SU748148A1 - Method and apparatus for measuring temperature gradient on semiconductor material layer - Google Patents
Method and apparatus for measuring temperature gradient on semiconductor material layer Download PDFInfo
- Publication number
- SU748148A1 SU748148A1 SU782647803A SU2647803A SU748148A1 SU 748148 A1 SU748148 A1 SU 748148A1 SU 782647803 A SU782647803 A SU 782647803A SU 2647803 A SU2647803 A SU 2647803A SU 748148 A1 SU748148 A1 SU 748148A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- temperature
- layer
- black body
- measured
- Prior art date
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
юследовательно модель черного тела оптическую систему, инфракрасный приемник излучени с фильтром, выдел ющим область сильного поглощени исследуемого материала, и автоматическую регистрирующую аппаратуру .In this case, the blackbody model is an optical system, an infrared radiation detector with a filter that highlights the area of strong absorption of the material under study, and an automatic recording equipment.
Основным недостатком известного способа и устройства дл измерени перепада температур на слое частично прозрачного материала вл етс невысока точность измерени ,, обусловленна значительными погрешност ми измерени температуры в области сильного поглощени материала, и необходимостью последовательно измер ть температуру на обеих границах сло частично прозрачного материала с последующим вЕлчислением перепада температур на слое как разности двух измеренных температур границ .The main disadvantage of the known method and device for measuring temperature differences on a layer of partially transparent material is the low measurement accuracy, due to significant errors in temperature measurement in the region of strong absorption of the material, and the need to consistently measure the temperature at both boundaries of the layer of partially transparent material followed by calculating temperature difference on the layer as the difference between the two measured temperature boundaries.
Цель изобретени - повышение точности измерени перепада температур на слое частного прозрачного материала, а также повышение эффективности устройства.The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the temperature drop across a layer of a particular transparent material, as well as to increase the efficiency of the device.
Эта цель достигаетс тем, что при градуировке дополнительно измер ют отношение ркостей дл узкого спектрального диапазона в видимой области спектра и по известным -соотношени м рассчитывают перепад температур на модели черного тела, затем по градуировочной кривой зависимости отношени ркостей излучени от перепада температур определ ют исходную величину.This goal is achieved by the fact that when calibrating, the ratio of the vibrations is additionally measured for a narrow spectral range in the visible spectral range, and the temperature difference on the black body model is calculated using known β-ratios, then the initial value is determined from the calibration curve of the ratio of radiation intensity to temperature. .
Устройство дл осуществлени этого способа, включающее расположенные последовательно модель черного тела, оптическую систему, инфракрасный приемник излучени с фильтром дл вьщелени области сильного поглощени исследуемого материала и автоматическую регистрирующ аппаратуру. Устройство дополнительно содержит приемник излучени с узкополоснЫм фильтром, зеркальный модул тор , снабженный приводом, приче модул тор расположен в плоскости, проход щей через биссектрису угла между ос ми приемников излучени .A device for carrying out this method, comprising a sequentially arranged black body model, an optical system, an infrared radiation detector with a filter to select a region of strong absorption of the material under investigation, and automatic recording equipment. The device further comprises a radiation receiver with a narrow-band filter, a mirror modulator equipped with a drive, and the modulator is located in a plane passing through the bisector of the angle between the axes of the radiation receivers.
На фиг. 1 показана схема устройства дл измерени перепада температур на слое частично прозрачного мaтep iaлa, на фиг. 2 - график кривых , жохорые используют при определениьг перепада температур на слое частично прозрачного материала.FIG. 1 shows a diagram of a device for measuring temperature differences on a layer of partially transparent material alaa, FIG. 2 is a graph of curves; johorns are used in determining the temperature drop across a layer of partially transparent material.
Устройство включает инфракрасный охлаждаемы приемник 1 излучени , чувствительным элементом которого вл етс германий, легированнь1й золотом , типа Свод.The device includes an infrared cooled radiation receiver 1, the sensitive element of which is germanium doped with gold, such as Arch.
Перепад инфракрасным приемником 1 излучени установлен инфракрасный интерференционный фильтр 2, вырезаюDifferential infrared receiver 1 radiation set infrared interference filter 2, cut out
щий область сильного поглощени исследуемого материала.the area of strong absorption of the material under study.
Градуировку провод т по трубчатой модели черного тела 3 с трем отверсти ми 4, 5 и б. .Graduations are carried out on a tubular black body model 3 with three holes 4, 5 and b. .
Модель черного тела 3 с помощью токоподводов 7 нагреваетс проход щим током.The black-body model 3 is heated by a passing current by means of current leads 7.
