SU72510A1 - Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator - Google Patents

Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator

Info

Publication number
SU72510A1
SU72510A1 SU3989A SU351569A SU72510A1 SU 72510 A1 SU72510 A1 SU 72510A1 SU 3989 A SU3989 A SU 3989A SU 351569 A SU351569 A SU 351569A SU 72510 A1 SU72510 A1 SU 72510A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
oscillographic
analyzers
frequency
sweep generator
frequency axis
Prior art date
Application number
SU3989A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Г.Ф. Лунгерсгаузен
И.М. Смирнов
Original Assignee
Г.Ф. Лунгерсгаузен
И.М. Смирнов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Г.Ф. Лунгерсгаузен, И.М. Смирнов filed Critical Г.Ф. Лунгерсгаузен
Priority to SU3989A priority Critical patent/SU72510A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU72510A1 publication Critical patent/SU72510A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

Известны способы отметки масштабных точек на оси частот в осциллографических анализаторах со свип-генератором.Known methods of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator.

Описываемый способ отличаетс  тем, что на управл ющие сетки смесительной лампы с настроенным контуром в анодной цепи подаютс  колебани  со свип-генератора и с генератора известной частоты. При использовании электронного осциллографа с двухлучевой трубкой колебани  с анодного контура смесительной лампы подаютс  на отклон ющие пластины второго луча осциллографа в направлении перпендикул рном направлению линии его развертки по оси частот.The described method is characterized in that oscillations from a sweep generator and from a generator of a known frequency are applied to control grids of a mixing lamp with a tuned loop in the anode circuit. When using an electron oscilloscope with a double-beam tube, oscillations from the anode circuit of the mixing lamp are fed to the deflection plates of the second beam of the oscilloscope in the direction perpendicular to the direction of its scanning line along the frequency axis.

)Г1ринципиальна  схема описываемого способа приводитс  на чертеже .The basic principle of the described method is shown in the drawing.

На управл ющие сетки смесительной лампы подаетс  переменное напр жение с выхода свип-генератора и измерительного стандарт-генератора .A variable voltage is supplied to the control grids of the mixing lamp from the output of the sweep generator and the measuring standard generator.

Колебательный контур, включенный в анодную цепь смесительной лампы, настроен на заданную частоту.The oscillatory circuit included in the anode circuit of the mixing lamp is tuned to the specified frequency.

Если частота измерительного генератора выбрана так, что находитс  в пределах полосы частот охватываемых свип-генератором, то при «качании частоты свип-генератора на экране трубки получаетс  два изображени  частотной характеристики контура. Эти два изображени  разнесены на удвоенную величину резонансной частоты контура. При малом значении затухани  контура изображени  характеристик получаютс  в виде двух удлиненных точек, одна из которых используетс  дл  отметки частоты по второму каналу осциллографа. На первый же канал осциллографа подаетс  напр жение с выхода испытуемого усилител , на вход которого подано напр жение со свип-генератора . При этих услови х на экране трубки по в тс  изображени  отметки и частотной характеристики усилител .If the frequency of the measuring generator is chosen so that it is within the frequency band covered by the sweep generator, then when the sweep generator frequency is sweeping, two images of the frequency response of the circuit are displayed on the screen of the tube. These two images are separated by twice the resonant frequency of the circuit. With a small attenuation of the contour, the image of the characteristics is obtained in the form of two elongated points, one of which is used to mark the frequency on the second channel of the oscilloscope. The first channel of the oscilloscope is supplied with voltage from the output of the amplifier under test, to the input of which voltage is applied from a sweep generator. Under these conditions, the image of the mark and frequency response of the amplifier is on the screen of the handset.

Измен   рассто ние между средними лини ми изображ ений можно перемещать отметку по вертикали. Измен   частоту измерительного стандарт-генератора можно перемещать отметку по горизонтали.By changing the distance between the middle image lines, you can move the elevation vertically. By changing the frequency of the measuring standard generator, you can move the mark horizontally.

П р е д м е т изобретени PREAMETE OF THE INVENTION

Claims (2)

1.Способ отметки масштабных точек на оси частот в осциллографических анализаторах со свип.-генератором, отличающийс  тем, что колебани  свип-генератора подают на смеситель с настроенным контуром совместно с колебани ми генератора известной частоты и колебани  с контура подают на осциллограф.1. The method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep-oscillator, characterized in that oscillations of the sweep generator are fed to a mixer with a tuned loop along with oscillations of a generator of known frequency and oscillations from the circuit are fed to an oscilloscope. 2.Прием осуществлени  способа по п. 1, о т л и ч а ю щ и и с   тем, что при использовании катодного осциллографа с двухлучевой катодной трубкой колебани  с контура падают на пластины отклонени  второго луча в направлении, перпендикул рном направлению линии развертки по оси частот.2. Accepting the method of claim 1, wherein, using a cathode oscilloscope with a two-beam cathode tube, oscillations from the circuit fall on the deflection plates of the second beam in the direction perpendicular to the direction of the sweep line along frequency axes. - - ., ошмегпчш а., erratic с/лзнУиртsensflafnofla w / wintWirthsensflafnofla
SU3989A 1947-01-09 1947-01-09 Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator SU72510A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU3989A SU72510A1 (en) 1947-01-09 1947-01-09 Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU3989A SU72510A1 (en) 1947-01-09 1947-01-09 Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU72510A1 true SU72510A1 (en) 1947-11-30

Family

ID=52674133

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU3989A SU72510A1 (en) 1947-01-09 1947-01-09 Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU72510A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2243234A (en) Wave indication
US2285038A (en) System for indicating electrical phase-shift characteristics
US2293135A (en) Electronic shorting device
US2444560A (en) Cathode-ray tube spectrograph
US2414096A (en) Scanning system
US2416346A (en) Visual reception of radio waves
SU72510A1 (en) Method of marking scale points on the frequency axis in oscillographic analyzers with a sweep generator
US2403278A (en) Cathode-ray sweep circuit
US2610228A (en) Marker signal generator
US2588376A (en) Frequency response analysis
US2572216A (en) Signal receiving system
US2499755A (en) Frequency measuring system
SU141518A1 (en) Device for automatically determining the dependence of the frequency of the microwave generator with electronic tuning on the magnitude of the control voltage
SU98300A1 (en) Device for measuring phase characteristics of quadrupoles
SU118048A1 (en) Method of measuring telegraph distortion
USRE22328E (en) Frequency modulation measurement
SU137189A1 (en) Method for determining frequency multiplicity of electrical oscillations
SU121155A1 (en) Device for removing phase-frequency characteristics of quadrupoles
SU125394A1 (en) Instrument for measuring the average temperature of large objects
SU109330A2 (en) Method for measuring transient attenuation between electrical circuits
GB655775A (en) Improvements in or relating to supersonic apparatus for determining the thickness ofan object
US2704325A (en) Scanning panoramic receiver system
US3348139A (en) Time delay and frequency spectrum analyzer
US3029390A (en) Variable width pulse generating means
SU585445A1 (en) Stroboscopic oscilloscope