SU750389A1 - Устройство дл измерени добротности колебательных контуров - Google Patents

Устройство дл измерени добротности колебательных контуров Download PDF

Info

Publication number
SU750389A1
SU750389A1 SU762408263A SU2408263A SU750389A1 SU 750389 A1 SU750389 A1 SU 750389A1 SU 762408263 A SU762408263 A SU 762408263A SU 2408263 A SU2408263 A SU 2408263A SU 750389 A1 SU750389 A1 SU 750389A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
frequency
output
block
measuring
voltage
Prior art date
Application number
SU762408263A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Виктор Викторович Молочников
Василий Иванович Ефимов
Анатолий Сергеевич Вераксо
Евгений Михайлович Савицкий
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4493
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4493 filed Critical Предприятие П/Я Г-4493
Priority to SU762408263A priority Critical patent/SU750389A1/ru
Priority to US05/837,849 priority patent/US4136313A/en
Priority to CS776329A priority patent/CS196800B1/cs
Priority to DE2744122A priority patent/DE2744122C3/de
Priority to FR7729529A priority patent/FR2366575A1/fr
Priority to JP11852877A priority patent/JPS5388769A/ja
Priority to GB41032/77A priority patent/GB1550062A/en
Application granted granted Critical
Publication of SU750389A1 publication Critical patent/SU750389A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2688Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано для измерения добротности, тангенса угла потерь, активного сопротивления, емкости и индуктивности.
Известно устройство для измерения 5 добротности радиотехнических элементов, содержащее последовательный измерительный контур, входной и выходной согласующие элементы, широкополосные ус илители, блок автоматической регулировки амплитуды, блок регистрации моментов возбуждения и ключи £1].
Недостатком известного устройства является большая погрешность измере— ния за счет значительной погрешности определения полосы пропускания контура.
Наиболее близким по техническому решению к предлагаемому является устройство для измерения добротности резонан- 20 сных контуров содержащее генератор перестраиваемой высокой частоты, подключенный к входу частотного модулятора, измерительный колебательный контур, входом подключённый к выходу частотного модулятора, амплитудный детектор, входом подключенный к выходу измерительного колебательного контура, и блок поиска резонансной частоты, подключенный к выходу амплитудного детектора |^2^.
Недостатком известного устройства является большая погрешность измерения добротности в широком диапазоне частот за счет частотной зависимости элементов связи измерительного контура.
Цель изобретения - повышение точности измерения добротности колебательных контуров.
Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения добротности колебательных контуров, содержащее г перестраиваемый генератор высокой частоты, подключенный к одному входу частотного модулятора, выход которого соединен с одним зажимом для подключения колебательного контура, другой зажим для подключения колебательного контура соединен с входом амплитудного детекто— ра, выход которого соединен с входом блока поиска резонансной частоты, включающий блок выделения первой производной по частоте, выход которого соединен с входом нуль-органа, введены блок выде- 5 ления второй производной, дополнительный нуль-орган, два запоминающих блока, перестраиваемый генератор низкой частоты, ключ, блок отношения частот, блок управления, причем вход блока выделения вто-· 10 рой производной соединен с выходом блока выделения первой производной, выход блока выделения второй производной через дополнительный нуль-орган соединен с входом одного запоминающего блока, 15 выход последнего через перестраиваемый генератор низкой частоты соединен с входом ключа, выход которого соединен с другим входом частотного модулятора, при этом вход перестраиваемого генера- 2о тора высокой частоты соединен с выходом другого, запоминающего блока, вход которого соединен с выходом блока поиска резонансной частоты, а выходы перестраиваемого генератора высокой часто— 25 ты и перестраиваемого генератора низкой частоты соединены с входами блока отношения частот, управляющие входы запоминающих блоков, блоков выделения первой и блока выделения второй производной, 30 частотного модулятора, ключа соответственно соединены с выходами блока управления.
На фиг. 1 приведена функциональная электрическая схема устройства; на фиг. 35 2 - диаграммы, поясняющие его работу.
Устройство содержит частотный модулятор 1, к одному входу которого подключен выход перестраиваемого генератора высокой частоты 2, а ко второму вхо- 4θ ду через ключ 3 — выход перестраиваемого генератора низкой частоты 4; коле— ба^ельный контур 5, входом подключенный к выходу частотного модулятора 1 и выходом - к входу амплитудного де- 45 тектора 6, выход которого подключен к входу блока 7 поиска резонансной частоты, содержащего последовательно включенные блок 8 выделения первой производной по частоте и нуль-орган 9; за помина— ющий блок 10, входом подключенный к выходу блока 7 .поиска резонансной частоты и выходом к управляющему входу перестраиваемого генератора высокой частоты 2; блок 11 выделения второй произ- J5 водной по частоте, входом подключенный к выходу блока 8 выделения первой производной ! по частоте и выходом - к входу нуль-органа 12, запоминающее уст ройство 13, входом подключенное к выходу дополнительного нуль-органа 12 и выходом к перестраиваемому генератору низкой частоты 4; блок отношения частот-
