SU718700A1 - Thickness measuring device - Google Patents
Thickness measuring device Download PDFInfo
- Publication number
- SU718700A1 SU718700A1 SU782630994A SU2630994A SU718700A1 SU 718700 A1 SU718700 A1 SU 718700A1 SU 782630994 A SU782630994 A SU 782630994A SU 2630994 A SU2630994 A SU 2630994A SU 718700 A1 SU718700 A1 SU 718700A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- amplifier
- output
- signal
- calibrated
- absorber
- Prior art date
Links
Description
Изобретение относится к измерению линейных размеров, в частности, толщины, с помощью проникающего излучения, преимущественно в рентгеновских бесконтактных толщиномерах горячего и холодного 5 листового проката.The invention relates to measuring linear dimensions, in particular thickness, using penetrating radiation, mainly in x-ray non-contact thickness gauges of hot and cold 5 sheet products.
Известно устройство для бесконтактного измерения толщины с помощью проникающего излучения, содержащее измерительный преобразователь, состоящий из источ- 10 ников излучения и преобразователя потоков излучения в электрический сигнал, и системы обработки информации (сигнала) {11Недостатком устройства является малое 15 быстродействие, обусловленное инерционностью указанных электромеханических узлов.A device is known for non-contact thickness measurement using penetrating radiation, comprising a measuring transducer consisting of 10 radiation sources and a radiation flux to electric signal converter, and an information processing system (signal) {11 A disadvantage of the device is its low speed 15 due to the inertia of said electromechanical units .
Наиболее близким к изобретению является устройство для измерения толщины, 20 содержащее устанавливаемые по разные стороны от объекта контроля, по меньшей мере, один источник излучения и последовательно соединенные детектор излучения, первый усилитель, второй усилитель и 25 блок регистрации [2].Closest to the invention is a device for measuring thickness, 20 comprising at least one radiation source and a radiation detector, a first amplifier, a second amplifier and a recording unit 25 installed in opposite directions from the test object [2].
Недостатком этого устройства является малая точность при большом отклонении измеряемой толщины в «плюс» и «минус» От заданного значения. 30The disadvantage of this device is the low accuracy with a large deviation of the measured thickness in the "plus" and "minus" from the specified value. thirty
Целью изобретения является повышение точности измерения при большой величине рабочего сигнала от детектора.The aim of the invention is to improve the measurement accuracy with a large value of the working signal from the detector.
Эта цель достигается тем, что устройство снабжено блоком сравнения, блоком выделения наибольшего сигнала, вход которого подключен к выходу первого усилителя, а выход — к одному из входов блока сравнения, соединенного выходом со входом первого усилителя, и блоком опорного сигнала, выход которого подключен к другому входу блока сравнения.This goal is achieved by the fact that the device is equipped with a comparison unit, a unit for extracting the largest signal, the input of which is connected to the output of the first amplifier, and the output to one of the inputs of the comparison unit, connected by the output to the input of the first amplifier, and a reference signal unit, the output of which is connected to another input of the comparison unit.
На фиг. 1 представлена структурная схема предложенного устройства измерения толщины; на фиг. 2 — иллюстрация зависимости величины сигнала на выходе усилителя отклонения при отклонении толщины в «плюс» и «минус» от номинала.In FIG. 1 presents a structural diagram of the proposed device for measuring thickness; in FIG. 2 - illustration of the dependence of the signal value at the output of the deviation amplifier when the thickness deviates to “plus” and “minus” from the nominal value.
Устройство для измерения толщины содержит два источника 1 и 2 излучения, калиброванный поглотитель 3, измеряемый объект, например, полосу 4. Далее последовательно соединенные детектор 5 излучения, первый усилитель 6, второй усилитель 7, блок 8 регистрации толщины. К выходу усилителя 6 подключен блок 9 выделения наибольшего сигнала, выход которого и выход блока 10 опорного сигнала соединены со входом блока 11 сравнения с опорThe device for measuring the thickness contains two radiation sources 1 and 2, a calibrated absorber 3, a measured object, for example, a strip 4. Next, a radiation detector 5, a first amplifier 6, a second amplifier 7, and a thickness registration unit 8 are connected in series. To the output of amplifier 6 is connected a block 9 for extracting the largest signal, the output of which and the output of block 10 of the reference signal are connected to the input of block 11 of comparison with supports
4 ным сигналом, выход которого подключен на вход усилителя 6.4 signal, the output of which is connected to the input of the amplifier 6.
Устройство работает следующим образом.The device operates as follows.
На детектор 5 излучения поочередно, со сдвигом во времени, поступают два потока излучения, один из которых от источника 1 проходит через измеряемый объект 4 (полосу) , а второй от источника 2 проходит через калиброванный поглотитель 3. Источниками могут служить рентгеновские трубки. Излучения в детекторе 5 преобразуются в электрические импульсы с амплитудой, определяемой толщиной калиброванного поглотителя 3 и измеряемой полосы 4, усиливаются усилителем 6 и поступают в схему 9 выделения наибольшего сигнала.Two radiation fluxes are alternately transmitted to the radiation detector 5, with a time shift, one of which from the source 1 passes through the measured object 4 (strip), and the second from the source 2 passes through a calibrated absorber 3. X-ray tubes can serve as sources. The radiation in the detector 5 is converted into electrical pulses with an amplitude determined by the thickness of the calibrated absorber 3 and the measured strip 4, amplified by the amplifier 6 and fed into the circuit 9 for extracting the largest signal.
