SU653645A1 - Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot - Google Patents

Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot

Info

Publication number
SU653645A1
SU653645A1 SU752173805A SU2173805A SU653645A1 SU 653645 A1 SU653645 A1 SU 653645A1 SU 752173805 A SU752173805 A SU 752173805A SU 2173805 A SU2173805 A SU 2173805A SU 653645 A1 SU653645 A1 SU 653645A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
dissector
electron
optical
circle
length
Prior art date
Application number
SU752173805A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Тамара Николаевна Китенко
Любовь Дмитриевна Аксенова
Борис Эдуардович Бонштедт
Валерий Николаевич Лукьянов
Original Assignee
Предприятие П/Я М-5273
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я М-5273 filed Critical Предприятие П/Я М-5273
Priority to SU752173805A priority Critical patent/SU653645A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU653645A1 publication Critical patent/SU653645A1/en

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Изобретение относитс  к области телевизионных измерений.This invention relates to the field of television measurements.

Известен способ измерений электронноонтического кружка размыти  электронного пучка диссектора по переходной характеристике , заключающийс  в измерении длины переходной характеристики от уровн  0,1-0,9 фронта нарастани  переходной характеристики с последующими расчетными операци ми 1 .The known method of measuring the electron-optical circle of diffusion of the electron beam of the dissector according to the transient characteristic consists in measuring the length of the transient characteristic from the level of 0.1-0.9 fronts of the rise of the transient characteristic with subsequent calculation operations 1.

Однако данный способ измерений  вл етс  сложным и не обеспечивает достаточной точности измерений.However, this measurement method is complex and does not provide sufficient measurement accuracy.

Целью изобретени   вл етс  повыщение точности измерений и упрощение измерений.The aim of the invention is to increase measurement accuracy and simplify measurements.

Это доститаетс  те.м, что измер ют длину переходной характеристики от уровн  0,1 до уровн  0,9 фронта нарастани  при некоторо .м заданном потенциале на ускор ющем электроде диссектора, дополнительно измер ют длину переходной характеристики при тех же уровн х фронта сигнала и потенциале на ускор ющем электроде в два раза меньщем, чем первоначальный, и определ ют размер электронно-оптического кружка размыти  по формулеThis is achieved by the fact that the length of the transient characteristic is measured from the level of 0.1 to the level of 0.9 of the rise front at some given potential on the accelerating electrode of the dissector, the transient response length is additionally measured at the same signal front levels and potential on the accelerating electrode is two times smaller than the initial one, and the size of the electron-optical diffuser circle is determined by the formula

А Д/е, аэ V , And D / e, ae V,

где1( и - длины переходной характеристики электрического сигнала;where1 (and are the lengths of the transient response of the electrical signal;

К - А Ua K - A Ua

и, И U2 - потенциалы на ускор ющем электроде диссектора;and, and U2 are the potentials at the accelerating electrode of the dissector;

п - э.мпирический коэффициент.n is the empirical coefficient.

Способ измерени  заключаетс  в следующем .The measurement method is as follows.

Claims (1)

