SU721719A1 - Attachment to monochromator for measuring reflex coefficient of surfaces in the backward direction - Google Patents
Attachment to monochromator for measuring reflex coefficient of surfaces in the backward direction Download PDFInfo
- Publication number
- SU721719A1 SU721719A1 SU772514174A SU2514174A SU721719A1 SU 721719 A1 SU721719 A1 SU 721719A1 SU 772514174 A SU772514174 A SU 772514174A SU 2514174 A SU2514174 A SU 2514174A SU 721719 A1 SU721719 A1 SU 721719A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- measuring
- monochromator
- reflection coefficient
- attachment
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относится к области технической физики, в частности может быть использовано для измерения, оптических характеристик материалов, , например коэффициента отражения поверхностей в направлении '’назад'1 или для измерения потоков излучения при этом.The invention relates to the field of technical physics, in particular, it can be used to measure the optical characteristics of materials, for example, the reflection coefficient of surfaces in the direction of `` back '' 1 or to measure radiation flux in this case.
Известно устройство для измерения коэффициента отражения содержащее 1 полупрозрачную пластину, объектив,, образец, вспомогательные оптические · элементы и измерительный канал которых построен по автоколлимационнойсхеме [1]. 1 'Недостаток этого устройства состоит в относительности измерений, т.е. в зависимости коэффициента отражения характеристик эталона или иных оптических элементов, в частности, от ‘ полупрозрачной пластины.A device for measuring the reflection coefficient containing 1 translucent plate, a lens, a sample, auxiliary optical · elements and a measuring channel which is built according to the autocollimation scheme [1]. 1 'The disadvantage of this device is the relativity of measurements, i.e. depending on the reflection coefficient of the characteristics of the standard or other optical elements, in particular, from a translucent plate.
Наиболее близким по своей технической сущности к предложенному является приставка к монохроматору для измерения коэффициента отражения J поверхностей в направлении 1'назад'·', содержащая полупрозрачную пластину, объектив, образец, ослабитель потока излучения, вспомогательное зеркало, составляющие автоколлимацион2 ные измерительный и опорный каналы, модулятор, поочередно превышающий потоки излучения в каналах и фотоприемник [2] ,Closest in technical essence to the proposed one is a prefix to a monochromator for measuring the reflection coefficient J of surfaces in the direction 1 'back' · ', containing a translucent plate, a lens, a sample, a radiation flux attenuator, an auxiliary mirror, which make up the autocollimation2 measuring and reference channels, a modulator, alternately exceeding the radiation fluxes in the channels and a photodetector [2],
Однако это устройство не обеспечивает возможности непосредственного измерения абсолютного коэффициента отражения отличается сложностью конструкции (модулятор типа ''беличье колесо'1, ряд второстепенных зеркал и объективов).However, this device does not provide the ability to directly measure the absolute reflection coefficient differs in the complexity of the design (modulator type "squirrel wheel" 1 , a number of secondary mirrors and lenses).
Цель изобретения — измерение абсолютного коэффициента отражения и упрощение конструкции устройства.The purpose of the invention is the measurement of the absolute reflection coefficient and simplification of the design of the device.
Цель достигается тем, что в предлагаемом устройстве вспомогательной зеркало измерительного канала выполнено двухгранным с возможностью разворота грани до вырождения зеркала в плоское, в опорном канале установлено вогнутое контрзеркало, а модулятор выполнен коническим.The goal is achieved in that in the proposed device, the auxiliary mirror of the measuring channel is made two-sided with the possibility of turning the face until the mirror degenerates into a flat one, a concave counter-mirror is installed in the reference channel, and the modulator is made conical.
На чертеже представлена оптическая схема предлагаемой приставки.The drawing shows an optical diagram of the proposed consoles.
На чертеже обозначено: равнояркая щель 1 монохроматор’а; полупрозрачная пластина 2; фотоприемник 3; объектив 4; вспомогательное двухгранное зеркало ‘5; образец 6; конический модулятор 7; сферическоеIn the drawing is indicated: equidistant slit 1 monochromator’a; translucent plate 2; photodetector 3; lens 4; auxiliary dihedral mirror ‘5; sample 6; conical modulator 7; spherical
,721719 контрзеркало 8, ослабитель 9 потока излучения; угол падения и отражения излучения Л., 721719 counter-mirror 8, radiation flux attenuator 9; angle of incidence and reflection of radiation L.
Приставка работает следующим образом.The prefix works as follows.
