Изобретение относитс к области технической физики и может быть применено в масс-спектрометрии, в частности в однопольных и квадрупольных масс-спектрометрах. Известны масс-спектромётрические ионные источники,, предназначенные дл молекул рного и изотопного ана лиза газов, паров легколетучих веществ и жидкостей, которые вл ютс различными модификаци ми ионного источника Нира с ионизацией электронным ударом. Основными элементами таких ионных источников вл ютс катод, ионизационна камера и выт гивающий элек трод. Однако ввиду незначительной эф фективности и светосилы таких ионных источников, а также плоских фоку сирующих свойств при условии высоких требований кформированию потока ионов , инжектируемых в анализатор масс спектрометра в широком диапазоне давлений, такие ионные источники снабжаетс дополнительными элементами фокусирующими и коллимирующими . линзами, коллекторами электродов, различными экранами, отражател ми и т,д. Наличие же в зоне ионизации деталей с развитой поверхностью при .водит к резкому увеличению собственного газоотделени , увеличению пам ти прибора на вещества предьщущих анализов и усложн ет обезгаживание и очистку ионного источника, что снижает аналитические характеристики масс-спектрометра в целом, а иногда делает невозможньм количественный анализ в услови х высокого и сверхвысокого вакуума, Указанные недостатки частично устранены в ионном источнике дл квадрупольного масс-спектрометра, содержащем анод, катод пр мого накала и выт гивающий электрод, В этом ионном источнике камера ионизации о бразована цилиндри«1еским анодом, над которым расположен V-образный ускор ющий электрод, и выт гивающим электродом, расположенным снизу и имеющим в центре отверстие дл выхода ионов в анализатор массспектрометра . Над ускор ющим электро дом расположены катоды пр мого накаливани . Особенностью данного ионного источника вл етс то, что цилиндрический анод вьтолн етс таким образом , чтобы конфигураци его стенок соответствовала эквипотенциальным лини м электрического пол и в то же врем прёдставл ла собой сетчатую структуру. Ускор ющий электрод и анод имеют положительный потенциал относительно выт гивающего электрода , причем на ускор ющий электрод подан положительный потенциал относительно катодов. Электроны, эмиттируемые одним из катодов, ускор ютс сеткой и попадают в камеру ионизации , где ионизируют нейтральные молекулы исследуемого газа. Благодар соответствующей конфигурации электрического пол внутри камеры ионизации часть ионов выт гиваетс .ч.ерез щель в полость анализатора. Причем фокусировка осуществл етс главным образом за счет симметричного электрического пол , образованного анодом и V-образным ускор ющим электродом . Довольно прозрачна и прерывиста поверхность ионного источника обуславливает меньшую степень загр энени , а-также слабее искажает электрическое поле при загр знении, чем в источниках, имеющих гладкие непрерывные стенки. Однако така развита и прерывиста структура ионного источника и большее количество поддерживающих крепежных элементов существенно усложн ет очистку ионного источника, снижа тем самым его аналитические характеристики. Кроме того, V-образный ускор ющий электрод нарушает аксиальную симметрию, что ухудшает фокусирующие свойства и выдвигает высокие требовани к юстировке всей системы, а обезгаживание V-образного ускор ющего электрода возможно лищь с помощью дополнительных устройств. Недостатком описанного ионного источника вл етс также расположение катодой над выходной диафрагмой. Это приводит к тому, что часть электронов , ускоренных в промежутке катодускор ющий электрод и не столкнувшихс с молекулами нейтрального газа, удар етс о выт гивающий электрод или даже проникает в анализатор массспектрометраг . Оба эти фактора отрицательно сказываютс на работе ионного источника и масс-спектрометра в целом, так как бомбардировка электронами выт гивающего электрода приводит к значительным локальным разогревам, влекущим за собой тепловые подвижкиThe invention relates to the field of technical physics and can be applied in mass spectrometry, in particular in single-field and quadrupole mass spectrometers. Mass spectrometry ion sources are known for the molecular and isotopic analysis of gases, vapors of volatile substances and liquids, which are various modifications of the ionic source of Nir with electron impact ionization. The main elements of such ion sources are the cathode, the ionization chamber, and the drawing electrode. However, due to the insignificant efficiency and luminosity of such ion sources, as well as flat focusing properties, subject to high demands on the formation of an ion flux injected into the mass spectrometer analyzer in a wide pressure range, such ion sources are supplied with additional elements focusing and collimating. lenses, electrode collectors, various screens, reflectors, and so on. The presence in the ionization zone of parts with a developed surface leads to a sharp increase in the intrinsic gas separation, an increase in the memory of the instrument for substances of the previous analyzes and complicates the outgassing and cleaning of the ion source, which reduces the analytical characteristics of the mass spectrometer as a whole, and sometimes makes it impossible to quantify analysis under high and ultrahigh vacuum conditions. These deficiencies are partially eliminated in the ion source for a quadrupole mass spectrometer containing an anode, a cathode of direct heating and Testing electrode In this ion source, an ionization chamber is formed by a cylindrical anode, above which a V-shaped accelerating electrode is located, and a pull electrode located below and having a hole in the center for the output of ions to the mass spectrometer analyzer. Direct-glow cathodes are located above the accelerating electrode. The peculiarity of this ion source is that the cylindrical anode is filled in such a way that its wall configuration matches the equipotential lines of the electric field and at the same time represents the network structure. The accelerating electrode and the anode have a positive potential with respect to the drawing electrode, and a positive potential is applied to the accelerating electrode with respect to the cathodes. The electrons emitted by one of the cathodes are accelerated by the grid and enter the ionization chamber, where the neutral molecules of the test gas are ionized. Due to the appropriate configuration of the electric field inside the ionization chamber, part of the ions is drawn through the slit into the analyzer cavity. Moreover, the focusing is carried out mainly due to the symmetric electric field formed by the anode and the V-shaped accelerating electrode. A rather transparent and discontinuous surface of the ion source causes a lower degree of contamination, and also distorts the electric field less strongly when contaminated than in sources that have smooth continuous walls. However, such a developed and intermittent structure of the ion source and a large number of supporting fasteners greatly complicates the cleaning of the ion source, thereby reducing its analytical characteristics. In addition, the V-shaped accelerating electrode violates axial symmetry, which degrades the focusing properties and places high demands on the alignment of the entire system, and it is possible to remove the V-shaped accelerating electrode by using additional devices. The disadvantage of the described ion source is also the location of the cathode over the output aperture. This leads to the fact that part of the electrons accelerated in the gap between the cathode electrode and not colliding with the neutral gas molecules, hits the drawing electrode or even penetrates into the mass spectrometer analyzer. Both of these factors negatively affect the operation of the ion source and the mass spectrometer as a whole, since the electron bombardment of the pulling electrode leads to significant local warming resulting in thermal motions.