SU636476A1 - Способ контрол толщины диэлектрических изделий - Google Patents

Способ контрол толщины диэлектрических изделий

Info

Publication number
SU636476A1
SU636476A1 SU762311923A SU2311923A SU636476A1 SU 636476 A1 SU636476 A1 SU 636476A1 SU 762311923 A SU762311923 A SU 762311923A SU 2311923 A SU2311923 A SU 2311923A SU 636476 A1 SU636476 A1 SU 636476A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
dielectric
signal
checking method
frequency
article thickness
Prior art date
Application number
SU762311923A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Иванович Матвеев
Лидия Александровна Бычкова
Валерий Петрович Рутковский
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6303
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6303 filed Critical Предприятие П/Я Р-6303
Priority to SU762311923A priority Critical patent/SU636476A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU636476A1 publication Critical patent/SU636476A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и предназначено дл  контрол  геометрической или электрической (фазовой) толщины изделий из диэлектрических материалов (диэлектрические покрыти  на любой металлической основе, на диэлектрической основе при разных диэлектрических свойствах, диэлектрические стенки).
Известны способы неразрушающих испытаний диэлектрических объектов, например оптический. Этот способ заключаетс  в контроле отношени  интенсивностей двух световых потоков: опорного и отраженного от объекта 1.
Поток электромагнитного излучени  направл ют на контролируемый объект и из излучаемого потока выдел ют опорный поток . В этом способе измер емое отношение двух интенсивностей будет зависеть от их абсолютных уровней вследствие нелинейности преобразующих низкочастотных цепей.
Наиболее близким к описываемому изобретению но технической сущности и достигаемому результату  вл етс  способ контрол  толщины диэлектрических изделий, заключающийс  в том, что отраженный от объекта контрол  сигнал сравнивают в амплитудно-фазовом дискриминаторе с опорным сигналом той же частоты i :1ол ча;ст градуировочную зависимость величины выходного сигнала от контролируемого параметра 2 .
В этом методе выходной сигнал градуируетс  в значени х измер емого параметра с учетом посто нства прочих факторов.
Указанный способ обладает сущее гнойным недостатком; крутизна градуировочной зависимости не  вл етс , как это требуетс  дл  сохранени  высокой точности, гюето нной величиной, так как она зависит от изменений мощности СВЧ генератора, параметров СВЧ диода, темиературных нестабильностей различных узлов. Практически у.меньшение крутизны приводит к снижению чувствительности и в основном к еущеетпенной ошибке измерений.
Целью изобретени   вл етс  повышен,: точности и надежности контрол  толщиш. диэлектрических изделий.
Дл  достижени  поставленной це.ii;iii;oизвод т фазовую модул цию отраженного от объекта контрол  сигнала, иое.те сравлч ни  в амплитудно-фазовом дискриминаторе раздел ют ка два канала, в одном из которых сигнал усиливают и регистрируют, в другом выдел ют сигнал на частоте фазовой модул ции, сравнивают его с посто нным опорным сигналом, а результирующим сигналом регулируют коэффициент усилени  в нервом канале.
На чертеже схематично показан один из вариантов устройства, реализующего предложенный способ контрол  толщины изделий из диэлектрических материалов.
Устройство включает генератор 1 СВЧ, ферритовый вентиль 2, подвижной КЗ порщень 3, переменный аттенюатор 4, двойной волноводный тройпик 5, фазовый модул тор 6, приемопередающую антенну 7, установленную перед объектом 8 контрол , ферритовый вентиль 9, детекторную секцию 10, фильтр 11, дополнительный усилитель 1Z на частоте РФМ , блок 13 сравнени , основной усилитель 14 с АРУ на частоте РАМ , индикатор 15.
Модулированное по амплитуде с частотой F (-.10 кГц) электромагнитное излучение СВЧ диапазона от генератора 1 через разв зывающий ферритовый вентиль 2 поступает в Н-плечо двойного волноводного тройника 5, где мощность делитс  на две равные части. В плече, содержащем КЗ порщень 3 и переменный аттенюатор 4, формируетс  регулируемый по фазе и амплитуде опорный сигнал основной частоты fo. В плече, содержащем фазовый модул тор 6 и настроенную на минимум. КСВН приемопередающую антенну 7, расположенную перед объектом 8 контрол , образуетс  полезный отраженный сигнал, модулированный по фазе на величину Ai {3;5°), частотой Нрп(:200 Гц). В разностном Е-плече тройника возникает интерференционный сигнал основной частоты fo, модулированной по амплитуде и фазе. СВЧ мост разв зан с детекторной секцией 10 ферритовым вентилем 9. Поскольку СВЧ детектор  вл етс  амплитудно-фазовым, то после детектировани  в спектре также будут присутствовать две низкочастотные составл ющие с частотами РАМ и Рсрм соответственно. Поэтому дальще, через фильтр 11, сигналы поступают на два разных усилител : один (14) основной усилитель с автоматической регулировкой усилени  (АРУ), резонансной частотой которого  вл етс  Рлм ; другой (12) - дополнительный усилитель на частоте РФЛ,
который дает на выходе величину сигнала, пропорциональную Дф. Коэффициент пропорциональности определ етс  крутизной выбранного .линейного участка интерференционной кривой. Данный сигнал вычитаетс  в
блоке 13 сравнени  из собственного посто нного опорного сигнала, так что в оптимальном режиме на его выходе разность двух напр жений AU 0. В других случа х . По вивщийс  сигнал разбаланса управл ет режимом АРУ основного
усилител  14, сохран   посто нной крутизну исходной градуировочной зависимости выходного напр жени  в функции контролируемого параметра, регистрируемого на индикаторе 15.
При осуществлении предложенного способа резко уменьшаютс  дополнительные погрещности и повыщаютс  точность и надежность измерений в 1,5-2 раза.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР № 420871, кл. G 01 В 11/06, 1972.
2.Матвеев В. И., Бычкова Л. А., Тучнин Ю. М., Павельев В. А. Прибор СТ-21И
дл  контрол  толщины диэлектрических изделий и покрытий. «Дефектоскопи , 1973, № 6, с. 105-107.
SU762311923A 1976-01-06 1976-01-06 Способ контрол толщины диэлектрических изделий SU636476A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762311923A SU636476A1 (ru) 1976-01-06 1976-01-06 Способ контрол толщины диэлектрических изделий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762311923A SU636476A1 (ru) 1976-01-06 1976-01-06 Способ контрол толщины диэлектрических изделий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU636476A1 true SU636476A1 (ru) 1978-12-05

