SU743366A1 - Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени - Google Patents
Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени Download PDFInfo
- Publication number
- SU743366A1 SU743366A1 SU792709452A SU2709452A SU743366A1 SU 743366 A1 SU743366 A1 SU 743366A1 SU 792709452 A SU792709452 A SU 792709452A SU 2709452 A SU2709452 A SU 2709452A SU 743366 A1 SU743366 A1 SU 743366A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- polarization
- radiation
- photoelectrons
- target
- optical radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ И НАПРАВЛЕНИЯ ПРЕИМУЩЕСТВЕННОЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО . ИЗЛУЧЕНИЯ, заключающийс в том, что исследуемым излучением облучают газовую мишень, отличающийс тем, что, с целью увеличени чувствительности и повьшени точности измерений, исследуемьм излучением ионизуют газовую мишень, измер ют угловое распределение фото электронов и по угловому распределению фотоэлектронов определ ют пол ризационные характеристики исследуемого излучени . 4 00 00 О) о
Description
Изобретение относитс к оптическому приборостроению и может быть использовано дл определени пол ризационных характеристик оптическо го излучени в. области вакуумного ультрафиолета. , Известен способ определени пол ризационных характеристик оптическо го излучени , заключающийс в том, что исследуемым излучением облучают мишень и по вторичному оптическому излучению определ ют пол ризационные характеристики исследуемого изл чени . Наиболее близким к предлагаемому вл етс способ определени пол ризационных характеристик оптического излучени , заключакнцийс в том, что исследуемым излучением отлучают газовую мишень, измер ют угловую зави симость рассе нного излучени и по угловой зависимости рассе нного излучени определ ют пол ризационные характеристики исследуемого излучени . Недостатком этого способа вл етс низка чувствительность, вл ю ща с следствием малого рассе ни . По той же причине низка точность измерени пол ризационных характеристик . Целью предлагаемого изобретени . вл етс увеличение чувствительности , повьппекие точности измерений пол ризационных характеристик оптического излучени в области вакуумного ультрафиолета. . Поставленна цель достигаетс тем, что в известном способе, закпючакщемс в том, что исследуемым оптическим излучением облучают газовую мишень, дополнительно исследу мым излучением ионизуют газовую мишень , измер ют угловое распределение фотоэлектронов и по угловому ра пределению фотоэлектронов определ ю пол ризационные характеристики исследуемого излучени . На фиг. приведена принципиальна схема устройства дл осуществле ни предлагаемого способа; на фиг. угловое распределение фотоэлектронов , измеренное в плоскости, перпен дикул рной направлению пучка исслед емого излучени ; на фиг. 3 - схема взаимного положени осей координат направлени пучка исследуемого излу чени и направлени выпета фотоэлектрона . В ионизационную камеру 1 предварительно откаченную, а затем заполненную частицами газовой мишени до давлени 10 -10 тор, через отверстие 2 вводитс исследуемое излучение. Атомы или молекулы газовой мишени ионизуютс , выбитые при этом фотоэлектроны , пройд через диафрагмы 3, задшощие величину телесного угла , в котором производитс отбор фотоэлектронов , регистрируютс детектором 4 электронов. Детектор электронов вместе с диафрагмами-с помощью устройства 5 может поворачиватьс вокруг направлени пучка исследуемого излучени . Снимаетс зависимость числа дeтekтиpyeмыx фотоэлектронов от угла 6 между некоторой осью в плоскости, перпендикул рной направлению пучка исследуемого излучени , и направлением, в котором регистрируютс .фотоэлектроны (см. фиг. 2 и 3) Если вести измерени при 0 у , то степень пол ризации Р исследуемого излучени определ етс из соотношени Р (4-)(N,-N,j. 3j3(sin0,-coss ,) (Ы, +N) где /5 - константа анизотропии углового распределени фотоэлектронов; иМ,-число фотоэлектронов, измеренное дл двух значений ( 0, и0. 0, +-|) соот к ветственно. Вторую пол ризационную характеристику - направление, в котором исследуемое излучение пол ризовано в наибольшей степени, определ ют из графика зависимости N от 9 (см. фиг. 2 и 3). Если 0, то это направление задаетс углом 0 , при котором N принимает максимальное значение, если , углом, при котором N принимает минимальное значение. Так как число образующихс фотоэлектронов при облучении газовой мишени ультрафиолетовым излучением при условии, что квантовый выход ионизации молекул мишени близок к единице, на несколько пор дков больше числа рассе нных фотонов
можно определить степень пол ризации и направление преимущественной пол ризации более слабого по интенсивности излучени и повысить точность определени этих характеристик .
