substrate having a surface temperature gradient, and the melting point of the material is determined from the temperature of the region separating the transparent and opaque regions. Sources of information taken into account in the examination 1. Berg L. G. Introduction to thermography. Ed. Academy of Sciences of the USSR, M., 1961, p. 105 2.Деханц И. и др. Инфракрасна  спектроскопи  полимеров, М., Хими , 1976, с. 76- 120 (прототип).2. Dehants I. and others. Infrared spectroscopy of polymers, M., Himi, 1976, p. 76-120 (prototype).
SU782696690A 1978-12-13 1978-12-13 Method for determining melting point of film materials SU763756A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782696690A SU763756A1 (en) 1978-12-13 1978-12-13 Method for determining melting point of film materials

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782696690A SU763756A1 (en) 1978-12-13 1978-12-13 Method for determining melting point of film materials

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU763756A1 true SU763756A1 (en) 1980-09-15

Family

ID=20798562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782696690A SU763756A1 (en) 1978-12-13 1978-12-13 Method for determining melting point of film materials

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU763756A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2657330C1 (en) * 2017-02-02 2018-06-13 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский институт перспективных материалов и технологий" Method for determining temperature of phase transitions in films and hidden layers of multi-layer structures of nanometer range of thicknesses

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2657330C1 (en) * 2017-02-02 2018-06-13 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский институт перспективных материалов и технологий" Method for determining temperature of phase transitions in films and hidden layers of multi-layer structures of nanometer range of thicknesses

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Derham et al. Pulse-induced critical scattering (PICS) from polymer solutions
Hunt et al. Temperature gradient microscope stage suitable for freezing materials with melting points between− 100 and+ 200° C
US5080495A (en) Method and apparatus for measuring thermal diffusivity by ac joule-heating
Mayhan et al. Poly (ethylene terephthalate). I. Study of crystallization kinetics
Mirabella Jr Simultaneous differential scanning calorimetry (DSC) and infrared spectroscopy using an infrared microsampling accessory (IRMA) and FT-IR
SU763756A1 (en) Method for determining melting point of film materials
Turska et al. Liquid-induced crystallization of a bisphenol-A polycarbonate
Ennulat The selective light reflection by plane textures
Armitage et al. Volumetric Behavior of Liquid Crystal N-p-Cyanobenzylidene-p-Octyloxyaniline
Carlson A low temperature Raman cell for use with the Cary model 81 laser instrument
Hashimoto et al. Thermal diffusivity measurement of polyethylene melt by a new temperature wave method
Hawkins et al. Light transmission and the formation and decay of spherulites in polythene
Goodeve The absorption spectra of methyl methacrylate and its polymer
Masuko et al. Phase transformations in polyphosphazenes by the depolarized light intensity method. I. General features and examples
SU634164A1 (en) Method of fracturing specimens of polymeric materials
De Chirico Effect of the polycondensation time on the crystallization of polyesteramide 6NT6
Danch et al. Thermal analysis and free volume study of polymeric supermolecular structures
Omaly et al. Study of the crystalline growth of HgI2 (α) using the vapour phase and in a sealed tube
Chang Thermal relaxation and glass transition in polyethylene
Kolb et al. Automatic microscopic method for determination of melting point
SU1573403A1 (en) Method of measuring thermal diffusivity
Magill Light transmission technique for following continuous changes in optical retardation in polymer films
SU947058A1 (en) Method for detecting fingerprints on the surface of object
SU1138722A1 (en) Material thermal physical property determination method
SU424056A1 (en) METHOD OF DIFFERENTIAL THERMAL ANALYSIS