Наиболее близким к изобретению техническим решением йвл етс метод анизометра , в котором диск, вырезанный из исследуемого вещества с известным направлением оси легкого намагничивани , помещают на тонком нодвесе в посто нное магнитное поле, измер ют зависимость момента сил, действующего на образец от направпени магнитного пол , раскладывают эту зависимость на простые синусоиды, определ ют их амплитуды и фазы, сравнивают эти кривые с аналогичными кривыми дл моиокристаллов и определ ют распределение легких осей намагничивани относительно выделенного направлени 3 . 36 Однако указанный способ использует предположение независимости констант магнитной анизотропии от магнитного пол и поэтЪму может давать неверные результаты из-за вли ни на текстуру магнитного пол , в которое помещен образец. Целью изобретени вл етс повышен точности измерени .. Дл достижени этого исследуемый обра зец окружают магнитными экранами, помещ ют в пучок нейтронов, пол ризованных параллельно скорости нейтронов, ориентируют o6t5a3eif так, чтобы направление текстуры совпало с направлением пучка нейтронов, дл чего образец последовате но вращают вокруг трех взаимно перпендикул рных- направлений до обращени в нуль компонент депол ризации, затем из мер ют величины пол ризапии пуч1Ш ней тронов, прошедших через образец при двух ориентаци х пол ризации пучка нейтронов , падающих на образец, - параллел Ной и перпендикул рной скорости нейтронов , вычисл ют параметр, характеризующий магнитную текстуру в образце из соотношений Бп л /-Р, угол между направлением текстуры и намагниченностью в произвольной точке образца; Р Р -пол ризаци пучка нейтронов, Тю) о падающего на образец и пол ризованного соответственно параллельно и перпендикул рно скорости Нейтронов; -измерение значени пол ризации пучка -нейтронов, прощед- щих через образец, и Рдз соответственно. Предлагаемый способ измерени магнитной текстуры использует зависимость депол ризации пучка пол ризованных нейтронов , прошедших через анизотропный образец, от взаимного расположени векторов скорости нейтронов )vi , пол ризации Р I , направлени анизотропии I п и также величины анизотропии, причем это способ не требует магнитных полей, а форма образца может быть произвольной. На фиг. 1 дана установка дл измерени магнитной текстуры; на фиг. 2 и 3 отражены изменени компонент депол 3 ризации при установке текстуры вдоль направлени пучка нейтронов. Пучок нейтронов из реактора пол ризуют кристаллом-пол ризатором 1 и вращател ми пол ризации 2 устанавливают р II V . Образец в специальном узле 3, позволйющем вращать его вокруг трех взаимно перпендикул рных осей, помещают в. магнитный экран 4. Вращают образец вокруг оси X и измер ют APj. с Помощью флиппера 5, кристалла-анализатора 6 и детектора нейтронов 7. Компонента д Hj мен етс в соответствии с соотношением (l) и обращаетс Ь нуль, когда направление текстуры попадает в плоскость ХУ. Затем вращают образец Вокруг оси 2 до исчезновени ДР , что означает , что направление текстуры в образце совпало с одной из осей X или У. Чтобы определить,с какой именно осью совпадает направление текстуры образца, вращают его вокруг оси У и Измер ют величину дР- . ЕслидР- 6 и не зави-сит от угла поворота, то ось текстуры направлена по У, а еслидР мен етс по синусоидальному закону, то ось текстуры направлена по оси X. Определив направление текстуры в образце, ориентируют последний по оси X и измер ют Р Из соотношений (1) и (2( вычисл ют значение COS Э, характеризующее угловое распределение моментов в образце. Осуществление способа измерени магнитной текстуры в магнитных материалах , изотропных и текстурованных. Пример 1. Определ ют направение текстуры в образце, спрессованномиз порошка Nj с последующим отжигом. Измерены следующие величины: ± 0,004; л щ - 0,859 ± 0,005; ± 0,006; Р., 0,617 0,496 ± 0,006; 1,52 ± 0,06 Отсюда oL 0,337 t 0,005 Это означает, что образец не текстурирован (oL 3/2 соответствует 1/3, т.е. изотропному угловому расп-г ределению моментов. Пример 2. величину текстуры в образце феррита ,. Процесс ориентировани текстуры доль оси пучка иллюстрируетс на -фиг. 2 и 3. Точка А на фиг. 2 соответствует положению образца, при котором ось тек:туры лежит в плоскости ХУ. Точки В и С соответствуют совпадению оси текстуры с осью У и X,соответственно (пол ризаци TL О и не измен етс при повороте вокруг оси У, если образец находитс в положении, соответствующем точке В. После выставлени образца в положение , соответствующее точке С (ось текстуры совпадает с направлением, пучка) измер ют Р. 0,886 t 0,004; PjO 0,85910,005; 0,6931 0,ОО5; 0,095 ±0,0б7; Отсюда сХ 8,96 ±0,05 COS 2 0 0,8091 0,007 Так как близок к единице, то моменты поджаты к найденной оси текстуры. Пример 3. Определ ют текстуру в образце феррита измер ют Pj,P 0.8861-0,004; PjjO 0,859 ±0,005; Р,, 0,850 10,005; Р 0,8381 0,005; Отсюда С0б20 0,05 t 0,03 Так как cos В близок к нулю, то магнитные моменты распределены в плоскости , перпендикул рной найденной оси текстуры, Предлагаемый способ измерени магнитной текстуры дает возможность получить количественную характеристику маг нитной текстуры, не искаженную в процессе измерени внешними магнитными пол ми; не требует предварительного зна ни о направлений легких осей намагничивани в исследуемом веществе; позвол ет производить измерение текстуры образцов произвольной формы, т.е. не требует специальной механической обработки образца, что приводит к его разру шению. Предлагаемый способ измерени магнитной текстуры позвол ет повысить точность и достоверность измерени величины .магнитной текстуры и ее направлени . При использовании йучкрв нейтронов большой интенсивности способ позволит измер ть величину магнитной текстуры обра цов произвольной формы с большой точ- ностью. Способ Может найти применение в физических исследовани х в области маг- нетизма, в област х материаловедени , занимающихс созданием материалов дл различных магнитных изделий, таких как элементы пам ти на магнитных пленках, посто нные магниты, ферриты и др. Формулаизобре тени Способ измерени магнитной текстуры, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности, исследуемый образец окружают магнитными экранами, помещают в пучок нейтронов, пол ризованных параллельно вектору скорости нейтронов, ориентируют образец так, чтобы направление текстуры совпало с направлением пучка нейтронов, дл чего образец последовательно вращают вокруг трех взаимно перпендикул рных направлений до обращени в нуль поперечных компонент депол ризации, затем измер ют величины пол ризации пучка нейтронов, прошедших через образец при двух ориентаци х пол ризации пучка нейтронов, падающих на образец, параллельной и перпендикул рной скорости нейтронов, вычисл ют параметр, характеризующий магнитную текстуру в образце из соотношений /13, En- 1 /Р - угол между направлением текстуры и намагниченностью в произвольной точке образца; Р Р -пол ризаци пучка нейтронов, ЧюЛш падающего на образец и пол ризованного соответственно параллельно и перпендикул рно скорости нейтронов; -измеренные значени пол ризаций пучка нейтронов, прошедших через образец приР иР,- соответственно. Источники информации, рин тые во вниманиепри экспертизе 1.Смит Я., Ванн X., Ферриты ИЛ, 1962.