Claims (1)
- СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ПОЛЯРИЗАЦИИ И НАПРАВЛЕНИЯ ПРЕИМУЩЕСТВЕННОЙ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО , ИЗЛУЧЕНИЯ, заключающийся в том, что исследуемым излучением облучают газовую мишень, отличающийс я тем, что, с целью увеличения чувствительности и повышения точности измерений, исследуемым излучением ионизуют газовую мишень, измеряют угловое распределение фото· электронов и по угловому распределению фотоэлектронов определяют поляризационные характеристики исследуемого излучения. g
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792709452A SU743366A1 (ru) | 1979-01-08 | 1979-01-08 | Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU792709452A SU743366A1 (ru) | 1979-01-08 | 1979-01-08 | Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU743366A1 true SU743366A1 (ru) | 1986-04-15 |
Family
ID=20803821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792709452A SU743366A1 (ru) | 1979-01-08 | 1979-01-08 | Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU743366A1 (ru) |
-
1979
- 1979-01-08 SU SU792709452A patent/SU743366A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Samson I.A.. Techniqus of Vacuum UFtra-vio et Spectroscopy , New York, 1976, chap. 9. Ландсберг Г.С. Оптика, М., Изд-во ТТЛ, 1976 г. с. 586. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4270091A (en) | Apparatus and method for measuring pressures and indicating leaks with optical analysis | |
CN106662531A (zh) | 用于原位测量样本的蚀刻深度的辉光放电光谱方法和系统 | |
Finn et al. | High Energy‐Resolution Studies of Electron Impact Optical Excitation Functions I. The Second Positive System of N2 | |
Heddle et al. | The polarization of electron impact radiation in helium | |
Grassam et al. | Application of the inverse Zeeman effect to background correction in electrothermal atomic-absorption analysis | |
Wittmaack | Successful operation of a scanning ion microscope with quadrupole mass filter | |
SU743366A1 (ru) | Способ определени степени пол ризации и направлени преимущественной пол ризации оптического излучени | |
Miller Jr et al. | Ultraviolet and visible fluorescence produced by controlled electron impact on SO2 | |
Goeke et al. | Circularly polarized He radiation for electron polarimetry | |
Barnett et al. | Characteristics of an electron multiplier in the detection of positive ions | |
US3545867A (en) | Method of and apparatus for measuring the density of a plasma or transparent semiconductor | |
JP2947440B2 (ja) | 電子エネルギ損失同時計測装置 | |
Gaillard et al. | New technique for measuring excited-state lifetimes in ions using rapid Doppler switching | |
Carré et al. | Mean-life Measurements in He I by the Hanle Effect on High-Velocity Atoms Excited in a Gaseous Target | |
Ogawa et al. | Angular difference Doppler profiles of the excited hydrogen atom produced in e CH4 collisions and dissociation dynamics of methane | |
van Resandt | Absolute quantum efficiencies of micro-channelplates for 8-28 keV electrons | |
Thomsen et al. | An experimental determination of the complete transition matrix for the electron transfer process | |
Klemperer et al. | On the measurement of characteristic energy losses of electrons in metal films | |
Darlington et al. | A magnetic prism spectrometer for a high voltage electron microscope | |
Bhiday et al. | Measurement of electron beam energy using a gas Cerenkov detector | |
Allen et al. | An Apparatus for the Measurement of Dichroism in a Pulsed Electric Field | |
US4316147A (en) | Apparatus for determining the composition of mercury-cadmium-telluride and other alloy semiconductors | |
SU1407256A1 (ru) | Способ определени степени линейной пол ризации фотонов | |
Bhaskar et al. | Tensor polarizability of the 2 P 1 1 state of He 4 by electric-field level crossing | |
CN212871466U (zh) | 一种无损检测极紫外激光脉冲能量及光束空间位置的装置 |