Производится балансировка каналов 5 по переменному сигналу с фотоэлектронного приемника (выравнивание потоков) отградуированным в относительных делениях пропускания ослабителем 9, например клином;при этом |Q зеркало 5 находится в положении ''двухгранное'’, число делений на шкале клина —“Νο . Затем зеркало 5 переводится в положение ''плоское1', каналы разбалансируются и для их выравнивания (потери-излучения на поверхности образца) требуется в опорном, канале ввести клин 9 на делений. Абсолютный коэффициент отражения ''назад'1 в общем случае tq под углом к определится какThe channels 5 are balanced by an alternating signal from the photoelectronic receiver (flow equalization) calibrated by the attenuator 9, for example, as a wedge in relative transmission divisions, while | Q mirror 5 is in the “two-sided” position, the number of divisions on the wedge scale is “Ν ο . Then, the mirror 5 is transferred to the position `` flat 1 '', the channels are unbalanced and for their alignment (loss-radiation on the surface of the sample), it is necessary to introduce a wedge 9 into divisions in the reference channel. The absolute reflection coefficient `` back '' 1 in the general case tq at an angle k is defined as
Ρ«=<-ιξ·Ρ «= <- ιξ ·
При этом измерения их считаются абсолютными только после того, как 25 в режиме балансировки будет выявлена нечувствительность приставки к ориентации изображения равнояркой щели монохроматора на площадке фотоэлектронного приемника (вращением 3Q площадки) и к изменению оптического пути вдоль оси от зеркала 5 до образца б (перемещением зеркала 5).At the same time, their measurements are considered absolute only after 25 in the balancing mode the prefix insensitivity to the orientation of the image of the equally bright slit of the monochromator on the site of the photoelectronic receiver (by rotating the 3Q area) and to changing the optical path along the axis from mirror 5 to sample b (by moving the mirror 5).
Простота конструкции приставки 35 и процесса измерения позволяют измерить абсолютный коэффициент отражения ''назад'', в том числе и поверхностей с очень высоким .коэффициентом отражения (например, зеркал) с использованием типовых, технологически несложных оптических элементов. Это обусловит низкую себестоимость приставки. А минимальные затраты времени на измерения — высокую производительность.The simplicity of the design of the prefix 35 and the measurement process make it possible to measure the absolute reflection coefficient `` back '', including surfaces with a very high reflection coefficient (for example, mirrors) using standard, technologically simple optical elements. This will result in low prime cost of the console. And the minimum time spent on measurements - high performance.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772514174A SU721719A1 (en) | 1977-07-27 | 1977-07-27 | Attachment to monochromator for measuring reflex coefficient of surfaces in the backward direction |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772514174A SU721719A1 (en) | 1977-07-27 | 1977-07-27 | Attachment to monochromator for measuring reflex coefficient of surfaces in the backward direction |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU721719A1 true SU721719A1 (en) | 1980-03-18 |
Family
ID=20720727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772514174A SU721719A1 (en) | 1977-07-27 | 1977-07-27 | Attachment to monochromator for measuring reflex coefficient of surfaces in the backward direction |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU721719A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4478513A (en) * | 1981-02-24 | 1984-10-23 | Commonwealth Of Australia | Optical system for a spectrophotometer |
-
1977
- 1977-07-27 SU SU772514174A patent/SU721719A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4478513A (en) * | 1981-02-24 | 1984-10-23 | Commonwealth Of Australia | Optical system for a spectrophotometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5979841A (en) | Apparatus for measuring absolute reflectivity | |
US3888589A (en) | Reflection grating optical odometer | |
JPS6130570B2 (en) | ||
SU721719A1 (en) | Attachment to monochromator for measuring reflex coefficient of surfaces in the backward direction | |
EP0159906A3 (en) | Optical switching devices | |
US2503062A (en) | X-ray absorption photometer | |
CA1235923A (en) | Method of and apparatus for the measurement of the refractive-index profile in monomode optical fibres | |
Dobson | A flicker type of photo-electric photometer giving high precision | |
US4188125A (en) | Apparatus for the determination of the color composition of the printing light in a photographic enlarger | |
Wormell | Observations on the Intensity of the Total Radiation from Sunspots and Faculae | |
Dunn | Photometry of the solar chromosphere | |
US3369445A (en) | Optical alignment ascertaining device and process for elimination of refractive effects | |
SU813203A1 (en) | Monochromator attachment for measuring indicatrix of surface diffusion absolute values | |
SU970146A1 (en) | Torgue meter | |
SU705313A1 (en) | Automatic reflectometer | |
SU1278631A1 (en) | Method of measuring torque of revolving shaft | |
Vakili et al. | On the upper limit of the angular diameter of gamma Cassiopeiae with the two-telescope interferometer at CERGA | |
SU410266A1 (en) | ||
RU2006792C1 (en) | Device for measurement of radius of curvature of surface of part | |
SU365677A1 (en) | ||
SU1265492A1 (en) | Device for measuring differential energy velocity | |
SU920370A2 (en) | Device for determination of errors in producing mirror prism elemement right two-side angles | |
SU467224A1 (en) | Device for measuring the angle of deflection of a light beam | |
US2434890A (en) | Pupillometric exposure meter | |
US2884831A (en) | Instantaneous reader for moving dials |