Оптическое изображение точечного объекта проектируетс  на фотокатод, формирующий электронное изображение, которое затем фокусируетс  и отклон етс  относительно вырезывающего отверсти  в диафрагме и усиливаетс  вторично - электронным у.множителем диссектора. При этом сигнал диссектора имеет форму холма, возможно с плоской верщиной. В идеальном случае этот сигнал имеет резкое нарастание и спад. Практически же характеристики нарастани  и спада имеют конечный фронт. Характеристику нарастани  (спада) называют переходной характеристикой. Параметром переходной характеристики  вл етс  длина перехода I, измеренпа  по оси абсцисс между точками, соответствующими уровн м 0,1 и 0,9 на участке кривой фропта нарастани . Если диаметр оптического изображени  точечного объекта в плоскости фотокатода диссектора меньше диаметра (стороны) вырезываюидего отверсти  в диссекторе более чем в два раза, длина перехода 1 определ етс  диаметром оптического изображени  do диаметром электронно-оптического кружка размыти  диссектора do. Фактором, ограничивающим разрешающую способность усилител  изображени  с магнитной фокусировкой, прин то считать результирующий кружок размыти  по-закону сложени  дисперсий составл ющих кружков размыти . Использу  это, можно представить зависимость между длиной перехода и диаметрами оптического и электроннооптического кружков следующим образом: + d2 . Известно также, что размер электроннооптического кружка размыти  на оси прибора и потенциал ускор ющего электрода электровакуумного прибора св заны определенной зависимостью, из которой можно определить размер кружка размыти . 4 Формула изобретени  Способ измерени  электронно-оптического кружка размыти  электронного пучка диссектора по переходной характеристике электрического сигнала, заключающийс  в измерении длины переходной характеристики электрического сигнала от уровн  0,1 до уровн  0,9 фронта и при заданном напр жении потенциала на ускор ющем электроде диссектора , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерений и упрощени  измерений , дополнительно измер ют длину переходной характеристики электрического сигнала при тех же уровн х фронта сигнала и напр жении на ускор ющем электроде диссектора , отличающимс  не менее чем в два раза от напр жени  при первоначальном измерении , и определ ют размер электроннооптического кружка размыти  по формуле где li и Ij -длины переходной характеристики электрического сигнала;, К( где Uj и Ui - потенциалы на ускор ющем электроде диссектора; и п - эмпирический коэффициент. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Патент США № 3610993, кл. 25--49.5, 17.02.68.The optical image of a point object is projected onto a photocathode that forms an electronic image, which is then focused and deflected relative to the cutting hole in the diaphragm and amplified by the secondary electron multiplier of the dissector. In this case, the signal of the dissector has the shape of a hill, possibly with a flat top. In the ideal case, this signal has a sharp increase and decrease. In practice, the characteristics of the increase and decline have a final front. The increase (decline) characteristic is called a transition characteristic. The parameter of the transient response is the length of the transition I, measured on the abscissa axis between the points corresponding to the levels of 0.1 and 0.9 in the portion of the increment front curve. If the diameter of the optical image of a point object in the plane of the photocathode of the dissector is less than the diameter (side) of the hole in the dissector more than twice, the length of transition 1 is determined by the diameter of the optical image do with the diameter of the electron-optical blur circle of the do detector. The factor limiting the resolution of the image amplifier with a magnetic focusing is usually considered to be the resulting blur circle in accordance with the law of addition of dispersions of the component blur circles. Using this, one can imagine the relationship between the transition length and the diameters of the optical and electron-optical circles as follows: + d2. It is also known that the size of the electron-optical circle of blurring on the axis of the device and the potential of the accelerating electrode of the electrovacuum device are connected by a certain relationship from which the size of the circle of blurring can be determined. 4 The invention The method of measuring the electron-optical circle of blur of the electron beam of the dissector according to the transient characteristic of an electrical signal, consists in measuring the length of the transient response of an electrical signal from 0.1 level to 0.9 front level and for a given potential voltage on the accelerator electrode of the dissector, characterized in that, in order to increase the measurement accuracy and simplify the measurements, the length of the transient response of the electrical signal is additionally measured at the same levels fr nta signal and voltage on the accelerating electrode of the dissector, differing at least two times from the voltage during the initial measurement, and determine the size of the electron-optical blur circle by the formula where li and Ij are the transient response characteristics of the electrical signal ;, K (where Uj and Ui are the potentials at the accelerating electrode of the dissector; and p is the empirical coefficient. Sources of information taken into account in the examination 1. U.S. Patent No. 3,610,993, cl. 25--49.5, 17.02.68.
SU752173805A 1975-09-15 1975-09-15 Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot SU653645A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752173805A SU653645A1 (en) 1975-09-15 1975-09-15 Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752173805A SU653645A1 (en) 1975-09-15 1975-09-15 Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU653645A1 true SU653645A1 (en) 1979-03-25

Family

ID=20632215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU752173805A SU653645A1 (en) 1975-09-15 1975-09-15 Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU653645A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2234806A (en) Method of electronoptically enlarging images
US2652515A (en) Negative charge image television transmission tube
US2854583A (en) Gain stabilizer for an electron multiplier tube
SU653645A1 (en) Method of measuring dissector electron beam electron-optical spreading spot
US3894233A (en) Ion microprobe analyzer
JPS58147947A (en) Particle beam generator and operating method thereof
US2539971A (en) Oscillographic voltage measuring device
EP0050475A1 (en) Scanning-image forming apparatus using photo electric signal
US2392243A (en) Electron microscope
US2305179A (en) Electron multiplier
Klemperer Influence of space charge on thermionic emission velocities
Eschard et al. Signal to Noise and Collection Efficiency Measurements in MicroChannel Wafer Image Intensifies
US2619598A (en) Electron diffraction detecting system
US2215186A (en) Television transmitting system
JPS60205950A (en) Method and device for setting voltage resolution of particlebeam measuring equipment
Theile On the signal-to-noise ratio in television storage tubes
US10468231B1 (en) Methods of operating particle microscopes and particle microscopes
US10964508B2 (en) Charged-particle beam device
JPS5878356A (en) Scanning electron microscope
JP2000133193A (en) Charged particle beam irradiating device
SU63238A1 (en) Cathode ray tube
JPH1050244A (en) Beam detection signal processing circuit
Klemperer On a new test method for spherical aberration of electron lenses
US2781969A (en) Calculating apparatus
SU788435A1 (en) Device for dynamic focusing of crt beam