SU743366A1 - Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени - Google Patents

Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени Download PDF

Info

Publication number
SU743366A1
SU743366A1 SU792709452A SU2709452A SU743366A1 SU 743366 A1 SU743366 A1 SU 743366A1 SU 792709452 A SU792709452 A SU 792709452A SU 2709452 A SU2709452 A SU 2709452A SU 743366 A1 SU743366 A1 SU 743366A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
polarization
radiation
photoelectrons
target
optical radiation
Prior art date
Application number
SU792709452A
Other languages
English (en)
Inventor
В.И. Клейменов
Ю.В. Чижов
С.Н. Лопатин
Original Assignee
Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова filed Critical Ленинградский Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.А.А.Жданова
Priority to SU792709452A priority Critical patent/SU743366A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU743366A1 publication Critical patent/SU743366A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ И НАПРАВЛЕНИЯ ПРЕИМУЩЕСТВЕННОЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО . ИЗЛУЧЕНИЯ, заключающийс  в том, что исследуемым излучением облучают газовую мишень, отличающийс   тем, что, с целью увеличени  чувствительности и повьшени  точности измерений, исследуемьм излучением ионизуют газовую мишень, измер ют угловое распределение фото электронов и по угловому распределению фотоэлектронов определ ют пол ризационные характеристики исследуемого излучени . 4 00 00 О) о

Description

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и может быть использовано дл  определени  пол ризационных характеристик оптическо го излучени  в. области вакуумного ультрафиолета. , Известен способ определени  пол  ризационных характеристик оптическо го излучени , заключающийс  в том, что исследуемым излучением облучают мишень и по вторичному оптическому излучению определ ют пол ризационные характеристики исследуемого изл чени . Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ определени  пол ризационных характеристик оптического излучени , заключакнцийс  в том, что исследуемым излучением отлучают газовую мишень, измер ют угловую зави симость рассе нного излучени  и по угловой зависимости рассе нного излучени  определ ют пол ризационные характеристики исследуемого излучени . Недостатком этого способа  вл етс  низка  чувствительность,  вл ю ща с  следствием малого рассе ни . По той же причине низка точность измерени  пол ризационных характеристик . Целью предлагаемого изобретени  . вл етс  увеличение чувствительности , повьппекие точности измерений пол ризационных характеристик оптического излучени  в области вакуумного ультрафиолета. . Поставленна  цель достигаетс  тем, что в известном способе, закпючакщемс  в том, что исследуемым оптическим излучением облучают газовую мишень, дополнительно исследу мым излучением ионизуют газовую мишень , измер ют угловое распределение фотоэлектронов и по угловому ра пределению фотоэлектронов определ ю пол ризационные характеристики исследуемого излучени . На фиг. приведена принципиальна  схема устройства дл  осуществле ни  предлагаемого способа; на фиг. угловое распределение фотоэлектронов , измеренное в плоскости, перпен дикул рной направлению пучка исслед емого излучени ; на фиг. 3 - схема взаимного положени  осей координат направлени  пучка исследуемого излу чени  и направлени  выпета фотоэлектрона . В ионизационную камеру 1 предварительно откаченную, а затем заполненную частицами газовой мишени до давлени  10 -10 тор, через отверстие 2 вводитс  исследуемое излучение. Атомы или молекулы газовой мишени ионизуютс , выбитые при этом фотоэлектроны , пройд  через диафрагмы 3, задшощие величину телесного угла , в котором производитс  отбор фотоэлектронов , регистрируютс  детектором 4 электронов. Детектор электронов вместе с диафрагмами-с помощью устройства 5 может поворачиватьс  вокруг направлени  пучка исследуемого излучени . Снимаетс  зависимость числа дeтekтиpyeмыx фотоэлектронов от угла 6 между некоторой осью в плоскости, перпендикул рной направлению пучка исследуемого излучени , и направлением, в котором регистрируютс  .фотоэлектроны (см. фиг. 2 и 3) Если вести измерени  при 0 у , то степень пол ризации Р исследуемого излучени  определ етс  из соотношени  Р (4-)(N,-N,j. 3j3(sin0,-coss ,) (Ы, +N) где /5 - константа анизотропии углового распределени  фотоэлектронов; иМ,-число фотоэлектронов, измеренное дл  двух значений ( 0, и0. 0, +-|) соот к ветственно. Вторую пол ризационную характеристику - направление, в котором исследуемое излучение пол ризовано в наибольшей степени, определ ют из графика зависимости N от 9 (см. фиг. 2 и 3). Если 0, то это направление задаетс  углом 0 , при котором N принимает максимальное значение, если , углом, при котором N принимает минимальное значение. Так как число образующихс  фотоэлектронов при облучении газовой мишени ультрафиолетовым излучением при условии, что квантовый выход ионизации молекул мишени близок к единице, на несколько пор дков больше числа рассе нных фотонов
можно определить степень пол ризации и направление преимущественной пол ризации более слабого по интенсивности излучени  и повысить точность определени  этих характеристик .