14, подключенный к выходам перестраиваемого генератора высокой частоты 2 и перестраиваемого генератора низкой частоты 4; блок управления 15, подключенный к управляющим входам блока 7 поиска резонансной частоты, блока 11 выделения второй производной по частоте частотного модулятора 1 и запоминающих блоков 10 и 13 и ключа 3.
Измерение добротности осуществляется следующим образом.
В режиме поиска резонансной частоты блок управления 15 на заданное время открывает запоминающий блок 10, закрывает запоминающее устройство 13 и ключ 3 и переводит частотный модулятор 1 в режим выделения несущей высокой частоты.
За это время нуль—орган 9 вырабатывает линейно—изменяющееся во времени напряжение 9 с (см. фиг. 2с). Этим напряжением изменяется частота выходного напряжения перестраиваемого генератора высокой частоты 2, которое через частотный модулятор 1 поступает на вход колебательного контура 5.
После прохождения через колебательный контур 5 и амплитудный детектор 6 высокочастотное напряжение с изменяющейся частотой преобразуется в напряжение U д , изменяющееся во времени (см. фиг. 2а) и соответствующее амплитудно-частотной характеристике исследуемого колебательного контура. Это изменяющееся во времени напряжение блок 8 выделения первой производной по частоте, управляемый блоком управления
15, дифференцирует , в результате чего на его выходе выделяется напряжение (см. фиг. 26), пропорциональное первой производной по частоте от амплитудно-частотной характеристики контура,
т. е.
где 01 - постоянный коэффициент пропорциональности.
Этим напряжением управляется нульорган 9, в котором при прохождении напряжения U через нуль устанавливается выходное напряжение Uco (см. фиг. 2с), а следовательно, и частота выходного напряжения перестраиваемого генератора высокой частоты 2, равная собствен5 ной резонансной частоте колебательного контура 5.
В режиме выделения полосы пропускания блок управления 15 на заданное вреся закрывает запоминающий блок 10, открывает запоминающее устройство 13 и ключ 3 и переводит частотный модулятор 1 в режим выделения боковой частоты. На это время в запоминающем блоке 10 запоминается напряжение ϋ^ο (см. фиг. 2с), а следовательно, и частота выходного напряжения перестраиваемого генератора 2 высокой частоты, равная собственной резонансной частоте колебательного контура 5. ___
За это же время нуль—орган 12 вырабатывает линейно—изменяющееся во времени напряжение ϋθ (см. фиг. 2е). Этим напряжением изменяется частота выходного напряжения перестраиваемого генератора низкой частоты 4,, которое |Через ключ 3 поступает на второй вход ’частотного модулятора 1.
В результате воздействия на частотный модулятор двух напряжений с частотами f о и F на выходе его получают напряжение с частотой
Этим напряжением управляется дополнительный нуль—орган 12, в котором при прохождении напряжения (J 01 через нуль устанавливается выходное напряжение 5 (см. фиг. 2е ) и фиксируется в запоминающем устройстве 13, а следовательно, фиксируется частота выходного напряжения перестраиваемого генератора низкой частоты 4, равная половине полосы про— 10 пускания колебательного контура 5 между точками перегиба его амплитудночастотной характеристики.
Переход из режима поиска резонансной частоты в режим выделения полосы 15 пропускания производится автоматически блоком управления 15 через заданные интервалы времени.
При этом добротность определяется по формуле 4-0,707^2-0,707^ и непосредственно измеряется блоком отношения частот· 14.
25 Этим же блоком 14 измеряется заданная рабочая частота, на которой производится измерение добротности.
Устройство для измерения добротности колебательных контуров позволяет снигде но — частота перестраиваемого генератора высокой частоты 2;
— частота перестраиваемого генератора низкой частоты 4.
прохождения этого напряже30
После ния через колебательный контур 5, амплитудный детектор 6 и блок 8 выделения первой производной по частоте выкочастотное напряжение с изменяющейся частотой £ преобразуется в напряжение Uj-’ (фиг. 26% изменяющееся во времени и соответствующее первой производной по частоте амплитудно-частотной характеристики колебательного контура 5. Это напряжение блок 11 выделения второй производной по частоте от амплитудно-частотной характеристики контура, управляемый блоком управления 15, дифференцирует, в результате чего на · его выходе выделяется напряжение и а ( см. фиг. 2д) пропорциональное второй производной по частоте амплитудно-частотной характеристики контура, — постоянный коэффициент пропорциональности.
т. е.
зить погрешность измерения добротности за счет более точного измерения резонансной частоты и полосы пропускания; повышение точности достигается непосредственным измерением частот перестраиваемых генераторов высокой и низкой частот без преобразования в напряжение или в импульсы напряжения. Поиск резонансной частоты и выделение полосы пропускания с помощью первой и второй производных по частоте амплитудно-частотной характеристики колебательного контура дает возможность реализовать предлагаемое техническое решение в широком диапазоне частот, практически в диапазоне частот от 1 кГц до 300 МГц, с относительно высокой точностью измерения добротности, так как операции поиска резонансной частоты и выделения полосы пропускания производятся на огибающей амплитудно-частотной характеристики колебательного контура, т. е. в низкочастотной части устройства (после детектирования) .