Разностный сигнал между наибольшим и опорным сигналом с блока 10 выделяется в блоке И сравнения с опорным напряжением и управляет величиной коэффициента усиления усилителя 6 так, чтобы на выходе усилителя наибольший сигнал имел всегда величину, равную величине заданного опорного сигнала, выбранного при начальных условиях. Тогда на выходе усилителя 7 отклонения независимо от отклонения толщины в плюс или в минус сигнал будет иметь одинаковую величину при одинаковом абсолютном значении Ah. Начальные условия выбираются при градуировке, когда толщины измеряемой полосы и калиброванного поглотителя 3 равны.The difference signal between the largest and the reference signal from block 10 is allocated in the comparison block And with the reference voltage and controls the magnitude of the gain of the amplifier 6 so that at the output of the amplifier the largest signal always has a value equal to the value of the specified reference signal selected under initial conditions. Then, at the output of amplifier 7, deviations, regardless of the thickness deviation, plus or minus, the signal will have the same value with the same absolute value of Ah. The initial conditions are selected during calibration, when the thickness of the measured strip and calibrated absorber 3 are equal.
hn=hQ, где ha — толщина измеряемой полосы; h0— толщина калиброванного поглотителя 3.hn = hQ, where h a is the thickness of the measured strip; h 0 - the thickness of the calibrated absorber 3.
При этом сигналы на выходе усилителя 6 равны:In this case, the signals at the output of amplifier 6 are equal to:
Ип — 7ц · — РотIp - 7c · - Mouth
Р^О —' ^1 --Ц)Л, где Роп — опорное напряжение с блока 10; /п и 10 соответственно потоки излучения, прошедшие через измеряемую полосу и калиброванный поглотитель 3; ki — коэффи5 циент усиления усилителя.P ^ O - '^ 1 - C) A, where Rop is the reference voltage from block 10; / n and 1 0, respectively, the radiation flux passing through the measured strip and calibrated absorber 3; ki - coefficient of 5 gain of the amplifier.
На фиг. 2 представлены графики зависимости на выходе усилителя отклонения при отклонении толщины на ±Δ/ι от заданной: кривая 1 — по предлагаемому устройству; кривая 2 — по прототипу.In FIG. 2 shows graphs of the dependence of the deviation at the amplifier output when the thickness deviates by ± Δ / ι from the given: curve 1 - according to the proposed device; curve 2 - according to the prototype.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU782630994A SU718700A1 (en) | 1978-06-20 | 1978-06-20 | Thickness measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU782630994A SU718700A1 (en) | 1978-06-20 | 1978-06-20 | Thickness measuring device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU718700A1 true SU718700A1 (en) | 1980-02-29 |
Family
ID=20771132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU782630994A SU718700A1 (en) | 1978-06-20 | 1978-06-20 | Thickness measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU718700A1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2172930C1 (en) * | 2000-04-10 | 2001-08-27 | Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" | x-RAY THICKNESS GAUGE |
-
1978
- 1978-06-20 SU SU782630994A patent/SU718700A1/en active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2172930C1 (en) * | 2000-04-10 | 2001-08-27 | Закрытое акционерное общество Московское научно-производственное объединение "СПЕКТР" | x-RAY THICKNESS GAUGE |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3955086A (en) | Radiation thickness gauge | |
| GB1152393A (en) | Apparatus for Detecting the Wire Mark in Paper | |
| SU718700A1 (en) | Thickness measuring device | |
| ES460838A1 (en) | Composite transducer | |
| US3577773A (en) | Method and apparatus for measuring the percentage of elongation of metal strips | |
| SU992897A1 (en) | Analog apparatus for locating pressure pipeline damages | |
| SU821939A1 (en) | Acoustic level meter | |
| SU890086A1 (en) | Radiant energy meter | |
| SU427226A1 (en) | METHOD OF MEASUREMENT OF HARMONIC COMPONENTS OF KINEMATIC TRANSMISSION ERROR | |
| SU696373A1 (en) | Eddy-current device for non-destructive inspection | |
| SU513250A1 (en) | The wave | |
| GB1016720A (en) | Apparatus for measuring by measurement of phase shift | |
| SU523297A2 (en) | High frequency level gauge | |
| SU1716422A1 (en) | Device for selection of acoustic signals | |
| SU475577A1 (en) | Device for automatic calibration of recording devices | |
| SU913065A1 (en) | Ultrasonic device for measuring tape thickness | |
| SU1042213A1 (en) | Device for measuring high voltage at x-ray tube (versions) | |
| SU1569527A1 (en) | Eddy current device for nondestructive inspection of conductive articles | |
| RU1796885C (en) | Thickness gauge | |
| SU566346A1 (en) | Digital voltage meter | |
| SU815609A1 (en) | Device for electromagnetic checking metal-article physical characteristics | |
| SU909708A1 (en) | Device for calibrating magnetic tape transverse displacement meter | |
| SU150136A1 (en) | Compensation method for measuring small fluctuation voltages | |
| SU1458704A1 (en) | X-ray thickness gauge | |
| SU962800A1 (en) | Double-frequency electromagnetic apparatus for non-destructive quality control |