Claims (1)

  1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ И НАПРАВЛЕНИЯ ПРЕИМУЩЕСТВЕННОЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО , ИЗЛУЧЕНИЯ, заключающийся в том, что исследуемым излучением облучают газовую мишень, отличающийс я тем, что, с целью увеличения чувствительности и повышения точности измерений, исследуемым излучением ионизуют газовую мишень, измеряют угловое распределение фото· электронов и по угловому распределению фотоэлектронов определяют поляризационные характеристики исследуемого излучения. g
SU792709452A 1979-01-08 1979-01-08 Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени SU743366A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792709452A SU743366A1 (ru) 1979-01-08 1979-01-08 Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792709452A SU743366A1 (ru) 1979-01-08 1979-01-08 Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU743366A1 true SU743366A1 (ru) 1986-04-15

Family

ID=20803821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792709452A SU743366A1 (ru) 1979-01-08 1979-01-08 Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU743366A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Samson I.A.. Techniqus of Vacuum UFtra-vio et Spectroscopy , New York, 1976, chap. 9. Ландсберг Г.С. Оптика, М., Изд-во ТТЛ, 1976 г. с. 586. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4270091A (en) Apparatus and method for measuring pressures and indicating leaks with optical analysis
CN106662531A (zh) 用于原位测量样本的蚀刻深度的辉光放电光谱方法和系统
Finn et al. High Energy‐Resolution Studies of Electron Impact Optical Excitation Functions I. The Second Positive System of N2
Heddle et al. The polarization of electron impact radiation in helium
Grassam et al. Application of the inverse Zeeman effect to background correction in electrothermal atomic-absorption analysis
Wittmaack Successful operation of a scanning ion microscope with quadrupole mass filter
SU743366A1 (ru) Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени
Miller Jr et al. Ultraviolet and visible fluorescence produced by controlled electron impact on SO2
Goeke et al. Circularly polarized He radiation for electron polarimetry
Barnett et al. Characteristics of an electron multiplier in the detection of positive ions
US3545867A (en) Method of and apparatus for measuring the density of a plasma or transparent semiconductor
JP2947440B2 (ja) 電子エネルギ損失同時計測装置
Gaillard et al. New technique for measuring excited-state lifetimes in ions using rapid Doppler switching
Carré et al. Mean-life Measurements in He I by the Hanle Effect on High-Velocity Atoms Excited in a Gaseous Target
Ogawa et al. Angular difference Doppler profiles of the excited hydrogen atom produced in e CH4 collisions and dissociation dynamics of methane
van Resandt Absolute quantum efficiencies of micro-channelplates for 8-28 keV electrons
Thomsen et al. An experimental determination of the complete transition matrix for the electron transfer process
Klemperer et al. On the measurement of characteristic energy losses of electrons in metal films
Darlington et al. A magnetic prism spectrometer for a high voltage electron microscope
Bhiday et al. Measurement of electron beam energy using a gas Cerenkov detector
Allen et al. An Apparatus for the Measurement of Dichroism in a Pulsed Electric Field
US4316147A (en) Apparatus for determining the composition of mercury-cadmium-telluride and other alloy semiconductors
SU1407256A1 (ru) Способ определени степени линейной пол ризации фотонов
Bhaskar et al. Tensor polarizability of the 2 P 1 1 state of He 4 by electric-field level crossing
CN212871466U (zh) 一种无损检测极紫外激光脉冲能量及光束空间位置的装置