Claims (1)

1. Авторское свидетельство СССР
№ 523366, М., кл(3 О1 R 27/26, 11.01.74.
2, Авторское свид етельство СССР № 51965О, М. 01 R 27/26,
1974 (прототипit
W|
/p- /c
I 4.fW
V/
«/(
ry;
Uc
г
f{f}
5
SU762408263A 1976-10-01 1976-10-01 Устройство дл измерени добротности колебательных контуров SU750389A1 (ru)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762408263A SU750389A1 (ru) 1976-10-01 1976-10-01 Устройство дл измерени добротности колебательных контуров
US05/837,849 US4136313A (en) 1976-10-01 1977-09-29 Apparatus for measuring q-quality of oscillatory circuit components
CS776329A CS196800B1 (en) 1976-10-01 1977-09-29 Connection for measuring the quality of elements of the oscillation circuit
DE2744122A DE2744122C3 (de) 1976-10-01 1977-09-30 Meßeinrichtung zur Messung von Parametern von Schwingkreis-Bauelementen
FR7729529A FR2366575A1 (fr) 1976-10-01 1977-09-30 Dispositif de mesure du facteur de qualite d'elements de circuits oscillants
JP11852877A JPS5388769A (en) 1976-10-01 1977-10-01 Device for measuring quality factor of element in oscillator
GB41032/77A GB1550062A (en) 1976-10-01 1977-10-03 Apparatus for measuring q-quality of oscillatory circuit components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762408263A SU750389A1 (ru) 1976-10-01 1976-10-01 Устройство дл измерени добротности колебательных контуров

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU750389A1 true SU750389A1 (ru) 1980-07-23

Family

ID=20678390

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762408263A SU750389A1 (ru) 1976-10-01 1976-10-01 Устройство дл измерени добротности колебательных контуров