Отверсти 4 и 6 модели черного тела 3 визируют либо инфракрасным приемником 1 излучени с фильтром 2, либо приемником 8 излучени дл видимой области спектра, например, ФЭУ-79. Перед приемником излучени установлен красный интерференционный светофильтр 9, вырезающий излучение в области длины волн от 0,65 до 0,66 мкм. Попеременное направление излучени модели черного тела 3 (при градуировке) или образца (при измерени х), устанавливаемого на место модели черного тела, и модул ци излучени на частоте 37- Гц с последующим синхронным детектированием осуществл ют оптической системой 10 и зеркальным модул тором 11, снабженным приводом 12, причем модул тор 11 расположен в плкости , проход щей через биссектрису угла между ос ми приемников излучен 1 и 8. Регистрацию сигналов с приемников излучени 1 и 8 осуществл ют с использованием автоматической регистрирующей аппаратуры 13. Измерение опорной температуры осуществл ют оптическим пирометром 14 либо термопарой. The holes 4 and 6 of the blackbody model 3 are sighted either by an infrared radiation receiver 1 with filter 2 or radiation receiver 8 for the visible spectral region, for example, a PMT-79. A red interference filter 9 is installed in front of the radiation receiver, cutting out the radiation in the wavelength range from 0.65 to 0.66 µm. The alternating direction of emission of the blackbody model 3 (with graduation) or sample (with measurements) installed in place of the black body model, and the modulation of radiation at a frequency of 37 Hz with subsequent synchronous detection is performed by the optical system 10 and a mirror modulator 11, equipped with a drive 12, wherein the modulator 11 is located in a tangling angle passing through the bisector of the axes of the receivers is radiated 1 and 8. Signals from radiation receivers 1 and 8 are recorded using an automatic recording equipment 13. Measurement of the reference temperature is carried out using an optical pyrometer 14 or a thermocouple.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Трубчатую модель черного тела 3 нагревают до стационарного состо ни . После этого визируют отверсти 4 и 6 с помощью зеркального модул тора 11 на приемных диафрагмах инфракрасного приемника излучени 1 и приемника излучени в видимой области излучени в инфракрасной облати . Затем на несколько градусов (5-15 к) увеличивают температуру модели черного тела 3 и измер ют излучение в видимой и инфракрасной област х спектра.The tubular model of the black body 3 is heated to a stationary state. Thereafter, holes 4 and 6 are sighted using a mirror modulator 11 at the receiving apertures of the infrared radiation receiver 1 and the radiation receiver in the visible radiation region in the infrared plate. Then, the temperature of the blackbody model 3 is increased by several degrees (5-15 K) and the radiation in the visible and infrared regions of the spectrum is measured.
Последовательно измен темперс туру модели черного тела 3. определ ют Т и, соответственно, ДТ и стро т градуировочную зависимость.Successively changing the temperature of the blackbody model 3. determine T and, accordingly, DT and build a calibration dependence.
|--(.т)| - (. t)
где J , JP интенсивность излучени where J, JP is the radiation intensity
при температуре Т и i;, соответственно , дТ - разность температур, дТ рассчитываетс по формулеat temperature T and i ;, respectively, dT is the temperature difference, dT is calculated by the formula
AT-- °AT-- °
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782647803A SU748148A1 (en) | 1978-06-23 | 1978-06-23 | Method and apparatus for measuring temperature gradient on semiconductor material layer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782647803A SU748148A1 (en) | 1978-06-23 | 1978-06-23 | Method and apparatus for measuring temperature gradient on semiconductor material layer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU748148A1 true SU748148A1 (en) | 1980-07-15 |
Family
ID=20778404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782647803A SU748148A1 (en) | 1978-06-23 | 1978-06-23 | Method and apparatus for measuring temperature gradient on semiconductor material layer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU748148A1 (en) |
-
1978
- 1978-06-23 SU SU782647803A patent/SU748148A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5029117A (en) | Method and apparatus for active pyrometry | |
US6082892A (en) | Temperature measuring method and apparatus | |
CN111024258B (en) | Device for measuring internal heat distribution and thermal stability of alkali metal air chamber | |
US5258602A (en) | Technique for precision temperature measurements of a semiconductor layer or wafer, based on its optical properties at selected wavelengths | |
JPS6312938A (en) | Gas analyzer and gas analyzing method | |
CN116818663A (en) | Multispectral infrared imaging gas cloud cluster concentration detection system and detection method | |
US4320297A (en) | Split detector | |
RU2083961C1 (en) | Method of measurement of temperature and emissivity of surface | |
SU748148A1 (en) | Method and apparatus for measuring temperature gradient on semiconductor material layer | |
US3610592A (en) | Method and apparatus for estimating errors in pyrometer readings | |
US4605314A (en) | Spectral discrimination pyrometer | |
US5084621A (en) | Radiometric standard infrared detector | |
Male | A photographic pyrometer | |
JPS55144513A (en) | Measuring method of emissivity | |
GB2116317A (en) | Infrared radiation gas analyzer | |
US3376748A (en) | Method and apparatus for radiation pyrometry | |
SU823989A1 (en) | Device for measuring absolute reflection and transmission factors | |
RU128322U1 (en) | MULTI-CHANNEL CALORIMETRIC SPECTROMETER | |
JPH09126889A (en) | Method and instrument for measuring temperature of semiconductor substrate | |
SU763699A1 (en) | Method for contactless measurement of temperature | |
JPH0815036A (en) | Method for correcting radiation thermometer and light measuring equipment by utilizing new interpolation formula | |
SU473906A1 (en) | Infrared radiometer | |
JPS6138806B2 (en) | ||
RU2219504C2 (en) | Actual temperature pyrometer | |
CN117387767A (en) | Infrared temperature measurement modeling method and device applied to double light paths |