SU577595A1 - Method of measuring parameters of optical pulse signals - Google Patents

Method of measuring parameters of optical pulse signals

Info

Publication number
SU577595A1
SU577595A1 SU7602339670A SU2339670A SU577595A1 SU 577595 A1 SU577595 A1 SU 577595A1 SU 7602339670 A SU7602339670 A SU 7602339670A SU 2339670 A SU2339670 A SU 2339670A SU 577595 A1 SU577595 A1 SU 577595A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
crt
pulse
optical
signal
time
Prior art date
Application number
SU7602339670A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Константин Петрович Аверьянов
Юрий Владимирович Сперанский
Борис Михайлович Степанов
Валерий Павлович Чураков
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8584
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8584 filed Critical Предприятие П/Я В-8584
Priority to SU7602339670A priority Critical patent/SU577595A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU577595A1 publication Critical patent/SU577595A1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (2)

Цель изобретени  - повышение точности i измерени  параметров и создание возможноо ти измерени  в едином масштабе времени оптических импульсных сигналов, распростра н ющихс  по заданному тракту и разнесен-, ных во времени на величину, значительно превышак цую длительность сигнала, Это достигаетс  тем, что преобразование оптических сигналов в изображени  на экране ЭЛТ осуществл ют в контрольных точках оптического тракта, формируют единые рп  всех ЭЛТ импульс подсвета и импульс развертки, которые передают по элек трически согласованным системам последо-г |вательно на каждую ЭЛТ, а врем  pacnpociw ранени  импульса подсвета и; импульса развертки до ЭЛТ выбирают равным cooiv ветсгвуюшему времени распространени  измер емого сигнала до той же ЭЛТ. Такой способ измерени  параметров оптических импульсных сигналов позвол ет создать .оптимальное соотношение полосы пропускани  сигнального тракта и служе5Hbix трактов (под служебными понимаютс  тракты подсвета, развитки и др.). сушествев« но расширить полосу пропускани  сигнального тракта, что при прочих равных усло ви х , в перву очередь, определ ет времен. ное разрешение систекЫ. Кроме того, этот {спосрб позвол ет на коротких развертках jl /экрнсек) работатьна быстрой компоненте коаксиального кабел , дл  чего формируют импульс подсвета и импульс раэ вертки с амплитудой, равной удвоенному рабочему напр жению коаксиального кабел . Разработанный по данному предложению Действующий макет устройства позвол ет иг мер ть параметры импульсов субнаносекун-дной длительности cil:,3jT - - т ОД нсек, Формула изобретени  Способ измерени  параметров оптических импульсных сигналов, распределенных во времени и пространстве, основанный на преобразовании оптических сигналов в электрические с последукшим их преобразованием в изображени  на экранах электроннолучевых трубок (ЭЛТ) и фоторегистрацией этих изображений, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности изме рени  параметров и возможности измерений в едином масштабе времени оптических ик пульсных сигналов, распростран ющихс  по заданному тракту и разнесенных во времени на величину, значительно превышаклдую длительность сигнала, преобразование оптин ческих сигналов в изображени  на; экране ЭЛТ осуществл ют в контрольных точках1 оптического тракта, формируют единые дл  всех ЭЛТ импульс подсвета и импульс раэвертки которые передают по электричесюа согласованным системам последовательно на каждую .ЭЛТ, а врем  распространени  (1мпульса подсвета и импульса развертки до ЭЛТ выбирают равным соответствующему времени распространени  измер емого сигнала до той же ЭЛТ. Источники информ оии, прин тые во вн№мание при экспертизе: 1.Дрожбип Ю. А. и др. i- Двухлучевой рсциллографический измеритель импульсов светового излучени  Измерительна  техника, № 8, 1969, с. 172. The purpose of the invention is to improve the accuracy and measurement of parameters and create the possibility of measuring on a single time scale optical pulsed signals that propagate along a given path and are separated in time by an amount much longer than the signal duration. This is achieved by converting optical The signals in the images on the CRT screen are carried out at the control points of the optical path; they form a single pn of all the CRTs; a highlight pulse and a scanning pulse, which are transmitted through an electrically consistent systems successively | on each CRT, and the pacnpociw wounding time of the illumination pulse and; The sweep pulse to a CRT is chosen equal to cooiv according to the propagation time of the measured signal to the same CRT. This method of measuring the parameters of optical pulsed signals allows the creation of an optimal ratio of the bandwidth of the signal path and the service of 5Hbix paths (by service means the light paths, development, etc.). However, the bandwidth of the signal path, which, all other things being equal, determines, first of all, the times. ny system resolution. In addition, this {sposbb allows for short sweeps jl / screen) works on a fast component of a coaxial cable, for which they form a light pulse and a vertical pulse with an amplitude equal to twice the coaxial cable's working voltage. Developed by this proposal, a valid device layout allows playing parameters of subnanosecond-duration pulses of cil:, 3jT - - t OD nsec, claims with their subsequent conversion into images on the screens of electron-beam tubes (CRT) and photographic recording of these images, characterized in that, in order to improve the accuracy of the measurement of pairs meters and measurement capabilities in a single-time pulsed IR optical signals propagating along the predetermined path and spaced in time by an amount substantially prevyshaklduyu duration signal conversion Optinoj iCal signals into an image on; The CRT screen is carried out at the control points1 of the optical path, they form the illumination pulse and the raververt pulse that are common to all CRTs and transmitted via electrically compatible systems to each CRT successively, and signal to the same CRT. Sources of information received during examination at examination: 1. Yu. A. Drozhp and others. i- Dual-beam x-ray diffraction meter of light radiation Measuring equipment, No. 8, 1969, pp. 172. 2.Акимов Ю. А. и др. Многоканальна  установка дл  регистрации моноимпульсов рентгеновского и оптического излучени  , Научные т|зуды ВНИИОФИ, вер. В, вып, 2, М., 1973, с. 27.2. Akimov, Yu. A., et al. A multichannel setup for recording monopulses of X-ray and optical radiation, Scientific Research Institute of Vertical Physics, VNIIOFI, ver. In, vol., 2, M., 1973, p. 27.
SU7602339670A 1976-03-26 1976-03-26 Method of measuring parameters of optical pulse signals SU577595A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7602339670A SU577595A1 (en) 1976-03-26 1976-03-26 Method of measuring parameters of optical pulse signals