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4136313A (ru)
JP (1) JPS5388769A (ru)
CS (1) CS196800B1 (ru)
DE (1) DE2744122C3 (ru)
FR (1) FR2366575A1 (ru)
GB (1) GB1550062A (ru)
SU (1) SU750389A1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE68901462D1 (de) * 1988-01-22 1992-06-17 Atomic Energy Authority Uk Material-charakterisierung.
US6975665B1 (en) * 2000-05-26 2005-12-13 Freescale Semiconductor, Inc. Low power, high resolution timing generator for ultra-wide bandwidth communication systems
AU2001274820A1 (en) * 2000-05-26 2001-12-11 Xtremespectrum, Inc. A low power, high resolution timing generator for ultrawide bandwidth communication systems
US8311074B2 (en) * 2000-10-10 2012-11-13 Freescale Semiconductor, Inc. Low power, high resolution timing generator for ultra-wide bandwidth communication systems

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2671198A (en) * 1951-04-12 1954-03-02 Sperry Corp Method and apparatus for measuring the frequency response of translating devices
US2692947A (en) * 1951-05-11 1954-10-26 Sperry Corp Locator of inflection points of a response curve
US3824458A (en) * 1973-01-22 1974-07-16 A Martyashin Device for measuring parameters of elements of parallel lc-circuit
US3843925A (en) * 1973-06-11 1974-10-22 V Shlyandin Method for measuring parameters of complex electric circuit components and device for effecting same
US3846699A (en) * 1973-07-16 1974-11-05 A Morozov Method and device for measuring parameters of resonant lc circuit elements
US3848186A (en) * 1973-08-24 1974-11-12 A Martyashin Method of measuring parameters of complex electric circuit and device for effecting same

Also Published As

Publication number Publication date
DE2744122B2 (de) 1980-01-10
JPS5388769A (en) 1978-08-04
GB1550062A (en) 1979-08-08
FR2366575A1 (fr) 1978-04-28
CS196800B1 (en) 1980-04-30
DE2744122C3 (de) 1980-09-04
FR2366575B1 (ru) 1981-01-16
US4136313A (en) 1979-01-23
DE2744122A1 (de) 1978-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU750389A1 (ru) Устройство дл измерени добротности колебательных контуров
Guarnaschelli et al. Direct-reading frequency meter
SU794478A1 (ru) Устройство дл определени уровн СигНАлА ульТРАзВуКОВОгО изМЕРиТЕль-НОгО РЕзОНАТОРА
SU319273A1 (ru) Способ определения логарифмического
SU1406524A1 (ru) Способ измерени добротности контура
SU928256A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента шума
SU1262421A2 (ru) Способ измерени локальной плотности поверхностного зар да
SU1737365A1 (ru) Измеритель добротности резонатора
RU2110805C1 (ru) Способ определения входной проводимости антенны
SU983587A1 (ru) Способ измерени дисперсионных характеристик замедл ющих систем
Hunt Apparatus and technique for reverberation measurements
SU1054799A1 (ru) Устройство дл измерени добротности резонаторов электромеханических фильтров
SU960725A1 (ru) Устройство дл определени частоты и добротности резонансных характеристик
SU969675A1 (ru) Фазометр
SU1191841A1 (ru) Способ контрол частоты генератора накачки параметрического усилител
SU446019A1 (ru) Способ измерени неравномерности группового времени задержки в полосе частот
SU892351A1 (ru) Устройство дл измерени добротности колебательных контуров
RU12259U1 (ru) Измеритель параметров диэлектриков
SU938126A1 (ru) Феррозондовое устройство дл измерени остаточной индукции
SU728091A1 (ru) Измеритель параметров кварцевых резонаторов
SU516003A1 (ru) Устройство дл измерени параметров кварцевых резонаторов
SU860325A2 (ru) Устройство дл контрол амплитудно-частотных характеристик четырехполюсников
SU873156A1 (ru) Устройство дл измерени изменений диэлектрической проницаемости
SU100867A1 (ru) Способ определени рассто ний
SU678437A1 (ru) Устройство дл измерени резонансной частоты и добротности резонансной системы