SU744384A1

SU744384A1 - Semiconductor device time-parameter digital meter

Info

Publication number: SU744384A1
Application number: SU772514795A
Authority: SU
Inventors: Александр Иванович Панов; Олег Федорович Рамзайцев; Николай Федорович Герасимов
Original assignee: Предприятие П/Я Р-6707
Priority date: 1977-08-04
Filing date: 1977-08-04
Publication date: 1980-06-30

Description

га стробимпульсов, запоминающее устройство 10 и реле времени 11.g of strobe pulses, memory 10 and time relay 11.

Р1змерптель работает следующим образом .Pmzmerptel works as follows.

В исходном состо нии реле времени 11 переводит запоминающее устройство 10 в режим записи. В контактное устройство блока 1 подключени помещают испытуемую ИС и осуществл ют запуск измерител . При запуске измерител блок управлени 3 подает команду на включение нулевых уровней отсчета в задатчиках уровней блока 3. Эти уровни поступают через сумматоры 4 и 5 на входы стробоскопических дискриминаторов 6 и 7 и запоминаютс . Затем блок управлени 3 формирует команду на включение уровней отсчета динамического параметра и других тестовых условий по первому измерительному тесту. При этом па вход сумматора 5 уровень отсчета подаетс с противоположной пол рностью с целью получени па его выходе напр жени , равного нулю по достижении на его другом входе имиульсиым сигналом напр жени , равного уровню отсчета. Стробоскопический дискриминатор 7 осуществл ет преобразование выходпого сигнала сумматора 5 посредством блока 9 автоматического сдвига стробимпульсов до тех пор, пока сдвигаемый стробимпульс не попадает на мгновенное значение напр жени пмнульса, равное уровню отсчета противоположной пол рности, формируемому одним из задатчиков блока управлени 3. В момепт равенства нулю напр жени на выходе сумматора 5 стробоскопический дискриминатор 7 формирует сигнал, по которому блок 8 управлени дискретностью считывани разрещает сброс последней круппой дискретности сдвига стробимпульса . Дальнейший сдвиг стробимпульса будет производитьс мелкими дискретпост ми до момента сравнени преобразованного мгновенного значени сигнала п запомненного нулевого уровн . В этот момент в блоке автоматического сдвига стробимпульсов зафиксирз етс число, пропордиональмое задержке стробимпульсов стробоскопического дискриминатора 7, соответствующей начальной точке отсчета измер емого параметра на входном импульсе. После нахождени начальной точки отсчета по команде с блока управлени 3 стробимпульс сдвигаетс на врем , равное классификационному значению измер емого параметра в данном тесте, записанному в блоке 9, и посредством одного стробпмпульса в сумматоре 4 производитс сравнение мгновенного значени выходпого сигнала с уровнем отсчета, формируемым блоком управлени 3 без дальпейщего сдвига стробимпульса, т. е. измеритель работает в режиме стробвольтметра. Затем зафиксированное в блоке 9 число, пропорциональное задержке стробимпульса, переписываетс в запоминающее устройство 10, а результат сравнени обрабатываетс в блоке управлени 3. После чего блок управлени 3 передает исходиые данные (уровни отсчета ) на измерение параметра второго теста. Аналогично осзществл стс измерение второго, третьего и т. д. до последнего теста, в результате чего в загтомипаюплсм устройстве 10 будут зафиксированы величины задержек начала отсчетов по каждому измерительному тесту, ira которые необходи .мо сдвпиуть стробимпульс ири измерении параметров следуюи1 1х испытуемых ИС.In the initial state, the time relay 11 switches the storage device 10 to the recording mode. A test IC is placed in the contact device of the connection unit 1 and the meter is started. When the meter is started, the control unit 3 sends a command to turn on zero reference levels in the unit level adjusters of block 3. These levels are fed through adders 4 and 5 to the inputs of the stroboscopic discriminators 6 and 7 and are remembered. Then the control unit 3 generates a command to turn on the reference levels of the dynamic parameter and other test conditions on the first measurement test. At the same time, the pa input of the adder 5, the reference level, is fed with the opposite polarity in order to obtain its output voltage equal to zero when the voltage on its other input reaches the reference level equal to the immersion voltage signal. The stroboscopic discriminator 7 converts the output signal of the adder 5 by means of the automatic shift shift unit 9 until the shifted strobe falls on the instantaneous value of the PMnulse voltage equal to the level of the opposite polarity generated by one of the setters of the control unit 3. The equalizer the zero voltage at the output of the adder 5, the stroboscopic discriminator 7 generates a signal by which the reading discreteness control unit 8 permits a reset after days kruppu discrete shear strobe. A further shift of the strobe pulse will be made at fine discrete points until the moment of comparing the converted instantaneous value of the signal n to the memorized zero level is compared. At this moment, a number proportional to the delay of the strobe pulses of the stroboscopic discriminator 7 corresponding to the initial point of reference of the measured parameter on the input pulse is fixed in the automatic shift gate unit. After the initial reference point is found by a command from the control unit 3, the pulse pulse is shifted by time equal to the classification value of the measured parameter in this test, recorded in block 9, and the single value of the output signal is compared with the level of counting generated by the block using one stroblum pulse in adder 4 3 without a further shift of the pulse, i.e., the meter operates in the strobe voltmeter mode. Then, the number proportional to the delay of the strobe pulse recorded in block 9 is rewritten into memory 10, and the result of the comparison is processed in control unit 3. Then control unit 3 transmits the source data (reference levels) to measure the parameter of the second test. Similarly, the measurement of second, third, and so on is performed until the last test, as a result of which 10 delays in the beginning of readings for each measurement test, ira which are necessary for measuring the parameters of the following 1 × test ICs, will be recorded.