Family

ID=20644814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762311923A SU636476A1 (ru) 1976-01-06 1976-01-06 Способ контрол толщины диэлектрических изделий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU636476A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4484133A (en) * 1981-12-23 1984-11-20 Sentrol Systems Ltd. Microwave moisture sensor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4484133A (en) * 1981-12-23 1984-11-20 Sentrol Systems Ltd. Microwave moisture sensor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4031469A (en) Receiver gain calibration
US5026991A (en) Gaseous species absorption monitor
US3460030A (en) Method and apparatus for measuring the percent moisture content in process material utilizing microwave absorption and a diverse radiant energy absorption technique
SU636476A1 (ru) Способ контрол толщины диэлектрических изделий
JPH08338872A (ja) 距離測定方法及びその装置
US3258688A (en) Microwave thickness measuring apparatus
US3271668A (en) Microwave measurement of surface attrition of a dielectric body
RU2634785C1 (ru) Автодинный измеритель отклонения от номинального значения внутренних размеров металлических изделий
Thansandote et al. Microwave interferometer for measurements of small displacements
US3319165A (en) Apparatus for measuring the phase delay of a signal channel
US3631336A (en) Circuit for determining deviation from resonance of lc networks by cancelling inphase component and sensing quadrature component
SU1018041A1 (ru) Устройство дл измерени фазового сдвига
Hollway et al. The reduction of errors in a precise microwave attenuator calibration system
GB1593733A (en) Distance measuring instruments
SU1656477A1 (ru) Способ калибровки измерител коэффициента амплитудной модул ции
SU1613859A1 (ru) Способ фазового определени рассто ни
SU1018072A2 (ru) Магнитооптический гистериограф
UA154702U (uk) Спосіб вимірювання відстані
SU1642260A1 (ru) Устройство дл измерени вибрационных характеристик
US2887661A (en) Microwave test system
RU2234716C1 (ru) Способ формирования зондирующего частотно-модулированного сигнала для дальномера с периодической частотной модуляцией
US2716215A (en) Pulse width measuring process
SU488124A1 (ru) Способ определени параметров плазмы
RU1554594C (ru) Устройство для измерения коэффициента отражения объекта в свободном пространстве
Domnin et al. Infrared frequency standard based on osmium tetraoxide