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU7602339670A SU577595A1 (en) 1976-03-26 1976-03-26 Method of measuring parameters of optical pulse signals

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU577595A1 true SU577595A1 (en) 1977-10-25

Family

ID=20654085

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7602339670A SU577595A1 (en) 1976-03-26 1976-03-26 Method of measuring parameters of optical pulse signals

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU577595A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3996467A (en) Data acquisition in tomography
SU577595A1 (en) Method of measuring parameters of optical pulse signals
RU2298813C1 (en) Fiber-optic device for visualization of pulse ionizing radiation flow density distribution
US4176954A (en) Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies
US2537105A (en) Oscilloscope and its circuit
SU661484A1 (en) Well-logging photorecorder
SU1418587A1 (en) Method and apparatus for measuring digital equipment of light pipes
SU832516A2 (en) Well-loging photodetector
SU655093A1 (en) Device for determining object surface area
SU752194A1 (en) Signal parameter measuring device
SU393789A1 (en) METHOD OF MEASUREMENT OF CONSUMPTION OF A RAY OF OPTICAL QUANTUM GENERATOR
JPS5826326Y2 (en) Automatic dimension measuring device
SU834569A1 (en) Device for measuring pulse signal synchronization non-stability spectrum
SU1048427A1 (en) Pico second optical pulse signal parameter measuring method
SU877449A1 (en) Atmosphere parameter ultrasonic meter
SU376851A1 (en) DEVICE FOR REGISTRATION AND MEASUREMENT OF ANGULAR CONSUMPTION OF LASER RADIATION
SU875326A1 (en) Time interval digital meter
SU894593A1 (en) Random signal spectrum analyzer
SU1307419A1 (en) Method of automatic reading of information from arc scales of pointer-type electric instruments
SU1116836A1 (en) Optical anemometer
SU911343A1 (en) Electron beam oscilloscope
SU783738A1 (en) Device for registering signals at acoustic logging
SU434621A1 (en) FLOWER ANALYZING DEVICE
SU785717A1 (en) Apparatus for nondestructive monitoring of objects
SU1239525A1 (en) Microphotometering electrophotographic spectrograph