После измерени параметров первой ИС по всем тестам блок управлени 3 фор:- рует команду «конец испытаний, но которой разрещаетс считывапие из запоминающего устройства 10. При измерепи ; слсдующей ИС по команде из блока управлени 3 по каждому тесту из запомипаюиюго устройства 10 в б.лок 9 авто лат1г;еск.го сдвига стрсбимпульсоз пер спись лаютс задержки, соответствующие началу отсчетаAfter measuring the parameters of the first IC for all tests, the 3-way control unit: - commands the end of the test, but which is allowed to be read from the storage device 10. When measuring; A subsequent IC on command from the control unit 3 for each test from the memory of the device 10 in the block 9 of the car lat1g; When the shift is taken up, the delays corresponding to the origin

измер емого параметра н классификапионпому значению этого параметра. Стробоскопический дискриминатор сразу порсг.одитс в режим стробвольтметра п за п-л-ц стробимпульс производит пзмереиио зthe measured parameter is the classification value of this parameter. The stroboscopic discriminator immediately takes the pulse to the strobevoltmeter mode and, for a p-l-c, the strobimpulse produces a plasma pulse.

каждом тесте до тех пор, пока сигналом от реле времени II не разрсшнтс запись в запомипаюп1,ее устройство 10 из блока 9 за;1 ,, соотЕетствуюп1их нагллу отсчета измер емого временного интервала. В рез льтате измеритель снова переводитс из режима по сокраиденному циклу измерител (режим стробвольтметра) в режим поиска начала отсчета при цикле измерени с запоминанием, т. е. измеритель возвращаетс в исходное состо ние. При этом исключаетс врем , необходимое на перезапомипание уровней отсчета поиска начала и конца измер емого параметра дл пескольких испытуемых схем.each test until the signal from time relay II records a recording in memory 1, its device is 10 from block 9 for; 1 ,, corresponding to their countdown of the measured time interval. As a result, the meter is again transferred from the mode according to the co-located meter cycle (strobe-voltmeter mode) to the reference search mode during the measurement cycle with memory, i.e., the meter returns to its initial state. At the same time, the time required for re-recording of the reference levels of the search for the beginning and end of the measured parameter for sand test circuits is excluded.

Предлагаемое устройство позпол Т уменьщить врем измерени одного теста и увеличить производительность по сравнению с известными устройствами. The proposed device, T, reduces the measurement time for a single test and increases productivity compared to known devices.

Claims

1. "Tester of dynamic parameters of T4520 ShchtsM3.430.004.TO.

2. USSR author's certificate for application number 2163406/24, cl. G 01 R 31/26, 1975 (prototype).

gh